JPH04348275A - 超音波探傷方法 - Google Patents
超音波探傷方法Info
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- JPH04348275A JPH04348275A JP3160676A JP16067691A JPH04348275A JP H04348275 A JPH04348275 A JP H04348275A JP 3160676 A JP3160676 A JP 3160676A JP 16067691 A JP16067691 A JP 16067691A JP H04348275 A JPH04348275 A JP H04348275A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/11—Analysing solids by measuring attenuation of acoustic waves
-
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- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/34—Generating the ultrasonic, sonic or infrasonic waves, e.g. electronic circuits specially adapted therefor
- G01N29/348—Generating the ultrasonic, sonic or infrasonic waves, e.g. electronic circuits specially adapted therefor with frequency characteristics, e.g. single frequency signals, chirp signals
-
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- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は被試験体に取付けられた
超音波探触子へパルス信号を送出してこの超音波探触子
から得られるエコー信号に基づいて前記被試験体に存在
する欠陥を検出する超音波探傷方法に係わり、特に、超
音波探触子へ印加するパルス信号の搬送波周波数および
サイクル数をそれぞれ個別に制御する超音波探傷方法に
関する。
超音波探触子へパルス信号を送出してこの超音波探触子
から得られるエコー信号に基づいて前記被試験体に存在
する欠陥を検出する超音波探傷方法に係わり、特に、超
音波探触子へ印加するパルス信号の搬送波周波数および
サイクル数をそれぞれ個別に制御する超音波探傷方法に
関する。
【０００２】
【従来の技術】鋼板等の表面または内部に存在する欠陥
を超音波を用いて検出する超音波探傷装置の一つとして
、被試験体の表面に取付けた超音波探触子に対して例え
ば充電回路の放電特性等を利用してインパルス状の信号
を印加して、この超音波探触子から超音波を被試験体内
へ送出して、この超音波が被試験体内を伝播する過程で
欠陥に遭遇することによって生じるエコーを超音波探触
子で検出して、この超音波探触子から出力されるエコー
信号に基づいて欠陥を検出する装置がある。
を超音波を用いて検出する超音波探傷装置の一つとして
、被試験体の表面に取付けた超音波探触子に対して例え
ば充電回路の放電特性等を利用してインパルス状の信号
を印加して、この超音波探触子から超音波を被試験体内
へ送出して、この超音波が被試験体内を伝播する過程で
欠陥に遭遇することによって生じるエコーを超音波探触
子で検出して、この超音波探触子から出力されるエコー
信号に基づいて欠陥を検出する装置がある。
【０００３】しかし、この従来装置においては、複数の
チャンネルが存在すれば、たとえ同一仕様の探傷器と同
一仕様の超音波探触子を用いたとしても、各チャンネル
相互間で同一欠陥を探傷した場合に同一結果となること
は必ずしも期待できない。これは、各チャンネル相互間
で、被試験体の材料特性や、使用する超音波探触子の個
体差によって、動作周波数，周波数帯域幅等の周波数特
性が受動的に定まってしまうからである。
チャンネルが存在すれば、たとえ同一仕様の探傷器と同
一仕様の超音波探触子を用いたとしても、各チャンネル
相互間で同一欠陥を探傷した場合に同一結果となること
は必ずしも期待できない。これは、各チャンネル相互間
で、被試験体の材料特性や、使用する超音波探触子の個
体差によって、動作周波数，周波数帯域幅等の周波数特
性が受動的に定まってしまうからである。
【０００４】また、広帯域探触子は、受信エコー信号の
エコー幅がシャープなこと、減衰材に適用した場合のＳ
／Ｎが狭帯域探触子のＳ／Ｎに比較して高いものが得ら
れやすい長所を有する。しかし、この広帯域探触子にお
いては、電気的インピーダンスが低いので、出力波形に
大きな影響を与え、超音波探触子としての動作周波数特
性，周波数帯域幅等の周波数特性において探触子相互間
でバラツキが存在する。したがって、複数の超音波探触
子を配列した多チャンネル超音波探傷装置の場合には、
被試験体全域で均一な探傷感度を得ることができない問
題が生じる。
エコー幅がシャープなこと、減衰材に適用した場合のＳ
／Ｎが狭帯域探触子のＳ／Ｎに比較して高いものが得ら
れやすい長所を有する。しかし、この広帯域探触子にお
いては、電気的インピーダンスが低いので、出力波形に
大きな影響を与え、超音波探触子としての動作周波数特
性，周波数帯域幅等の周波数特性において探触子相互間
でバラツキが存在する。したがって、複数の超音波探触
子を配列した多チャンネル超音波探傷装置の場合には、
被試験体全域で均一な探傷感度を得ることができない問
題が生じる。
