JPH04317441A - 近赤外線吸収ガラス - Google Patents
近赤外線吸収ガラスInfo
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- JPH04317441A JPH04317441A JP3108906A JP10890691A JPH04317441A JP H04317441 A JPH04317441 A JP H04317441A JP 3108906 A JP3108906 A JP 3108906A JP 10890691 A JP10890691 A JP 10890691A JP H04317441 A JPH04317441 A JP H04317441A
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- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C17/00—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
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-
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Surface Treatment Of Glass (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、光線中に含まれる近
赤外線を遮断する近赤外線吸収ガラスに関するものであ
り、特に製造が容易で耐久性に優れた近赤外線吸収ガラ
スに関するものである。
赤外線を遮断する近赤外線吸収ガラスに関するものであ
り、特に製造が容易で耐久性に優れた近赤外線吸収ガラ
スに関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来より、窓ガラスを通して建物の内部
に侵入する太陽光中の赤外線を遮断して室内の温度上昇
を抑え、冷房負荷を軽減する目的で近赤外線遮断ガラス
が使用されている。また、小型のものではスライドプロ
ジェクター、映写機、投光器等の光源からの熱線を遮断
するためのフィルター、あるいはビデオカメラのCCD
の視感度補正フィルターとして近赤外線遮断ガラスが大
量に用いられている。
に侵入する太陽光中の赤外線を遮断して室内の温度上昇
を抑え、冷房負荷を軽減する目的で近赤外線遮断ガラス
が使用されている。また、小型のものではスライドプロ
ジェクター、映写機、投光器等の光源からの熱線を遮断
するためのフィルター、あるいはビデオカメラのCCD
の視感度補正フィルターとして近赤外線遮断ガラスが大
量に用いられている。
【0003】従来の近赤外線遮断方式としては、ガラス
基板上にスパッター法や真空蒸着法などを用いて多層構
造を形成し、近赤外部の波長成分だけを反射させる方式
と、ガラス組成中にセリウムイオンや鉄イオンなどを添
加し、近赤外線を吸収させる方式の2種類が用いられて
いる。そして前者の方式は、冷房負荷の軽減など大型の
ものに適用され、後者の方式は小型のものに実用化され
ている。
基板上にスパッター法や真空蒸着法などを用いて多層構
造を形成し、近赤外部の波長成分だけを反射させる方式
と、ガラス組成中にセリウムイオンや鉄イオンなどを添
加し、近赤外線を吸収させる方式の2種類が用いられて
いる。そして前者の方式は、冷房負荷の軽減など大型の
ものに適用され、後者の方式は小型のものに実用化され
ている。
【0004】また、近赤外線吸収剤を有機高分子材料中
に分散させてフィルム化し、該フィルムを板ガラスに貼
りつけることによって近赤外線吸収ガラスを作製するこ
とも試みられている。
に分散させてフィルム化し、該フィルムを板ガラスに貼
りつけることによって近赤外線吸収ガラスを作製するこ
とも試みられている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た真空蒸着法やスパッター法などの物理的膜形成法によ
る近赤外線反射方式では、基板を加熱した場合には機械
的強度が強く膜面の清掃、拭きなどの摩擦に充分耐えら
れるが、加熱しない場合には強度が非常に弱く、膜の基
板への付着力や耐湿性が乏しいといった問題点があった
。また、基板上の微細な凹凸に対する追随性が低いとい
