JPH04318448A - セラミックスの評価方法 - Google Patents
セラミックスの評価方法Info
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- JPH04318448A JPH04318448A JP3110972A JP11097291A JPH04318448A JP H04318448 A JPH04318448 A JP H04318448A JP 3110972 A JP3110972 A JP 3110972A JP 11097291 A JP11097291 A JP 11097291A JP H04318448 A JPH04318448 A JP H04318448A
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- 239000000919 ceramic Substances 0.000 title claims abstract description 35
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 19
- 239000011521 glass Substances 0.000 abstract description 32
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 abstract description 24
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 24
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 abstract description 7
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 4
- 239000007788 liquid Substances 0.000 abstract description 3
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 abstract description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 abstract 1
- 239000003507 refrigerant Substances 0.000 abstract 1
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 10
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 5
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 4
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 3
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);zirconium(4+) Chemical compound [O-2].[O-2].[Zr+4] RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 2
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 description 2
- VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N yttrium atom Chemical compound [Y] VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910001928 zirconium oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052684 Cerium Inorganic materials 0.000 description 1
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052790 beryllium Inorganic materials 0.000 description 1
- ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N beryllium atom Chemical compound [Be] ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002775 capsule Substances 0.000 description 1
- ZMIGMASIKSOYAM-UHFFFAOYSA-N cerium Chemical compound [Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce] ZMIGMASIKSOYAM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 229910052681 coesite Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 229910052593 corundum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009658 destructive testing Methods 0.000 description 1
