JPH0455705A - 端部検出装置 - Google Patents

端部検出装置

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JPH0455705A
JPH0455705A JP16746190A JP16746190A JPH0455705A JP H0455705 A JPH0455705 A JP H0455705A JP 16746190 A JP16746190 A JP 16746190A JP 16746190 A JP16746190 A JP 16746190A JP H0455705 A JPH0455705 A JP H0455705A
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Kiyoshi Shibukawa
渋川 清
Noriaki Hiraiwa
平岩 紀昭
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はウェブなどの端部位置を検出する端部検出装置
に係わり、特に端部の位置を正確に検出する端部検出装
置に関する。
【従来の技術〕
直線状に所定ピッチで光導電セル、フォト・ダイオード
、フォト・トランジスタなどの受光素子を配置した受光
センサーと、この受光センサーに平行光を照射する光源
との間にウェブなどの端部検出対象を配設し、ウェブに
よって遮光される受光素子の数からウェブ端の位置を計
測することが行われている。このウェブ端を正確に検出
するためには光源からの光を受光素子に平行に入射しな
ければならない、このため種々の装置が用いられている
がその一例を第7図で説明する。第7図は所定の平行な
長さを持った受光筒に各受光素子を取り付けた受光セン
サーを示す。(a)は平面図を示す、受光素子は不感帯
が生じないよう千鳥状に配置されるので、これに応じた
受光筒配置とする。
(ロ)は側面図であり(C)は断面図である。受光筒に
斜めに入射した光はカットされ平行入射光のみが受光素
子に到達するようになっている。
〔発明が解決しようとする課題〕
ところで端部検出対象がjll板などのように、光を完
全に遮光するものである場合は、端部検出は精度よく行
われるが、ある程度光を透過するような対象物である場
合、端部を正確に限定することが困難となる。第3図は
端部検出対象が光をある程度透過するような場合の受光
素子の出力を模式的に表したものである。(a)は光源
!、ウェブ2受光センサー3の位置関係を示し、(ハ)
は受光センサー3の各受光素子の出力の分布を示す、受
光素子の出力はら)に示すように3つのグループに分け
られる。NAのグループはウェブ2の影響を受けないグ
ループである。このNAグループ内の出力にも多少のば
らつきがある。これは光源の平行光のばらつきなどによ
って生ずるものと思われる。
Ncのグループは、ウェブ2の端部近傍の受光素子のグ
ループである。受光素子の出力は段階的に減少しており
、ウェブ端で明確に区別されない。
N、のグループはウェブ2で遮光される受光素子のグル
ープであるが暗電流およびIN+@の外光並びに対象物
を透過した光により、ある程度の出力がある。
上記のような場合、従来は各受光素子の出力の和から平
均的な値を求めてウェブ端としていた。
このためN、グループの受光素子のように、ウェブ端部
の検出に参入してはならない出力も加算され正確な端部
を検出することが困鍵であった。この−例を第4図、第
5図を用いて説明する。
第4図はある程度光を透過する素材に横様の描かれたウ
ェブ2の端部を検出する説明図である。
第5図(a)はこの結果を示したもので、実線はウェブ
が完全に光を遮断する場合の、ウェブ端部位置とこれを
検出した位置信号の関係を表し、破線は第4図の場合を
示す、この破線は模様が変わると変化する。
また、ウェブ端を明瞭に検出するためには、ウェブに垂
直な平行光のみを検出する必要があり、第7図に示した
受光筒を設けるか、光源から照射する光の方向を規制す
るレンズ系を必要とする。
従って、光源と受光素子の間に受光筒又はレンズ系を挿
入する間隔が必要で、端部検出装置のウェブに垂直な方
向の寸法も大きくなる。しかしこの端部検出装置を設置
するスペースは一般に十分とれない場合が多く、薄形の
端部検出装置を必要とする場合が多い。
本発明は、上述の問題点に鑑みてなされたものであり、
端部検出対象がある程度光を透過する場合でも端部を精
度よく検出することのできる端部検出装置を提供するこ
とを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
上記目的を達成するため、2つのしきい値を設け、この
間の受光素子出力に基づき端部の位置決めをするように
したもので、本発明の端部検出装置は、直線状に所定ピ
ッチで受光素子を配置した受光センサーに光を照射する
光源と前記受光センサーの間に端部を検出する検査対象
を配設し、この検査対象により前記光を遮光された前記
受光素子から前記検査対象の端部位置を検出する端部検
出装置において、前記受光素子の出力範囲内の値で第1
しきい値を設定し、この第1しきい値より小さい債で第
2しきい値を設定するしきい値設定手段と、この第1し
きい値以下で第2しきい値以上の出力をする第1群受光
素子の数の計数値である第1計数値と前記第2しきい値
未満を出力する第2群受光素子の数の計数値である第2
計数値を演算する計数手段と、前記第1群の各受光素子
の出力について前記第1しきい値と各受光素子の出力と
の差に前記所定ピッチを乗じた素子遮光面積を演算し前
記第1群の各受光素子の前記素子遮光面積の和よりなる
第1群遮光面積と前記第1しきい値と前記第2しきい値
の差に前記所定ピッチと前記第1計数値を乗じてなる第
1群照射面積とを演算する面積演算手段と、前記第1群
遮光面積を前記第一群照射面積で除した値に前記所定ピ
ンチと前記第1計数値を乗してなる第1群遮光長と前記
第2計数値に前記所定ピッチを乗じてなる第2群遮光長
との和よりなる検出対象物遮光長を演算する端部演算手
段とを備えたものである。また、前記第1しきい値を前
記受光素子の最大出力より所定値小さい値とし、前記第
2しきい値として前記受光素子の最小出力より所定置値
大きい値とするようにしたものである。
また、前記光源より近赤外光をパルス点灯し、このパル
ス点灯を前記受光センサーで受光するようにしたもので
ある。
〔作 用〕
上記構成により、しきい値設定手段により、受光素子の
出力範囲内で、第1しきい値と、これより低い値の第2
しきい値を設定する。計数手段は受光素子の出力が第1
しきい値以下で第2しきい値以上の受光素子よりなる第
1群を選び、この第1群の受光素子の数を計数して第1
計数値を求め、さらに第2しきい値未満を出力する受光
素子よりなる第2群を選び、この第2群の受光素子の数
を計数して第2計数値を求める0面積演算手段は第1群
の受光素子について、第1しきい値と各受光素子の出力
との差に受光素子間のピッチを乗した受光素子毎の素子
遮光面積を求め、この面積を第1群の素子について合計
した第1群遮光面積と、第1しきい値と第2しきい値の
差に前記所定ピッチと第1群計数値とを乗じてなる第1
群照射面積を演算する。端部演算手段は第1群遮光面積
を第1群照射面積で除した値に所定ピッチと第1計数値
を乗じて第1群遮光長を得る。これは検査対象の端部を
確定する値である0次に第2計数値に所定ピッチを乗じ
て第2群遮光長を算出する。これは遮光部分の長さであ
る。この第1群遮光長と第2群遮光長の和が、受光セン
サーの端部から検査対象の端部までの長さを表す、また
、第1しきい値として受光素子の最大出力より所定値だ