う問題点もあり、基板の形状によっては適用できないも
のもあった。さらに、真空装置は高価であり、基板の面
積が大きくなると装置コストが著しく増大する問題点も
無視できない。
た真空蒸着法やスパッター法などの物理的膜形成法によ
る近赤外線反射方式では、基板を加熱した場合には機械
的強度が強く膜面の清掃、拭きなどの摩擦に充分耐えら
れるが、加熱しない場合には強度が非常に弱く、膜の基
板への付着力や耐湿性が乏しいといった問題点があった
。また、基板上の微細な凹凸に対する追随性が低いとい
う問題点もあり、基板の形状によっては適用できないも
のもあった。さらに、真空装置は高価であり、基板の面
積が大きくなると装置コストが著しく増大する問題点も
無視できない。
【0006】一方、ガラス組成中に添加剤を入れて近赤
外線吸収ガラスを製造する方式では、通常の板ガラスの
製造とは条件が異なるために生産量が限られてきた。ま
た、膜厚によっては製造できないものがあったり、吸収
波長が限られている等の欠点があり広く普及するに至っ
ていない。
外線吸収ガラスを製造する方式では、通常の板ガラスの
製造とは条件が異なるために生産量が限られてきた。ま
た、膜厚によっては製造できないものがあったり、吸収
波長が限られている等の欠点があり広く普及するに至っ
ていない。
【0007】さらに、近赤外線吸収剤を酢酸ビニル等の
有機高分子中に分散させることによって作製された近赤
外線吸収フィルムは、近赤外線吸収剤が有機マトリック
スと反応して劣化したり、外部の水分等の影響を受けや
すいために、耐久性に問題があった。また、膜厚によっ
ては作製できないものがあったり、板ガラス上の微細な
凹凸に対する追随性が低いという問題点があった。この
発明は、上記した従来の近赤外線遮断ガラスの問題点を
解決するためになされたものであって、優れた近赤外線
吸収ガラスを提供することを目的とする。
有機高分子中に分散させることによって作製された近赤
外線吸収フィルムは、近赤外線吸収剤が有機マトリック
スと反応して劣化したり、外部の水分等の影響を受けや
すいために、耐久性に問題があった。また、膜厚によっ
ては作製できないものがあったり、板ガラス上の微細な
凹凸に対する追随性が低いという問題点があった。この
発明は、上記した従来の近赤外線遮断ガラスの問題点を
解決するためになされたものであって、優れた近赤外線
吸収ガラスを提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】この発明は上記の目的を
達成するために、透明基板上に有機近赤外線吸収剤を含
有した二酸化珪素薄膜を形成する構造を採用した。この
構造では安定性に限界のある有機近赤外線吸収剤を、無
機質で安定な二酸化珪素で保護しているため、近赤外線
吸収ガラスの耐久性を著しく高めることが可能である。
達成するために、透明基板上に有機近赤外線吸収剤を含
有した二酸化珪素薄膜を形成する構造を採用した。この
構造では安定性に限界のある有機近赤外線吸収剤を、無
機質で安定な二酸化珪素で保護しているため、近赤外線
吸収ガラスの耐久性を著しく高めることが可能である。
【0009】この方法では薄膜材料との反応がほとんど
無視できるため、広い範囲の近赤外線吸収剤を用いるこ
とができる。そのため、含有する近赤外線吸収剤の種類
を変化させることによって任意の吸収波長を得ることが
できる。また、透明基板としては耐久性の優れた結晶化
ガラスや強度の優れた強化ガラスを用いることもできる
。
無視できるため、広い範囲の近赤外線吸収剤を用いるこ
とができる。そのため、含有する近赤外線吸収剤の種類
を変化させることによって任意の吸収波長を得ることが
できる。また、透明基板としては耐久性の優れた結晶化
ガラスや強度の優れた強化ガラスを用いることもできる
。
【0010】有機近赤外線吸収剤を含有する二酸化珪素
薄膜の形成方法として、この発明では二酸化珪素が過飽
和状態となっている珪弗化水素酸水溶液と有機近赤外線
吸収剤とからなる溶液を透明基板と接触させている。こ
の場合、二酸化珪素を過飽和に含む珪弗化水素酸水溶液
は、珪弗化水素酸水溶液に二酸化珪素を飽和した溶液に
、ホウ酸、アンモニア水、金属ハライドあるいは水素よ
りもイオン化傾向の大きい金属を添加することによって
得られる。あるいは、低温の珪弗化水素酸水溶液に二酸
化珪素を添加した後、この溶液の温度を上昇させること
