JPH04218524A - 導電性樹脂ペーストおよび半導体装置の製造法 - Google Patents

導電性樹脂ペーストおよび半導体装置の製造法

Info

Publication number
JPH04218524A
JPH04218524A JP8373691A JP8373691A JPH04218524A JP H04218524 A JPH04218524 A JP H04218524A JP 8373691 A JP8373691 A JP 8373691A JP 8373691 A JP8373691 A JP 8373691A JP H04218524 A JPH04218524 A JP H04218524A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin
epoxy resin
paste
manufactured
type epoxy
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP8373691A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3191243B2 (ja
Inventor
Mitsuo Yamazaki
山崎 充夫
Nobuo Ichimura
市村 信雄
Yasuo Miyamoto
宮本 泰雄
Kimihide Fujita
藤田 公英
Masao Kawasumi
雅夫 川澄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Resonac Corp
Original Assignee
Hitachi Chemical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Chemical Co Ltd filed Critical Hitachi Chemical Co Ltd
Priority to JP08373691A priority Critical patent/JP3191243B2/ja
Publication of JPH04218524A publication Critical patent/JPH04218524A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3191243B2 publication Critical patent/JP3191243B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
  • Epoxy Resins (AREA)
  • Adhesives Or Adhesive Processes (AREA)
  • Die Bonding (AREA)
  • Conductive Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は導電性樹脂ペースト、さ
らに詳しくは半導体素子を支持部材に接合させるのに好
適な導電性樹脂ペーストおよびこれを用いた半導体装置
の製造法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体素子をリードフレーム等の
支持部材に接合させる方法として、(1)Au−Si共
晶法、(2)半田法、(3)樹脂ペースト法などが知ら
れている。しかし、(1)の方法では金を用いるため、
コスト高となり、また作業温度も約400℃と高い欠点
がある。(2)の方法は(1)に較べると割安であるが
、半導体素子裏面に金の薄膜を設ける必要があり、金の
薄膜形成にコストがかかる等の欠点がある。(3)の方
法は、エポキシ樹脂またはポリイミド樹脂のベースレジ
ンに銀粉をフィラーとして混合させた樹脂ペーストを用
いるものであり、上記(1)および(2)の方法より安
価な方法であり、また200℃以下の温度で使用できる
等の利点があるため、現在ではこの樹脂ペースト法が主
流となってきている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
樹脂ペーストは、150〜200℃のオーブンで1〜2
時間加熱して硬化する必要があるため、半導体組立工程
のインライン化による合理化がしにくい欠点があった。 また1分以内での硬化を可能にした場合には、シェルフ
ライフが短く、接着強度、特に200〜350℃に加熱
したときの熱時接着強度が低く、またボイドの発生が多
い等の問題があった。
【0004】本発明の目的は、上記従来技術の問題点を
解決し、200〜350℃で加熱したときの接着強度お
よび作業性に優れた導電性樹脂ペーストおよびこれを用
いた半導体装置の製造法を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、(A)フェノ
ールノボラック型エポキシ樹脂およびエピ・ビス型エポ
キシ樹脂からなる混合エポキシ樹脂、(B)フェノール
ノボラック樹脂および/またはフェノールアラルキル樹
脂、(C)有機ボレート塩、(D)グリシジル基を1個
有するシラン化合物を少なくとも1成分として含む希釈
剤ならびに(E)導電性金属粉を含有してなる導電性樹
脂ペーストおよびこれを用いた半導体装置の製造法に関
する。
【0006】本発明に用いられる混合エポキシ樹脂(A
)は、フェノールノボラック型エポキシ樹脂とエピ・ビ
ス型エポキシ樹脂の混合物であり、これらの混合割合は
、耐熱性および接着強度の点から、重量比(フェノール
ノボラック型エポキシ樹脂/エピ・ビス型エポキシ樹脂
)で20/80〜95/5の範囲が好ましい。
