JPH04291088A - 半導体記憶装置 - Google Patents
半導体記憶装置Info
- Publication number
- JPH04291088A JPH04291088A JP3056375A JP5637591A JPH04291088A JP H04291088 A JPH04291088 A JP H04291088A JP 3056375 A JP3056375 A JP 3056375A JP 5637591 A JP5637591 A JP 5637591A JP H04291088 A JPH04291088 A JP H04291088A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- write
- bar
- amplifier
- writing
- data bus
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 8
- CIWBSHSKHKDKBQ-JLAZNSOCSA-N Ascorbic acid Chemical compound OC[C@H](O)[C@H]1OC(=O)C(O)=C1O CIWBSHSKHKDKBQ-JLAZNSOCSA-N 0.000 abstract description 5
- 210000000352 storage cell Anatomy 0.000 abstract 2
- 101000822028 Homo sapiens Solute carrier family 28 member 3 Proteins 0.000 description 9
- 102100021470 Solute carrier family 28 member 3 Human genes 0.000 description 9
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Dram (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は半導体記憶装置を構成
する記憶セルにセル情報を書き込む書き込み回路に関す
るものである。DRAMの一種類にはシリアルアクセス
メモリを内蔵したデュアルポートメモリがあり、特に画
像用メモリとして使用される。このようなDRAMは動
作の高速性が要求され、特に画像データの場合セルアレ
イを構成する多数の記憶セルの中から矩形状に配列され
た一部の記憶セルに対し一括して書き込み動作を行うこ
とが必要となっている。
する記憶セルにセル情報を書き込む書き込み回路に関す
るものである。DRAMの一種類にはシリアルアクセス
メモリを内蔵したデュアルポートメモリがあり、特に画
像用メモリとして使用される。このようなDRAMは動
作の高速性が要求され、特に画像データの場合セルアレ
イを構成する多数の記憶セルの中から矩形状に配列され
た一部の記憶セルに対し一括して書き込み動作を行うこ
とが必要となっている。
【0002】
【従来の技術】従来のDRAMでは高速書き込みを行う
ためにフラッシュライト機能を備えたものがある。この
フラッシュライト機能は選択されたワード線に接続され
た記憶セルに同一のセル情報を一括して書き込むもので
あり、従前の書き込み速度に対し高速化が図られている
。
ためにフラッシュライト機能を備えたものがある。この
フラッシュライト機能は選択されたワード線に接続され
た記憶セルに同一のセル情報を一括して書き込むもので
あり、従前の書き込み速度に対し高速化が図られている
。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記のよう
なフラッシュライト機能では同一のワード線に接続され
た記憶セルに対してのみ一括書き込みが可能であって、
ビット線を選択しての一括書き込みは不可能であるため
、セルアレイ内で矩形状に位置する多数の記憶セルに対
し同一データを一括して書き込んだりあるいは異なるデ
ータをランダムに書き込むことはできない。従って、こ
のような場合には書き込み動作を高速化することができ
ないという問題点があった。
なフラッシュライト機能では同一のワード線に接続され
た記憶セルに対してのみ一括書き込みが可能であって、
ビット線を選択しての一括書き込みは不可能であるため
、セルアレイ内で矩形状に位置する多数の記憶セルに対
し同一データを一括して書き込んだりあるいは異なるデ
ータをランダムに書き込むことはできない。従って、こ
のような場合には書き込み動作を高速化することができ
ないという問題点があった。
【0004】この発明の目的は、ビット線を選択した一
括書き込み動作を可能とする半導体記憶装置を提供する
ことにある。
括書き込み動作を可能とする半導体記憶装置を提供する
ことにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】図1は本発明の原理説明
図である。すなわち、ビット線BL,バーBLとワード
線WLを選択することにより所定の記憶セルCを選択し
、該記憶セルCに対しビット線BL,バーBL及びデー
タバスDB,バーDBを介して該データバスDB,バー