によっても得られる(例えば、特開昭61−28104
7号公報参照)。
薄膜の形成方法として、この発明では二酸化珪素が過飽
和状態となっている珪弗化水素酸水溶液と有機近赤外線
吸収剤とからなる溶液を透明基板と接触させている。こ
の場合、二酸化珪素を過飽和に含む珪弗化水素酸水溶液
は、珪弗化水素酸水溶液に二酸化珪素を飽和した溶液に
、ホウ酸、アンモニア水、金属ハライドあるいは水素よ
りもイオン化傾向の大きい金属を添加することによって
得られる。あるいは、低温の珪弗化水素酸水溶液に二酸
化珪素を添加した後、この溶液の温度を上昇させること
によっても得られる(例えば、特開昭61−28104
7号公報参照)。
【0011】有機近赤外線吸収剤の添加については、直
接添加してもよいし、水あるいはエタノールなどの水溶
性有機溶剤に溶解させて添加してもよい。有機近赤外線
吸収剤の添加時期については、珪弗化水素酸の二酸化珪
素飽和溶液に加えてもよく、二酸化珪素が過飽和状態に
なった後の溶液に添加してもよい。
接添加してもよいし、水あるいはエタノールなどの水溶
性有機溶剤に溶解させて添加してもよい。有機近赤外線
吸収剤の添加時期については、珪弗化水素酸の二酸化珪
素飽和溶液に加えてもよく、二酸化珪素が過飽和状態に
なった後の溶液に添加してもよい。
【0012】二酸化珪素薄膜作製条件のうち、珪弗化水
素酸の濃度としては1.0モル/l以上、望ましくは1
.5〜3.0モル/lが適用される。また、透明基板を
接触させる時の処理液の温度は15〜60℃、望ましく
は25〜40℃であり、温度差を利用する場合には通常
10℃以下の温度で二酸化珪素を飽和させ、20〜60
℃の温度で処理液と透明基板を接触させる。接触方法は
、一般的には処理液の中に透明基板を浸漬する方法がと
られる。
素酸の濃度としては1.0モル/l以上、望ましくは1
.5〜3.0モル/lが適用される。また、透明基板を
接触させる時の処理液の温度は15〜60℃、望ましく
は25〜40℃であり、温度差を利用する場合には通常
10℃以下の温度で二酸化珪素を飽和させ、20〜60
℃の温度で処理液と透明基板を接触させる。接触方法は
、一般的には処理液の中に透明基板を浸漬する方法がと
られる。
【0013】近赤外線吸収剤としては、たとえば、NK
−5 [1−Ethyl−4−〔3−(1−ethy
l−4(1H)−quinolydene)−1−pr
openyl〕quinolinium iodide
]、NK−1456 [1−Ethyl−2−〔5−
(1−ethyl−2(1H)−quinolylid
ene)−1,3−pentadienyl〕quin
olinium iodide]、NK−78 [1
−Ethyl−4−〔3−chloro−5−(1−e
thyl−4(1H)−quinolylidene)
−1,3−pentadienyl〕 quinoli
nium iodide]、NK−1144 [1−
Ethyl−4−〔5−(1−ethyl−4(1H)
−quinolylidene)−1,3−penta
dienyl〕 quinolinium iodid
e]、NK−125 [1,3,3−Trimeth
yl−2−〔7−(1,3,3−trimethyl−
2−indolinylidene)−1,3,5−h
eptatrienyl〕−3H−indolium
iodide]、NK−1967 [3,3−Dim
ethyl−2−〔7−〔3,3−dimethyl−
1−(3−sulfoprpyl)2−indolin
ylidene〕−1,3,5−heptatrien
yl〕−1−(3−sulfopropyl)−3H−
indolium hydroxide, inner
salt, sodium salt]、NK−12
6 [3−Ethyl−2−〔7−(3−ethyl
−2−benzothiazolinylidene)
−1,3,5−heptatrienyl〕 benz
othiazolium iodide]、NK−16
66 [3−Ethyl−2−〔7−(3−ethy
l−2−benzothiazolinylidene
)−1,3,5−heptatrienyl〕benz
othiazolium bromide]、NK−7
47 [3−Ethyl−2−〔7−(3−ethy
l−2−benzoselenazolinylide
ne)−1,3,5−heptatrienyl〕 b
enzoselenazolium iodide]、