け小さい値をとり、第2しきい値として受光素子の最小
出力より所定値だけ大きい値をとることにより光源より
の光の平行度の低下による影響を除去でき、また検出対
象を透過する光の影響および周囲の外光の影響を排除す
ることもできるので、端部の位置の検出精度が向上する
また光源より近赤外をパルス点灯し、このパルス点灯を
受光することにより可視光の影響およびパルス点灯して
いないときに入射する外光の影響を排除することができ
る。
〔実 施 例〕
以下、本発明の一実施例を図面を参照して説明する。
第1図は本実施例の構成を示すブロック図である。第1
図において、1は光を照射する光源であり、2は検査対
象となるウェブである。3は受光センサーで受光素子が
直線状にピッチ!で配置されている。4はマルチプレク
サで受光センサー3の各受光素子の出力を切換えて出力
する。5はアナログ/ディジタル変換器で受光素子の出
力をディジタル値に変換する。6はコントローラでマイ
クロプロセッサを有し受光素子の出力からウェブの端部
を演算する。7はメモリで受光素子の出力やコントロー
ラ6の出力を記憶する。8はディジタル/アナログ変換
器でコントローラ6の出力をアナログ値として出力する
次にコントローラ6の構成および動作について第2図、
第3図を用いて説明する。第2図はコントローラの構成
を示すブロック図であり、第3図はウェブ2により光源
1からの光を一部遮光された受光センサー3の各受光素
子の出力を模式的に表した図である。第2図においてし
きい値設定部は受光センサー3の出力に基づき、第1し
きい値と第2しきい値を決定する。第3図(a)は光源
1とウェブ2と受光センサー3との位置関係を示す。
(1))は(a)に示す位置関係にあるときの各受光素
子の出力を模式的に表したもので図中lは各受光素子間
のピッチを示し、Hは第1しきい値、Lは第2しきい値
を示す、NAはウェブ2の影響を受けない受光素子の数
を示し、Ncはウェブ2の端部近傍の受光素子の数を示
し、N、はウェブ2により遮光される受光素子の数を示
している NAの受光素子のグループでも受光素子の出
力には多少のばらつきがある。これは光源lの端部なと
は光が少なく、また斜めに入ってくる光の量は場所によ
って異なることに起因するものと思われる。Ncの受光
素子のグループはウェブ2の端部の影響により受光素子
の出力が変化する。clで示すようにもしも平行光だけ
を受けるのであれば出力が減少しないところでも出力の
減少が生じ、C2,cnのように平行光だけならば出力
がN1グループと同様となるようなところもかなりの出
力がある。
これは斜めに入ってくる光とともに、ウェブを透過する
光もあるものと思われる。N、の受光素子のグループは
ウェブ2により遮光される範囲であるがウェブ2の透過
光により多少の出力がある。
このような受光素子の出力分布より第1しきい値11を
決める方法として、まずN、グループのようにウェブ2
の影響を受けないグループの受光素子の出力を考え、こ
れらのうちの最小値(alの値)より少し小さい値とす
る。次に第2しきい値しはウェブ2による遮光範囲とな
るN、グループの受光素子の出力のうちの最大値(b2
の値)よりも少し大きな値とする。このように第2しき
い値りを決めるとウェブ2がある程度光を透過するもの
で、これに絵や模様などが印刷され透過光が変動するよ
うな場合でもこの変化量は(b)において下る方向なの
で第2しきい値りの値には影響を与えない0次に第2図
に戻り、計数部62は第1しきい値Hと第2しきい値り
の間にある出力の受光素子の合計値つまり第3図のN、
と、第2しきい値り未満の出力をする受光素子の合計値
つまりN。
を算出する。面積演算部63はN、グループの各受光素
子について第1しきい(aHから各受光素子の出力を引
いた値にピッチlを掛けた値である素子遮光面積を求め
、この面積をN、グループの受光素子の全部について加
えた第1遮光面積、つまり第3図(ロ)の斜線で示す面
積と、第1しきい値11と第2しきい値りの差にピッチ
eとN、(N、グループの受光素子の数)を掛けた第1
群照射面積、つまり、第1しきい値Hと第2しきい値り
とN。
で囲まれる長方形の面積を求める。端部演算部64は第
1群照射面積に対する第1群遮光面積の割合にlとNc
を乗じた第1群遮光長とN1にピッチ!を乗じた第2群
遮光長を算出し、この両遮光長の和からウェブ2の端部
位置を算出する。
次に本実施例の効果を第4図、第5図を用いて説明する
。第4図はウェブ2として光をある程度透過し、かつ模
様の印刷されたものを用いる。光11からの平行光をウ
ェブ2と受光センサー3に照射する。第5図は端部位置
の検出結果を示す図で(a)は従来の装置、(b)は本
実施例の結果を示す。
(a)において実線はウェブが鋼板などの光を透過しな
い場合を示し、破線が第4図に示すウェブ2である。鋼
板などのように光を透過しないものはウェブ2の端位置
と端部検出装置の出力信号である位置信号は比例し端部
の検出が精度よく行われることを示す、しかし第4図の
ような場合ウェブ2の透過光があり、しかもこの透過光
が模様によって変化するため、破線で示すように端部の
位置が不明確に検出される。(b)は本実施例の場合で
、第4図のウェブ2でも鋼板でも同一の実線で検出され
る。なおら)に示す本実施例では第7図で説明した受光
筒を用いずに行ったものであり、このような光学的補助
部品を用いなくても精度よく端部を検出できる。
次に第2実施例を第6図を用いて説明する。なお、第1
図と同一符号のものは同一機能を有する。
本実施例は光源として、半導体発光素子をパルス点灯さ
せたもので第6図において、パルス発生回路11により
発生したパルス波をドライバ12を介して半導体発光素
子(LED)に印加し、近赤外光をパルス状に出射する
。受光センサー3の各受光素子からの出力はマルチプレ
クサ4でパルス周期に同期して切換えて出力される。以
降は第1実施例と同様である。
本実施例によれば、光源としてLEDにより近赤外光を
パルス点灯し、これと同期して受光素子の出力を取り込
むことにより、可視光や連続的な周囲外光の影響を除去
し、平均的には小さな点灯エネルギーでありながら、同
期中は大きな信号出力を得ることができる。
以上説明した第1実施例および第2実施例においては、
光源としてLEDの出射光をそのまま用い、前述した受
光筒とか、レンズなどを用いて平行光とするような補助
手段を用いていない、従ってウェブ等の検査対象物の垂
直方向のスペースが狭いような所でも本発明になる端部
検出装置を設置することが可能となる。
〔発明の効果〕
以上の説明から明らかなように、本発明は受光素子の出
力を上、下2つのしきい値で区分して演算処理して検出
対象の端部を求めるので精度よく端部を検出でき、さら
に検出対象が多少光を透過する場合、またこの検出対象
に模様などが印刷されている場合でも精度よく端部を検
出することができる。また検出光を平行光だけに限定す
るための受光筒やレンズ系が不用であるから、ウェブに
垂直な方向のスペースが小さな場合でも本発明の端部検
出装置を設置することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例の構成を示すブロック図、第2
図は第1図に示すコントローラの詳細構成を示すブロッ
ク図、第3図は受光センサーの出力を示す模式図、第4
図は模様の印刷されたウェブを検出する状況を説明する
図、第5図は本実施例と従来例の検出結果を示す図、第
6図は光源の光のうち平行光のみを受光素子が受光する
ようにする受光筒の説明図である。 光源 受光センサー コントローラ ドライバ しきい値設定部 面積演算部 m− ウェブ マルチプレクサ パルス発生回路 LED 計数部 端部演算部

