JPH04313049A - 成分測定装置 - Google Patents
成分測定装置Info
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- JPH04313049A JPH04313049A JP7880391A JP7880391A JPH04313049A JP H04313049 A JPH04313049 A JP H04313049A JP 7880391 A JP7880391 A JP 7880391A JP 7880391 A JP7880391 A JP 7880391A JP H04313049 A JPH04313049 A JP H04313049A
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Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光源と、光源からの光
線束が照射される試料保持部と、その試料保持部で保持
された試料を透過した光線束を集光する光学系と、その
光学系により集光された光線束を受光する受光部とから
構成してある成分測定装置に関する。
線束が照射される試料保持部と、その試料保持部で保持
された試料を透過した光線束を集光する光学系と、その
光学系により集光された光線束を受光する受光部とから
構成してある成分測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】この種の成分測定装置は、試料を透過し
た光線束を直接に光学系に導くように構成してあった。
た光線束を直接に光学系に導くように構成してあった。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上述の従来技
術では、試料を透過した光線束の強度により成分分析を
行うものであるため、一般に散乱体の測定の場合透過光
線束の強度は小となり測定精度が低下するという欠点が
あった。特に、光学系の入射口径は無限大ではないので
、試料を透過した測定に有効な光線束の全てが集光され
るものではなく、この損失により測定精度は著しく低下
することになる。一方、発光強度の大なる光源を用いる
ことも考えられるが、大がかりな装置や電源が必要とな
るばかりか、光源自体の発熱量も相当なものとなり却っ
て試料を傷めることにもなりかねないので好ましくない
。本発明の目的は上述した従来欠点を解消する点にある
。
術では、試料を透過した光線束の強度により成分分析を
行うものであるため、一般に散乱体の測定の場合透過光
線束の強度は小となり測定精度が低下するという欠点が
あった。特に、光学系の入射口径は無限大ではないので
、試料を透過した測定に有効な光線束の全てが集光され
るものではなく、この損失により測定精度は著しく低下
することになる。一方、発光強度の大なる光源を用いる
ことも考えられるが、大がかりな装置や電源が必要とな
るばかりか、光源自体の発熱量も相当なものとなり却っ
て試料を傷めることにもなりかねないので好ましくない
。本発明の目的は上述した従来欠点を解消する点にある
。
【０００４】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
、本発明による成分測定装置の特徴構成は、試料と前記
光学系との間に前記試料を透過した光線束を集光する積
分球を設けてあることにある。試料保持手段は前記試料
を揺動する揺動手段を備えてあることが好ましい。
、本発明による成分測定装置の特徴構成は、試料と前記
光学系との間に前記試料を透過した光線束を集光する積
分球を設けてあることにある。試料保持手段は前記試料
を揺動する揺動手段を備えてあることが好ましい。
【０００５】
【作用】積分球は、試料を透過した測定に有効な光線束
のうち光学系で集光されずに無駄に拡散していた光線束
の大半を集光して後段の光学系に導くのである。また、
試料保持手段に設けた揺動手段により、光源からの測定
用の光線束が通過する光路中で試料を揺動させると、試
料密度のばらつきや偏りによる測定誤差を取り除く平均
化処理が行えるのである。
のうち光学系で集光されずに無駄に拡散していた光線束
の大半を集光して後段の光学系に導くのである。また、
試料保持手段に設けた揺動手段により、光源からの測定
用の光線束が通過する光路中で試料を揺動させると、試
料密度のばらつきや偏りによる測定誤差を取り除く平均
化処理が行えるのである。
【０００６】
【発明の効果】従って本発明の成分測定装置によれば、
強度の小なる透過光線束であっても、有効に測定に用い
ることができるので、測定精度を向上することができる
ようになった。揺動手段により試料密度のばらつきや偏
りによる測定誤差をも取り除くことができるので、測定
精度をさらに高めることができるようになった。
強度の小なる透過光線束であっても、有効に測定に用い
ることができるので、測定精度を向上することができる
ようになった。揺動手段により試料密度のばらつきや偏
りによる測定誤差をも取り除くことができるので、測定
精度をさらに高めることができるようになった。
【０００７】
【実施例】以下に本発明の一実施例である籾米を試料Ｓ