NK−2014[1,1,3−Trimethyl−2
−〔7−(1,1,3−trimethylbenz〔
e〕indolin−2−ylidene)−1,3,
5−heptatrienyl〕−1H−benz〔e
〕indolium perchlorate](以上
日本感光色素研究所製)などを用いることができる。
−5 [1−Ethyl−4−〔3−(1−ethy
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openyl〕quinolinium iodide
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−Ethyl−4−〔3−chloro−5−(1−e
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−1,3−pentadienyl〕 quinoli
nium iodide]、NK−1144 [1−
Ethyl−4−〔5−(1−ethyl−4(1H)
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indolium hydroxide, inner
salt, sodium salt]、NK−12
6 [3−Ethyl−2−〔7−(3−ethyl
−2−benzothiazolinylidene)
−1,3,5−heptatrienyl〕 benz
othiazolium iodide]、NK−16
66 [3−Ethyl−2−〔7−(3−ethy
l−2−benzothiazolinylidene
)−1,3,5−heptatrienyl〕benz
othiazolium bromide]、NK−7
47 [3−Ethyl−2−〔7−(3−ethy
l−2−benzoselenazolinylide
ne)−1,3,5−heptatrienyl〕 b
enzoselenazolium iodide]、
NK−2014[1,1,3−Trimethyl−2
−〔7−(1,1,3−trimethylbenz〔
e〕indolin−2−ylidene)−1,3,
5−heptatrienyl〕−1H−benz〔e
〕indolium perchlorate](以上
日本感光色素研究所製)などを用いることができる。
【0014】なお、近赤外線吸収剤の種類によっては、
膜形成直後の状態では近赤外部の吸収が小さくなるもの
がある。このような膜については、さらに加熱すること
によって吸収を大きくすることができる。この場合、加
熱温度は近赤外線吸収剤が分解する温度以下にする必要
があり、通常は200℃以下が好適であり、60〜15
0℃がより望ましい。
膜形成直後の状態では近赤外部の吸収が小さくなるもの
がある。このような膜については、さらに加熱すること
によって吸収を大きくすることができる。この場合、加
熱温度は近赤外線吸収剤が分解する温度以下にする必要
があり、通常は200℃以下が好適であり、60〜15
0℃がより望ましい。
【0015】
【作用】この発明の近赤外線吸収ガラスは、透明基板す
なわち板ガラス上に有機近赤外線吸収剤を含有した二酸
化珪素薄膜を形成して得られるために製造が容易であり
、複雑な形状を持つガラスや特殊な板厚のガラスにも適
用できる。
なわち板ガラス上に有機近赤外線吸収剤を含有した二酸
化珪素薄膜を形成して得られるために製造が容易であり
、複雑な形状を持つガラスや特殊な板厚のガラスにも適
用できる。
【0016】また、この近赤外線吸収薄膜は二酸化珪素
の過飽和状態となった珪弗化水素酸溶液と、有機近赤外
線吸収剤とからなる処理液中で形成されるため、緻密で
あり不純物が混入することがない。従って、膜中の有機
近赤外線吸収剤は変質することなく長期にわたって近赤
外線を吸収することができる。
の過飽和状態となった珪弗化水素酸溶液と、有機近赤外
線吸収剤とからなる処理液中で形成されるため、緻密で
あり不純物が混入することがない。従って、膜中の有機
近赤外線吸収剤は変質することなく長期にわたって近赤
外線を吸収することができる。
【0017】
【実施例】以下、実施例を挙げて本発明をより具体的に
説明するが、本発明はその要旨を越えない限り以下の実
施例に限定されるものではない。 実施例1 縦76mm、横26mm、厚さ1mmのスライドガラス
を充分に洗浄、乾燥し、基板として用いた。次にシリカ
