JPH0459142B2

JPH0459142B2 -

Info

Publication number: JPH0459142B2
Application number: JP58004047A
Authority: JP
Inventors: Toshiaki Masuda; Toshihiko Hashimoto; Noriaki Mikami; Koichi Ishizuka; Toshiji Fujita
Original assignee: Toppan Printing Co Ltd
Current assignee: Toppan Inc
Priority date: 1983-01-13
Filing date: 1983-01-13
Publication date: 1992-09-21
Also published as: JPS59128434A

Description

【発明の詳細な説明】本発明は印刷機において印刷中の印刷物の状態
をインラインで、標準状態と比較し、印刷物の異
常を検出するための印刷物検査装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a printed matter inspection device for in-line comparing the state of a printed matter being printed with a standard state in a printing press to detect abnormalities in the printed matter.

従来、印刷物の検査はオフラインで人間の視覚
に頼つて行なわれる方法が主流であつた。これは
印刷物が１点１点絵柄が違うということや、印刷
物における検査項目が人間の視覚に頼ざらるを得
ない微妙な差を問題にしていると考えられてきた
ことに由来している。一方では、印刷中の印刷物
を評価したいという要望に答えて、印刷速度に同
期したストロボ照明を行つたり、高速で同期回転
するミラーを用いて印刷物を静止画像として判断
しようとする試みが行なわれた。しかし、これら
の手段も人間の視覚に検査を依存しているという
点では検査機と呼べる段階のシステムではなかつ
た。 Conventionally, the mainstream method for inspecting printed matter has been offline and relying on human vision. This stems from the fact that each piece of printed matter has a different pattern, and because inspection items for printed matter have been thought to involve subtle differences that require reliance on human vision. On the other hand, in response to the desire to evaluate printed matter during printing, attempts have been made to judge printed matter as a still image by using strobe lighting synchronized with the printing speed or by using mirrors that rotate synchronously at high speed. Ta. However, these methods were not systems that could be called inspection machines in that they relied on human vision for inspection.

一方最近、印刷物の検査をインラインで自動的
に行なう装置が提案され、その１例としては特願
昭第55−1051号になる、印刷物の検査装置」があ
る。これは、印刷物の１部を照明、検出する装置
を複数並べることにより、全面を検査しようとす
る装置である。 On the other hand, recently, an apparatus for automatically inspecting printed matter in-line has been proposed, and one example is Japanese Patent Application No. 55-1051 titled ``Print Inspection Apparatus.'' This is a device that attempts to inspect the entire surface of a printed matter by arranging a plurality of devices that illuminate and detect a portion of the printed matter.

本発明は従来の印刷物検査装置と異なり、簡単
な構造で印刷物全面をインラインで検査する装置
を提供するものである。以下に本発明を説明す
る。 The present invention differs from conventional printed matter inspection devices in that it provides an apparatus that has a simple structure and can inspect the entire surface of printed matter in-line. The present invention will be explained below.

本発明は印刷物の検査装置に関し、印刷物を印
刷機上で絵柄全面を光学的に走査する手段と該印
刷物の絵柄情報を電気信号として光電変換する手
段と該電気信号を基準信号と比較、演算する手段
と比較演算結果の異常信号に基いて異常印刷物を
処理する手段から構成される装置である。 The present invention relates to a printed matter inspection device, which includes means for optically scanning the entire pattern of a printed material on a printing press, means for photoelectrically converting the pattern information of the printed material into an electrical signal, and comparing and calculating the electrical signal with a reference signal. This device comprises means and means for processing abnormal printed matter based on an abnormal signal as a result of comparison calculation.

第１図は、本発明の印刷物検査装置を印刷機に
とりつけた状態を示している。ここでは、枚葉印
刷機での設置例を示しているが、輪転印刷機にと
りつけ場合は両面を検査する必要があるため、印
刷物検査装置を２ユニツト表、裏、両面に対し
て、設ければ何ら問題はない。 FIG. 1 shows a state in which the printed matter inspection apparatus of the present invention is attached to a printing press. This example shows an installation on a sheet-fed printing press, but since it is necessary to inspect both sides when installed on a rotary printing press, two units of print inspection equipment are installed for the front, back, and both sides. There is no problem.