- KZHJGOXRZJKJNY-UHFFFAOYSA-N dioxosilane;oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Si]=O.O=[Si]=O.O=[Al]O[Al]=O.O=[Al]O[Al]=O.O=[Al]O[Al]=O KZHJGOXRZJKJNY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052746 lanthanum Inorganic materials 0.000 description 1
- FZLIPJUXYLNCLC-UHFFFAOYSA-N lanthanum atom Chemical compound [La] FZLIPJUXYLNCLC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 229910052863 mullite Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009659 non-destructive testing Methods 0.000 description 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 1
- 229910052682 stishovite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 229910052905 tridymite Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001845 yogo sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N25/00—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
- G01N25/005—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating specific heat
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/38—Concrete; Lime; Mortar; Gypsum; Bricks; Ceramics; Glass
- G01N33/388—Ceramics
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Food Science & Technology (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、非破壊的手段によりセ
ラミックスの特性、特にクリープ特性等の機械的特性を
評価する方法に関する。 【0002】 【従来の技術】セラミックスはその製造プロセスによっ
て特性が大きく変化するため、その評価を欠かすことが
出来ず、従来から破壊又は非破壊での特性評価方法が種
々検討されてきた。以下、窒化ケイ素(Si3N4)セ
ラミックスを例にとって説明する。 【0003】窒化ケイ素は、自動車エンジン部品等の高
温構造部材に使用するエンジニアリング・セラミックス
のひとつとして注目されているが、窒化ケイ素単独では
焼結が困難であるため、通常は低融点化合物からなる焼
結助剤を添加して焼結を行っている。かかる焼結助剤と
しては、一般にアルミニウム、マグネシウム、イットリ
ウム、ランタン、セリウム、ベリリウム、ジルコニウム
等の酸化物を単独で又は組み合わせて使用している。 【0004】しかしながら、焼結助剤を用いることによ
って高密度化は達成できるものの、焼結体の粒界に焼結
助剤がガラス相ないし低強度の結晶相(以下ガラス相等
と称する)として残留するため、強度等の機械的特性に
ついては十分とは言い難かった。又、ホットプレス法や
HIP法等の加圧焼結を行った場合、添加する焼結助剤
を少なくし又は無くすことが可能であるが、連続焼結が
困難になり、製品がコスト高になる等の欠点があった。 【0005】一般に、窒化ケイ素等のセラミックスにお
ける強度等の機械的特性は、含まれるガラス相等の量が
多いほど低下するとされている。従って、強度等の機械
的特性に優れた窒化ケイ素等のセラミックスを得るため
には、ガラス相等の量の測定が極めて重要であるが、製
造ラインに導入してラインを流れる製品をそのまま検査
できる非破壊検査は知られていなかった。 【0006】即ち、従来知られいる窒化ケイ素等のセラ
ミックス中のガラス相等の量の測定方法としては、研磨
した焼結体の組織を顕微鏡等を用いて観察する組織観察
法、所定の厚さに調整した焼結体のX線回折像を撮影す
るX線回折法、或は特開昭63−1955号公報に開示
されるように焼結体を所定の形状に加工し、電気的に内
部摩擦を測定する方法等があるのみであった。しかし、
これらの方法では非破壊で測定することが不可能である
から抜き取り検査しか出来ず、実際に製品等として提供
されるセラミックス中のガラス相等の量は何ら保証され
ていなかった。 【0007】 【発明が解決しようとする課題】本発明はかかる従来の
事情に鑑み、製造ラインに導入して個々の窒化ケイ素、
窒化アルミニウム、炭化ケイ素、酸化ジルコニウム等の
セラミックスを非破壊的手段により評価する方法を提供