【0007】フェノールノボラック型エポキシ樹脂は、
フェノールノボラック樹脂またはクレゾールノボラック
樹脂のグリシジルエーテルであり、例えばダウケミカル
社製商品名DEN−438、東都化成社製商品名YDC
N−701、702などが挙げられる。
【0008】エピ・ビス型エポキシ樹脂は、ビスフェノ
ールA、ビスフェノールAD、ビスフェノールF、ビス
フェノールS、アルキル化ビスフェノールAまたはハロ
ゲン化ビスフェノールAとエピクロロヒドリンとの縮合
物であり、例えば油化シェルエポキシ社製商品名EP−
828、EP−1001、EP−1004、東都化成社
製商品名YDF−170、YDB−340、三井石油化
学社製商品名R−710などが挙げられる。
【0009】本発明に用いられるフェノールノボラック
樹脂(B)はエポキシ樹脂の主硬化剤として用いられ、
例えば明和化成社製商品名H−1、日立化成社製商品名
Hp−607Nなどが挙げられる。本発明に用いられる
フェノールアラルキル樹脂は、α、α′−ジメトキシ−
p−キシレンとフェノールモノマをフリーデルクラフツ
触媒で重縮合させて得られる樹脂であり、上記エポキシ
樹脂の硬化剤として用いられる。この市販品としては三
井東圧化学社製商品名XL−225、アルブライトアン
ドウィルソン社製商品名XYLOK−225などが挙げ
られる。フェノールノボラック樹脂および/またはフェ
ノールアラルキル樹脂(B)の配合量は、硬化性および
硬化物特性の点から、混合エポキシ樹脂(A)のエポキ
シ基1当量に対してフェノールノボラック樹脂および/
またはフェノールアラルキル樹脂(B)の水酸基が0.
6〜1.5当量の範囲となるように用いるのが好ましい
【0010】本発明で用いられる有機ボレート塩(C)
は硬化促進剤として用いられ、例えばテトラフェニルホ
スホニウム・テトラフェニルボレート塩(北興化学社製
)、1,8−ジアザビシクロ(5,4,0)ウンデセン
−7・テトラフェニルボレート塩(サンアプロ社製)、
2−エチル−4−メチルイミダゾール・テトラフェニル
ボレート塩(北興化学社製)が挙げられる。有機ボレー
ト塩(C)の配合量は、硬化性および保存安定性の点か
ら、混合エポキシ樹脂(A)とフェノールノボラック樹
脂および/またはフェノールアラルキル樹脂(B)の総
量100重量部に対して0.1〜30重量部とするのが
好ましい。
【0011】本発明で用いられる希釈剤(D)は、その
1成分としてグリシジル基を1個有するシラン化合物を
含む。このシラン化合物としては、例えばγ−グリシド
キシプロピルトリメトキシシラン(信越化学製  KB
M−403)、γ−グリシドキシプロピルメチルジメト
キシシラン(東芝シリコーン製  TSL−8355)
、γ−グリシドキシプロピルペンタメチルジシロキサン
(東芝シリコーン製  TSL−9905)、γ−グリ
シドキシプロピルメチルジエトキシシラン(チッソ製)
、γ−グリシドキシプロピルジメチルエトキシシラン(
チッソ製)、(γ−グリシドキシプロピル)−ビス−(
トリメチルシロキシ)メチルシラン(チッソ製)などが
挙げられ、その含有量は、接着強度の点から、希釈剤(
D)の総量に対して20〜100重量%とするのが好ま
しい。
【0012】シラン化合物以外の希釈剤としては、例え
ばエチルセロソルブ、ブチルセロソルブ、セロソルブア
セテート、ブチルセロソルブアセテート、エチルカルビ
トール、エチルカルビトールアセテート、ブチルカルビ
トール、ブチルカルビトールアセテート、α−テルピネ
オールなどの沸点が100℃以上の有機溶剤、フェニル
グリシジルエーテル、クレジルグリシジルエーテル、p
−(t−ブチル)フェニルグリシジルエーテル、p−(
sec−ブチル)フェニルグリシジルエーテル、ブタン
ジオールジグリシジルエーテルなどの1分子中にエポキ
シ基を1〜2個有する反応性希釈剤等が用いられる。
【0013】希釈剤(D)は、導電性樹脂ペーストの粘
度を調整し、作業性を改善するために用いられるが、上
記シラン化合物の使用によりカップリング効果を付与す
るとともに200〜350℃における導電性樹脂ペース
ト硬化物の熱時接着強さを向上することができる。これ
らの希釈剤の配合量は、作業性および導電性樹脂ペース
トの安定性の点から、混合エポキシ樹脂(A)とフェノ
ールノボラック樹脂および/またはフェノールアラルキ
ル樹脂(B)の総量100重量部に対して5〜800重
量部とするのが好ましい。
【0014】本発明に用いられる導電性金属粉(E)は
、導電性樹脂ペーストに導電性を付与するものであり、
銀、金、銅、ニッケル、鉄、ステンレスなどの導電性粉
体が用いられる。例えば、銀粉としては徳力化学社製商
品名TCG−1、金粉としては徳力化学社製商品名TA
−1、銅粉としては福田金属箔粉社製商品名CE−11
5、ニッケル粉としてはインコ社製商品名Type−1
23、鉄粉としては福田金属箔粉社製商品名Fe−S−
100、ステンレス粉としては福田金属箔粉社製商品名
SUS304Lがある。これらのうち耐酸化性および導
電性の点から銀が好ましい。該導電性金属粉(E)の配
合量は、混合エポキシ樹脂(A)およびフェノールノボ
ラック樹脂および/またはフェノールアラルキル樹脂(
B)の総量100重量部に対して100〜1000重量
部の範囲が好ましい。
【0015】本発明になる導電性樹脂ペーストには、シ
ランカップリング剤、チタンカップリング剤等の接着力
向上剤、ノニオン系界面活性剤、フッ素系界面活性剤な
どの濡れ向上剤、シリコーン油などの消泡剤を適宜加え
ることができる。
【0016】本発明になる導電性樹脂ペーストは、例え
ば、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、エピ・ビス