DB毎に設けられたライトアンプWAで書き込み動作を
行う半導体記憶装置で、各ライトアンプWAには該ライ
トアンプWAの中から複数のライトアンプを同時に動作
させる制御信号を出力する制御回路CNTが接続されて
いる。
図である。すなわち、ビット線BL,バーBLとワード
線WLを選択することにより所定の記憶セルCを選択し
、該記憶セルCに対しビット線BL,バーBL及びデー
タバスDB,バーDBを介して該データバスDB,バー
DB毎に設けられたライトアンプWAで書き込み動作を
行う半導体記憶装置で、各ライトアンプWAには該ライ
トアンプWAの中から複数のライトアンプを同時に動作
させる制御信号を出力する制御回路CNTが接続されて
いる。
【0006】
【作用】制御回路CNTにより選択されたライトアンプ
WAにより複数ビットで同時に書き込み動作が行われる
。
WAにより複数ビットで同時に書き込み動作が行われる
。
【0007】
【実施例】以下、この発明を具体化した第一の実施例を
図2に従って説明する。このDRAMは4ビットで1ブ
ロックが構成され、4対のビット線BL0,バーBL0
〜BL3,バーBL3のいずれかと多数本のワード線の
いずれかを選択することにより多数の記憶セルCの中か
ら所定の記憶セルCが選択される。各ビット線BL0,
バーBL0〜BL3,バーBL3はそれぞれ転送ゲート
Tr1を介してデータバスDB3,バーDB3〜DB0
,バーDB0に接続され、ビット線BL0,バーBL0
〜BL3,バーBL3の各対に接続された転送ゲートT
r1のゲートにはコラムデコーダ1からコラム選択信号
CL3〜CL0がそれぞれ入力され、そのコラム選択信
号CL3〜CL0がHレベルとなると各ビット線BL0
,バーBL0〜BL3,バーBL3が各データバスDB
3,バーDB3〜DB0,バーDB0にそれぞれ接続さ
れる。そして、コラムデコーダ1にはコラムアドレス信
号ADが入力され、そのコラムアドレス信号ADに基づ
いて前記コラム選択信号CL0〜CL3が出力される。
図2に従って説明する。このDRAMは4ビットで1ブ
ロックが構成され、4対のビット線BL0,バーBL0
〜BL3,バーBL3のいずれかと多数本のワード線の
いずれかを選択することにより多数の記憶セルCの中か
ら所定の記憶セルCが選択される。各ビット線BL0,
バーBL0〜BL3,バーBL3はそれぞれ転送ゲート
Tr1を介してデータバスDB3,バーDB3〜DB0
,バーDB0に接続され、ビット線BL0,バーBL0
〜BL3,バーBL3の各対に接続された転送ゲートT
r1のゲートにはコラムデコーダ1からコラム選択信号
CL3〜CL0がそれぞれ入力され、そのコラム選択信
号CL3〜CL0がHレベルとなると各ビット線BL0
,バーBL0〜BL3,バーBL3が各データバスDB
3,バーDB3〜DB0,バーDB0にそれぞれ接続さ
れる。そして、コラムデコーダ1にはコラムアドレス信
号ADが入力され、そのコラムアドレス信号ADに基づ
いて前記コラム選択信号CL0〜CL3が出力される。
【0008】データバスDB0,バーDB0〜DB3,
バーDB3の各対にはそれぞれライトアンプWA0〜W
A3が接続され、それぞれ書き込みデータWDが入力さ
れる。各ライトアンプWA0〜WA3には制御回路CN
T0〜CNT3がそれぞれ接続され、各制御回路CNT
0〜CNT3にはライトアンプWA0〜WA3を活性化
するためのライトアンプ活性化信号WL、ライトアンプ
活性化信号WLが入力されている状態でもライトアンプ
WA0〜WA3の活性化を禁止するコラムマスク信号C
M及び制御回路CNT0〜CNT3を選択する2ビット
のコラムアドレス信号A0,A1が入力されている。
バーDB3の各対にはそれぞれライトアンプWA0〜W
A3が接続され、それぞれ書き込みデータWDが入力さ
れる。各ライトアンプWA0〜WA3には制御回路CN
T0〜CNT3がそれぞれ接続され、各制御回路CNT
0〜CNT3にはライトアンプWA0〜WA3を活性化
するためのライトアンプ活性化信号WL、ライトアンプ
活性化信号WLが入力されている状態でもライトアンプ
WA0〜WA3の活性化を禁止するコラムマスク信号C
M及び制御回路CNT0〜CNT3を選択する2ビット
のコラムアドレス信号A0,A1が入力されている。
【0009】このような制御回路CNT0〜CNT3は
コラムマスク信号CMの入力に基づいてライトアンプ活
性化信号WLに優先して当該ライトアンプWA0〜WA
3による書き込み動作を禁止し、ライトアンプ活性化信
号WLが入力されている状態でコラムアドレス信号A0
,A1に基づいて選択された場合に当該ライトアンプW
A0〜WA3を活性化するようになっている。そして、
この1ブロックのセルアレイから1つのI/O装置を介
してデータの入出力が行われ、×4構成(1ブロック毎
に4ビット分のビット線を有する構成)のDRAMでは
このようなブロックが4個で構成される。
コラムマスク信号CMの入力に基づいてライトアンプ活
性化信号WLに優先して当該ライトアンプWA0〜WA
3による書き込み動作を禁止し、ライトアンプ活性化信
号WLが入力されている状態でコラムアドレス信号A0
,A1に基づいて選択された場合に当該ライトアンプW
A0〜WA3を活性化するようになっている。そして、