第１図は、枚葉印刷機での最終印刷ユニツト以
降を示しており、最終印刷ユニツト以前の印刷ユ
ニツトは省略してある。既に何色か印刷された印
刷用紙１５（４色機では３色、６色機では５色）
は渡し胴15.を経て、印刷ユニツト１６に搬送さ
れる。印刷ユニツト１６では、版胴４に設けられ
た印刷版（図示せず）の絵柄に応じたインキをブ
ラン胴３に転移させ、印刷用紙に圧胴２で加えら
れる印圧によりインキを転移させる。この際、圧
胴の回転をタイミング検出部１０にて看視し、印
刷用紙が咬え爪にて咬えられ、検出部９の下方を
通る際に、サンプリング開始のタイミング信号１
２を発生することになる。このタイミング信号に
基いて検出部は印刷用紙上の絵柄の読取を開始
し、検出信号１１を処理回路１３に転送する。処
理回路では絵柄が正常であることを示す標準信号
をメモリに格納しており、検出信号を標準信号と
比較、微分、積分等の処理を行ない、異常判別の
結果、異常であると認知された場合にエラー信号
１４を転送する。エラー信号１４に基いた処理と
しては、エラー原因別デイスプレイ、異常印刷物
への自動エラーマーキング、異常印刷物の自動排
除等が考えられるが、ここではその詳細について
は省略する。一方、印刷用紙は排紙胴５を経てチ
エーン６によつて搬送され、デリバリー部に印刷
物８の山となつて積重ねられる。本印刷物検査装
置を従来の印刷機に取りつけることにより、印刷
機上での異常印刷物の検出が可能となるため、異
常印刷物の発生に対する処置が迅速になるととも
に、異常印刷物の混入がなくなるため、作業者の
作業負荷が軽減され、後工程での入手による検査
がなくなるという効果が生まれる。特に異常発生
に対する処置が迅速になるため、水タレ、油タ
レ、汚れ発生等での異常印刷物の発生枚数の減少
は生産効率の向上にもつながるという点で効果は
大きいといえる。 FIG. 1 shows the parts after the final printing unit in a sheet-fed printing press, and the printing units before the final printing unit are omitted. 15 pieces of printing paper that have already been printed with several colors (3 colors on a 4-color machine, 5 colors on a 6-color machine)
is conveyed to a printing unit 16 via a transfer cylinder 15. In the printing unit 16, ink corresponding to the pattern of a printing plate (not shown) provided on the printing cylinder 4 is transferred to the printing cylinder 3, and the ink is transferred to the printing paper by the printing pressure applied by the impression cylinder 2. At this time, the rotation of the impression cylinder is monitored by the timing detection unit 10, and when the printing paper is bitten by the gripper and passes under the detection unit 9, a timing signal 1 for starting sampling is sent.
2 will be generated. Based on this timing signal, the detection section starts reading the pattern on the printing paper and transfers the detection signal 11 to the processing circuit 13. The processing circuit stores in memory a standard signal that indicates that the pattern is normal, and compares the detection signal with the standard signal and performs processes such as differentiation and integration, and as a result of abnormality determination, it is recognized as abnormal. In this case, the error signal 14 is transferred. Possible processes based on the error signal 14 include display by error cause, automatic error marking on abnormal printed matter, automatic removal of abnormal printed matter, etc., but the details thereof will be omitted here. On the other hand, the printing paper is conveyed by the chain 6 via the paper delivery cylinder 5, and is stacked in a pile of printed matter 8 in the delivery section. By attaching this print inspection device to a conventional printing press, it becomes possible to detect abnormal prints on the printing machine, which speeds up countermeasures for the occurrence of abnormal prints. This has the effect of reducing the workload of personnel and eliminating the need for inspections during subsequent processes. In particular, it can be said to be very effective in that the number of abnormal printed sheets generated due to water dripping, oil dripping, staining, etc. can be reduced, which will lead to improved production efficiency, since the troubleshooting can be done quickly.

さらに、本発明は検出部９がラフなサンプリン
グと細かなサンプリングを実行する２つの検出装
置から構成されるとともに、処理回路１３内にラ
フなサンプリングの検出信号と細かなサンプリン
グの検出信号を並行して処理する系が設けられる
ことにより、単純なサンプリングにより処理に比
べて、大幅に処理時間の短縮及びメモリ−容量の
軽減が得られるというメリツトがある。 Furthermore, in the present invention, the detection unit 9 is composed of two detection devices that perform rough sampling and fine sampling, and the processing circuit 13 generates a rough sampling detection signal and a fine sampling detection signal in parallel. By providing a system for processing data, there is an advantage that processing time and memory capacity can be significantly reduced compared to processing using simple sampling.

