JPH04275639A - スキャンイン/アウト方式 - Google Patents

スキャンイン/アウト方式

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Publication number
JPH04275639A
JPH04275639A JP3034956A JP3495691A JPH04275639A JP H04275639 A JPH04275639 A JP H04275639A JP 3034956 A JP3034956 A JP 3034956A JP 3495691 A JP3495691 A JP 3495691A JP H04275639 A JPH04275639 A JP H04275639A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
scanning
scan
data
flip
flop
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3034956A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshihiro Nagasaki
長▲崎▼ 好浩
Akihiro Hotta
堀田 明宏
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
NEC Software Shikoku Ltd
Original Assignee
NEC Corp
NEC Software Shikoku Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp, NEC Software Shikoku Ltd filed Critical NEC Corp
Priority to JP3034956A priority Critical patent/JPH04275639A/ja
Publication of JPH04275639A publication Critical patent/JPH04275639A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、シフト方式によりデー
タ入出力手段を有する論理回路のスキャンイン/アウト
方式に関する。
【0002】
【従来の技術】一般にスキャンイン/アウト方式は、情
報処理装置の評価・保守・診断等のとき、フリップフロ
ップに操作者の希望する値を設定したり、ある時点のフ
リップフロップの値を抜取り、表示させる場合に利用さ
れる。
【0003】従来この種のスキャンイン/アウト方式で
は、全フリップフロップは直列接続され、また出入口は
それぞれ1個とされていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のフリッ
プフロップ間のスキャンイン/アウト方式では、ある時
点のフリップフロップの値を抜取り表示させるためスキ
ャンアウトをする場合、フリップフロップにはスキャン
インデータ端子の状態が順次格納されることにより、フ
リップフロップの内容が破壊される。従ってフリップフ
ロップの内容を元の状態に戻す為には、スキャンアウト
したシリアルデータをスキャンインデータ端子から再度
入力させる必要があるという欠点があった。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明のスキャンイン/
アウト方式は、複数のフリップフロップを直列に接続し
てスキャンチェーンを構成する論理回路にスキャンイン
/アウト制御装置を接続し、シフト制御クロックを印加
してデータの入出力を制御するスキャンイン/アウト制
御システムにおいて、スキャンアウトのデータをスキャ
ンインに帰還させるバスと、それら2つのスキャンイン
データを切り換えるセレクタとを具備して構成される。
【0006】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。
【0007】図1は、LSIチップ1内に複数個のフリ
ップフロップが存在するとき、それらのフリップフロッ
プ間のスキャンパスの接続を示す本発明の一実施例のブ
ロック図である。21〜29はスキャンモード付きのD
タイプのフリップフロップであり、31はスキャンイン
データを選択する2ウェイのセレクタである。また、2
は従来のスキャンパスであり、3は本発明により追加し
たスキャンアウト帰還パスを示す。4,5はスキャンパ
ス2に対するスキャンインデータ端子、スキャンアウト
データ端子を示し、6はスキャンインデータ端子4とス
キャンアウト帰還パス3を選択するスキャンインデータ
セレクト信号を示す。
【0008】図1において、スキャンイン動作時はスキ
ャンインデータセレクト信号6は、シフトインデータ端
子4を選択し、シフトインデータ端子4から入力された
シリアルデータは、シフト制御クロックのタイミングに
よりフリップフロップ21→22→23の順にシフトさ
れる。
【0009】スキャンアウト動作時は、スキャンインデ
ータセレクト信号6はスキャンパス3を選択し、シフト
制御クロックのタイミングによりスキャンアウトデータ
端子5からスキャンアウトデータを出力すると同時にス
キャンパス3を介してフリップフロップ21よりスキャ
ンインされる。従って、スキャンアウトが終了した時点
では、フリップフロップの内容はスキャンアウトを実行
する前の状態と等しくなり、抜き取ったスキャンアウト
データを再度スキャンインデータ端子から入力する必要
がなくなる。
【0010】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、ある時点
のフリップフロップの値を抜取り表示させる場合、スキ
ャンアウトデータをスキャンインに帰還させるパスを設
けることにより、スキャンアウト後のフリップフロップ
の値が破壊されないという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の構成を示すブロック図。
【符号の説明】
1    LSI 21〜29    フリップフロップ 31    セレクタ 2    スキャンパス 3    スキャンアウト帰還パス 4    スキャンインデータ端子 5    スキャンアウトデータ端子

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  複数のフリップフロップを直列に接続
    してスキャンチェーンを構成する論理回路にスキャンイ
    ン/アウト制御装置を接続し、シフト制御クロックを印
    加してデータの入出力を制御するスキャンイン/アウト
    制御システムにおいて、スキャンアウトのデータをスキ
    ャンインに帰還させるパスと、それら2つのスキャンイ
    ンデータを切り換えるセレクタとを具備して成ることを
    特徴とするスキャンイン/アウト方式。
JP3034956A 1991-03-01 1991-03-01 スキャンイン/アウト方式 Pending JPH04275639A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3034956A JPH04275639A (ja) 1991-03-01 1991-03-01 スキャンイン/アウト方式

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JP3034956A JPH04275639A (ja) 1991-03-01 1991-03-01 スキャンイン/アウト方式

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04275639A true JPH04275639A (ja) 1992-10-01

Family

ID=12428608

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3034956A Pending JPH04275639A (ja) 1991-03-01 1991-03-01 スキャンイン/アウト方式

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JP (1) JPH04275639A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008089545A (ja) * 2006-10-05 2008-04-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd 解析装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008089545A (ja) * 2006-10-05 2008-04-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd 解析装置

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