とする成分測定装置について説明する。成分測定装置は
、図１に示すように、光源１と、光源１からの光線束が
照射される試料保持部２と、その試料保持部２で保持さ
れた試料を透過した光線束を集光する積分球３と、積分
球３の出力光を集光する光学系４と、その光学系４によ
り集光された光線束を受光する受光部５とを光軸Ｐに沿
って配置して構成してある。前記光源１は、タングステ
ン−ハロゲン電球１ａと、その電球１ａから発生した光
線束を一方向に向ける凹面反射鏡１ｂと、前記試料保持
部２に向かって光線束を収束させる収束レンズ１ｃとで
構成してある。前記試料保持部２は、試料Ｓとして籾米
を収容した石英硝子製の容器２ａとその容器２ａを前記
光軸Ｐに対して垂直方向に往復揺動する揺動手段２ｂと
で構成してある。前記揺動手段２ｂは、前記容器２ａの
上端部を下方に付勢する楕円カムａと前記容器２ａの下
端部を上方に付勢するスプリングｂとで構成してあり、
前記楕円カムａの回転運動により前記容器２ａを上下揺
動する。前記積分球３は、前記容器２ａの直後にその入
射孔３ａが位置するように配置してあり、試料Ｓを透過
した光線束を有効に集光するように、その入射孔３ａの
中心が前記光軸Ｐを通り、半径が前記収束レンズ１ｃに
よる光線束の前記容器２ａ上での収束半径より大となる
ように構成してある。前記光学系４は、前記積分球３か
らの出射光を前記受光部５のスリット５ｂ位置で集光さ
せる集光レンズ４ａと、前記積分球３と前記受光部５間
の光路への有害光の進入を防止する暗箱４ｂとで構成し
てあり、図１に示すように、前記集光レンズ４ａは、後
述の凹面回折格子５ｃのＦナンバーに合致するように、
焦点距離ｆを決定してある。前記受光部５は、前記光学
系４に隣接する暗箱５ａに前記光学系４からの測定用の
光線束を入射させるスリット５ｂと、そのスリット５ｂ
から入射後拡散する光線束を分光反射する凹面回折格子
５ｃと、分光反射された各波長毎の光線束強度を検出す
るアレイ型受光素子５ｄとを設けて構成してある。即ち
、前記受光部５はポリクロメータ型の分光計である。前
記受光部５での測定を、前記揺動手段２ｂにより前記容
器２ａを揺動させて試料Ｓを攪拌しながら複数回行い、
その平均をとることにより試料Ｓの密度差等に起因する
誤差を吸収する。
とする成分測定装置について説明する。成分測定装置は
、図１に示すように、光源１と、光源１からの光線束が
照射される試料保持部２と、その試料保持部２で保持さ
れた試料を透過した光線束を集光する積分球３と、積分
球３の出力光を集光する光学系４と、その光学系４によ
り集光された光線束を受光する受光部５とを光軸Ｐに沿
って配置して構成してある。前記光源１は、タングステ
ン−ハロゲン電球１ａと、その電球１ａから発生した光
線束を一方向に向ける凹面反射鏡１ｂと、前記試料保持
部２に向かって光線束を収束させる収束レンズ１ｃとで
構成してある。前記試料保持部２は、試料Ｓとして籾米
を収容した石英硝子製の容器２ａとその容器２ａを前記
光軸Ｐに対して垂直方向に往復揺動する揺動手段２ｂと
で構成してある。前記揺動手段２ｂは、前記容器２ａの
上端部を下方に付勢する楕円カムａと前記容器２ａの下
端部を上方に付勢するスプリングｂとで構成してあり、
前記楕円カムａの回転運動により前記容器２ａを上下揺
動する。前記積分球３は、前記容器２ａの直後にその入
射孔３ａが位置するように配置してあり、試料Ｓを透過
した光線束を有効に集光するように、その入射孔３ａの
中心が前記光軸Ｐを通り、半径が前記収束レンズ１ｃに
よる光線束の前記容器２ａ上での収束半径より大となる
ように構成してある。前記光学系４は、前記積分球３か
らの出射光を前記受光部５のスリット５ｂ位置で集光さ
せる集光レンズ４ａと、前記積分球３と前記受光部５間
の光路への有害光の進入を防止する暗箱４ｂとで構成し
てあり、図１に示すように、前記集光レンズ４ａは、後
述の凹面回折格子５ｃのＦナンバーに合致するように、
焦点距離ｆを決定してある。前記受光部５は、前記光学
系４に隣接する暗箱５ａに前記光学系４からの測定用の
光線束を入射させるスリット５ｂと、そのスリット５ｂ
から入射後拡散する光線束を分光反射する凹面回折格子
５ｃと、分光反射された各波長毎の光線束強度を検出す
るアレイ型受光素子５ｄとを設けて構成してある。即ち
、前記受光部５はポリクロメータ型の分光計である。前
記受光部５での測定を、前記揺動手段２ｂにより前記容
器２ａを揺動させて試料Ｓを攪拌しながら複数回行い、
その平均をとることにより試料Ｓの密度差等に起因する
誤差を吸収する。
【０００８】〔別実施例〕以下に別実施例を説明する。
先の実施例では、籾米を試料としていたが、試料はこれ
に限定するものではなく、任意の穀物等固体試料に適用
できる。又、光源にタングステン−ハロゲン電球を用い
ているが、これに限定するものではなく試料及び測定目
的に応じて適宜設定可能であり、赤外波数全域で連続ス
ペクトル放射を持つ光源としての熱放射体（黒体炉）や
、その他水銀灯、Ｎｅ放電管等の光源や、ラマン散乱を
測定するための単色光を発光するレーザ等を用いること
ができ、その構成も適宜変更可能である。先の実施例で
は、受光部にポリクロメータ型の分光計を用いているが