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)直線状に所定ピッチで受光素子を配置した受光セ
    ンサーに光を照射する光源と前記受光センサーの間に端
    部を検出する検査対象を配設し、この検査対象により前
    記光を遮光された前記受光素子から前記検査対象の端部
    位置を検出する端部検出装置において、前記受光素子の
    出力範囲内の値で第1しきい値を設定し、この第1しき
    い値より小さい値で第2しきい値を設定するしきい値設
    定手段と、この第1しきい値以下で第2しきい値以上の
    出力をする第1群受光素子の数の計数値である第1計数
    値と前記第2しきい値未満を出力する第2群受光素子の
    数の計数値である第2計数値を演算する計数手段と、前
    記第1群の各受光素子の出力について前記第1しきい値
    と各受光素子の出力との差に前記所定ピッチを乗じた素
    子遮光面積を演算し前記第1群の各受光素子の前記素子
    遮光面積の和よりなる第1群遮光面積と前記第1しきい
    値と前記第2しきい値の差に前記所定ピッチと前記第1
    計数値を乗じてなる第1群照射面積とを演算する面積演
    算手段と、前記第1群遮光面積を前記第一群照射面積で
    除した値に前記所定ピッチと前記第1計数値を乗じてな
    る第1群遮光長と前記第2計数値に前記所定ピッチを乗
    じてなる第2群遮光長との和よりなる検出対象物遮光長
    を演算する端部演算手段とを備えたことを特徴とする端
    部検出装置。
  2. (2)前記第1しきい値を前記受光素子の最大出力より
    所定値小さい値とし、前記第2しきい値として前記受光
    素子の最小出力より所定量値大きい値とすることを特徴
    とする請求項1記載の端部検出装置。
  3. (3)前記光源より近赤外光をパルス点灯しこのパルス
    点灯を前記受光センサーで受光することを特徴とする請
    求項1または2記載の端部検出装置。
JP16746190A 1990-06-26 1990-06-26 端部検出装置 Expired - Lifetime JPH0629698B2 (ja)

