JPH0460201B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ＜産業上の利用分野＞ 本発明はIC素子、ICソケツトなど複数のピン
を有する部品に於ける各ピンの曲りを検出するた
めの方法に関し、特に迅速にピンの曲りを検出す
ることのできる方法に関する。

＜従来の技術＞ 近年電子部品を基板に実装するに際して、自動
挿入装置が多用されつつある。自動挿入装置は
種々の電子部品を自動的にしかも高速で基板に挿
入することができる。基板に挿入された電子部品
は、はんだ付され完成することとなるが、ICな
どの電子部品の足、即ちピンが曲つていた場合に
は、ピンが基板に設けられた所定の孔に挿入され
ず、そのままはんだ付されることとなり、基板全
体が不良品となつてしまう。そこで基板に挿入さ
れるべき電子部品のピンの曲りを事前に検査する
ことが望ましいが、自動挿入装置が高速で作動す
るものであり、高価な装置であるため、このよう
なピンの曲りを検出するための装置は、自動挿入
装置の操業率を維持し得るように、高速でピンの
曲りを検査し得るものであるのが好ましい。

＜発明が解決しようとする問題点＞ このような要請に鑑み、本発明の主な目的は、
複数のピンを有する素子に於けるピンの曲りを高
速かつ正確に検査し得る方法を提供することにあ
る。

＜問題点を解決するための手段＞ このような本発明の目的は、ある基準平面上に
延在して互いに平行に整列するべき複数のピンの
曲がりを検出するための方法であつて、前記複数
のピンの整列方向に沿つて延在し、かつ前記基準
平面と交差する所定の平面に沿う光線を前記複数
のピンのそれぞれに照射すると共に、前記基準平
面と対向する受光面を有する視覚センサにて前記
光線の入射角とは異なる角度の反射光にて各ピン
上の光像を捕らえ、前記ピンの整列方向及びまた
は延在方向についての所定の基準位置に対する前
記視覚センサ上に捕らえられた光像の位置ずれに
基づいて良否の判別を行うことを特徴とするピン
の曲がりを検出する方法を提供することによつて
達成される。

＜作用＞ このように、ピンが列設された平面に対してあ
る所定角度をもつて交差する平面に沿う光線を各
ピンに照射し、ピンの延在方向について光源と別
の位置から各ピン上に結んだ光像を視覚センサに
て観測すると、ピンに曲がりがある場合は視覚セ
ンサ上の光像同士の位置にずれが生じるため、こ
のずれを所定の基準範囲と比較すれば、ピンの曲
がりの有無が容易に判別できる。また光を面状に
して照射し、これの反射光を一次元イメージセン
サアレイにて捕捉するものとすれば、光源或いは
イメージセンサを上下に一度スキヤニングするだ
けで２方向の曲がりを同時に検査することができ
る。

＜実施例＞ 以下、本発明の好適実施例を添付の図面につい
て詳しく説明する。

第１図及び第２図は、本実施例の検査対象とな
るIC素子を示している。このIC素子は左右それ
ぞれに第一の方向である上下方向に延在し、かつ
第二の方向である前後方向に整列した７個のピ
ン、合計14個のピンを有しており、そのうち一つ
のピン２が外向きに曲り、他の一つのピン６が内
向きに曲り、更に他の１つのピン４が前後方向に
曲つている。このようにピンが曲つていると、こ
のIC素子１０を基板に挿入しようとする際、こ
のように曲つたピン２，４，６が基板に設けられ
た孔に挿入されず、基板全体が不良品となる原因
となる。

そこで、画像認識装置を用いて横方向から検査
することも考えられるが、その場合ピン４のよう
に前後方向に曲つたものは容易に検出し得るもの
の、ピン２，６のように左右方向に曲つたもの
は、一般にその検出が困難である。何故なら、画
像認識装置が奥行きを識別する能力を具備しなけ
ればならないからである。

画像認識装置をもつて素子の端部方向からピン
の曲りを識別することも考えられるが、前記と同
様にピン４のように前後方向に曲つているものは
その識別が困難であり、内向き或いは外向きに曲
つたピンについても、遠近差が大きいためにその
検出が困難である。

第３図は本発明に基づくピンの曲りを検査する
方法の実施例を示す説明図である。先ずIC素子
１０を所定の冶具４０により位置決めし、ピン１
〜７の整列方向に対して平行をなす面状光３０を
ピンの延在方向に対して斜めに照射する。この面
状光３０は、レーザーにより得られる光源を、シ
リンドリカルレンズ等により面状に屈折させたも
のであつて良い。