この1ブロックのセルアレイから1つのI/O装置を介
してデータの入出力が行われ、×4構成(1ブロック毎
に4ビット分のビット線を有する構成)のDRAMでは
このようなブロックが4個で構成される。
【0010】さて、このように構成されたDRAMでの
書き込み動作を説明すると、通常の書き込み動作ではい
ずれかのワード線すなわち例えばワード線WL1が選択
されている状態で各制御回路CNT0〜CNT3にはラ
イトアンプ活性化信号WLが入力され、コラムデコーダ
1に入力されるアドレス信号に基づいてコラム選択信号
CL0〜CL3がHレベルとなり、ビット線BL0,バ
ーBL0〜BL3,バーBL3が選択され、制御回路C
NT0〜CNT3に入力されるコラムアドレス信号A0
,A1に基づいて例えばライトアンプWA0だけにライ
トアンプ活性化信号WLが入力されて当該ライトアンプ
WA3が活性化される。そして、そのライトアンプWA
0に入力される書き込みデータWDに基づいて同ライト
アンプWA3からビット線BL0,バーBL0を介して
記憶セルC1に書き込みデータWDが書き込まれる。
書き込み動作を説明すると、通常の書き込み動作ではい
ずれかのワード線すなわち例えばワード線WL1が選択
されている状態で各制御回路CNT0〜CNT3にはラ
イトアンプ活性化信号WLが入力され、コラムデコーダ
1に入力されるアドレス信号に基づいてコラム選択信号
CL0〜CL3がHレベルとなり、ビット線BL0,バ
ーBL0〜BL3,バーBL3が選択され、制御回路C
NT0〜CNT3に入力されるコラムアドレス信号A0
,A1に基づいて例えばライトアンプWA0だけにライ
トアンプ活性化信号WLが入力されて当該ライトアンプ
WA3が活性化される。そして、そのライトアンプWA
0に入力される書き込みデータWDに基づいて同ライト
アンプWA3からビット線BL0,バーBL0を介して
記憶セルC1に書き込みデータWDが書き込まれる。
【0011】一方、ブロック書き込みを行う場合には先
ず通常の書き込みと同様にいずれかのワード線すなわち
例えばワード線WL1が選択されている状態で各制御回
路CNT0〜CNT3にはライトアンプ活性化信号WL
が入力され、コラムデコーダ1に入力されるアドレス信
号に基づいてコラム選択信号CL0〜CL3がHレベル
となり、ビット線BL0,バーBL0〜BL3,バーB
L3が選択される。この状態で各制御回路CNT0〜C
NT3に入力されるコラムアドレス信号A0,A1が各
ライトアンプWA0〜WA3を全て選択する状態となり
、同時に各制御回路CNT0〜CNT3に入力されるコ
ラムマスク信号CMにより任意のライトアンプWA0〜
WA3の書き込み動作が禁止される。この結果、各ライ
トアンプWA0〜WA3に入力される書き込みデータW
Dに基づいて全部あるいは書き込み動作が禁止されてい
ない一部のライトアンプWA0〜WA3で各ビットで選
択されている記憶セルCに対し同時に書き込み動作が行
われる。従って、各ビットで選択された記憶セルCには
ランダムデータが一括して書き込まれる。
ず通常の書き込みと同様にいずれかのワード線すなわち
例えばワード線WL1が選択されている状態で各制御回
路CNT0〜CNT3にはライトアンプ活性化信号WL
が入力され、コラムデコーダ1に入力されるアドレス信
号に基づいてコラム選択信号CL0〜CL3がHレベル
となり、ビット線BL0,バーBL0〜BL3,バーB
L3が選択される。この状態で各制御回路CNT0〜C
NT3に入力されるコラムアドレス信号A0,A1が各
ライトアンプWA0〜WA3を全て選択する状態となり
、同時に各制御回路CNT0〜CNT3に入力されるコ
ラムマスク信号CMにより任意のライトアンプWA0〜
WA3の書き込み動作が禁止される。この結果、各ライ
トアンプWA0〜WA3に入力される書き込みデータW
Dに基づいて全部あるいは書き込み動作が禁止されてい
ない一部のライトアンプWA0〜WA3で各ビットで選
択されている記憶セルCに対し同時に書き込み動作が行
われる。従って、各ビットで選択された記憶セルCには
ランダムデータが一括して書き込まれる。
【0012】また、上記のような構成を利用して図3に
示すような冗長回路を構成することができる。すなわち
、各データバスDB0,バーDB0〜DB3,バーDB
3にはそれぞれ転送ゲートTr2を介して共通の冗長デ
ータバスDB4,バーDB4が接続され、その冗長デー
タバスDB4,バーDB4には前記各ビットと同一構成
のビット線が接続されている。また、各データバスDB
0,バーDB0〜DB3,バーDB3は各ビット線との
間に転送ゲートTr3が介在されている。そして、各転
送ゲートTr2,Tr3には各データバスDB0,バー
DB0〜DB3,バーDB3に対応する転送ゲートTr
2に冗長アドレスデコーダから冗長信号Φ0〜Φ3が入
力され、転送ゲートTr3には冗長信号Φ0〜Φ3がイ
ンバータ2を介して入力されている。
示すような冗長回路を構成することができる。すなわち
、各データバスDB0,バーDB0〜DB3,バーDB
3にはそれぞれ転送ゲートTr2を介して共通の冗長デ
ータバスDB4,バーDB4が接続され、その冗長デー
タバスDB4,バーDB4には前記各ビットと同一構成