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JPH0629698B2 JPH0629698B2 (ja) 1994-04-20

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5932888A (en) * 1995-02-24 1999-08-03 Koenig & Bauer-Albert Aktiengesellschaft Web or sheet edge position measurement process and device
US7798690B2 (en) 2005-07-29 2010-09-21 Koito Manufacturing Co., Ltd. Vehicle headlamp
JP2013205356A (ja) * 2012-03-29 2013-10-07 Denso Wave Inc ターゲットサイズ測定装置
JP2013205355A (ja) * 2012-03-29 2013-10-07 Denso Wave Inc ターゲットサイズ測定装置
US9382368B2 (en) 2012-08-17 2016-07-05 Sekisui Chemical Co., Ltd. Reactant of silicon resin polycondensate particles and polyvinyl chloride, method for manufacturing said reactant, vinyl chloride resin composition, and method for manufacturing vinyl chloride resin composition

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5932888A (en) * 1995-02-24 1999-08-03 Koenig & Bauer-Albert Aktiengesellschaft Web or sheet edge position measurement process and device
US7798690B2 (en) 2005-07-29 2010-09-21 Koito Manufacturing Co., Ltd. Vehicle headlamp
JP2013205356A (ja) * 2012-03-29 2013-10-07 Denso Wave Inc ターゲットサイズ測定装置
JP2013205355A (ja) * 2012-03-29 2013-10-07 Denso Wave Inc ターゲットサイズ測定装置
US9382368B2 (en) 2012-08-17 2016-07-05 Sekisui Chemical Co., Ltd. Reactant of silicon resin polycondensate particles and polyvinyl chloride, method for manufacturing said reactant, vinyl chloride resin composition, and method for manufacturing vinyl chloride resin composition

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