第２図は本発明の１実施例のサンプリングの組
合せ方法を示したものである。格子状のラフサン
プリングのサンプリング単位１７の内部を分割し
て格子状の細分化サンプリングのサンプリング単
位１８を設けた例である。実際には細分化サンプ
リングは２ｍ／ｍピツチ程度、ラフサンプリング
は10ｍ／ｍピツチ程度に設定することになる。こ
のサンプリングの組合せ方法を利用した場合、ラ
フサンプリングにより異常検出があつた場合の
み、細分化サンプリングを行ない異常発生の確
認、異常発生の原因把握等を実行することによ
り、信号処理時間及びバツフアーメモリー容量は
細分化サンプリングのみによる異常検出に比べて
大幅に短縮されることになる。 FIG. 2 shows a sampling combination method according to one embodiment of the present invention. This is an example in which the interior of a sampling unit 17 for rough sampling in a lattice shape is divided to provide sampling units 18 for subdivided sampling in a lattice shape. In reality, the fine sampling is set at a pitch of about 2 m/m, and the rough sampling is set at a pitch of about 10 m/m. When this sampling combination method is used, only when an abnormality is detected by rough sampling, subdivided sampling is performed to confirm the occurrence of an abnormality and understand the cause of the abnormality, thereby reducing signal processing time and buffer memory. The capacity will be significantly reduced compared to anomaly detection using only segmented sampling.

第２図に示すようなサンプリングの組合せを実
行するためには、第３図に示すようなセンサーの
組合せが考えられる。検出部にセンサーを２個用
意し、印刷方向に対して手前に設けられたラフな
サンプリング用センサー１９では第２図に示すよ
うなラフなサンプリングを行ない、ラフなサンプ
リング用センサーに異常信号の検出があつた場合
のみ、印刷方向に対して後方に設けられた細分化
サンプリング用センサー２０にて検査を行なう形
式である。 In order to execute the sampling combination shown in FIG. 2, a combination of sensors as shown in FIG. 3 can be considered. Two sensors are prepared in the detection section, and the rough sampling sensor 19 provided at the front in the printing direction performs rough sampling as shown in Figure 2, and the rough sampling sensor detects an abnormal signal. Only when there is a problem, inspection is performed using a subdivision sampling sensor 20 provided at the rear with respect to the printing direction.

また、本発明を１つのセンサーだけで実行する
ためには第４図に示すようなサンプリング方法を
用いてもよい。単独なセンサーから検出した信号
を２つに分けて検査を行なう。サンプリング用セ
ンサー２１は常に細分化されたサンプリングを実
行している。ここで、検出された信号に２つに分
岐して処理回路に転送され、一方の信号はラフな
検査用信号として、他の一方の信号は細分化され
た検査用信号として利用される。この際、ラフな
サンプリングに関しては細分化された検査信号を
第５図に示すように、複数の連続データを加算す
ることにより、新たな信号列を合成することによ
り可能とする。この結果、常に合成されたラフな
検査信号のみを検査対象として検査を行ない、異
常検出のない場合は細分化された検査信号は処理
を実行しない。ラフな検査の結果、異常検出があ
つた場合のみ、細分化された検査信号の該当範囲
に対して検査を行なう。このためには、細分化さ
れた検査信号に対してバツフアーメモリーを設け
たり、遅延回路を設ける方法や、連続する印刷物
には異常発生が連続する特性を利用して、次の印
刷物の同一部分を細分化された検査を行なう方法
が考えられる。 Furthermore, in order to implement the present invention using only one sensor, a sampling method as shown in FIG. 4 may be used. The signal detected from a single sensor is divided into two and tested. The sampling sensor 21 always performs segmented sampling. Here, the detected signal is branched into two and transferred to a processing circuit, one signal being used as a rough test signal and the other signal being used as a subdivided test signal. At this time, rough sampling can be achieved by adding a plurality of continuous data pieces of the subdivided test signal as shown in FIG. 5 to synthesize a new signal sequence. As a result, only the synthesized rough test signals are always tested, and the subdivided test signals are not processed if no abnormality is detected. Only when an abnormality is detected as a result of the rough inspection, the corresponding range of the subdivided inspection signal is inspected. For this purpose, there are methods to provide a buffer memory or a delay circuit for the subdivided inspection signals, and to take advantage of the characteristic that abnormalities occur continuously in consecutive prints to detect the same part of the next print. One possible method is to conduct a subdivided inspection.