することを目的とする。 【0008】 【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
、本発明のセラミックスの評価方法においては、室温以
下の温度でセラミックスの比熱を測定し、その値を基準
となるセラミックスの同じ温度での比熱と比較すること
を特徴とする。 【0009】又、別の評価方法として、ガラス相等の量
又は機械的特性の異なる多数のセラミックスについて室
温以下の温度での比熱を測定し、その比熱と各セラミッ
クスのガラス相等の量又は機械的特性との相関関係を予
めグラフ化し、評価しようとするセラミックスの同じ温
度での比熱を測定して、得られた比熱から上記グラフを
用いて当セラミックスのガラス相等の量又は機械的特性
を求めることも可能である。 【0010】 【作用】本発明者らは、焼結助剤として添加するアルミ
ニウムやイットリウム等の酸化物からなるガラス相等の
比熱が、高温あるいは常温領域よりも低温領域において
大きいことに着目し、種々検討を重ねた結果、セラミッ
クスの室温以下の温度での比熱を測定して比較すること
により、含有されるガラス相等の量の精密な比較ができ
、しいてはセラミックスの機械的特性の比較が可能であ
ることを見いだしたものである。 【0011】即ち、一般に物質の比熱は温度と共に変化
するが、窒化ケイ素のような結晶化したセラミックスは
低温で比熱が小さいのに対して、上記酸化物からなるガ
ラス相等は低温領域で変化が大きな比熱を持つ。そのた
め、ガラス相等の比熱が結晶相の比熱より大きくなる低
温領域においては、ガラス相等を含む窒化ケイ素焼結体
のようなセラミックスの比熱はその中に含まれるガラス
相等の量と相関関係があり、しかもガラス相等の量の変
化が少なくても対応する比熱の変化は相当程度に大きく
なることが判った。このような温度と比熱の関係が得ら
れる低温領域は室温以下、即ち室温から絶対ゼロ度まで
の温度範囲であることも判明した。 【0012】従って、窒化ケイ素を例にとれば、通常の
寒剤又は液体窒素や液体ヘリウム等を用いたクライオス
タット装置(低温恒温装置)を利用して、ある窒化ケイ
素焼結体について通常の方法により室温以下の温度で比
熱を測定し、別に組織観察法等によってガラス相等の量
が既知であるか又は所定の特性が得られている基準とな
る窒化ケイ素焼結体について予め同じ温度で測定してお
いた比熱(基準値)と比較することにより、比熱測定し
た窒化ケイ素焼結体のガラス相等の量又は特性を相対的
に評価することが出来るのである。 【0013】又、多数の基準となる窒化ケイ素焼結体に
ついて、ガラス相等の量又は特性と室温以下の温度での
比熱をそれぞれ測定し、得られたガラス相等の量又は特
性と比熱との相関関係を予めグラフ化しておけば、測定
しようとする窒化ケイ素焼結体の同じ温度での比熱を測
定することにより、その焼結体のガラス相等の量又は特
性を上記グラフから絶対値として求めることが可能であ
る。 【0014】尚、本発明は、窒化ケイ素のほかに、窒化
アルミニウム、炭化ケイ素、酸化アルミニウム、酸化ジ
ルコニウム、ムライト等のセラミックスについても適用
することが出来る。 【0015】このように、本発明方法は試料となるセラ
ミックスを破壊し又は加工する必要がないので、抜き取
り検査ではなく非破壊のライン検査が可能となり、実際
に製品等として提供されるセラミックスについてガラス
相等の量或は特性を保証することが可能となる。又、本
発明方法による評価は個々のセラミックスの全体につい
ての情報であって、X線回折法のようにセラミックスの
特定箇所に限られた部分的な情報ではない。 【0016】 【実施例】平均粒径0.8μmで酸素含有量1.5重量
%のSi3N4粉末と、Y2O3粉末、Al2O3粉末
及びSiO2粉末を用意し、これらを下記表1に示す組
成となるように混合し、表1の焼結条件でそれぞれ焼結
した。ただし、Si3N4粉末のみからなる試料につい
てはガラスカプセル法によりHIP焼結した。 【0017】 【表1】 【0018】得られた各焼結体をそれぞれクライオスタ
ット装置に入れ、熱量計を用いて−271℃から室温の
温度範囲で比熱を測定し、−268℃(5K)での比熱
を求めた。更に、各焼結体に含まれるガラス相等の量を
測定し、又1350℃×500時間でのクリープ強度及
び破壊靭性を測定して結果を表2に示した。 【0019】 【表2】 試料 ガラス相 比 熱
クリープ 破壊靭性 番号
(mol%) (10−4×J/gK) 強度
(MPa) (MN/m2/3) 1
0 1.825
300 4
2 5 1.
91 250
6 3 10
2.05 200
7 4
20 2.31
150 6 5
100 3.20
10 1
【0020】表2から、比熱の大きい焼結体ほどガラ
ス相等の量が多く、且つクリープ強度や破壊靭性も小さ
くなることが判る。このことから、焼結体の比熱の比較
によりガラス相等の量を比較でき、ひいては機械的特性
を相対的に比較評価できることが判る。 【0021】 【発明の効果】本発明によれば、製造ラインに導入して
窒化ケイ素焼結体等のセラミックスを非破壊検査によっ
て評価でき、実際に製品等として提供される個々のセラ
ミックスについてガラス相等の量又は機械的特性を保証
することが可能となる。
ラミックスの特性、特にクリープ特性等の機械的特性を
評価する方法に関する。 【0002】 【従来の技術】セラミックスはその製造プロセスによっ
て特性が大きく変化するため、その評価を欠かすことが
出来ず、従来から破壊又は非破壊での特性評価方法が種
々検討されてきた。以下、窒化ケイ素(Si3N4)セ