ゲルを飽和させた珪弗化水素酸水溶液1000ccに金
属アルミニウム4gを溶解させた。この溶液を100m
lのポリ容器に取り、有機近赤外線吸収剤を0.05g
添加した後、充分に攪拌してから35℃の水浴上で加温
した。この処理液中に上記のスライドガラスを1枚浸漬
し、16時間保持した後、取り出して洗浄乾燥した。
説明するが、本発明はその要旨を越えない限り以下の実
施例に限定されるものではない。 実施例1 縦76mm、横26mm、厚さ1mmのスライドガラス
を充分に洗浄、乾燥し、基板として用いた。次にシリカ
ゲルを飽和させた珪弗化水素酸水溶液1000ccに金
属アルミニウム4gを溶解させた。この溶液を100m
lのポリ容器に取り、有機近赤外線吸収剤を0.05g
添加した後、充分に攪拌してから35℃の水浴上で加温
した。この処理液中に上記のスライドガラスを1枚浸漬
し、16時間保持した後、取り出して洗浄乾燥した。
【0018】添加した有機近赤外線吸収剤の種類及び実
験結果を下記の表1に示す。二酸化珪素薄膜の膜厚は、
接触針式膜厚測定機にて測定したものであり、前記薄膜
がスライドガラスの両面に形成されている。
験結果を下記の表1に示す。二酸化珪素薄膜の膜厚は、
接触針式膜厚測定機にて測定したものであり、前記薄膜
がスライドガラスの両面に形成されている。
【0019】
【0020】有機近赤外線吸収剤は、X線光・電子分光
法(ESCA)、二次イオン質量分析法(SIMS)、
赤外線分光法(IR)などにより分析した結果、膜中に
均一に取り込まれていることが確認された。さらに、得
られた近赤外線吸収ガラスを35℃の99.5%エタノ
ール溶液または60℃の温水に200時間浸漬したが、
有機近赤外線吸収剤の溶出は見られなかった。また、テ
ープテスト、スポンジ払拭テストによる二酸化珪素薄膜
の剥離も見られなかった。
法(ESCA)、二次イオン質量分析法(SIMS)、
赤外線分光法(IR)などにより分析した結果、膜中に
均一に取り込まれていることが確認された。さらに、得
られた近赤外線吸収ガラスを35℃の99.5%エタノ
ール溶液または60℃の温水に200時間浸漬したが、
有機近赤外線吸収剤の溶出は見られなかった。また、テ
ープテスト、スポンジ払拭テストによる二酸化珪素薄膜
の剥離も見られなかった。
【0021】図1に、この実施例により得られた近赤外
線吸収ガラスの分光透過スペクトルを示す。
線吸収ガラスの分光透過スペクトルを示す。
【0022】実施例2
縦76mm、横26mm、厚さ1mmのスライドガラス
を充分に洗浄、乾燥し、基板として用いた。次にシリカ
ゲルを飽和させた珪弗化水素酸水溶液1000ccに金
属アルミニウム4gを溶解させた。この溶液を100m
lのポリ容器に取り、有機近赤外線吸収剤を0.05g
添加した後、充分に攪拌してから35℃の水浴上で加温
した。この処理液中に上記のスライドガラスを1枚浸漬
し、16時間経過した後、取り出して洗浄乾燥した。ま
た、取り出したスライドガラスを恒温乾燥器中で加熱処
理した。
を充分に洗浄、乾燥し、基板として用いた。次にシリカ
ゲルを飽和させた珪弗化水素酸水溶液1000ccに金
属アルミニウム4gを溶解させた。この溶液を100m
lのポリ容器に取り、有機近赤外線吸収剤を0.05g
添加した後、充分に攪拌してから35℃の水浴上で加温
した。この処理液中に上記のスライドガラスを1枚浸漬
し、16時間経過した後、取り出して洗浄乾燥した。ま
た、取り出したスライドガラスを恒温乾燥器中で加熱処
理した。
【0023】添加した有機近赤外線吸収剤の種類及び実
験結果を下記の表2に示す。二酸化珪素薄膜の膜厚は、
接触針式膜厚測定機にて測定したものであり、前記薄膜
がスライドガラスの両面に形成されている。
験結果を下記の表2に示す。二酸化珪素薄膜の膜厚は、
接触針式膜厚測定機にて測定したものであり、前記薄膜
がスライドガラスの両面に形成されている。
【0024】有機近赤外線吸収剤は、X線光・電子分光
法(ESCA)、二次イオン質量分析法(SIMS)、
赤外線分光法(IR)などにより分析した結果、膜中に
均一に取り込まれていることが確認された。さらに、得
られた近赤外線吸収ガラスを35℃の99.5%エタノ
ール溶液または60℃の温水に200時間浸漬したが、
有機近赤外線吸収剤の溶出は見られなかった。また、テ
ープテスト、スポンジ払拭テストによる二酸化珪素薄膜
の剥離も見られなかった。