型エポキシ樹脂およびフェノールノボラック樹脂および
/またはフェノールアラルキル樹脂の所定量を一括また
は分割して希釈剤の所定量と混合し、必要に応じて加熱
しながら混合、撹拌して溶解させ、得られたワニスの所
定量と硬化促進剤、希釈剤、導電性金属粉および必要に
応じて添加されるカップリング剤等の添加剤を一括また
は分割して加え、撹拌器、らいかい器、3本ロール、ボ
ールミルなどの分散機を適宜組合わせて混練または溶解
して作製することができる。
【0017】本発明になる導電性樹脂ペーストを用いて
半導体素子を支持部材に接合させて半導体装置とされる
。例えば、本発明になる導電性樹脂ペーストを支持部材
に塗布し、この上に半導体素子を置いて圧着し加熱して
このペーストを硬化させて半導体素子を支持部材に接合
させて半導体装置とする。
【0018】本発明になる導電性樹脂ペーストは、IC
、LSI等の半導体素子のリードフレーム、セラミック
配線板、ガラスエポキシ配線板等の支持部材への接合、
タンタルコンデンサチップのリードフレームへの接合等
の接合材料として好適である。
【0019】
【実施例】以下、本発明を実施例により説明する。実施
例1〜9および比較例1〜4表1に示すそれぞれの組成
のDEN−438、EP−1001、H−1、XL−2
25、KBM−403およびブチルセロソルブを100
℃加熱下で溶解してワニスを調製し、このワニスとTC
G−1をらいかい機で混練し、導電性樹脂ペーストを作
製し、その特性を下記の方法で測定し、その結果を表1
に示した。
【0020】(1)導電性樹脂ペーストの粘度東京計器
社製のEHD型回転粘度計を用い、25℃における粘度
を測定した。 (2)接着強さ 得られた導電性樹脂ペーストを銀メッキ付銅リードフレ
ーム上に塗布した後、2mm×2mmのシリコンチップ
を乗せて圧着し、250℃に設定したヒートブロック上
に30秒間放置して硬化させた。この硬化した試料の室
温での剪断接着強さおよび350℃での熱時剪断接着強
さを、プッシュプルゲージ(アイコーエンジニアリング
社製)を用いて測定した。 (3)粘度安定性 導電性樹脂ペーストを25℃で10日間放置したのちの
粘度を測定し、この粘度が初期の粘度の0.8〜1.2
倍の範囲内にあるものを○で示し、範囲外のものを×で
示した。また表1で使用した原料は次のとおりである。 DEN−438:フェノールノボラック型エポキシ樹脂
(ダウケミカル社製商品名、エポキシ当量200)EP
−1001:エピ・ビス型エポキシ樹脂(油化シェルエ
ポキシ社製商品名、エポキシ当量=450) XL−225:フェノールアラルキル樹脂(三井東圧化
学社製商品名、水酸基当量185)H−1:フェノール
ノボラック樹脂 (明和化成社製商品名、水酸基当量106)KBM−4
03:希釈剤 (信越化学社製商品名、γ−グリシドキシプロピルトリ
メトキシシラン)ブチルセロソルブ:希釈剤(関東化学
社製商品名、試薬特級) TCG−1:導電性金属粉 (徳力化学社製、フレーク状銀粉) TPP・TPB:硬化促進剤 (テトラフェニルホスホニウム・テトラフェニルボレー
ト塩、北興化学社製) 2E4MZ・TPB:硬化促進剤 (2−エチル−4−メチルイミダゾール・テトラフエニ
ルボレート塩、北興化学社製) DBU・TPB:硬化促進剤 (1,8−ジアザビシクロ(5,4,0)ウンデセン−
7・テトラフェニルボレート塩、サンアプロ社製)2P
Z−OK:硬化促進剤 (2−フェニルイミダゾール・イソシアヌール酸付加物
、四国化成社製商品名)
【0021】
【表1】
【0022】表1から、フェノールノボラック型エポキ
シ樹脂とエピ・ビス型エポキシ樹脂を併用した実施例1
〜3は、これらのエポキシ樹脂を単独で用いた比較例1
、2に比較して接着強さが高く、またグリシジル基を1
個有する化合物(KBM−403)を添加しない比較例
3では、350℃における接着強さが低く、さらに硬化
促進剤としてイミダゾール類を用いた比較例4では、充
分な接着強さは得られるが、粘度安定性に欠けることが
示される。
【0023】
【発明の効果】本発明の導電性樹脂ペーストによれば、
200〜350℃の熱時接着強さを低下させずに短時間
でIC、LSI等の半導体素子を、リードフレーム、セ
ラミック配線板、ガラスエポキシ基板等への支持部材に
接合することができるため、接合工程のインライン化が
可能となり、半導体装置の大幅なコスト低減を図ること
ができる。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  (A)フェノールノボラック型エポキ
    シ樹脂およびエピ・ビス型エポキシ樹脂からなる混合エ
    ポキシ樹脂、 (B)フェノールノボラック樹脂および/またはフェノ
    ールアラルキル樹脂、 (C)有機ボレート塩、 (D)グリシジル基を1個有するシラン化合物を少なく
    とも1成分として含む希釈剤ならびに (E)導電性金属粉を含有してなる導電性樹脂ペースト
  2. 【請求項2】  請求項1記載の導電性樹脂ペーストを
    用いて半導体素子を支持部材に接合させる半導体装置の
    製造法。
JP08373691A 1990-04-27 1991-04-16 導電性樹脂ペーストおよび半導体装置の製造法 Expired - Lifetime JP3191243B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP08373691A JP3191243B2 (ja) 1990-04-27 1991-04-16 導電性樹脂ペーストおよび半導体装置の製造法