ラミックスを例にとって説明する。 【0003】窒化ケイ素は、自動車エンジン部品等の高
温構造部材に使用するエンジニアリング・セラミックス
のひとつとして注目されているが、窒化ケイ素単独では
焼結が困難であるため、通常は低融点化合物からなる焼
結助剤を添加して焼結を行っている。かかる焼結助剤と
しては、一般にアルミニウム、マグネシウム、イットリ
ウム、ランタン、セリウム、ベリリウム、ジルコニウム
等の酸化物を単独で又は組み合わせて使用している。 【0004】しかしながら、焼結助剤を用いることによ
って高密度化は達成できるものの、焼結体の粒界に焼結
助剤がガラス相ないし低強度の結晶相(以下ガラス相等
と称する)として残留するため、強度等の機械的特性に
ついては十分とは言い難かった。又、ホットプレス法や
HIP法等の加圧焼結を行った場合、添加する焼結助剤
を少なくし又は無くすことが可能であるが、連続焼結が
困難になり、製品がコスト高になる等の欠点があった。 【0005】一般に、窒化ケイ素等のセラミックスにお
ける強度等の機械的特性は、含まれるガラス相等の量が
多いほど低下するとされている。従って、強度等の機械
的特性に優れた窒化ケイ素等のセラミックスを得るため
には、ガラス相等の量の測定が極めて重要であるが、製
造ラインに導入してラインを流れる製品をそのまま検査
できる非破壊検査は知られていなかった。 【0006】即ち、従来知られいる窒化ケイ素等のセラ
ミックス中のガラス相等の量の測定方法としては、研磨
した焼結体の組織を顕微鏡等を用いて観察する組織観察
法、所定の厚さに調整した焼結体のX線回折像を撮影す
るX線回折法、或は特開昭63−1955号公報に開示
されるように焼結体を所定の形状に加工し、電気的に内
部摩擦を測定する方法等があるのみであった。しかし、
これらの方法では非破壊で測定することが不可能である
から抜き取り検査しか出来ず、実際に製品等として提供
されるセラミックス中のガラス相等の量は何ら保証され
ていなかった。 【0007】 【発明が解決しようとする課題】本発明はかかる従来の
事情に鑑み、製造ラインに導入して個々の窒化ケイ素、
窒化アルミニウム、炭化ケイ素、酸化ジルコニウム等の
セラミックスを非破壊的手段により評価する方法を提供
することを目的とする。 【0008】 【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
、本発明のセラミックスの評価方法においては、室温以
下の温度でセラミックスの比熱を測定し、その値を基準
となるセラミックスの同じ温度での比熱と比較すること
を特徴とする。 【0009】又、別の評価方法として、ガラス相等の量
又は機械的特性の異なる多数のセラミックスについて室
温以下の温度での比熱を測定し、その比熱と各セラミッ
クスのガラス相等の量又は機械的特性との相関関係を予
めグラフ化し、評価しようとするセラミックスの同じ温
度での比熱を測定して、得られた比熱から上記グラフを
用いて当セラミックスのガラス相等の量又は機械的特性
を求めることも可能である。 【0010】 【作用】本発明者らは、焼結助剤として添加するアルミ
ニウムやイットリウム等の酸化物からなるガラス相等の
比熱が、高温あるいは常温領域よりも低温領域において
大きいことに着目し、種々検討を重ねた結果、セラミッ
クスの室温以下の温度での比熱を測定して比較すること
により、含有されるガラス相等の量の精密な比較ができ
、しいてはセラミックスの機械的特性の比較が可能であ
ることを見いだしたものである。 【0011】即ち、一般に物質の比熱は温度と共に変化
するが、窒化ケイ素のような結晶化したセラミックスは
低温で比熱が小さいのに対して、上記酸化物からなるガ
ラス相等は低温領域で変化が大きな比熱を持つ。そのた
め、ガラス相等の比熱が結晶相の比熱より大きくなる低
温領域においては、ガラス相等を含む窒化ケイ素焼結体
のようなセラミックスの比熱はその中に含まれるガラス
相等の量と相関関係があり、しかもガラス相等の量の変
化が少なくても対応する比熱の変化は相当程度に大きく
なることが判った。このような温度と比熱の関係が得ら
れる低温領域は室温以下、即ち室温から絶対ゼロ度まで
の温度範囲であることも判明した。 【0012】従って、窒化ケイ素を例にとれば、通常の
寒剤又は液体窒素や液体ヘリウム等を用いたクライオス
タット装置(低温恒温装置)を利用して、ある窒化ケイ
素焼結体について通常の方法により室温以下の温度で比
熱を測定し、別に組織観察法等によってガラス相等の量
が既知であるか又は所定の特性が得られている基準とな
る窒化ケイ素焼結体について予め同じ温度で測定してお
いた比熱(基準値)と比較することにより、比熱測定し
た窒化ケイ素焼結体のガラス相等の量又は特性を相対的
に評価することが出来るのである。 【0013】又、多数の基準となる窒化ケイ素焼結体に
ついて、ガラス相等の量又は特性と室温以下の温度での
比熱をそれぞれ測定し、得られたガラス相等の量又は特
性と比熱との相関関係を予めグラフ化しておけば、測定
しようとする窒化ケイ素焼結体の同じ温度での比熱を測
定することにより、その焼結体のガラス相等の量又は特
性を上記グラフから絶対値として求めることが可能であ
る。 【0014】尚、本発明は、窒化ケイ素のほかに、窒化
アルミニウム、炭化ケイ素、酸化アルミニウム、酸化ジ
ルコニウム、ムライト等のセラミックスについても適用
することが出来る。 【0015】このように、本発明方法は試料となるセラ
ミックスを破壊し又は加工する必要がないので、抜き取
り検査ではなく非破壊のライン検査が可能となり、実際
に製品等として提供されるセラミックスについてガラス