法(ESCA)、二次イオン質量分析法(SIMS)、
赤外線分光法(IR)などにより分析した結果、膜中に
均一に取り込まれていることが確認された。さらに、得
られた近赤外線吸収ガラスを35℃の99.5%エタノ
ール溶液または60℃の温水に200時間浸漬したが、
有機近赤外線吸収剤の溶出は見られなかった。また、テ
ープテスト、スポンジ払拭テストによる二酸化珪素薄膜
の剥離も見られなかった。
【0025】
【0026】図2に、この実施例により得られた近赤外
線吸収ガラスの分光透過スペクトルを示す。図2におい
て、aは成膜直後の分光透過スペクトルであり、またb
は成膜後に60℃で16時間熱処理を施して得られた分
光透過スペクトルである。同図より、近赤外部の吸収が
加熱処理によって大きくなることがわかる。
線吸収ガラスの分光透過スペクトルを示す。図2におい
て、aは成膜直後の分光透過スペクトルであり、またb
は成膜後に60℃で16時間熱処理を施して得られた分
光透過スペクトルである。同図より、近赤外部の吸収が
加熱処理によって大きくなることがわかる。
【0027】
【発明の効果】この発明の近赤外線吸収ガラスは、以下
のような優れた点を有している。 (1)透明基板として通常の板ガラスを用いることがで
きるので、製造が容易であり、傷つきや劣化などが少な
い。このため長期の使用に耐える。 (2)無機質で緻密な二酸化珪素薄膜中に有機近赤外線
吸収剤を固定しているため、吸収剤の劣化や膜外への溶
出による機能の低下が緩和される。 (3)ガラス基板と有機近赤外線吸収剤を含んだ二酸化
珪素薄膜とから構成されており、有機溶剤や弗化水素酸
以外の酸などには侵されない。
のような優れた点を有している。 (1)透明基板として通常の板ガラスを用いることがで
きるので、製造が容易であり、傷つきや劣化などが少な
い。このため長期の使用に耐える。 (2)無機質で緻密な二酸化珪素薄膜中に有機近赤外線
吸収剤を固定しているため、吸収剤の劣化や膜外への溶
出による機能の低下が緩和される。 (3)ガラス基板と有機近赤外線吸収剤を含んだ二酸化
珪素薄膜とから構成されており、有機溶剤や弗化水素酸
以外の酸などには侵されない。
【0028】
【図1】 この発明の実施例1で得られた近赤外
線吸収ガラスの分光透過スペクトルである。
線吸収ガラスの分光透過スペクトルである。
【図2】 この発明の実施例2で得られた近赤外
線吸収ガラスの分光透過スペクトルである。
線吸収ガラスの分光透過スペクトルである。
a 成膜直後の分光透過スペクトルb
成膜後に60℃で16時間熱処理を加えて得られ
た分光透過スペクトル
成膜後に60℃で16時間熱処理を加えて得られ
た分光透過スペクトル
Claims (2)
- 【請求項1】 有機近赤外線吸収剤を含有する二酸化
珪素薄膜が透明基板上に形成された近赤外線吸収ガラス
であって、前記二酸化珪素薄膜は二酸化珪素の過飽和状
態となった珪弗化水素酸水溶液中に有機近赤外線吸収剤
を含む処理液と透明基板とを接触させて形成されている
ことを特徴とする近赤外線吸収ガラス。 - 【請求項2】 前記二酸化珪素薄膜が形成されている
前記透明基板を、さらに加熱処理する請求項1に記載の
近赤外線吸収ガラス。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10890691A JP3166200B2 (ja) | 1991-04-12 | 1991-04-12 | 近赤外線吸収ガラス |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10890691A JP3166200B2 (ja) | 1991-04-12 | 1991-04-12 | 近赤外線吸収ガラス |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04317441A true JPH04317441A (ja) | 1992-11-09 |
JP3166200B2 JP3166200B2 (ja) | 2001-05-14 |
Family
ID=14496635
