JPH0451112A - マルチスリット投光器 - Google Patents

マルチスリット投光器

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JPH0451112A
JPH0451112A JP15879990A JP15879990A JPH0451112A JP H0451112 A JPH0451112 A JP H0451112A JP 15879990 A JP15879990 A JP 15879990A JP 15879990 A JP15879990 A JP 15879990A JP H0451112 A JPH0451112 A JP H0451112A
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JP
Japan
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light
slit
slit light
pitch
parallel
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JP15879990A
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Tsugihito Maruyama
次人 丸山
Shinji Kanda
真司 神田
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [概要] 複数の平行なスリット光を被測定物に投光して三次元計
測を行う為のマルチスリット投光器に関し、 簡単な構成により三次元計測に於ける分解能を向上させ
ることを目的とし、 光源からの平行光が入射され、回折方向が互いに直交し
て配置された第1及び第2の回折格子と、該第1及び第
2の回折格子の回折出力光が入射され、該第1及び第2
の回折格子の何れか一方の回折方向に分散された複数の
平行スリット光を出力する円柱型レンズと、該円柱型レ
ンズからの平行スリット光の中の所定のスリット光を遮
断してコード化するシャッタアレイとを備えたマルチス
リット投光器に於いて、前記光源に対して前記第1及び
第2の回折格子の少なくとも何れか一方を含む構成を、
前記平行スリット光と直交する方向に微小距離移動させ
るアクチュエータを設けて構成した。
(産業上の利用分野〕 本発明は、複数の平行なスリット光を被測定物に投光し
て三次元計測を行う為のマルチスリット投光器に関する
ものである。
各種のロボッI・等の自動装置に於ける被測定物の認識
の為の三次元視覚機能や、物体形状を計測して入力する
形状入力装置等に於いて、被測定物に対してスリット光
を照射し、そのスリット光を走査し、照射方向と異なる
角度から撮像して、三角測量法の原理により、観測点か
らスリット光照射位置までの距離を算出し、被測定物の
形状を認識する構成が知られている。
このスリット光の走査の代わりに、複数の平行なスリッ
ト光を照射するマルチスリット投光器を用いることによ
り、同時に複数点の計測が可能となるものである。この
場合の被測定物の計測の分解能は、撮像装置の分解能と
スリット光のピッチとにより定まるものであり、簡単な
構成により分解能を向上することが要望されている。
〔従来の技iネi] 複数の平行なスリット光を照射する為の従来例のマルチ
スリット投光器は、例えば、第6図に示すように、キセ
ノンランプ等の高輝度ランプ61からの光がスリット6
2を介してレンズ63に入射され、複数の平行なスリッ
ト光64として、被測定物に照射される。その場合のス
リット光64の長さLlが得られるように、スリット6
2やレンズ63等が選定される。
又第7図に示す従来例は、半導体レーザとコリメートレ
ンズと円柱型レンズ等とを組合せて、スリット光をミラ
ー75に照射する複数の光源71゜72.73を、モー
タ74の回転軸を中心とした円周上に配置し、ミラー7
5をモータ74により回転して、スリット光を被測定物
に照射するものであり、光源は更に多数設けることもで
きる。
ミラー75の長さL2は、例えば、12cm、モータ7
4の回転軸と各光源71.,72.73との間の距離は
、例えば、20cmに設定されており、比較的大型な構
成となるものである。