相等の量或は特性を保証することが可能となる。又、本
発明方法による評価は個々のセラミックスの全体につい
ての情報であって、X線回折法のようにセラミックスの
特定箇所に限られた部分的な情報ではない。 【0016】 【実施例】平均粒径0.8μmで酸素含有量1.5重量
%のSi3N4粉末と、Y2O3粉末、Al2O3粉末
及びSiO2粉末を用意し、これらを下記表1に示す組
成となるように混合し、表1の焼結条件でそれぞれ焼結
した。ただし、Si3N4粉末のみからなる試料につい
てはガラスカプセル法によりHIP焼結した。 【0017】 【表1】 【0018】得られた各焼結体をそれぞれクライオスタ
ット装置に入れ、熱量計を用いて−271℃から室温の
温度範囲で比熱を測定し、−268℃(5K)での比熱
を求めた。更に、各焼結体に含まれるガラス相等の量を
測定し、又1350℃×500時間でのクリープ強度及
び破壊靭性を測定して結果を表2に示した。 【0019】 【表2】 試料 ガラス相 比 熱
クリープ 破壊靭性 番号
(mol%) (10−4×J/gK) 強度
(MPa) (MN/m2/3) 1
0 1.825
300 4
2 5 1.
91 250
6 3 10
2.05 200
7 4
20 2.31
150 6 5
100 3.20
10 1
【0020】表2から、比熱の大きい焼結体ほどガラ
ス相等の量が多く、且つクリープ強度や破壊靭性も小さ
くなることが判る。このことから、焼結体の比熱の比較
によりガラス相等の量を比較でき、ひいては機械的特性
を相対的に比較評価できることが判る。 【0021】 【発明の効果】本発明によれば、製造ラインに導入して
窒化ケイ素焼結体等のセラミックスを非破壊検査によっ
て評価でき、実際に製品等として提供される個々のセラ
ミックスについてガラス相等の量又は機械的特性を保証
することが可能となる。
Claims (1)
- 【請求項1】 室温以下の温度でセラミックスの比熱
を測定し、その値を基準となるセラミックスの同じ温度
での比熱と比較することを特徴とするセラミックスの評
価方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3110972A JP2976574B2 (ja) | 1991-04-16 | 1991-04-16 | セラミックスの評価方法 |
US07/867,876 US5217305A (en) | 1991-04-16 | 1992-04-13 | Method of evaluating ceramics |
EP92106416A EP0515817B1 (en) | 1991-04-16 | 1992-04-14 | Method of evaluating ceramics |
DE69215961T DE69215961T2 (de) | 1991-04-16 | 1992-04-14 | Verfahren zur Bewertung von Keramik |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3110972A JP2976574B2 (ja) | 1991-04-16 | 1991-04-16 | セラミックスの評価方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04318448A true JPH04318448A (ja) | 1992-11-10 |
JP2976574B2 JP2976574B2 (ja) | 1999-11-10 |
Family
ID=14549168
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3110972A Expired - Fee Related JP2976574B2 (ja) | 1991-04-16 | 1991-04-16 | セラミックスの評価方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5217305A (ja) |
EP (1) | EP0515817B1 (ja) |
JP (1) | JP2976574B2 (ja) |
DE (1) | DE69215961T2 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
ES2168962B1 (es) * | 2000-05-16 | 2003-11-16 | Pascual Vicente Segui | Maquina para el control automatico de calidad de productos ceramicos por vision artificial y analisis de sonido. |
US7048434B2 (en) * | 2002-09-17 | 2006-05-23 | Intel Corporation | Thermal analysis and characterization of layers and multiple layer structures |
US7654734B2 (en) * | 2005-05-10 | 2010-02-02 | General Electric Company | Methods and devices for evaluating the thermal exposure of a metal article |