イメージセンサ２０が、ピン１〜７が整列して
延在するべき所定の基準平面にその受光面を対向
させる位置、即ちピンの側方に設けられており、
面状光３０がピン１〜７に投射されてピン上に結
像する光のスポツトを検出し得るようになつてい
る。このイメージセンサ２０は線状に配列された
イメージセンサアレイであつて良い。このイメー
ジセンサ２０は図示されていない駆動機構により
矢印Ａで示されているようにピンが延在する上記
基準平面に略平行に対向する平面上を上下方向に
駆動される。

面状光３０がピン１〜７に照射されて形成され
る光のスポツトは、ピンがすべて曲つていない場
合には一列に整列した光のスポツトとして検出さ
れることとなる。即ち第４図に示されているよう
に、これらの光のスポツトは、ピンの長さ方向に
ついて適宜な位置に各ピンを横切る向きに引かれ
た基準の直線Y₀と該直線Y₀に対して直交する向
きに等間隔に引かれた線X₁〜X₇即ち各ピンの延
在方向の基準線との交点に検出されることとなる
（スポツト１１，１２ａ，１３，１４ａ，１５，
１６ａ及び１７）。即ちピン２のように外側に向
けて曲つたピンについては、光のスポツト１２が
直線Y₀から上方に離間した場所にスポツト１２
として検出され、ピン６のように内側に向けて曲
つたピンについては、光のスポツト１６がY₀か
ら下方に離間した部分に検出される。更にピン４
のように前後方向に曲つたピンについては、光の
スポツト１４が直線X₄から前後方向に離間した
点に検出される。

このようにピンの曲りとイメージセンサ２０に
より検出される光のスポツトとは上記したような
対応関係があることから、ピンの曲りの許容範囲
に対応するイメージセンサ２０の検出画像に於け
る許容領域を設定し、光のスポツト１１〜１７が
このようにして設定された許容領域を逸脱したと
きにピンの曲りが許容以上であると判定すること
が可能となる。例えば第４図に於て、光のスポツ
ト１１〜１７のいずれか一つが直線Y₁の上側に
または直線Y₂の下側に逸脱したときに各ピンの
左右方向の曲りが許容以上であると判定し、光の
スポツトが直線X₁〜X₇のそれぞれに重なりあつ
ていないとき、当該ピンの前後方向の曲りが許容
値以上であると判定することができる。

第５図は本発明に基づく別の実施例を示してい
る。前記実施例に於ては、面状光を固定し、イメ
ージセンサ２０を上下に平行移動して所定視野を
走査して光のスポツトを検出したのに対して、イ
メージセンサ２０を固定し、面状光３０を矢印Ｂ
で示されるように上下方向に平行移動させること
により、前記実施例と同様にしてピンの曲りを検
出することができる。

以上本発明を特定の実施例について説明した
が、上記以外にも種々の実施例が可能である。例
えば上記実施例に於ては入射光線として面光線を
用いたが、レーザー光線をそのような面内で走査
することによつても同様の目的を達成することが
できる。またイメージセンサについても、線状イ
メージセンサアレイに限らず、点状のイメージセ
ンサを同じく左右上下方向に走査したり、二次元
的なイメージセンサを用いてそれを電子的に走査
して同様の目的を達成することもできる。

＜効果＞ このように、本発明によれば、レーザー光を一
方向から照射するのみで、ピンの曲りを二方向に
ついて迅速かつ正確に検出することができる。し
かも、検出端は、例えば線状フオトアレイからな
るものであつて良く、検出信号もデイジタル信号
として得ることができるため、検出信号の処理を
効率良く行うことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に基づく実施例の検査対象たる
IC素子の側面図である。第２図は第１図のIC素
子の端面図である。第３図は本発明に基づく方法
の実施例を示す説明図である。第４図は第３図の
イメージセンサにより検出される画像を示す説明
図である。第５図は第４図の実施例に対する変形
実施例を示す第３図と同様の図である。 １〜７…ピン、１０…IC素子、１１〜１７…
スポツト、２０…イメージセンサ、３０…面状
光、４０…冶具。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ ある基準平面上に延在して互いに平行に整列
   するべき複数のピンの曲がりを検出するための方
   法であつて、 前記複数のピンの整列方向に沿い、かつ前記基
   準平面と交差して延在する所定の平面に沿う光線
   を前記複数のピンのそれぞれに照射すると共に、 前記基準平面に対向する受光面を有する視覚セ
   ンサにて前記光線の入射角とは異なる角度の反射
   光にて各ピン上の光像を捕らえ、 前記ピンの整列方向及びまたは延在方向につい
   ての所定の基準位置に対する前記視覚センサ上に
   捕らえられた光像の位置ずれに基づいて良否の判
   別を行うことを特徴とするピンの曲がりを検出す
   る方法。