のビット線が接続されている。また、各データバスDB
0,バーDB0〜DB3,バーDB3は各ビット線との
間に転送ゲートTr3が介在されている。そして、各転
送ゲートTr2,Tr3には各データバスDB0,バー
DB0〜DB3,バーDB3に対応する転送ゲートTr
2に冗長アドレスデコーダから冗長信号Φ0〜Φ3が入
力され、転送ゲートTr3には冗長信号Φ0〜Φ3がイ
ンバータ2を介して入力されている。
【0013】このような構成によりいずれかのビットす
なわち例えばデータバスDB0,バーDB0に接続され
るビットに不良が発生した場合に、その不良ビットのコ
ラムアドレスが冗長アドレスデコーダに設定されている
と、前記コラムデコーダ1及び冗長アドレスデコーダに
そのコラムアドレス信号が入力されると、冗長アドレス
デコーダからHレベルの冗長信号Φ0が転送ゲートTr
2に出力されて同転送ゲートTr2がオンされるととも
に、その冗長信号Φ0が反転されて転送ゲートTr3に
入力されて同転送ゲートTr3がオフされるため、デー
タバスDB0,バーDB0は冗長データバスDB4,バ
ーDB4を介して冗長ビットに接続される。
なわち例えばデータバスDB0,バーDB0に接続され
るビットに不良が発生した場合に、その不良ビットのコ
ラムアドレスが冗長アドレスデコーダに設定されている
と、前記コラムデコーダ1及び冗長アドレスデコーダに
そのコラムアドレス信号が入力されると、冗長アドレス
デコーダからHレベルの冗長信号Φ0が転送ゲートTr
2に出力されて同転送ゲートTr2がオンされるととも
に、その冗長信号Φ0が反転されて転送ゲートTr3に
入力されて同転送ゲートTr3がオフされるため、デー
タバスDB0,バーDB0は冗長データバスDB4,バ
ーDB4を介して冗長ビットに接続される。
【0014】従って、不良セルが存在するビットは自動
的に冗長ビットに切り換えることができるとともに、一
つのブロック全体を交換するのではなく、不良セルが存
在するビットだけを冗長ビットに切り換える構成である
ので、冗長ビットによるセルアレイの面積拡大を小さく
することができる。そして、このような効果は1ブロッ
ク内のビット数が増加するほど顕著となる。
的に冗長ビットに切り換えることができるとともに、一
つのブロック全体を交換するのではなく、不良セルが存
在するビットだけを冗長ビットに切り換える構成である
ので、冗長ビットによるセルアレイの面積拡大を小さく
することができる。そして、このような効果は1ブロッ
ク内のビット数が増加するほど顕著となる。
【0015】なお、前記実施例では制御回路CNT0〜
CNT3にコラムマスク信号CMを入力したが、図4に
示すように各データバスDB0,バーDB0〜DB3,
バーDB3に転送ゲートTr4をそれぞれ介在させ、そ
の転送ゲートTr4に前記コラムマスク信号CMを入力
するようにしても同様な効果を得ることができる。
CNT3にコラムマスク信号CMを入力したが、図4に
示すように各データバスDB0,バーDB0〜DB3,
バーDB3に転送ゲートTr4をそれぞれ介在させ、そ
の転送ゲートTr4に前記コラムマスク信号CMを入力
するようにしても同様な効果を得ることができる。
【0016】
【発明の効果】以上詳述したように、この発明はビット
線を選択した一括書き込み動作を可能とする半導体記憶
装置を提供することができる優れた効果を発揮する。
線を選択した一括書き込み動作を可能とする半導体記憶
装置を提供することができる優れた効果を発揮する。
【図1】本発明の原理説明図である。
【図2】本発明の第一の実施例を示す回路図である。
【図3】第一の実施例の冗長回路を示す回路図である。
【図4】第二の実施例を示す回路図である。
BL,バーBL ビット線
WL ワード線
C 記憶セル
DB,バーDB データバス
WA ライトアンプ
CNT 制御回路
Claims (1)
- 【請求項1】 ビット線(BL,バーBL)とワード
線(WL)を選択することにより所定の記憶セル(C)
を選択し、該記憶セル(C)に対し該ビット線(BL,
バーBL)及びデータバス(DB,バーDB)を介して
該データバス(DB,バーDB)毎に設けられたライト
アンプ(WA)で書き込み動作を行う半導体記憶装置で
あって、各ライトアンプ(WA)には該ライトアンプ(
WA)の中から複数のライトアンプを同時に動作させる
制御信号を出力する制御回路(CNT)を接続したこと
を特徴とする半導体記憶装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3056375A JPH04291088A (ja) | 1991-03-20 | 1991-03-20 | 半導体記憶装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3056375A JPH04291088A (ja) | 1991-03-20 | 1991-03-20 | 半導体記憶装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04291088A true JPH04291088A (ja) | 1992-10-15 |
Family
ID=13025518