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2-112131 1990-04-27
JP11213190 1990-04-27
JP08373691A JP3191243B2 (ja) 1990-04-27 1991-04-16 導電性樹脂ペーストおよび半導体装置の製造法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH04218524A true JPH04218524A (ja) 1992-08-10
JP3191243B2 JP3191243B2 (ja) 2001-07-23

Family

ID=26424774

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP08373691A Expired - Lifetime JP3191243B2 (ja) 1990-04-27 1991-04-16 導電性樹脂ペーストおよび半導体装置の製造法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3191243B2 (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06302213A (ja) * 1993-04-14 1994-10-28 Sumitomo Metal Mining Co Ltd 導電性樹脂ペースト
WO2004044936A1 (ja) * 2002-11-13 2004-05-27 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 固体電解コンデンサとその製造方法
JP2008138147A (ja) * 2006-12-05 2008-06-19 Shin Etsu Chem Co Ltd 接着剤組成物
JP2008218901A (ja) * 2007-03-07 2008-09-18 The Inctec Inc 硬化性導電性ペースト組成物およびプリント配線板
WO2009017253A1 (ja) * 2007-07-31 2009-02-05 Sumitomo Bakelite Co., Ltd. 接着剤用液状樹脂組成物、半導体装置及び半導体装置の製造方法
JP2011129335A (ja) * 2009-12-17 2011-06-30 Sumitomo Metal Mining Co Ltd 加熱硬化型銀ペーストおよびこれを用いて形成した導体膜
CN111491994A (zh) * 2017-12-20 2020-08-04 Ppg工业俄亥俄公司 包括苯酚酚醛清漆和有机硅烷的涂料组合物