【０００５】さらに、超音波探触子を交換した場合には
、超音波探触子相互間の特性上の差が存在するので、そ
の都度個体差に応じた調整や、個々の超音波探触子の経
年変化に対応した調整を行う必要がある。したがって、
この調整作業のために多大の労力が必要となる。
、超音波探触子相互間の特性上の差が存在するので、そ
の都度個体差に応じた調整や、個々の超音波探触子の経
年変化に対応した調整を行う必要がある。したがって、
この調整作業のために多大の労力が必要となる。
【０００６】一方、超音波探触子にインパルス状の信号
を印加するのではなく、図１０（ａ）に示すように、所
定の搬送波周波数ｆＣ を有した搬送波を所定の時間幅
で切り出したトーンバースト状のパルス信号を印加する
ＣＳ法（Ｃｎｔｒｏｌｌｅｄ Ｓｉｇｎａｌ Ｔｅｃｈ
ｎｉｑｕｅ） がある。なお、このＣＳ法については特
開昭６２−１８０２６７号公報、特開昭６２−５４１６
０号公報および特公昭５９−１０５０１号公報にその一
部が紹介されている。
を印加するのではなく、図１０（ａ）に示すように、所
定の搬送波周波数ｆＣ を有した搬送波を所定の時間幅
で切り出したトーンバースト状のパルス信号を印加する
ＣＳ法（Ｃｎｔｒｏｌｌｅｄ Ｓｉｇｎａｌ Ｔｅｃｈ
ｎｉｑｕｅ） がある。なお、このＣＳ法については特
開昭６２−１８０２６７号公報、特開昭６２−５４１６
０号公報および特公昭５９−１０５０１号公報にその一
部が紹介されている。
【０００７】したがって、このトーンバースト状のパル
ス信号は図１０（ｂ）に示したような周波数特性を有す
る。このような周波数特性を有するパルス信号の周波数
特性は図１１に示すように、ピーク周波数ｆＰ を中心
とした狭い帯域の周波数成分を持つ。比較のため、点線
で示す特性はインパルス状の信号を印加した場合におけ
る周波数特性である。そして、当然印加するパルス信号
の搬送波周波数ｆＣ を変化すると、エコー信号のピー
ク周波数ｆＰも変化する。図１２はパルス信号の搬送波
周波数ｆＣ を３，３．５ ，４，４．５ ，５，５．
５ ，６，６．５ ，７ＭＨｚと順番に変化させていっ
た場合におけるエコー信号のピーク周波数ｆＰが同期し
て、３，３．５ ，４，４．５ ，５，５．５ ，６，
６．５ ，７ＭＨｚと順番に変化する状態を示した図で
ある。
ス信号は図１０（ｂ）に示したような周波数特性を有す
る。このような周波数特性を有するパルス信号の周波数
特性は図１１に示すように、ピーク周波数ｆＰ を中心
とした狭い帯域の周波数成分を持つ。比較のため、点線
で示す特性はインパルス状の信号を印加した場合におけ
る周波数特性である。そして、当然印加するパルス信号
の搬送波周波数ｆＣ を変化すると、エコー信号のピー
ク周波数ｆＰも変化する。図１２はパルス信号の搬送波
周波数ｆＣ を３，３．５ ，４，４．５ ，５，５．
５ ，６，６．５ ，７ＭＨｚと順番に変化させていっ
た場合におけるエコー信号のピーク周波数ｆＰが同期し
て、３，３．５ ，４，４．５ ，５，５．５ ，６，
６．５ ，７ＭＨｚと順番に変化する状態を示した図で
ある。
【０００８】また、パルス信号に含まれる波の数で示さ
れるサイクル数Ｎを増加させると、当然このパルス信号
が有する多数の周波数成分のうち、搬送波周波数ｆＣ
の成分の割合が増加する。その結果、パルス信号の帯域
幅が狭くなり、急峻な周波数特性となる。図１３，図１
４，図１５はサイクル数Ｎを１，５，１０と増加してい
った場合におけるそれぞれの周波数特性図である。パル
ス信号の帯域幅が狭くなることが理解できる。したがっ
て、逆にサイクル数Ｎを変化させることによって、被試
験体に印加される超音波の周波数帯域幅Ｗを任意の値に
制御できる。
れるサイクル数Ｎを増加させると、当然このパルス信号
が有する多数の周波数成分のうち、搬送波周波数ｆＣ
の成分の割合が増加する。その結果、パルス信号の帯域
幅が狭くなり、急峻な周波数特性となる。図１３，図１
４，図１５はサイクル数Ｎを１，５，１０と増加してい
った場合におけるそれぞれの周波数特性図である。パル
ス信号の帯域幅が狭くなることが理解できる。したがっ
て、逆にサイクル数Ｎを変化させることによって、被試
験体に印加される超音波の周波数帯域幅Ｗを任意の値に
制御できる。
【０００９】一方、超音波散乱による高減衰と林状エコ
ーの発生によるＳ／Ｎ不足によって欠陥を探傷するのが
非常に難しい難探傷性特性を有する被試験体が存在する
。このような被試験体は、欠陥から反射されるエコー信
号のピーク周波数ｆＰ と被試験体の材料組織の組成に
起因する林状エコー等の組織ノイズのエコー信号のピー
ク周波数との間の微小な周波数差が存在するものがある
。
ーの発生によるＳ／Ｎ不足によって欠陥を探傷するのが
非常に難しい難探傷性特性を有する被試験体が存在する
。このような被試験体は、欠陥から反射されるエコー信
号のピーク周波数ｆＰ と被試験体の材料組織の組成に
起因する林状エコー等の組織ノイズのエコー信号のピー
ク周波数との間の微小な周波数差が存在するものがある
。
【００１０】よって、このトーンバースト状のパルス信
号を用いることによって、パルス信号の搬送波周波数ｆ
Ｃ を調整して、欠陥によるエコー信号のピーク周波数
ｆＰ を前記組織ノイズのエコー信号のピーク周波数に
対して多少ずらせて設定し、かつサイクル数Ｎを適当な
値に設定して、エコー信号の周波数帯域幅Ｗをできるだ
け狭く設定するなどにより、原理的に、超音波探触子か
ら出力されるエコー信号のＳ／Ｎをインパルス状の信号
を用いた従来手法に比較して向上することが期待できる
。
号を用いることによって、パルス信号の搬送波周波数ｆ
Ｃ を調整して、欠陥によるエコー信号のピーク周波数
ｆＰ を前記組織ノイズのエコー信号のピーク周波数に
対して多少ずらせて設定し、かつサイクル数Ｎを適当な
値に設定して、エコー信号の周波数帯域幅Ｗをできるだ
け狭く設定するなどにより、原理的に、超音波探触子か
ら出力されるエコー信号のＳ／Ｎをインパルス状の信号
を用いた従来手法に比較して向上することが期待できる
。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、実用上
においては、複数個の超音波探触子を並べた多チャンネ
ル超音波探傷装置における被試験体の検査対象範囲全域
での等質な探傷感度の実現や、探触子を交換した場合の
探触子特性の個体差に応じた調整、および、個々の探触
子の経年変化に対応した調整など、超音波探触子から出
力されるエコー信号が上述したピーク周波数ｆＰ や周
波数帯域幅Ｗ等からなる周波数特性が上述した特定の条
件を満足するように制御することは至難の技であった。
においては、複数個の超音波探触子を並べた多チャンネ
ル超音波探傷装置における被試験体の検査対象範囲全域
での等質な探傷感度の実現や、探触子を交換した場合の
探触子特性の個体差に応じた調整、および、個々の探触
子の経年変化に対応した調整など、超音波探触子から出
力されるエコー信号が上述したピーク周波数ｆＰ や周
波数帯域幅Ｗ等からなる周波数特性が上述した特定の条
件を満足するように制御することは至難の技であった。
【００１２】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
ものであり、被試験体の材質等の物理的条件で定まる探
傷条件に合致するエコー信号の周波数特性を個々のパラ
メータをそれぞれ独立に制御することによって実現し、
簡単に最適探傷条件を設定でき、たとえ高減衰特性を有
した難探傷性特性の被試験体であったとしても、高い探
傷精度を得ることができ、また、たとえ多チャンネルの
超音波探傷装置であったとしても、簡単に各チャンネル
相互間の感度調整を行うことができ、超音波探傷装置全
体の探傷精度を大幅に向上できる超音波探傷方法を提供
することを目的とする。
ものであり、被試験体の材質等の物理的条件で定まる探
傷条件に合致するエコー信号の周波数特性を個々のパラ
メータをそれぞれ独立に制御することによって実現し、
簡単に最適探傷条件を設定でき、たとえ高減衰特性を有
した難探傷性特性の被試験体であったとしても、高い探
傷精度を得ることができ、また、たとえ多チャンネルの
超音波探傷装置であったとしても、簡単に各チャンネル
相互間の感度調整を行うことができ、超音波探傷装置全
体の探傷精度を大幅に向上できる超音波探傷方法を提供
することを目的とする。
【００１３】
【課題を解決するための手段】上記課題を解消するため
に本発明の超音波探傷方法によれば、超音波探触子から
得られるエコー信号のピーク周波数が所定周波数になる
ように超音波探触子へ印加するパルス信号の搬送波周波
数を制御し、続いてエコー信号の周波数帯域幅が所定帯
域幅になるようにパルス信号のサイクル数を制御するこ
とによって、被試験体に対する探傷条件を設定するよう
にしている。
に本発明の超音波探傷方法によれば、超音波探触子から
得られるエコー信号のピーク周波数が所定周波数になる
ように超音波探触子へ印加するパルス信号の搬送波周波
数を制御し、続いてエコー信号の周波数帯域幅が所定帯
域幅になるようにパルス信号のサイクル数を制御するこ
とによって、被試験体に対する探傷条件を設定するよう
にしている。
【００１４】また、別の発明においては、エコー信号の
周波数帯域幅が所定帯域幅になるようにパルス信号のサ
イクル数を制御し、続いてエコー信号のピーク周波数が
所定周波数になるようにパルス信号の搬送波周波数を制
御することによって、被試験体に対する探傷条件を設定
する。
周波数帯域幅が所定帯域幅になるようにパルス信号のサ
イクル数を制御し、続いてエコー信号のピーク周波数が
所定周波数になるようにパルス信号の搬送波周波数を制
御することによって、被試験体に対する探傷条件を設定
する。
【００１５】さらに、エコー信号の周波数帯域幅とは独
立に、エコー信号のピーク周波数が所定周波数になるよ
うにパルス信号の搬送波周波数を制御する工程と、エコ
ー信号のピーク周波数とは独立に、エコー信号の周波数
帯域幅が所定帯域幅になるようにパルス信号のサイクル
数を制御する工程とを設けている。
立に、エコー信号のピーク周波数が所定周波数になるよ
うにパルス信号の搬送波周波数を制御する工程と、エコ
ー信号のピーク周波数とは独立に、エコー信号の周波数
帯域幅が所定帯域幅になるようにパルス信号のサイクル
数を制御する工程とを設けている。
【００１６】なお、前記パルス信号の搬送波周波数を制
御する工程と前記パルス信号のサイクル数を制御する工
程とを、それぞれ少なくとも１回以上繰返すことも可能
である。
御する工程と前記パルス信号のサイクル数を制御する工
程とを、それぞれ少なくとも１回以上繰返すことも可能
である。
【００１７】
【作用】まず、超音波探触子から出力されるエコー信号
のピーク周波数ｆＰおよび周波数帯域幅Ｗをそれぞれ個
別に制御できることを実験結果を用いて説明する。
のピーク周波数ｆＰおよび周波数帯域幅Ｗをそれぞれ個
別に制御できることを実験結果を用いて説明する。
【００１８】例えば被試験体の表面に取付けられた超音
波探触子に図２（ａ）に示すような搬送波周波数ｆＣ
およびサイクル数Ｎを有したトーンバースト状のパルス
信号ａを印加すると、欠陥が存在すればこの超音波探触
子から図２（ｂ）に示すような波形を有したエコー信号
ｂが出力される。
波探触子に図２（ａ）に示すような搬送波周波数ｆＣ
およびサイクル数Ｎを有したトーンバースト状のパルス
信号ａを印加すると、欠陥が存在すればこの超音波探触
子から図２（ｂ）に示すような波形を有したエコー信号
ｂが出力される。
【００１９】そして、このエコー信号ｂを周波数分析す
ると、図２（ｃ）に示す周波数特性ｃが得られる。そし
て、この周波数特性ｃの最大信号レベルにおける周波数
をピーク周波数ｆＰ とし、最大信号レベルから６ｄＢ
だけ低下した信号レベルにおける各周波数を−６ｄＢ低
下周波数ｆＨ ，ｆＬ とする。また、周波数特性ｃの
最大信号レベルから６ｄＢ低下した位置の幅を周波数帯
域幅Ｗ（＝ｆＨ −ＦＬ ）とする。
ると、図２（ｃ）に示す周波数特性ｃが得られる。そし
て、この周波数特性ｃの最大信号レベルにおける周波数
をピーク周波数ｆＰ とし、最大信号レベルから６ｄＢ
だけ低下した信号レベルにおける各周波数を−６ｄＢ低
下周波数ｆＨ ，ｆＬ とする。また、周波数特性ｃの
最大信号レベルから６ｄＢ低下した位置の幅を周波数帯
域幅Ｗ（＝ｆＨ −ＦＬ ）とする。
【００２０】図８は一つの超音波探触子Ａを用いて、こ
の超音波探触子Ａに印加するパルス信号ａの搬送波周波
数ｆＣ とサイクル数Ｎを個別に変化させた場合におけ
る超音波探触子Ａから出力されるエコー信号ｂの前述し
た各特性値ｆＰ ，ｆＨ ，ＦＬ ，Ｗの変化を示す実
験値である。
の超音波探触子Ａに印加するパルス信号ａの搬送波周波
数ｆＣ とサイクル数Ｎを個別に変化させた場合におけ
る超音波探触子Ａから出力されるエコー信号ｂの前述し
た各特性値ｆＰ ，ｆＨ ，ＦＬ ，Ｗの変化を示す実
験値である。
【００２１】図８（ａ）においては、サイクル数Ｎを固
定して、搬送波周波数ｆＣ を２〜４ＭＨｚに亘って変
化させた場合におけるピーク周波数ｆＰ ，各−６ｄＢ
低下周波数ｆＨ ，ＦＬ の変化を示す図である。また
、図８（ｃ）は同じくサイクル数Ｎを固定して、搬送波
周波数ｆＣ を２〜４ＭＨｚに亘って変化させた場合に
おける周波数帯域幅Ｗの変化を示す図である。
定して、搬送波周波数ｆＣ を２〜４ＭＨｚに亘って変
化させた場合におけるピーク周波数ｆＰ ，各−６ｄＢ
低下周波数ｆＨ ，ＦＬ の変化を示す図である。また
、図８（ｃ）は同じくサイクル数Ｎを固定して、搬送波
周波数ｆＣ を２〜４ＭＨｚに亘って変化させた場合に
おける周波数帯域幅Ｗの変化を示す図である。
【００２２】さらに、図８（ｂ）においては、搬送波周
波数ｆＣ を固定して、サイクル数Ｎを１〜５に亘って
変化させた場合におけるピーク周波数ｆＰ ，各−６ｄ
Ｂ低下周波数ｆＨ ，ＦＬ の変化を示す図である。ま
た、図８（ｄ）は同じく搬送波周波数ｆＣ を固定して
、サイクル数Ｎを１〜５に亘って変化させた場合におけ
る周波数帯域幅Ｗの変化を示す図である。
波数ｆＣ を固定して、サイクル数Ｎを１〜５に亘って
変化させた場合におけるピーク周波数ｆＰ ，各−６ｄ
Ｂ低下周波数ｆＨ ，ＦＬ の変化を示す図である。ま
た、図８（ｄ）は同じく搬送波周波数ｆＣ を固定して
、サイクル数Ｎを１〜５に亘って変化させた場合におけ
る周波数帯域幅Ｗの変化を示す図である。
【００２３】この図８の実験結果からも明らかなように
、搬送波周波数ｆＣを変化させても周波数帯域幅Ｗはほ
とんど変化せず、サイクル数Ｎを変化させてもエコー信
号ｂのピーク周波数ｆＰ はほとんど変化しない。すな
わち、エコー信号ｂのピーク周波数ｆＰ はパルス信号
ａの搬送波周波数ｆＣ のみにて制御され、エコー信号
ｂの周波数帯域幅Ｗはパルス信号ａのサイクル数Ｎのみ
にて制御される。よって、ピーク周波数ｆＰ および周
波数帯域幅Ｗをそれぞれ個別に制御可能である。
、搬送波周波数ｆＣを変化させても周波数帯域幅Ｗはほ
とんど変化せず、サイクル数Ｎを変化させてもエコー信
号ｂのピーク周波数ｆＰ はほとんど変化しない。すな
わち、エコー信号ｂのピーク周波数ｆＰ はパルス信号
ａの搬送波周波数ｆＣ のみにて制御され、エコー信号
ｂの周波数帯域幅Ｗはパルス信号ａのサイクル数Ｎのみ
にて制御される。よって、ピーク周波数ｆＰ および周
波数帯域幅Ｗをそれぞれ個別に制御可能である。
【００２４】図８の超音波探触子Ａにおいては、サイク
ル数Ｎを変化させてもピーク周波数ｆＰ はほとんど変
化しないので、仮に、ピーク周波数ｆＰ を目標周波数
に調整した後に周波数帯域幅Ｗを目標周波数帯域幅に調
整すれば、１回の調整で被試験体に対する探傷条件の設
定作業が終了する。
ル数Ｎを変化させてもピーク周波数ｆＰ はほとんど変
化しないので、仮に、ピーク周波数ｆＰ を目標周波数
に調整した後に周波数帯域幅Ｗを目標周波数帯域幅に調
整すれば、１回の調整で被試験体に対する探傷条件の設
定作業が終了する。
【００２５】図９は図８の超音波探触子Ａとは異なる仕
様を有する別の超音波探触子Ｂを用いて、この超音波探
触子Ｂに印加するパルス信号ａの搬送波周波数ｆＣ と
サイクル数Ｎを個別に変化させた場合におけ超音波探触
子Ｂから出力されるエコー信号ｂの前述した各特性値ｆ
Ｐ ，ｆＨ ，ＦＬ ，Ｗの変化を示す実験値である。 なお、超音波探触子Ａに比較して印加するパルス信号ａ
の搬送波周波数ｆＣ を若干高い値に設定している。そ
の他の条件は同一である。
様を有する別の超音波探触子Ｂを用いて、この超音波探
触子Ｂに印加するパルス信号ａの搬送波周波数ｆＣ と
サイクル数Ｎを個別に変化させた場合におけ超音波探触
子Ｂから出力されるエコー信号ｂの前述した各特性値ｆ
Ｐ ，ｆＨ ，ＦＬ ，Ｗの変化を示す実験値である。 なお、超音波探触子Ａに比較して印加するパルス信号ａ
の搬送波周波数ｆＣ を若干高い値に設定している。そ
の他の条件は同一である。
【００２６】この図９の実験結果においても、ピーク周
波数ｆＰ および周波数帯域幅Ｗをそれぞれ個別に制御
可能である。なお、図９においては、サイクル数Ｎを変
化させると、ピーク周波数ｆＰ が若干変化するので、
目標の周波数特性を得るためには複数回の調整が必要で
ある。しかし、図９（ｂ）に示すようにピーク周波数ｆ
Ｐの変化度合いは非常に小さいので、繰り返し調整回数
はせいぜい数回である。
波数ｆＰ および周波数帯域幅Ｗをそれぞれ個別に制御
可能である。なお、図９においては、サイクル数Ｎを変
化させると、ピーク周波数ｆＰ が若干変化するので、
目標の周波数特性を得るためには複数回の調整が必要で
ある。しかし、図９（ｂ）に示すようにピーク周波数ｆ