以上、述べた方法に限定されることなく、ラフ
なサンプリングと細分化されたサンプリングを組
み合せることにより、印刷物の検査装置におい
て、処理の高速化、構成の簡便さが得られること
になる。 As described above, by combining rough sampling and segmented sampling without being limited to the method described above, it is possible to achieve faster processing and a simpler configuration in the printed matter inspection apparatus.

次に本発明を、実施例に基いて行なう。第６図
は本発明の一実施例における処理回路のブロツク
ダイアグラムを示している。この処理回路は第２
図及び第３図で示した検査方法を実現するための
ものである。また、第６図では検出用センサーと
して、ラフなサンプリング用センサー１９と細分
化サンプリング用センサー２０の２つを用いてい
るが、さらに、各センサーに対してR700〜600n
ｍ G600〜500nｍ、B500〜400nｍの波長域に対
応した６個のセンサーを組み合わせる形式にする
ことにより、さらに印刷物の検査を効果的に行う
ことができる。 Next, the present invention will be explained based on examples. FIG. 6 shows a block diagram of a processing circuit in one embodiment of the present invention. This processing circuit is the second
This is for realizing the inspection method shown in FIGS. In addition, in Fig. 6, two detection sensors, a rough sampling sensor 19 and a subdivided sampling sensor 20, are used, and each sensor has R700 to 600n.
By combining six sensors corresponding to the wavelength ranges G600-500nm and B500-400nm, printed matter can be inspected more effectively.