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10890691A Expired - Fee Related JP3166200B2 (ja) | 1991-04-12 | 1991-04-12 | 近赤外線吸収ガラス |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3166200B2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004333742A (ja) * | 2003-05-06 | 2004-11-25 | Dainippon Printing Co Ltd | 光学フィルタ |
JP2004333746A (ja) * | 2003-05-06 | 2004-11-25 | Dainippon Printing Co Ltd | 光学フィルタ |
JP2004333743A (ja) * | 2003-05-06 | 2004-11-25 | Dainippon Printing Co Ltd | 光学フィルタ |
EP1626038A3 (en) * | 2004-08-09 | 2007-04-18 | United Technologies Corporation | Thermal resistant environmental barrier coating |
WO2017146210A1 (ja) * | 2016-02-24 | 2017-08-31 | 株式会社オプトラン | カバーガラスの積層構造、カメラ構造、撮像装置 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03265545A (ja) * | 1990-03-15 | 1991-11-26 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | 紫外線吸収ガラス |
-
1991
- 1991-04-12 JP JP10890691A patent/JP3166200B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03265545A (ja) * | 1990-03-15 | 1991-11-26 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | 紫外線吸収ガラス |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004333742A (ja) * | 2003-05-06 | 2004-11-25 | Dainippon Printing Co Ltd | 光学フィルタ |
JP2004333746A (ja) * | 2003-05-06 | 2004-11-25 | Dainippon Printing Co Ltd | 光学フィルタ |
JP2004333743A (ja) * | 2003-05-06 | 2004-11-25 | Dainippon Printing Co Ltd | 光学フィルタ |
EP1626038A3 (en) * | 2004-08-09 | 2007-04-18 | United Technologies Corporation | Thermal resistant environmental barrier coating |
US7666512B2 (en) | 2004-08-09 | 2010-02-23 | United Technologies Corporation | Thermal resistant environmental barrier coating |
WO2017146210A1 (ja) * | 2016-02-24 | 2017-08-31 | 株式会社オプトラン | カバーガラスの積層構造、カメラ構造、撮像装置 |
CN108700688A (zh) * | 2016-02-24 | 2018-10-23 | 光驰股份有限公司 | 玻璃盖板的层叠结构、照相机结构、成像装置 |
JPWO2017146210A1 (ja) * | 2016-02-24 | 2019-01-31 | 株式会社オプトラン | カバーガラスの積層構造、カメラ構造、撮像装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3166200B2 (ja) | 2001-05-14 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |