JPH0429035A - テープと摺動子の摩耗性試験方法およびその試験装置 - Google Patents
テープと摺動子の摩耗性試験方法およびその試験装置Info
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- JPH0429035A JPH0429035A JP13634090A JP13634090A JPH0429035A JP H0429035 A JPH0429035 A JP H0429035A JP 13634090 A JP13634090 A JP 13634090A JP 13634090 A JP13634090 A JP 13634090A JP H0429035 A JPH0429035 A JP H0429035A
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- 238000000034 method Methods 0.000 title description 4
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims abstract description 34
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- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明はテープと摺動子の摩耗性を試験する方法とそ
の装置に関し、さらに詳しくは、テープと摺動子の摺接
面の変位を検出し、テープ走行中の摺動子の摩耗状態を
実時間計測して、テープと摺動子の摩耗性を高精度で試
験する試験方法とその試験に使用する装置に関する。
の装置に関し、さらに詳しくは、テープと摺動子の摺接
面の変位を検出し、テープ走行中の摺動子の摩耗状態を
実時間計測して、テープと摺動子の摩耗性を高精度で試
験する試験方法とその試験に使用する装置に関する。
磁気記録再生装置においては、高速で走行する磁気テー
プが磁気ヘッドと激しく摺接するため、磁気へ、ドの摩
耗を可及的に少なくする必要があり、磁気へ、ドや磁気
テープあるいはクリーニングテープの磁性層および研磨
層の摩耗性を正しく評価して、磁気ヘッドや磁気テープ
の磁性層あるいはり′ノーニングテープの研磨層の材質
を選定する必要がある。
プが磁気ヘッドと激しく摺接するため、磁気へ、ドの摩
耗を可及的に少なくする必要があり、磁気へ、ドや磁気
テープあるいはクリーニングテープの磁性層および研磨
層の摩耗性を正しく評価して、磁気ヘッドや磁気テープ
の磁性層あるいはり′ノーニングテープの研磨層の材質
を選定する必要がある。
このため、磁気ヘッドなどの摺動子やこの摺動子と摺接
する磁気テープやクリーニングテープなどのテープの摩
耗性を試験する方法として、たとえば、第5琴に示すよ
うに、角柱状に成型した摺動子35のエツジ36に、一
定の長さのテープ4を一定のスピードおよびテンション
で摺接させながら連続的に走行させた後、摺動子35の
エツジ36における摩耗を拡大鏡等を用いて正面から観
察し、摩耗が認められた摩耗幅Wを測定する(IBM社
製品責料N : GA32−0048−0.6ページ)
ことが行われている。
する磁気テープやクリーニングテープなどのテープの摩
耗性を試験する方法として、たとえば、第5琴に示すよ
うに、角柱状に成型した摺動子35のエツジ36に、一
定の長さのテープ4を一定のスピードおよびテンション
で摺接させながら連続的に走行させた後、摺動子35の
エツジ36における摩耗を拡大鏡等を用いて正面から観
察し、摩耗が認められた摩耗幅Wを測定する(IBM社
製品責料N : GA32−0048−0.6ページ)
ことが行われている。
ところが、この従来の摺動子とテープの摩耗性を試験す
る方法では、テープ4を走行させた後、摺動子35のエ
ツジ36の摩耗幅Wを測定するだけで、テープ走行中に
おけるテープ4と工・ンジ36との摺接中の摩耗の変化
を実時間で知る手段がないため、テープ長手方向に研磨
性が変化している場合はもちろんのこと、エツジ36の
摩耗が進行するに従って摩耗面が増加し、テープ4と摺
動子35の接触圧力が低下して、研磨・摩耗特性が変化
しても、これら測定中の研磨・摩耗状況の変化を知るこ
とができず、高精度の摩耗性試験が行えないという難点
がある。
る方法では、テープ4を走行させた後、摺動子35のエ
ツジ36の摩耗幅Wを測定するだけで、テープ走行中に
おけるテープ4と工・ンジ36との摺接中の摩耗の変化
を実時間で知る手段がないため、テープ長手方向に研磨
性が変化している場合はもちろんのこと、エツジ36の
摩耗が進行するに従って摩耗面が増加し、テープ4と摺
動子35の接触圧力が低下して、研磨・摩耗特性が変化
しても、これら測定中の研磨・摩耗状況の変化を知るこ
とができず、高精度の摩耗性試験が行えないという難点
がある。
[課題を解決するだめの手段]
この発明はかかる欠点を改善するため種々検討を行った
結果なされたもので、角度がOoを越え180°未満の
範囲内で接する隣接面で構成される工、ジを持つ摺動子
のエツジに、テープを走行させながら摺接させ、摺接摩
耗により刻々と変化する摺接面の変位を、連続的にある
いは少なくとも2ポイント以上測定することによって、
テープと摺動子の研摩・摩耗状態の変化を実時間で計測
し、テープと摺動子の摩耗性を高精度で試験できるよう
にしたものである。
結果なされたもので、角度がOoを越え180°未満の
範囲内で接する隣接面で構成される工、ジを持つ摺動子
のエツジに、テープを走行させながら摺接させ、摺接摩
耗により刻々と変化する摺接面の変位を、連続的にある
いは少なくとも2ポイント以上測定することによって、
テープと摺動子の研摩・摩耗状態の変化を実時間で計測
し、テープと摺動子の摩耗性を高精度で試験できるよう
にしたものである。
〔実施例]
以下、この発明に係るテープと摺動子の摩耗性試験装置
の一実施例を示す第1図ないし第3図に基づいて説明す
る。
の一実施例を示す第1図ないし第3図に基づいて説明す
る。
図において、1は摩耗性試験装置本体であり、左右両側
に供給リール2と巻き取りリール3が配設されている。
に供給リール2と巻き取りリール3が配設されている。
4は供給リール2に巻回されたテープで、ガイドローラ
5を介し、テンションアーム6を経て、さらにガイドロ
ーラ7を介し、供給リール2例のキャプスタン8とピン
チローラ9に挟持されて走行される。そしてテンション
ローラ10.11.12を組み合わせて構成されたテプ
テンションセンサ13を通り、テープガイド14を介し
て、摺動子15のエツジ16に摺接させ、さらにテープ
ガイド17を介して、テンションローラ18,19.2
0を組み合わせて構成されたテープテンションセンサ2
1を通り、巻き取りリール3側のキャプスタン22とピ
ンチローラ23に挟持され、ガイドローラ24を介し、
テンションアーム25を経て、さらにガイドローラ26
を介し、巻き取りリール3に巻き取られる。
5を介し、テンションアーム6を経て、さらにガイドロ
ーラ7を介し、供給リール2例のキャプスタン8とピン
チローラ9に挟持されて走行される。そしてテンション
ローラ10.11.12を組み合わせて構成されたテプ
テンションセンサ13を通り、テープガイド14を介し
て、摺動子15のエツジ16に摺接させ、さらにテープ
ガイド17を介して、テンションローラ18,19.2
0を組み合わせて構成されたテープテンションセンサ2
1を通り、巻き取りリール3側のキャプスタン22とピ
ンチローラ23に挟持され、ガイドローラ24を介し、
テンションアーム25を経て、さらにガイドローラ26
を介し、巻き取りリール3に巻き取られる。
この間、摺動子15のエツジ16に摺接するテープ4の
接触圧力は、テープテンションセンサ13および21で
もって調整される。
接触圧力は、テープテンションセンサ13および21で
もって調整される。
27はテープ4が摺動子15のエツジ16に摺接する摺
接部の正面に配設されたレーザ変位計で、変位計制御装
置28に接続され、所定の制御プログラムにより、テー
プ4が摺動子15のエツジ16と摺接する間の摺接面の
変位を検出して、連続的に計測する。29は変位計制御
装置28にさろに接続された記録計で、レーザ変位計2
7で計測された摺接面の変位は、この記録計29に電圧
出力信号として記録される。
接部の正面に配設されたレーザ変位計で、変位計制御装
置28に接続され、所定の制御プログラムにより、テー
プ4が摺動子15のエツジ16と摺接する間の摺接面の
変位を検出して、連続的に計測する。29は変位計制御
装置28にさろに接続された記録計で、レーザ変位計2
7で計測された摺接面の変位は、この記録計29に電圧
出力信号として記録される。
ここで、テープ4が摺動子15のエツジ16と摺接する
とき、摺接面30はテープ4が摺接走行する間、第2図
および第3囲りこ示すように、テープ4が摺動子15の
エツジ16と摺接する直前の位置aから、テープ4の長
さXだけ摺接走行した後の位置すまで摩耗され、変位h
Xが生して、レザ変位計27で摺接面30の後退量とし
て計測される。このレーザ変位計27での計測:よ、レ
ザ変位計27の発光側31からレーザ光を発光させて、
摺接面30に入射し、摺接面30で反射されるレーザ光
を受光側32で受光して行われる。
とき、摺接面30はテープ4が摺接走行する間、第2図
および第3囲りこ示すように、テープ4が摺動子15の
エツジ16と摺接する直前の位置aから、テープ4の長
さXだけ摺接走行した後の位置すまで摩耗され、変位h
Xが生して、レザ変位計27で摺接面30の後退量とし
て計測される。このレーザ変位計27での計測:よ、レ
ザ変位計27の発光側31からレーザ光を発光させて、
摺接面30に入射し、摺接面30で反射されるレーザ光
を受光側32で受光して行われる。
33はこのようなレーザ光の測定光路である。
しかして、この摺接面30の後退量り、を、レーザ変位
計27に接続した記録計29で実時間測定結果として知
ることができる。この場合、レーザ変位計27の出力を
適当な表示装置によって、実時間測定結果として知るこ
とができるが、この他、hXをそのままエツジ16の摩
耗量を表す値として用いてもよ(、また、第2図中の角
度θを用いて幾何学的に従来法の摩耗幅に相当する値θ 2 ・hx ・tan さらには単位テープ幅当たりの摺動子摩耗体積■θ hX ′ ・jan を用いることも可能である。
計27に接続した記録計29で実時間測定結果として知
ることができる。この場合、レーザ変位計27の出力を
適当な表示装置によって、実時間測定結果として知るこ
とができるが、この他、hXをそのままエツジ16の摩
耗量を表す値として用いてもよ(、また、第2図中の角
度θを用いて幾何学的に従来法の摩耗幅に相当する値θ 2 ・hx ・tan さらには単位テープ幅当たりの摺動子摩耗体積■θ hX ′ ・jan を用いることも可能である。
34は摩耗性試験装置本体1に取り付けられた電子装置
で、走行機構電力制御部、テープテンションセンサー制
御部、操作・設定・表示装置および電源部が内蔵され、
テープ4の走行スピードやテンションの設定、制御など
が操作される。
で、走行機構電力制御部、テープテンションセンサー制
御部、操作・設定・表示装置および電源部が内蔵され、
テープ4の走行スピードやテンションの設定、制御など
が操作される。
なお、以上の実施例に用いたレーザー変位計の代わりに
、別の光学式、静電式等の変位検出器を用いてもよい。
、別の光学式、静電式等の変位検出器を用いてもよい。
また、これらの変位検出器での測定は必ずしも連続的に
行われる必要はなく、少なくとも2ポイント以上測定し
て摺接面の変位を計測してもよい。
行われる必要はなく、少なくとも2ポイント以上測定し
て摺接面の変位を計測してもよい。
以下、この第1図に示す摩耗性試験装置を用いて、磁気
テープと磁気ヘッドで使用する材料と同し材料で形成さ
れた摺動子の摩耗性を試験した試験例について説明する
。
テープと磁気ヘッドで使用する材料と同し材料で形成さ
れた摺動子の摩耗性を試験した試験例について説明する
。
試験例1
第1図に示す摩耗性試験装置において、磁気テープとし
ては、日立マクセル社製5−VHSテープrXR3−3
T−120Jを用い、また摺動子としては多結晶MnZ
nフェライトを使用して、先端角度90°で長さが20
皿のエツジに形成し、かつエツジを構成する2面を0.
05s (J I S表面粗さ表示R1で0.05μm
)に表面仕上げしたものを用いた。
ては、日立マクセル社製5−VHSテープrXR3−3
T−120Jを用い、また摺動子としては多結晶MnZ
nフェライトを使用して、先端角度90°で長さが20
皿のエツジに形成し、かつエツジを構成する2面を0.
05s (J I S表面粗さ表示R1で0.05μm
)に表面仕上げしたものを用いた。
摩耗試験は、単位幅当たりのテープテンション11.1
g/mm、テープスピード1m/secで前記5−VH
Sテープ4を走行させ、5−VHSテープ4の摺動子1
5のエツジ16への巻き付は角を16aとして、長さ2
00mの前記5−VHSテープ4をエツジ16に摺接さ
せた。そして、レーザー変位計27により、テープ走行
とともに刻々と変化する摺接面30の変位h8を調べた
。
g/mm、テープスピード1m/secで前記5−VH
Sテープ4を走行させ、5−VHSテープ4の摺動子1
5のエツジ16への巻き付は角を16aとして、長さ2
00mの前記5−VHSテープ4をエツジ16に摺接さ
せた。そして、レーザー変位計27により、テープ走行
とともに刻々と変化する摺接面30の変位h8を調べた
。
試験例2
試験例1において、5−VHSテープLoomと、5−
VHSテープrXR3−5T−120」の巻き始めと巻
き終わりに接続されているクリニングテーブと同等のク
リーニングテープを100m用意し、これらを接続して
全長200mのテープを作製した。そして、この作製さ
れたテープを、試験例1で使用した5−VHSテープに
代えて使用した以外は、試験例1と同様にして摺接面3
0の変位り、を調べた。なお、ここで用いたテプは、摺
動子15のエツジ16に先に5−VHSテープが摺動し
、次いでクリーニングテープが摺動するように試験した
。
VHSテープrXR3−5T−120」の巻き始めと巻
き終わりに接続されているクリニングテーブと同等のク
リーニングテープを100m用意し、これらを接続して
全長200mのテープを作製した。そして、この作製さ
れたテープを、試験例1で使用した5−VHSテープに
代えて使用した以外は、試験例1と同様にして摺接面3
0の変位り、を調べた。なお、ここで用いたテプは、摺
動子15のエツジ16に先に5−VHSテープが摺動し
、次いでクリーニングテープが摺動するように試験した
。
第4図は、これらの試験における摺接面の変位hXとテ
ープ走行長さとの関係をグラフで表したもので、このグ
ラフからテープ走行長さの増加に伴って摺接面の変位h
Xが変化していくようすがよくわかり、特に試験例2で
はテープ前半1o。
ープ走行長さとの関係をグラフで表したもので、このグ
ラフからテープ走行長さの増加に伴って摺接面の変位h
Xが変化していくようすがよくわかり、特に試験例2で
はテープ前半1o。
mと後半100mでの研磨性の異なる様子がグラフの急
変からよくわかる。このことからテープ走行中摺接摩耗
により刻々と変化する摺接面の変位を、連続的に測定す
ることができ、エツジ摩耗幅ではわかるない詳細な摺接
状態の変化を実時間で計測じて、テープと摺動子の摩耗
性を高精度で試験できることがわかる。
変からよくわかる。このことからテープ走行中摺接摩耗
により刻々と変化する摺接面の変位を、連続的に測定す
ることができ、エツジ摩耗幅ではわかるない詳細な摺接
状態の変化を実時間で計測じて、テープと摺動子の摩耗
性を高精度で試験できることがわかる。
3発明の効果]
以上説明したように、この発明のテープと摺動子の摩耗
性試験方法およびこの試験に使用する装置によれば、角
度がOoを越え180°未満の範囲内で接する隣接面で
構成されるエツジを持つ摺動子のエツジに、テープを走
行させながら摺接させ、摺接摩耗により刻々と後退変化
する摺接面の変位を、連続的にあるいは適当な間隔をお
いて少なくとも2ポイント以上測定して、試験している
ため、テープと摺動子の相互の摩耗を実時間計測するこ
とができ、テープと摺動子の摩耗性を高精度で試験でき
ることができる。
性試験方法およびこの試験に使用する装置によれば、角
度がOoを越え180°未満の範囲内で接する隣接面で
構成されるエツジを持つ摺動子のエツジに、テープを走
行させながら摺接させ、摺接摩耗により刻々と後退変化
する摺接面の変位を、連続的にあるいは適当な間隔をお
いて少なくとも2ポイント以上測定して、試験している
ため、テープと摺動子の相互の摩耗を実時間計測するこ
とができ、テープと摺動子の摩耗性を高精度で試験でき
ることができる。
第1図はこの発明のテープと摺動子の摩耗性試験装置の
概略説明図、第2図は同要部拡大正面図、第3図は同要
部拡大側面図、第4図は試験例1および2における摺接
面の変位とテープ走行長さとの関係図、第5図は従来の
テープと摺動子の摩耗性試験装置の要部拡大説明図であ
る。 1・−・摩耗性試験装置本体、2・・・供給リール、3
・・・巻き取りリール、4・・・テープ、8,22・・
・キャプスタン、9,23・・・ピンチローラ、13.
21・・・テープテンシゴンセンサ、15・・・摺動子
、16・・・エツジ、27・・・レーザ変位針、28・
・・変位計制御装置、29・・・記録計、30・・・摺
接面、34・・・電子装置 特許出願人 日立マクセル株式会社 第 図 7テンンヨ/で7勺 第 21りi 第 図 第 図 7かf丁ト之ハ (【η) 第 図 L目−
概略説明図、第2図は同要部拡大正面図、第3図は同要
部拡大側面図、第4図は試験例1および2における摺接
面の変位とテープ走行長さとの関係図、第5図は従来の
テープと摺動子の摩耗性試験装置の要部拡大説明図であ
る。 1・−・摩耗性試験装置本体、2・・・供給リール、3
・・・巻き取りリール、4・・・テープ、8,22・・
・キャプスタン、9,23・・・ピンチローラ、13.
21・・・テープテンシゴンセンサ、15・・・摺動子
、16・・・エツジ、27・・・レーザ変位針、28・
・・変位計制御装置、29・・・記録計、30・・・摺
接面、34・・・電子装置 特許出願人 日立マクセル株式会社 第 図 7テンンヨ/で7勺 第 21りi 第 図 第 図 7かf丁ト之ハ (【η) 第 図 L目−
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、摺動子の角度が0゜を超え180゜未満の範囲で接
する隣接面で構成されたエッジに、テープを走行させな
がら摺接させ、摺接摩耗により刻々と後退変化する摺接
面の変位を、連続的にあるいは適当な間隔をおいて少な
くとも2ポイント以上測定し、テープと摺動子の相互の
摩耗を実時間計測することを特徴とするテープと摺動子
の摩耗試験方法 2、角度が0゜を超え180゜未満の範囲内で接する隣
接面で構成されるエッジを持つ摺動子と、該摺動子のエ
ッジにテープを摺接させながら走行させるテープ走行機
構と、走行中のテープと摺動子の摺接面の変位を連続的
にあるいは適当な間隔をおいて少なくとも2ポイント以
上実時間測定する計測手段とを備えたことを特徴とする
テープと摺動子の摩耗性試験装置
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13634090A JPH0429035A (ja) | 1990-05-25 | 1990-05-25 | テープと摺動子の摩耗性試験方法およびその試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13634090A JPH0429035A (ja) | 1990-05-25 | 1990-05-25 | テープと摺動子の摩耗性試験方法およびその試験装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0429035A true JPH0429035A (ja) | 1992-01-31 |
Family
ID=15172919
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13634090A Pending JPH0429035A (ja) | 1990-05-25 | 1990-05-25 | テープと摺動子の摩耗性試験方法およびその試験装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0429035A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003067222A1 (de) * | 2002-02-08 | 2003-08-14 | Innowep Gmbh | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der verschleissresistenz einer oberfläche |
-
1990
- 1990-05-25 JP JP13634090A patent/JPH0429035A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003067222A1 (de) * | 2002-02-08 | 2003-08-14 | Innowep Gmbh | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der verschleissresistenz einer oberfläche |
US7013705B2 (en) | 2002-02-08 | 2006-03-21 | Innowep Gmbh | Method and device for determination of the wear resistance of a surface |
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