第６図において、まずロータリーエンコーダ２
４よりのタイミング信号TPに基いて、CPU２３
はラフなサンプリング用センサー１９にサンプリ
ング信号SS1を送つて、印刷物のラフなサンプリ
ングを開始する。センサーから取り込まれたラフ
な検査信号RSはＡ／Ｄコンバーター２２ｂを介
してデジタル化された検査信号RDSとして差分
回路２６へ転送される。差分回路で、ラフなサン
プリング用標準信号メモリー２７に記憶された標
準信号SRDSと検査信号RDSとの引算が行なわ
れ、その結果は差分信号RDDSとしてエラー検出
回路２８へ送られる。ここで、標準信号SRDSは
印刷物が正常と判断される時、印刷機オペレータ
が操作パネル上の標準印刷指示ボタン（図示せ
ず）を押すことにより、標準信号メモリーに記憶
される型式でよい。差分信号RDDSはエラー検出
回路２８にて、スレツシユホールド設定回路２９
からのスレツシユホールド信号RSHSにてエラー
検出を行ない、その結果、異常印刷物であるとい
う判定を行つた場合、エラー信号フイードバツク
回路３０より、エラー発生信号RERSをCPU２３
に転送する。CPU２３ではエラー発生信号RERS
が発生するとタイミング信号TPとサンプリング
信号SS1に基いて異常発生部所を演算により割り
出しを行なう。ラフなサンプリング用センサー１
９と細分化サンプリング用センサー２０は第３図
に示したように印刷物を検出する位置に位相差が
あるため、上記のラフな検査に対する処理は印刷
用紙が２つのセンサー間を移動する時間内に完了
している。CPU２３では細分化サンプリング用
センサー２０に対して、異常発生部所が細分化サ
ンプリング用センサー２０の下方に到達した時点
でサンプリング信号SS2を転送し、サンプリング
を開始する。細分化サンプリング用センサ２０か
ら検出された検査信号PSはＡ／Ｄコンバータ２
２ａにてデジタル化され、デジタル化された検出
信号PDSはバツフアーメモリー３１にて格納さ
れ、差分回路３２にて細分化サンプリング用標準
信号メモリー３３に格納された標準信号SPDSと
の引算を行なわれる。標準信号はラフなサンプリ
ング用標準信号と同様な方法でメモリー内に記憶
される。この結果の差分信号PDDSはスレシユホ
ールド設定回路３４よりのスレツシユホールド信
号PSHSに基いて、エラー検出回路３５にてエラ
ー検出を行なわれる。エラー検出の結果異常印刷
の発生原因、部所をエラー判別回路３６にて分類
し、その結果、異常印刷の発生原因、部所をエラ
ー判別回路３６にて分類し、その結果をエラー標
準回路３７にてデイスプレイに表示する。エラー
表示回路に関してはデイスプレイ表示以外にマー
キング、異常印刷物のリジエクト等の手段が利用
可能である。 In Fig. 6, first the rotary encoder 2
Based on the timing signal TP from 4, the CPU 23
sends a sampling signal SS1 to the rough sampling sensor 19 to start rough sampling of the printed material. The rough test signal RS taken in from the sensor is transferred to the difference circuit 26 as a digitized test signal RDS via the A/D converter 22b. The difference circuit subtracts the standard signal SRDS stored in the rough sampling standard signal memory 27 and the test signal RDS, and the result is sent to the error detection circuit 28 as a difference signal RDDS. Here, the standard signal SRDS may be of a type that is stored in a standard signal memory when the printing press operator presses a standard print instruction button (not shown) on the operation panel when it is determined that the printed matter is normal. The difference signal RDDS is sent to the error detection circuit 28 and the threshold setting circuit 29.
Error detection is performed using the threshold signal RSHS from
Transfer to. In CPU23, error occurrence signal RERS
When this occurs, the location where the abnormality has occurred is determined by calculation based on the timing signal TP and the sampling signal SS1. Rough sampling sensor 1
9 and the subdivision sampling sensor 20 have a phase difference in the positions at which they detect the printed matter, as shown in FIG. Completed. The CPU 23 transfers the sampling signal SS2 to the subdivision sampling sensor 20 when the abnormality occurrence point reaches the bottom of the subdivision sampling sensor 20, and starts sampling. The inspection signal PS detected from the subdivision sampling sensor 20 is sent to the A/D converter 2.
2a, the digitized detection signal PDS is stored in a buffer memory 31, and a difference circuit 32 performs subtraction with the standard signal SPDS stored in a standard signal memory 33 for subdivided sampling. It will be done. The standard signal is stored in memory in a similar manner as the rough sampling standard signal. The resulting difference signal PDDS is subjected to error detection in an error detection circuit 35 based on a threshold signal PSHS from a threshold setting circuit 34. As a result of error detection, the cause and location of abnormal printing are classified by the error discrimination circuit 36, and as a result, the cause and location of the abnormal printing are classified by the error discrimination circuit 36, and the results are classified by the error standard circuit 37. displayed on the display. Regarding the error display circuit, in addition to display display, means such as marking, rejecting abnormal printed matter, etc. can be used.

以上のように、本発明の印刷物検査装置を利用
すると、通常はラフな検査を行ない、以上感知が
あつた場合のみ細分化された検査を行なうため、
処理時間、バツフアーメモリーに余裕ができ装置
が簡便化できる。 As described above, when the printed matter inspection apparatus of the present invention is used, a rough inspection is normally performed, and only when the above detection is detected, a detailed inspection is performed.
Processing time and buffer memory can be saved, and the equipment can be simplified.

また、第４図及び第５図で示したサンプリング
方法を実現するためには第７図に示すようなブロ
ツクダイアグラムの処理回路を設ければよい。 Furthermore, in order to realize the sampling method shown in FIGS. 4 and 5, a processing circuit with a block diagram as shown in FIG. 7 may be provided.

第７図において、サンプリング用センサー２１
からとりこまれた検査信号SSはＡ／Ｄコンバー
タ３８を介してデジタル化された検査信号DSSに
変換され分岐回路３９に転送される。分岐回路で
はラフなサンプリング用信号RDSを合成するた
め平均化回路４０に細分化サンプリング用信号
PDS1を転送する。複数のデータを加算すること
により得られたラフなサンプリング用信号RDS
は、一時バツフアメモリー４１に格納された後、
差分回路２６に転送され、以下第６図と同じ処理
が行なわれる。一方、分岐回路から別に分岐した
細分化サンプリング信号PDS2はラフな検査が終
るまでの時間だけ遅延回路４２にて遅延された
後、バツフアーメモリー４３に一時格納され差分
回路３２に転送され、以下第６図と同様な処理が
行なわれる。ここでバツフアーメモリーへの格納
は、ラフな検査にて異常検出があつた場合、
CPUから転送されるサンプリング信号SS2に基い
て行なわれる。以上、第７図に示す方法を用いる
ことにより、第６図に比べて、さらに検査装置は
簡便化が可能となる。 In FIG. 7, the sampling sensor 21
The test signal SS taken in is converted into a digitized test signal DSS via the A/D converter 38 and transferred to the branch circuit 39. In the branch circuit, the fine sampling signal is sent to the averaging circuit 40 to synthesize the rough sampling signal RDS.
Transfer PDS1. Rough sampling signal RDS obtained by adding multiple data
is temporarily stored in the buffer memory 41, and then
The signal is transferred to the difference circuit 26, and the same processing as shown in FIG. 6 is performed hereafter. On the other hand, the subdivided sampling signal PDS2 separately branched from the branch circuit is delayed in the delay circuit 42 by the time until the rough inspection is completed, and then temporarily stored in the buffer memory 43 and transferred to the difference circuit 32. Processing similar to that shown in FIG. 6 is performed. Here, storage in the buffer memory is performed when an abnormality is detected in a rough inspection.
This is performed based on the sampling signal SS2 transferred from the CPU. As described above, by using the method shown in FIG. 7, the inspection apparatus can be further simplified compared to the method shown in FIG.

またこの実施例の比較処理する判別手段に差分
回路を用いているが、微分、積分、割算等の他の
手段及びそれを組合せた回路を用いても良い。 Further, although a differential circuit is used as the discrimination means for performing comparison processing in this embodiment, other means such as differentiation, integration, division, etc., and circuits combining these may also be used.

本発明は以上の如きであるので、以下の様な効
果を生ずる。 Since the present invention is as described above, it produces the following effects.

すなわち、ラフな検査と細分化された検査を組
合せることにより、単純に検査を行なう時に比べ
て、装置の簡便化、及び低コスト化を得ることが
出来る様になり、きわめて、有効なものである。 In other words, by combining rough inspection and detailed inspection, it is possible to simplify the equipment and reduce costs compared to simply performing inspection, which is extremely effective. be.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第１図は本発明の印刷物検査装置を枚葉印刷機
に取り付けた所の説明図、第２図は、２つのサン
プリングセンサー使用時の画像におけるサンプリ
ング単位を示す説明図、第３図は、２つのサンプ
リングセンサーを用いる場合の説明図、第４図は
１つのサンプリングセンサーの場合の説明図、第
５図は、１つのサンプリングセンサー使用時にお
けるサンプリング単位を示す説明図、第６図は、
２つのセンサーで実現するための一実施例の処理
回路のブロツクダイアグラムを示すブロツク図、
第７図は１つのセンサーで実現するための一実施
例の処理回路のブロツクダイアグラムを示すブロ
ツク図。１……渡し胴、２……圧胴、３……ブラン胴、
４……版胴、５……排紙胴、６……チエーン、７
……スプロケツト、８……印刷物、９……検出
部、１０……タイミング検出部、１１……検出信
号、１２……タイミング信号、１３……処理回
路、１４……エラー信号、１５……印刷用紙、１
６……印刷ユニツト、１７……ラフサンプリング
のサンプリング単位、１８……細分化サンプリン
グのサンプリング単位、１９……ラフなサンプリ
ング用センサー、２０……細分化サンプリング用
センサー、２１……サンプリング用センサー、２
２ａ，２２ｂ，３８……Ａ／Ｄコンバータ、２３
……CPU、２４……ロータリーエンコーダ、２
６……差分回路、２７……ラフなサンプリング用
標準信号メモリー、２８……エラー検出回路、２
９……ラフなサンプリング用スレツシユホールド
設定回路、３０……エラー信号フイードバツク回
路、３１……バツフアーメモリー、３２……差分
回路、３３……細分化サンプリング用標準信号メ
モリー、３４……細分化サンプリング用スレツシ
ユホールド設定回路、３５……エラー検出回路、
３６……エラー判定回路、３７……エラー表示回
路、３９……分岐回路、４０……平均化回路、４
１……バツフアメモリー、４２……遅延回路、４
３……バツフアメモリー、Ａ……処理回路。 Fig. 1 is an explanatory diagram of the printed matter inspection device of the present invention attached to a sheet-fed printing press, Fig. 2 is an explanatory diagram showing sampling units in an image when two sampling sensors are used, and Fig. 3 is an explanatory diagram showing the sampling unit of an image when two sampling sensors are used. FIG. 4 is an explanatory diagram when using one sampling sensor. FIG. 5 is an explanatory diagram showing the sampling unit when one sampling sensor is used. FIG. 6 is an explanatory diagram when using one sampling sensor.
A block diagram showing a block diagram of a processing circuit of an embodiment to be realized with two sensors,
FIG. 7 is a block diagram showing a processing circuit of an embodiment to be realized with one sensor. 1... Transfer cylinder, 2... Impression cylinder, 3... Blanc cylinder,
4...Print cylinder, 5...Discharge cylinder, 6...Chain, 7
... Sprocket, 8 ... Print, 9 ... Detection section, 10 ... Timing detection section, 11 ... Detection signal, 12 ... Timing signal, 13 ... Processing circuit, 14 ... Error signal, 15 ... Print paper, 1
6... Printing unit, 17... Sampling unit for rough sampling, 18... Sampling unit for subdivided sampling, 19... Sensor for rough sampling, 20... Sensor for subdivided sampling, 21... Sensor for sampling, 2
2a, 22b, 38...A/D converter, 23
...CPU, 24 ...Rotary encoder, 2
6...Differential circuit, 27...Standard signal memory for rough sampling, 28...Error detection circuit, 2
9...Threshold setting circuit for rough sampling, 30...Error signal feedback circuit, 31...Buffer memory, 32...Difference circuit, 33...Standard signal memory for subdivision sampling, 34...Subdivision Sampling threshold setting circuit, 35... error detection circuit,
36...Error determination circuit, 37...Error display circuit, 39...Branch circuit, 40...Averaging circuit, 4
1...Buffer memory, 42...Delay circuit, 4
3... Buffer memory, A... Processing circuit.