、分光計はこれに限定するものではなく任意であり、例
えば、アレイ型受光素子の代わりに単一の受光素子を移
動機構により移動させながら測定してもよい。先の実施
例では、試料からの透過光を分光しているが、試料への
入射光を分光する干渉フィルタ等の分光装置を用いるこ
ともできる。即ち、試料と積分球と光学系で構成される
ブロックの前後の光源構成、分光手段、受光手段は適宜
設定できる。
に限定するものではなく、任意の穀物等固体試料に適用
できる。又、光源にタングステン−ハロゲン電球を用い
ているが、これに限定するものではなく試料及び測定目
的に応じて適宜設定可能であり、赤外波数全域で連続ス
ペクトル放射を持つ光源としての熱放射体（黒体炉）や
、その他水銀灯、Ｎｅ放電管等の光源や、ラマン散乱を
測定するための単色光を発光するレーザ等を用いること
ができ、その構成も適宜変更可能である。先の実施例で
は、受光部にポリクロメータ型の分光計を用いているが
、分光計はこれに限定するものではなく任意であり、例
えば、アレイ型受光素子の代わりに単一の受光素子を移
動機構により移動させながら測定してもよい。先の実施
例では、試料からの透過光を分光しているが、試料への
入射光を分光する干渉フィルタ等の分光装置を用いるこ
ともできる。即ち、試料と積分球と光学系で構成される
ブロックの前後の光源構成、分光手段、受光手段は適宜
設定できる。
【０００９】尚、特許請求の範囲の項に図面との対照を
便利にする為に符号を記すが、該記入により本発明は添
付図面の構成に限定されるものではない。
便利にする為に符号を記すが、該記入により本発明は添
付図面の構成に限定されるものではない。
【図１】成分測定装置の構成図
１ 光源
２ 試料保持部
３ 積分球
４ 光学系
５ 受光部
Ｓ 試料
Claims (2)
- 【請求項１】 光源（１）と、光源（１）からの光線
束が照射される試料保持部（２）と、その試料保持部（
２）で保持された試料（Ｓ）を透過した光線束を集光す
る光学系（４）と、その光学系（４）により集光された
光線束を受光する受光部（５）とから構成してある成分
測定装置であって、前記試料（Ｓ）と前記光学系（４）
との間に前記試料（Ｓ）を透過した光線束を集光する積
分球（３）を設けてある成分測定装置。 - 【請求項２】 前記試料保持部（２）は前記試料（Ｓ
）を揺動する揺動手段（２ｂ）を備えてある請求項１記
載の成分測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7880391A JPH04313049A (ja) | 1991-04-11 | 1991-04-11 | 成分測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7880391A JPH04313049A (ja) | 1991-04-11 | 1991-04-11 | 成分測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04313049A true JPH04313049A (ja) | 1992-11-05 |
Family
ID=13672016
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7880391A Pending JPH04313049A (ja) | 1991-04-11 | 1991-04-11 | 成分測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04313049A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9216987B2 (en) | 2012-03-02 | 2015-12-22 | Tms Co., Ltd. | Chroman derivative |
| JP2016537655A (ja) * | 2013-11-14 | 2016-12-01 | グラインセンス オーワイＧｒａｉｎｓｅｎｓｅ Ｏｙ | 光学分析装置、光学分析方法及び試料調製装置 |
-
1991
- 1991-04-11 JP JP7880391A patent/JPH04313049A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9216987B2 (en) | 2012-03-02 | 2015-12-22 | Tms Co., Ltd. | Chroman derivative |
| JP2016537655A (ja) * | 2013-11-14 | 2016-12-01 | グラインセンス オーワイＧｒａｉｎｓｅｎｓｅ Ｏｙ | 光学分析装置、光学分析方法及び試料調製装置 |
| US10073031B2 (en) | 2013-11-14 | 2018-09-11 | Grainsense Oy | Optical analyzer, optical analyzing method and sample preparation device |
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