US7534029B2 (en) * | 2006-06-14 | 2009-05-19 | Corning Incorporated | In-situ temperature detection in high temperature ceramic structures |
US10769770B2 (en) | 2018-05-07 | 2020-09-08 | Cummins Enterprise Llc | Quality monitoring system and quality monitoring method for fuel cell manufacturing line and quality monitoring system for manufacturing line |
US11404710B2 (en) | 2018-12-17 | 2022-08-02 | Cummins Enterprise Llc | Assembled portion of a solid oxide fuel cell and methods for inspecting the same |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE279802C (ja) * | ||||
FR2389129A1 (fr) * | 1977-04-26 | 1978-11-24 | Elf Aquitaine | Procede et dispositif pour la mesure du rapport des chaleurs specifiques a pression et a volume constant pour un fluide reel |
US4210027A (en) * | 1978-11-13 | 1980-07-01 | Specific Volume Systems, Inc. | Method for determination and grading of precious minerals |
US4542345A (en) * | 1983-05-09 | 1985-09-17 | Technicorp | Multi-element thermoelectric non-destructive testing device and method |
JPS60350A (ja) * | 1983-06-17 | 1985-01-05 | Ngk Insulators Ltd | セラミツクスの試験方法 |
KR910004158B1 (en) * | 1983-08-15 | 1991-06-22 | Sinagawa Sirotenga Co Ltd | Thermal deformation measuring system of ceranics and the like |
HU198339B (en) * | 1985-05-10 | 1989-09-28 | Budapesti Mueszaki Egyetem | Method and measuring probe for simultaneous local detection of thermophysical characteristics, first of all, of thermal conductivity and coefficient of temperature distribution |
US4762424A (en) * | 1985-05-22 | 1988-08-09 | Theta Industries, Inc. | Low temperature dilatometer |
JPH0643953B2 (ja) * | 1986-06-20 | 1994-06-08 | 住友電気工業株式会社 | ヤング率及び内部摩擦を導出するための固体の共振周波数の測定方法及び測定装置 |
DD279802A3 (de) * | 1986-12-22 | 1990-06-20 | Akad Wissenschaften Ddr | Verfahren zur bestimmung des freien metallgehaltes in nitridischen pulvern und keramiken |
-
1991
- 1991-04-16 JP JP3110972A patent/JP2976574B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1992
- 1992-04-13 US US07/867,876 patent/US5217305A/en not_active Expired - Fee Related
- 1992-04-14 DE DE69215961T patent/DE69215961T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1992-04-14 EP EP92106416A patent/EP0515817B1/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0515817B1 (en) | 1996-12-18 |
DE69215961D1 (de) | 1997-01-30 |
DE69215961T2 (de) | 1997-07-24 |
JP2976574B2 (ja) | 1999-11-10 |
US5217305A (en) | 1993-06-08 |
EP0515817A1 (en) | 1992-12-02 |
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