Claims

【特許請求の範囲】１印刷物の絵柄を印刷機上で走査し該絵柄情報
を電気信号として検出する画像検出手段と、該電
気信号を予め記憶された標準信号と比較演算する
判別手段とからなる印刷物検査装置において、前記判別手段は、粗いサンプリング単位の電気信号と予め記憶さ
れた粗いサンプリング単位の標準信号と比較演算
する第１の判別手段と、この第１の判別手段からの異常信号に基いて、
細分化されたサンプリング単位の電気信号と予め
記憶された細分化されたサンプリング単位の標準
信号を比較演算する第２の判別手段とから構成されることを特徴とする印刷物検査装
置。２特許請求の範囲第１項記載の印刷物検査装置
において、前記画像検出手段は、粗いサンプリング単位のためのセンサーと、細分化されたサンプリング単位のためのセンサ
ーとから構成されることを特徴とする印刷物検査装
置。３特許請求の範囲第１項記載の印刷物検査装置
において、前記画像検出手段は、この画像検出手段から検出される電気信号を複
数の画像毎に加算し粗いサンプリング単位の電気
信号とする平均化手段と、前記画像検出手段から検出される電気信号を所
望時間だけ遅延する手段とから構成されることを特徴とする印刷物検査装
置。[Scope of Claims] 1. Consists of an image detection means for scanning the pattern of a printed matter on a printing press and detecting the pattern information as an electrical signal, and a discriminating means for comparing and calculating the electrical signal with a standard signal stored in advance. In the printed matter inspection apparatus, the discrimination means includes a first discrimination means that compares and calculates an electrical signal in coarse sampling units with a standard signal in coarse sampling units stored in advance, and an abnormal signal based on the abnormal signal from the first discrimination means. There,
1. A printed matter inspection device comprising a second discriminating means for comparing and calculating an electrical signal of a subdivided sampling unit with a pre-stored standard signal of a subdivided sampling unit. 2. The printed matter inspection apparatus according to claim 1, wherein the image detection means is comprised of a sensor for coarse sampling units and a sensor for finely divided sampling units. Print inspection equipment. 3. In the print inspection apparatus according to claim 1, the image detection means includes an averaging means for adding electrical signals detected from the image detection means for each of a plurality of images to obtain an electrical signal in rough sampling units. and means for delaying the electric signal detected by the image detecting means by a desired time.