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06302213A (ja) * 1993-04-14 1994-10-28 Sumitomo Metal Mining Co Ltd 導電性樹脂ペースト
WO2004044936A1 (ja) * 2002-11-13 2004-05-27 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 固体電解コンデンサとその製造方法
US7123468B2 (en) 2002-11-13 2006-10-17 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Solid electrolytic capacitor and process for producing the same
JP2008138147A (ja) * 2006-12-05 2008-06-19 Shin Etsu Chem Co Ltd 接着剤組成物
JP2008218901A (ja) * 2007-03-07 2008-09-18 The Inctec Inc 硬化性導電性ペースト組成物およびプリント配線板
WO2009017253A1 (ja) * 2007-07-31 2009-02-05 Sumitomo Bakelite Co., Ltd. 接着剤用液状樹脂組成物、半導体装置及び半導体装置の製造方法
JP5585760B2 (ja) * 2007-07-31 2014-09-10 住友ベークライト株式会社 接着剤用液状樹脂組成物、半導体装置及び半導体装置の製造方法
KR101489021B1 (ko) * 2007-07-31 2015-02-02 스미또모 베이크라이트 가부시키가이샤 접착제용 액상 수지 조성물, 반도체 장치 및 반도체 장치의 제조 방법
JP2011129335A (ja) * 2009-12-17 2011-06-30 Sumitomo Metal Mining Co Ltd 加熱硬化型銀ペーストおよびこれを用いて形成した導体膜
CN111491994A (zh) * 2017-12-20 2020-08-04 Ppg工业俄亥俄公司 包括苯酚酚醛清漆和有机硅烷的涂料组合物
CN111491994B (zh) * 2017-12-20 2022-04-29 Ppg工业俄亥俄公司 包括苯酚酚醛清漆和有机硅烷的涂料组合物

Also Published As

Publication number Publication date
JP3191243B2 (ja) 2001-07-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4732702A (en) Electroconductive resin paste
JPH04218524A (ja) 導電性樹脂ペーストおよび半導体装置の製造法
US5188767A (en) Electroconductive resin paste containing mixed epoxy resin and electroconductive metal powder
JPH0668091B2 (ja) 熱硬化性絶縁樹脂ペースト
JP3511126B2 (ja) 非導電性樹脂ペーストおよび半導体装置
JPH0536738A (ja) 導電性樹脂ペーストおよび半導体装置
JPH1192740A (ja) 樹脂ペースト組成物および半導体装置
JPH06151480A (ja) 導電性樹脂ペーストおよび半導体装置
US5183592A (en) Electroconductive adhesive comprising an epoxy novolak resin and phenol-aralkyl resin
JPH1050142A (ja) 導電性樹脂ペースト組成物および半導体装置
JP3259501B2 (ja) 導電性樹脂ペースト組成物及び半導体装置
JP3695226B2 (ja) 一液熱硬化型樹脂組成物
JPH11106454A (ja) 樹脂ペースト組成物及びこれを用いた半導体装置
JP4467120B2 (ja) 導電性樹脂組成物
JP2005317491A (ja) 導電ペーストおよびそれを用いた電子部品搭載基板
JPH11228787A (ja) 樹脂ペースト組成物及びこれを用いた半導体装置
JPH11106455A (ja) 樹脂ペースト組成物及びこれを用いた半導体装置
JP2000226432A (ja) 樹脂ペースト組成物及びこれを用いた半導体装置
JPH10195408A (ja) 導電性樹脂ペースト組成物及びこれを用いた半導体装置
JPH09194813A (ja) 導電性樹脂ペースト組成物及び半導体装置
JPH10330715A (ja) 導電性樹脂ペースト及びこれを用いて製造された半導体装置
JPH06196513A (ja) 接着剤および半導体装置
JPS6353234B2 (ja)
JPH08176521A (ja) 導電性接着剤
JP2003206469A (ja) 接着剤組成物及びこれを用いた半導体装置

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090525

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100525

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100525

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110525

Year of fee payment: 10

EXPY Cancellation because of completion of term