Ｐの変化度合いは非常に小さいので、繰り返し調整回数
はせいぜい数回である。
【００２７】このように、超音波探触子から得られる欠
陥に起因するエコー信号ｂのピーク周波数ｆＰ および
周波数帯域幅Ｗを、超音波探触子に印加するパルス信号
ａの搬送波周波数ｆＣ およびサイクル数Ｎでもってそ
れぞれ独立に制御可能であるので、エコー信号ｂの周波
数特性を最良の探傷条件に簡単に一致させることができ
、探傷精度が大幅に向上される。
陥に起因するエコー信号ｂのピーク周波数ｆＰ および
周波数帯域幅Ｗを、超音波探触子に印加するパルス信号
ａの搬送波周波数ｆＣ およびサイクル数Ｎでもってそ
れぞれ独立に制御可能であるので、エコー信号ｂの周波
数特性を最良の探傷条件に簡単に一致させることができ
、探傷精度が大幅に向上される。
【００２８】
【実施例】以下本発明の一実施例を図面を用いて説明す
る。
る。
【００２９】図１は実施例の超音波探傷方法を採用した
超音波探傷装置の概略構成を示す模式図である。図中１
は例えば鋼板等の被試験体であり、この被試験体１の表
面に例えば垂直型の超音波探触子２が取付けられている
。この超音波探触子２には超音波送信部３から図２（ａ
）に示すような搬送波周波数ｆＣ およびサイクル数Ｎ
を有したトーンバースト状のパルス信号ａが印加される
。また、被試験体１に欠陥が存在すれば、この超音波探
触子２から図２（ｂ）に示すようエコー信号ｂが超音波
受信部４へ出力される。
超音波探傷装置の概略構成を示す模式図である。図中１
は例えば鋼板等の被試験体であり、この被試験体１の表
面に例えば垂直型の超音波探触子２が取付けられている
。この超音波探触子２には超音波送信部３から図２（ａ
）に示すような搬送波周波数ｆＣ およびサイクル数Ｎ
を有したトーンバースト状のパルス信号ａが印加される
。また、被試験体１に欠陥が存在すれば、この超音波探
触子２から図２（ｂ）に示すようエコー信号ｂが超音波
受信部４へ出力される。
【００３０】送信制御部５は、例えばマイクロコンピュ
ータ等で構成されており、探傷条件記憶部６に記憶され
ている探傷条件に従って、超音波送信部３から出力され
るパルス信号ａの搬送波周波数ｆＣ およびサイクル数
Ｎを制御する。また、信号解析部７は例えばＦＦＴ（高
速フーリエ変換）機能を有し、超音波受信部４を介して
受信されたエコー信号ｂの周波数解析を行い、その結果
を送信制御部５に帰還させる。また、信号解析部７は入
力されたエコー信号ｂの信号レベルを判断して欠陥の有
無と欠陥規模を算出して表示部８へ表示する。
ータ等で構成されており、探傷条件記憶部６に記憶され
ている探傷条件に従って、超音波送信部３から出力され
るパルス信号ａの搬送波周波数ｆＣ およびサイクル数
Ｎを制御する。また、信号解析部７は例えばＦＦＴ（高
速フーリエ変換）機能を有し、超音波受信部４を介して
受信されたエコー信号ｂの周波数解析を行い、その結果
を送信制御部５に帰還させる。また、信号解析部７は入
力されたエコー信号ｂの信号レベルを判断して欠陥の有
無と欠陥規模を算出して表示部８へ表示する。
【００３１】前記探傷条件記憶部６内には、被試験体１
の材質毎に、この被試験体１に取付けられた超音波探触
子２から出力されるエコー信号ｂの最適ピーク周波数ｆ
Ｐ および最適周波数帯域幅Ｗが記憶されている。また
、そのピーク周波数ｆＰ および周波数帯域幅Ｗに対す
る許容範囲Δｆｍ ，ΔＷｍ 等の各種条件が記憶され
ている。
の材質毎に、この被試験体１に取付けられた超音波探触
子２から出力されるエコー信号ｂの最適ピーク周波数ｆ
Ｐ および最適周波数帯域幅Ｗが記憶されている。また
、そのピーク周波数ｆＰ および周波数帯域幅Ｗに対す
る許容範囲Δｆｍ ，ΔＷｍ 等の各種条件が記憶され
ている。
【００３２】そして、前記送信制御部５は、例えば図示
しないキーボードから探傷条件設定指令が入力されると
、図３の流れ図に従って、パルス信号ａの搬送波周波数
ｆＣおよびサイクル数Ｎを設定するようにプログラム構
成されている。
しないキーボードから探傷条件設定指令が入力されると
、図３の流れ図に従って、パルス信号ａの搬送波周波数
ｆＣおよびサイクル数Ｎを設定するようにプログラム構
成されている。
【００３３】まず、この超音波探傷装置が多チャンネル
構成の装置であれば、一つの被試験体１に多数の超音波
探触子２が配列されていると見なし、基準チャンネルの
超音波探触子から得られるエコー信号ｂのピーク周波数
ｆＰ および周波数帯域幅Ｗに他の全てのチャンネルの
エコー信号ｂのピーク周波数ｆＰ および周波数帯域幅
Ｗを一致させる必要がある。この場合、Ｐ１にて、基準
チャンネルの超音波送信部３へ送信指令を送出して、こ
の超音波送信部３に現在設定されている搬送波周波数ｆ
Ｃ およびサイクル数Ｎでもってパルス信号ａを送出さ
せる。 そして、超音波受信部４でもって、エコー信号ｂを受信
し、信号解析部７で周波数分析を行い、ピーク周波数ｆ
Ｐ ，各−６ｄＢ低下周波数ｆＨ ，ｆＬ ，周波数帯
域幅Ｗを求める。そして、この各値ｆＰ ，ｆＨ ，ｆ
Ｌ ，Ｗを探傷条件とする。そして、Ｐ３へ進む。
構成の装置であれば、一つの被試験体１に多数の超音波
探触子２が配列されていると見なし、基準チャンネルの
超音波探触子から得られるエコー信号ｂのピーク周波数
ｆＰ および周波数帯域幅Ｗに他の全てのチャンネルの
エコー信号ｂのピーク周波数ｆＰ および周波数帯域幅
Ｗを一致させる必要がある。この場合、Ｐ１にて、基準
チャンネルの超音波送信部３へ送信指令を送出して、こ
の超音波送信部３に現在設定されている搬送波周波数ｆ
Ｃ およびサイクル数Ｎでもってパルス信号ａを送出さ
せる。 そして、超音波受信部４でもって、エコー信号ｂを受信
し、信号解析部７で周波数分析を行い、ピーク周波数ｆ
Ｐ ，各−６ｄＢ低下周波数ｆＨ ，ｆＬ ，周波数帯
域幅Ｗを求める。そして、この各値ｆＰ ，ｆＨ ，ｆ
Ｌ ，Ｗを探傷条件とする。そして、Ｐ３へ進む。
【００３４】また、各チャンネルのエコー信号ｂを特定
の探傷条件に設定する場合は、Ｐ２にて探傷条件記憶部
６に記憶されているピーク周波数ｆＰ および周波数帯
域幅Ｗ等の周波数特性を読出す。
の探傷条件に設定する場合は、Ｐ２にて探傷条件記憶部
６に記憶されているピーク周波数ｆＰ および周波数帯
域幅Ｗ等の周波数特性を読出す。
【００３５】次に、Ｐ３にて、許容範囲Δｆｍ ，ΔＷ
ｍ を設定し、パラメータ制御の刻み間隔Δｆ，ΔＮを
設定する。そして、超音波送信部３に設定する搬送波周
波数ｆＣおよびサイクル数Ｎを初期値に設定する。
ｍ を設定し、パラメータ制御の刻み間隔Δｆ，ΔＮを
設定する。そして、超音波送信部３に設定する搬送波周
波数ｆＣおよびサイクル数Ｎを初期値に設定する。
【００３６】Ｐ４にて、設定さた搬送波周波数ｆＣ お
よびサイクル数Ｎを有するパルス信号ａを超音波送信部
３から超音波探触子２へ出力させる。そして、超音波探
触子２から出力されたエコー信号ｂを超音波受信部４で
受信して、信号解析部７で周波数解析を行い、ピーク周
波数ｆＰ および周波数帯域幅Ｗを求める。次に、Ｐ５
にてエコー信号ｂのピーク周波数ｆＰ と先に設定した
探傷条件のピーク周波数ｆＰと比較する。Ｐ６にて、測
定されたピーク周波数ｆＰ が探傷条件のピーク周波数
ｆＰ に対して許容範囲Δｆｍ 内に入っていなければ
、Ｐ７にて、パルス信号ａの搬送波周波数ｆＣ を微小
周波数Δｆだけ変化させる。そして、Ｐ４へ戻り、再度
パルス信号ａを送出する。
よびサイクル数Ｎを有するパルス信号ａを超音波送信部
３から超音波探触子２へ出力させる。そして、超音波探
触子２から出力されたエコー信号ｂを超音波受信部４で
受信して、信号解析部７で周波数解析を行い、ピーク周
波数ｆＰ および周波数帯域幅Ｗを求める。次に、Ｐ５
にてエコー信号ｂのピーク周波数ｆＰ と先に設定した
探傷条件のピーク周波数ｆＰと比較する。Ｐ６にて、測
定されたピーク周波数ｆＰ が探傷条件のピーク周波数
ｆＰ に対して許容範囲Δｆｍ 内に入っていなければ
、Ｐ７にて、パルス信号ａの搬送波周波数ｆＣ を微小
周波数Δｆだけ変化させる。そして、Ｐ４へ戻り、再度
パルス信号ａを送出する。
【００３７】そして、Ｐ６にて、測定されたピーク周波
数ｆＰ が許容範囲Δｆｍ 内に入ると、Ｐ８にて、測
定された周波数帯域幅Ｗと先に設定した探傷条件の周波
数帯域幅Ｗと比較する。Ｐ９にて、測定された周波数帯
域幅Ｗが探傷条件の周波数帯域幅Ｗに対して許容範囲Δ
Ｗｍ 内に入っていなければ、Ｐ１０にて、パルス信号
ａのサイクル数Ｎを微小サイクル数ΔＮだけ変化させる
。そして、Ｐ４へ戻り、再度パルス信号ａを送出する。 そして、Ｐ９にて、測定された周波数帯域幅Ｗが許容範
囲ΔＷｍ 内に入ると、このチャンネルに対する探傷条
件の設定処理を終了する。なお、Ｐ８における周波数帯
域幅Ｗの設定処理を、Ｐ５におけるピーク周波数ｆＰ
の設定処理より先に実行してもよい。次に、このように
構成された超音波探傷方法の効果を図４および図５を用
いて説明する。
数ｆＰ が許容範囲Δｆｍ 内に入ると、Ｐ８にて、測
定された周波数帯域幅Ｗと先に設定した探傷条件の周波
数帯域幅Ｗと比較する。Ｐ９にて、測定された周波数帯
域幅Ｗが探傷条件の周波数帯域幅Ｗに対して許容範囲Δ
Ｗｍ 内に入っていなければ、Ｐ１０にて、パルス信号
ａのサイクル数Ｎを微小サイクル数ΔＮだけ変化させる
。そして、Ｐ４へ戻り、再度パルス信号ａを送出する。 そして、Ｐ９にて、測定された周波数帯域幅Ｗが許容範
囲ΔＷｍ 内に入ると、このチャンネルに対する探傷条
件の設定処理を終了する。なお、Ｐ８における周波数帯
域幅Ｗの設定処理を、Ｐ５におけるピーク周波数ｆＰ
の設定処理より先に実行してもよい。次に、このように
構成された超音波探傷方法の効果を図４および図５を用
いて説明する。
【００３８】図４（ａ）および図４（ｂ）は、同一仕様
の２個の超音波探触子Ｃ，Ｄを用いて、同一の標準欠陥
を有する被試験体１を従来装置でインパルス状の信号を
印加して各超音波探触子Ｃ，Ｄを駆動した場合における
各エコー信号ｂの信号波形と、周波数特性を示す図であ
る。図示するように、たとえ同一仕様の超音波探触子で
あったとしても、得られるエコー信号ｂ相互間に波形の
差が生じると共に、周波数特性もピーク周波数ｆＰ が
約０．５ ＭＨｚ異なり、周波数帯域幅Ｗも若干異なる
。
の２個の超音波探触子Ｃ，Ｄを用いて、同一の標準欠陥
を有する被試験体１を従来装置でインパルス状の信号を
印加して各超音波探触子Ｃ，Ｄを駆動した場合における
各エコー信号ｂの信号波形と、周波数特性を示す図であ
る。図示するように、たとえ同一仕様の超音波探触子で
あったとしても、得られるエコー信号ｂ相互間に波形の
差が生じると共に、周波数特性もピーク周波数ｆＰ が
約０．５ ＭＨｚ異なり、周波数帯域幅Ｗも若干異なる
。
【００３９】図５（ａ）および図５（ｂ）は前記２個の
超音波探触子Ｃ，Ｄを用いて、図３に示したような制御
を行って、各エコー信号ｂのピーク周波数ｆＰ および
周波数帯域幅Ｗが互いに一致するように各パルス信号ａ
の搬送波周波数ｆＣ とサイクル数Ｎを設定した場合に
おける各エコー信号ｂの信号波形と、周波数特性を示す
図である。この図からも理解できるように、たとえ各超
音波探触子Ｃ，Ｄ相互間に個体差が存在したとしても、
出力される各エコー信号ｂのピーク周波数ｆＰ および
周波数帯域幅Ｗで示される探傷条件を各超音波探触子Ｃ
，Ｄ相互間でほぼ一致させることが可能である。すなわ
ち、多チャンネルを有した超音波探傷装置におけるチャ
ンネル相互間の欠陥検出精度差を最小限に抑制できる。
超音波探触子Ｃ，Ｄを用いて、図３に示したような制御
を行って、各エコー信号ｂのピーク周波数ｆＰ および
周波数帯域幅Ｗが互いに一致するように各パルス信号ａ
の搬送波周波数ｆＣ とサイクル数Ｎを設定した場合に
おける各エコー信号ｂの信号波形と、周波数特性を示す
図である。この図からも理解できるように、たとえ各超
音波探触子Ｃ，Ｄ相互間に個体差が存在したとしても、
出力される各エコー信号ｂのピーク周波数ｆＰ および
周波数帯域幅Ｗで示される探傷条件を各超音波探触子Ｃ
，Ｄ相互間でほぼ一致させることが可能である。すなわ
ち、多チャンネルを有した超音波探傷装置におけるチャ
ンネル相互間の欠陥検出精度差を最小限に抑制できる。
【００４０】また、図６および図７は、被試験体１とし
て、横穴径とエコー信号の信号レベルとの関係が相関性
を失っているような高減衰材料を用いて、この被試験体
１に実施例の超音波探傷方法を適用した場合において、
２種類の試験用の横穴Ａ．Ｂを作成して探傷を行った結
果を示す図である。図６に示すように、このような高減
衰材料においても、横穴に起因するエコー信号ｂは単一
周波数の周波数特性を維持している。
て、横穴径とエコー信号の信号レベルとの関係が相関性
を失っているような高減衰材料を用いて、この被試験体
１に実施例の超音波探傷方法を適用した場合において、
２種類の試験用の横穴Ａ．Ｂを作成して探傷を行った結
果を示す図である。図６に示すように、このような高減
衰材料においても、横穴に起因するエコー信号ｂは単一
周波数の周波数特性を維持している。
【００４１】すなわち、エコー信号ｂのピーク周波数ｆ
Ｐ をこの被試験体１の材質で定まる最適値に設定し、
かつ周波数帯域幅Ｗを狭く設定することによって、エコ
ー信号ｂに含まれる被試験体１の組織に起因する雑音エ
コーを極力抑制できる。よって、エコー信号ｂのＳ／Ｎ
を大幅に向上でき、ひいては欠陥探傷精度を向上できる
。
Ｐ をこの被試験体１の材質で定まる最適値に設定し、
かつ周波数帯域幅Ｗを狭く設定することによって、エコ
ー信号ｂに含まれる被試験体１の組織に起因する雑音エ
コーを極力抑制できる。よって、エコー信号ｂのＳ／Ｎ
を大幅に向上でき、ひいては欠陥探傷精度を向上できる
。
【００４２】また、図７に示すように、パルス信号ａの
搬送波周波数ｆＣ を変化させたとしても、エコー信号
ｂのピーク周波数ｆＰ ，各−６ｄＢ低下周波数ｆＨ
，ｆＬ は図５に示した実験例とほぼ同様の傾向を示す
。したがって、たとえ被試験体１が高減衰材料であった
としても、エコー信号ｂのピーク周波数ｆＰ と周波数
帯域幅Ｗを互いに独立して制御できる。よって、特に制
御が複雑になることはなく、超音波探傷の探傷条件の設
定作業を簡素化できる。
搬送波周波数ｆＣ を変化させたとしても、エコー信号
ｂのピーク周波数ｆＰ ，各−６ｄＢ低下周波数ｆＨ
，ｆＬ は図５に示した実験例とほぼ同様の傾向を示す
。したがって、たとえ被試験体１が高減衰材料であった
としても、エコー信号ｂのピーク周波数ｆＰ と周波数
帯域幅Ｗを互いに独立して制御できる。よって、特に制
御が複雑になることはなく、超音波探傷の探傷条件の設
定作業を簡素化できる。
【００４３】なお、本発明は被試験体内に存在する欠陥
を検出する超音波探傷方法について説明したが、この発
明の原理は欠陥探傷の他に広い範囲で応用できる。例え
ば、パルスエコー法を用いる超音波試験器，超音波探傷
器および超音波診断装置への適用が考えられる。さらに
、被試験体への送信パルスの周波数領域での調整，均一
化の達成を前提として、（ａ） 各種接合材，コーディ
ング材料の境界面損傷等に対する周波数最適化による欠
陥弁別，あるいは周波数領域での損傷評価、（ｂ） 周
波数領域の情報を加味したパルス伝搬挙動解析による材
料特性評価への適用が考えられる。
を検出する超音波探傷方法について説明したが、この発
明の原理は欠陥探傷の他に広い範囲で応用できる。例え
ば、パルスエコー法を用いる超音波試験器，超音波探傷
器および超音波診断装置への適用が考えられる。さらに
、被試験体への送信パルスの周波数領域での調整，均一
化の達成を前提として、（ａ） 各種接合材，コーディ
ング材料の境界面損傷等に対する周波数最適化による欠
陥弁別，あるいは周波数領域での損傷評価、（ｂ） 周
波数領域の情報を加味したパルス伝搬挙動解析による材
料特性評価への適用が考えられる。
【００４４】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の超音波探
傷方法によれば、被試験体の材質等の物理的条件で定ま
る探傷条件に合致するエコー信号の周波数特性をパルス
信号における個々のパラメータをそれぞれ独立に制御す
ることによって得ている。したがって、例えば、複数個
の超音波探触子を並べた多チャンネル構成の超音波探傷
装置における被試験体の探傷対象範囲全域に亘って均一
な探傷精度を簡単に得ることが可能である。
傷方法によれば、被試験体の材質等の物理的条件で定ま
る探傷条件に合致するエコー信号の周波数特性をパルス
信号における個々のパラメータをそれぞれ独立に制御す
ることによって得ている。したがって、例えば、複数個
の超音波探触子を並べた多チャンネル構成の超音波探傷
装置における被試験体の探傷対象範囲全域に亘って均一
な探傷精度を簡単に得ることが可能である。
【００４５】また、超音波探触子を交換した場合の各超
音波探触子特性の個体差に応じた調整、および個々の超
音波探触子の経年変化に対応した調整など、超音波探触
子から出力されるエコー信号が特定の周波数特性を満足
するように探傷条件を設定することが可能である。
音波探触子特性の個体差に応じた調整、および個々の超
音波探触子の経年変化に対応した調整など、超音波探触
子から出力されるエコー信号が特定の周波数特性を満足
するように探傷条件を設定することが可能である。
【００４６】このように、たとえ高減衰特性を有した難
探傷性特性の被試験体であったとしても、高い探傷精度
を得ることができ、また、たとえ多チャンネルの超音波
探傷装置であったとしても、簡単に各チャンネル相互間
の感度調整を行うことができ、超音波探傷装置全体の探
傷精度を大幅に向上できる。
探傷性特性の被試験体であったとしても、高い探傷精度
を得ることができ、また、たとえ多チャンネルの超音波
探傷装置であったとしても、簡単に各チャンネル相互間
の感度調整を行うことができ、超音波探傷装置全体の探
傷精度を大幅に向上できる。
【００４７】また、探傷条件の個々のパラメータを個別
に制御できるので、探傷条件設定を自動的に実行させる
ことが可能となるので、超音波探傷の探傷条件の設定作
業能率を大幅に向上できる。
に制御できるので、探傷条件設定を自動的に実行させる
ことが可能となるので、超音波探傷の探傷条件の設定作
業能率を大幅に向上できる。
【図１】 本発明の超音波探傷方法を適用した超音波
探傷装置の概略構成を示す模式図、
探傷装置の概略構成を示す模式図、
【図２】 実施例装置における各信号波形および周波
数特性を示す図、
数特性を示す図、
【図３】 実施例の超音波探傷装置の動作を示す流れ
図、
図、
【図４】 従来方法で測定されたエコー信号波形およ
び周波数特性図、
び周波数特性図、
【図５】 実施例方法で測定されたエコー信号波形お
よび周波数特性図、
よび周波数特性図、
【図６】 実施例方法で測定された試験用の欠陥に対
するエコー信号波形およぴ周波数特性図、
するエコー信号波形およぴ周波数特性図、
【図７】
実施例方法で測定された搬送波周波数とエコー周波数と
の関係を示す図、
実施例方法で測定された搬送波周波数とエコー周波数と
の関係を示す図、
【図８】 一つの超音波探触子を用いて測定されたパ
ルス信号の搬送波周波数とサイクル数に対するエコー信
号のピーク周波数と周波数帯域幅との関係を示す特性図
、
ルス信号の搬送波周波数とサイクル数に対するエコー信
号のピーク周波数と周波数帯域幅との関係を示す特性図
、
【図９】 同じく他の超音波探触子を用いて測定さ
れたパルス信号の搬送波周波数とサイクル数に対するエ
コー信号のピーク周波数と周波数帯域幅との関係を示す
特性図、
れたパルス信号の搬送波周波数とサイクル数に対するエ
コー信号のピーク周波数と周波数帯域幅との関係を示す
特性図、
【図１０】 パルス信号の搬送波周波数と周波数特性
を示す図、
を示す図、
【図１１】 エコー信号の周波数特性図、
【図１２】
搬送波周波数とエコー信号のピーク周波数との関係
を示す図、
搬送波周波数とエコー信号のピーク周波数との関係
を示す図、
【図１３】 パルス信号のサイクル数が１の場合にお
けるパルス信号波形と周波数特性との関係を示す図、
けるパルス信号波形と周波数特性との関係を示す図、
【
図１４】 パルス信号のサイクル数が５の場合におけ
るパルス信号波形と周波数特性との関係を示す図、
図１４】 パルス信号のサイクル数が５の場合におけ
るパルス信号波形と周波数特性との関係を示す図、
【図
１５】 パルス信号のサイクル数が１０の場合におけ
るパルス信号波形と周波数特性との関係を示す図。
１５】 パルス信号のサイクル数が１０の場合におけ
るパルス信号波形と周波数特性との関係を示す図。
１…被試験体、２…超音波探触子、３…超音波送信部、
４…超音波受信部、５…送信制御部、６…探傷条件記憶
部、７…信号解析部、８…表示部、ａ…パルス信号，ｂ
…エコー信号、ｃ…周波数特性、ｆＣ …搬送波周波数
、ｆＰ …ピーク周波数、Ｎ…サイクル数、Ｗ…周波数
帯域幅。
４…超音波受信部、５…送信制御部、６…探傷条件記憶
部、７…信号解析部、８…表示部、ａ…パルス信号，ｂ
…エコー信号、ｃ…周波数特性、ｆＣ …搬送波周波数
、ｆＰ …ピーク周波数、Ｎ…サイクル数、Ｗ…周波数
帯域幅。
Claims (4)
- 【請求項１】 被試験体に取付けられた超音波探触子
へパルス信号を送出してこの超音波探触子から得られる
エコー信号に基づいて前記被試験体に存在する欠陥を検
出する超音波探傷方法において、前記エコー信号のピー
ク周波数が所定周波数になるように前記パルス信号の搬
送波周波数を制御し、続いて前記エコー信号の周波数帯
域幅が所定帯域幅になるように前記パルス信号のサイク
ル数を制御することによって、前記被試験体に対する探
傷条件を設定することを特徴とする超音波探傷方法。 - 【請求項２】 被試験体に取付けられた超音波探触子
へパルス信号を送出してこの超音波探触子から得られる
エコー信号に基づいて前記被試験体に存在する欠陥を検
出する超音波探傷方法において、前記エコー信号の周波
数帯域幅が所定帯域幅になるように前記パルス信号のサ
イクル数を制御し、続いて前記エコー信号のピーク周波
数が所定周波数になるように前記パルス信号の搬送波周
波数を制御することによって、前記被試験体に対する探
傷条件を設定することを特徴とする超音波探傷方法。 - 【請求項３】 被試験体に取付けられた超音波探触子
へパルス信号を送出してこの超音波探触子から得られる
エコー信号に基づいて前記被試験体に存在する欠陥を検
出する超音波探傷方法において、前記エコー信号の周波
数帯域幅とは独立に、前記エコー信号のピーク周波数が
所定周波数になるように前記パルス信号の搬送波周波数
を制御する工程と、前記エコー信号のピーク周波数とは
独立に、前記エコー信号の周波数帯域幅が所定帯域幅に
なるように前記パルス信号のサイクル数を制御する工程
とを有することを特徴とする超音波探傷方法。 - 【請求項４】 前記パルス信号の搬送波周波数を制御
する工程と前記パルス信号のサイクル数を制御する工程
とを、それぞれ少なくとも１回以上繰返すことを特徴と
する請求項３記載の超音波探傷方法。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3160676A JPH04348275A (ja) | 1990-11-14 | 1991-07-01 | 超音波探傷方法 |
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