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3056375A Withdrawn JPH04291088A (ja) | 1991-03-20 | 1991-03-20 | 半導体記憶装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04291088A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002524813A (ja) * | 1998-08-26 | 2002-08-06 | マイクロン テクノロジー インコーポレイテッド | 広いデータパスメモリデバイスのためのブロック書き込み回路および方法 |
-
1991
- 1991-03-20 JP JP3056375A patent/JPH04291088A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002524813A (ja) * | 1998-08-26 | 2002-08-06 | マイクロン テクノロジー インコーポレイテッド | 広いデータパスメモリデバイスのためのブロック書き込み回路および方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6519192B2 (en) | Semiconductor memory device having a large band width and allowing efficient execution of redundant repair | |
US5400281A (en) | Static random access memory device with memory cell testing circuit | |
US6269035B1 (en) | Circuit and method for a multiplexed redundancy scheme in a memory device | |
EP0335125B1 (en) | DRAM with redundancy and improved testability | |
KR100284716B1 (ko) | 반도체 기억 장치 | |
JPS62222500A (ja) | 半導体記憶装置 | |
JPH01224999A (ja) | 半導体記憶装置 | |
US7027339B2 (en) | Memory device employing open bit line architecture for providing identical data topology on repaired memory cell block and method thereof | |
US5930183A (en) | Semiconductor memory device | |
US5566128A (en) | Semiconductor memory device | |
US6876557B2 (en) | Unified SRAM cache system for an embedded DRAM system having a micro-cell architecture | |
KR100267412B1 (ko) | 블럭 기록 기능이 있는 반도체 메모리 장치 | |
KR970023369A (ko) | 반도체 메모리 및 그 테스트 회로, 메모리 시스템 및 데이타 전송 시스템 | |
US6330198B1 (en) | Semiconductor storage device | |
US6937537B2 (en) | Semiconductor memory with address decoding unit, and address loading method | |
US5517458A (en) | Roll call decoder for semiconductor memory having redundant memory cells | |
JP3240897B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
TW200301483A (en) | Twisted bit-line compensation for dram having redundancy | |
JP2870320B2 (ja) | 半導体メモリ回路 | |
US7035153B2 (en) | Semiconductor memory device of bit line twist system | |
JPH04291088A (ja) | 半導体記憶装置 | |
JPH0785693A (ja) | 半導体記憶装置 | |
JP2000090694A (ja) | 半導体メモリ装置 | |
JPH05307502A (ja) | デュアルポート半導体記憶装置 | |
JP3106686B2 (ja) | 半導体記憶装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19980514 |