第8図は先に提案されたマルチスリット投光器の説明図
であり、半導体レーザ81aからの単一波長の出射光は
コリメートレンズ81bにより平行光となり、第1の回
折格子82に入射されて、長円形の複数のスポット光か
らなる出力光87となる。この出力光87は第2の回折
格子83に入射され、第1と第2の回折格子82.83
の回折方向が互いに直交しているので、第2の回折格子
83(7)出力光8 Bは、複数のスポット光列となる
この出力光88は円柱型レンズ84に入射され、円柱型
レンズ84の長手方向を図示のようにX軸方向とした時
に、その出力光89は、隣接スボ・シト光がy軸方向に
一部重なる状態となり、シャッタアレイ85を介してマ
ルチスリット光となる。
このシャッタアレイ85は、任意の位置のスリット光の
オン、オフを制御できるシャッタであり、例えば、3回
の照射に於けるシャッタアレイ85の制御により、23
本のスリット光を識別できるようにコード化することが
でき、各スリット光の位置を容易に識別できることにな
る。
[発明が解決しようとする課題] スリット光を用いた三次元計測手段に於いては、撮像装
置の画素分解能の精度、或いはそれ以上の精度で計測す
ることが要望されている。前述の第6図に示す従来例は
、スリット光の幅はスリット62により定まり、通常は
、製作精度の関係もあって、撮像装置の画素に比較して
スリット光の幅が大きく、1本のスリット光が撮像装置
の2画素以上にまたがって撮像されることになる。従っ
て、分解能を向上することが困難であった。
これに対して、第7図に示す従来例は、スリット光の断
面方向の輝度分布がガウシアン分布となり、仮にスリッ
ト光が撮像装置の2画素以上にまたがって撮像されても
、重み付は演算や比較演算等により、スリット光中心を
求めることができる。
従って、画素分解能を向上することができる。
しかし、被測定物の三次元計測を高速で行う場合には、
スリット光の本数は50〜60本以上が必要とされてい
る。従って、第7図に示す従来例に於いては、数10個
の光源を、モータ74の回転軸を中心とした円周上に配
置する必要があり、大型化すると共に高価となるから、
実用化することは困難である。
又ロボット等の自動装置の視覚機能を実現する場合には
、移動体上にマルチスリット投光器を搭載することにな
り、従って、小型化する必要がある。しかし、第6図に
示す従来例は、高輝度ランプ61を用いるものであるか
ら、小型化は困難であり、又第7図に示す従来例も前述
のように小型化が困難である。
又第8図に示すマルチスリット投光器は、1個の半導体
レーザ81aを用い、第1.第2の回折格子82.83
と円柱型レンズ84とを設けることにより、マルチスリ
ット光を形成することができるから、小型化が容易とな
る。しかし、画素分解能については、第6図に示す従来
例と類似したようなものとなる欠点がある。
本発明は、簡単な構成により三次元計測に於ける分解能
を向上させることを目的とするものである。
〔課題を解決するための手段] 本発明のマルチスリット投光器は、第8図に示すマルチ
スリット投光器を基本構成とし、マルチスリット光をシ
フトできるようにして画素分解能を向上させたものであ
り、第1図を参照して説明する。
半導体レーザ1aとコリメートレンズIbとからなる光
源1からの平行光が入射され、回折方向が互いに直交し
て配置された第1及び第2の回折格子2.3と、この第
1及び第2の回折格子23の回折出力光が入射され、第
1及び第2の回折格子2,3の何れか一方の回折方向に
分散された複数の平行スリット光を出力する円柱型レン
ズ4と、この円柱型レンズ3からの平行スリット光の中
の所定のスリット光を遮断してコード化するシャッタア
レイ5とを備えたマルチスリット投光器に於いて、光源
1に対して第1及び第2の回折格子の少なくとも何れか
一方を含む構成を、平行スリット光と直交する方向に微
小距離移動させるアクチュエータ6を設けたものである
〔作用] 光源1からの平行光は、第1の回折格子2により長円形
のスポット光7となり、第2の回折格子3によりマトリ
クス状のスポット光8となる。そして、円柱型レンズ4
の長平方向と直交する方向のピッチ10の平行スリット
光9となり、シャッタアレイ5に入射され、選択された
シャッタにより平行スリット光9はコード化される。
アクチュエータ6により、第1及び第2の回折格子2.
3と、円柱型レンズ4とシャッタアレイ5とを、y軸方
向のスリット光と直交するX軸方向に、例えば、ピッチ
Pの半分だけ移動させると、平行スリット光9は、ピッ
チPの1/2のピッチのスリット光を照射する場合と等
価となり、画素分解能を向上することができる。同様に
、ピッチPの1/3と2/3とを2回に分けて移動させ
ると、平行スリット光9は、ピッチPの1/3のピッチ
のスリット光を照射する場合と等価となる。
従って、簡単な構成により画素分解能を向上することが
できる。
[実施例] 以下図面を参照して本発明の実施例について詳細に説明
する。
第2図は本発明の一実施例の斜視図であり、アクチュエ
ータとしてボイスコイルモータ20を用いた場合を示し
、第3図はその要部断面図である。
各図に於いて、llaは半導体レーザ、11. bはコ
リメートレンズ、12は第1の回折格子、13は第2の
回折格子、14は円柱型レンズ、15はシャッタアレイ
、16は第1及び第2の回折格子12.13と円柱型レ
ンズ14とシャッタアレイ15とを支持する支持枠、1
7は基板、17aは直立部分、18.19は支持ばね、
21は鉄心、22はコイル、23は支持円筒、24は永
久磁石界磁である。
半導体レーザIlaからの単一波長の光がコリメータレ
ンズllbにより平行光となり、第1の回折格子12に
入射されて長円形のスボ・ノド光が1列に配列された出
力光となる。この出力光は第2の回折格子13に入射さ
れてマトリクス状に配列されたスポット光となり、円柱
型レンズ14に入射される。この円柱型レンズ14は、
第1図に於いても半円柱状の場合を示しているが、完全
な円柱状とすることも可能であり、この円柱型レンズ1
4の長手方向と直交する方向に配列されているスポット
光を、それぞれ連続させた状態のスリット光が出力され
てシャッタアレイ15に入射され、シャッタアレイ15
が総て開いている時に、全スリット光がマルチスリット
光として出力される。又マルチスリット光を複数回照射
する時に、選択された位置のシャッタを閉じることによ
り、マルチスリット光をコード化することができる。
シャンクアレイ15は、例えば、偏光を利用した液晶シ
ャッタアレイや偏光板間に電気光学効果素子を介在させ
たシャッタアレイ等を用いることができ、電極を選択し
て電圧を印加することにより、選択されたシャッタの開
閉を制御することができる。
又アクチュエータとしてのボイスコイルモータ20は、
鉄心21が基板17の垂直部分17aに固定され、この
鉄心21に固定された永久磁石界磁24に対向して、支
持円筒23に固定されたコイル22が配置され、この支
持円筒23に支持ばね19が固定されている。支持ばね
18,19の下端は基板17に固定され、上端に、第1
及び第2の回折格子12,13.円柱型レンズ14及び
シャッタアレイ15を固定した支持枠16が取付けられ
ている。
従って、コイル22に電流を供給すると、永久磁石界磁
24との間の磁気的な吸引力又は反撥力により、コイル
22を固定した支持円筒23が移動するから、支持ばね
1B、19に抗して、第1及び第2の回折格子12.1
3を含む構成を光源に対して微小距離移動することがで
きる。この場合、マルチスリット光は縦方向のスリット
光となるから、横方向に微小移動させることになる。
この微小移動距離は、マルチスリット光のピッチPの例
えば半分とすると、等価的にP/2のピッチのマルチス
リット光を被測定物に照射できることになる。又P/3
.P/4等のピッチで移動させることも可能である。こ
のような微小距離を正確に移動させるには、フィードバ
ック制御によりボイスコイルモータ20を制御する手段
によって容易に実現することができる。又ステップ状の
微小距離の移動だけでなく、スリット光間を連続的に移
動させて被測定物の計測を行わせることも可能である。
父系1の回折格子12のみを移動可能に支持ばね1B、
19に支持し、第2の回折格子13.円柱型レンズ14
.シャッタアレイ15を光源と共に固定した構成或いは
第2の回折格子13のみを移動可能に支持ばね1B、1
9に支持し、第1の回折格子129円柱型レンズ14.
シャッタアレイ15を光源と共に固定した構成とするこ
ともできる。父系1及び第2の回折格子12.13のみ
を移動可能に支持ばね1B、19に支持し、他の部分を
光源と共に固定した構成とすることもできる。
前述のように、第1及び第2の回折格子12゜13の少
なくとも何れか一方を含む構成を微小距離移動させる構
成とするもので、その場合に、シャッタアレイ15が固
定されている構成に於いては、マルチスリット光とシャ
ッタとの位置のずれを考慮する必要がある。
父系1及び第2の回折格子12.13は、光フアイバア
レイにより構成することができるものであり、例えば、
第1図に於いては、第1の回折格子2は、X軸方向の複
数の光ファイバをy軸方向に配列して構成し、第2の回
折格子3は、y軸方向の光ファイバをX軸方向に配列し
て構成することができる。
このような回折格子により形成されたスリット光に於い
て、隣接するスリット光の照射角度Δθは、半導体レー
ザIlaの出力光の波長をλ、第1及び第2の回折格子
12.13を構成する光ファイバの径をd、回折のモー
ドO(光軸上に出力されるスリット光)とモードm(光
軸上からm番目のスリット光)とのスリット光間の角度
をθ1、モード0とモードm−1のスリット光間の角度
をθ1−1  とすると、 Δθ、−θ、−θ、−1 d                 dとなる。又距
離りの位置に投影したスリット光の間隔W、は、 W、 = L (tanθ、 −tanθ、−I)とな
る。
光ファイバの径dは、通常20〜100μmであるから
、ボイスコイルモータ20により支持ばね1B、19を
移動させる距離は、20〜100μm以下で良いことに
なる。
そして、被測定物に投影されるマルチスリット光のスリ
ット光間にも、第1及び第2の回折格子12.13の少
なくとも何れか一方を微小距離移動させることにより、
スリット光を投影することができるから、画素分解能を
向上することができる。
第4図は本発明の他の実施例の斜視図であり、アクチュ
エータとして圧電素子25を用いた場合を示し、又第2
図と同一符号は同一部分を示す。
この実施例に於ける圧電素子25は、1個の圧電素子の
みでは所望の移動距離が得られない時、複数の圧電素子
を積層すれば良いことになり、前述のように20〜10
0μm程度の移動を行わせることは容易である。この場
合もフィードバック制御により正確な微小距離の移動を
行わせることも可能である。
又前述の実施例と同様に、第1及び第2の回折格子12
.13の少なくとも何れか一方を含む構成を、支持枠1
6を介して支持ばね1B、19により支持して微小距離
移動する構成とすることができる。
第5図は本発明の更に他の実施例の斜視図であり、アク
チュエータとしてリニアモータ26を用いた場合を示し
、第2図と同一符号は同一部分を示す。この実施例のり
ニアモータ26は、支持枠16を固定した可動子27と
、固定子28と、可動子27の移動案内を行う車輪29
とガイド30とからなり、例えば、可動子27と固定子
28との何れか一方にコイル、他方に永久磁石を配置し
、コイルに電流を供給することにより、可動子27を車
輪29とガイド30とによって案内して微小距離を移動
させることができる。この場合も、位置検出やフィード
バック制御により所望の微小距離を正確に移動させるこ
とができる。
又この実施例に於いても、前述の各実施例と同様に、第
1及び第2の回折格子12.13の少なくとも何れか一
方を含む構成を、支持枠16に固定し、可動子27によ
り微小距離移動する構成とすることができる。
本発明は、前述の各実施例にのみ限定されるものではな
く、例えば、微小距離移動させる為のアクチュエータと
しては、ボイスコイルモータ20゜圧電素子25.リニ
アモータ26以外の各種の構成を採用することができる
ものである。
(発明の効果〕 以上説明したように、本発明は、第1及び第2の回折格
子2.3と円柱型レンズ4とシャッタアレイ5とを備え
て、光源1からの平行光をマルチスリット光とすること
ができるものであり、且つアクチュエータ6により、第
1及び第2の回折格子2,3の少なくとも何れか一方を
含む構成を、光源1に対して微小距離移動させて、マル
チスリット光のスリット光ピッチ間にもスリット光を照
射し得るようにしたものであり、スリット光のピッチを
等価的に更に小さく或いはスリット光間を連続走査する
ように制御することができるから、画素分解能を向上す
ることができると共に、小型化が容易である利点がある
従って、ロボット等の各種の自動装置の視覚機能等を実
現する為の三次元計測に於けるマルチスリット投光器と
して適用することができ、簡単な構成により被測定物の
三次元計測精度を向上することができるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の原理説明図、第2図は本発明の一実施
例の斜視図、第3図は本発明の一実施例の要部断面図、
第4図は本発明の他の実施例の斜視図、第5図は本発明
の更に他の実施例の斜視図、第6図、第7図は従来例の
説明図、第8図は先に提案したマルチスリット投光器の
説明図である。 1は光源、1aは半導体レーザ、1bはコリメートレン
ズ、2は第1の回折格子、3は第2の回折格子、4は円
柱型レンズ、5はシャッタアレイ、6はアクチュエータ
である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 光源(1)からの平行光が入射され、回折方向が互いに
    直交して配置された第1及び第2の回折格子(2、3)
    と、 該第1及び第2の回折格子(2、3)の回折出力光が入
    射され、該第1及び第2の回折格子(2、3)の何れか
    一方の回折方向に分散された複数の平行スリット光を出
    力する円柱型レンズ(4)と、該円柱型レンズ(4)か
    らの平行スリット光の中の所定のスリット光を遮断して
    コード化するシャッタアレイ(5)とを備えたマルチス
    リット投光器に於いて、 前記光源(1)に対して前記第1及び第2の回折格子(
    2、3)の少なくとも何れか一方を含む構成を、前記平
    行スリット光と直交する方向に微小距離移動させるアク
    チュエータ(6)を設けたことを特徴とするマルチスリ
    ット投光器。
JP15879990A 1990-06-19 1990-06-19 マルチスリット投光器 Pending JPH0451112A (ja)

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Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001289805A (ja) * 2000-04-03 2001-10-19 Rigaku Corp 熱天秤装置の回動量検出装置
JP2003151048A (ja) * 2001-09-05 2003-05-23 Sick Ag 監視法および光電子センサー
JP2006191050A (ja) * 2005-01-03 2006-07-20 Samsung Electronics Co Ltd インダクター及びインダクター形成方法
JP2020024234A (ja) * 2014-10-24 2020-02-13 マジック アイ インコーポレイテッド 距離センサ
WO2020184238A1 (ja) * 2019-03-08 2020-09-17 株式会社村田製作所 光学制御装置および、これを含むヘッドアップディスプレイ装置
US11062468B2 (en) 2018-03-20 2021-07-13 Magik Eye Inc. Distance measurement using projection patterns of varying densities
US11320537B2 (en) 2019-12-01 2022-05-03 Magik Eye Inc. Enhancing triangulation-based three-dimensional distance measurements with time of flight information
US11381753B2 (en) 2018-03-20 2022-07-05 Magik Eye Inc. Adjusting camera exposure for three-dimensional depth sensing and two-dimensional imaging
US11580662B2 (en) 2019-12-29 2023-02-14 Magik Eye Inc. Associating three-dimensional coordinates with two-dimensional feature points
US11688088B2 (en) 2020-01-05 2023-06-27 Magik Eye Inc. Transferring the coordinate system of a three-dimensional camera to the incident point of a two-dimensional camera

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001289805A (ja) * 2000-04-03 2001-10-19 Rigaku Corp 熱天秤装置の回動量検出装置
JP2003151048A (ja) * 2001-09-05 2003-05-23 Sick Ag 監視法および光電子センサー
JP2006191050A (ja) * 2005-01-03 2006-07-20 Samsung Electronics Co Ltd インダクター及びインダクター形成方法
JP2020024234A (ja) * 2014-10-24 2020-02-13 マジック アイ インコーポレイテッド 距離センサ
US11062468B2 (en) 2018-03-20 2021-07-13 Magik Eye Inc. Distance measurement using projection patterns of varying densities
US11381753B2 (en) 2018-03-20 2022-07-05 Magik Eye Inc. Adjusting camera exposure for three-dimensional depth sensing and two-dimensional imaging
WO2020184238A1 (ja) * 2019-03-08 2020-09-17 株式会社村田製作所 光学制御装置および、これを含むヘッドアップディスプレイ装置
CN113518729A (zh) * 2019-03-08 2021-10-19 株式会社村田制作所 光学控制装置、以及包括该光学控制装置的平视显示器装置
JPWO2020184238A1 (ja) * 2019-03-08 2021-11-25 株式会社村田製作所 光学制御装置および、これを含むヘッドアップディスプレイ装置
US11320537B2 (en) 2019-12-01 2022-05-03 Magik Eye Inc. Enhancing triangulation-based three-dimensional distance measurements with time of flight information
US11580662B2 (en) 2019-12-29 2023-02-14 Magik Eye Inc. Associating three-dimensional coordinates with two-dimensional feature points
US11688088B2 (en) 2020-01-05 2023-06-27 Magik Eye Inc. Transferring the coordinate system of a three-dimensional camera to the incident point of a two-dimensional camera

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