JPH04215080A - 故障検出回路 - Google Patents
故障検出回路Info
- Publication number
- JPH04215080A JPH04215080A JP2401777A JP40177790A JPH04215080A JP H04215080 A JPH04215080 A JP H04215080A JP 2401777 A JP2401777 A JP 2401777A JP 40177790 A JP40177790 A JP 40177790A JP H04215080 A JPH04215080 A JP H04215080A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gates
- signal
- output
- trouble
- gate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 19
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims abstract description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 28
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は故障検出回路に関し、特
にＬＳＩ回路における故障検出をするのが困難なゲート
の故障検出率を向上させる故障検出回路に関する。
にＬＳＩ回路における故障検出をするのが困難なゲート
の故障検出率を向上させる故障検出回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のＬＳＩ回路の故障検出回路は、入
力端子よりＬＳＩ回路の入力にパターンを印加して、Ｌ
ＳＩ回路の出力端子から得られる出力パターンと、被試
験体が正常に機能する回路で期待される出力パターンと
を比較することにより行われる。しかし、出力の変化を
出力端子に現わすことができないゲートは故障検出がで
きない場合が生ずる。
力端子よりＬＳＩ回路の入力にパターンを印加して、Ｌ
ＳＩ回路の出力端子から得られる出力パターンと、被試
験体が正常に機能する回路で期待される出力パターンと
を比較することにより行われる。しかし、出力の変化を
出力端子に現わすことができないゲートは故障検出がで
きない場合が生ずる。
【０００３】従来、このようなゲートの故障検出をする
方法として、対応するゲートに出力端子を余分に設け、
その端子へ故障検出できないゲートの出力を接続してゲ
ート１個ごとに試験して行く必要があった。
方法として、対応するゲートに出力端子を余分に設け、
その端子へ故障検出できないゲートの出力を接続してゲ
ート１個ごとに試験して行く必要があった。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の故障検
出回路は、故障検出困難なゲートの数だけ余分に出力端
子を設けなければならないという欠点がある。また故障
ゲートの検出率を向上させようとすると１個づつ試験信
号を入れて検出するので故障検出率の向上が極めて困難
な欠点があった。
出回路は、故障検出困難なゲートの数だけ余分に出力端
子を設けなければならないという欠点がある。また故障
ゲートの検出率を向上させようとすると１個づつ試験信
号を入れて検出するので故障検出率の向上が極めて困難
な欠点があった。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明の故障検出回路は
、ＬＳＩ回路に構成された多数のゲートの故障を検出す
るために入力端子から試験信号を入力し、出力端子から
の出力信号により故障検出困難なゲートを特定して行く
故障検出回路において、前記複数の故障検出困難なゲー
トの出力信号を入力し正常か異常かの論理判定を行う複
数個の排他的論理和回路で構成された故障検出回路本体
と、外部からの制御信号により前記故障検出回路本体の
出力信号を前記出力端子の少なくとも１つに切り換えて
出力するセレクタとを有する。
、ＬＳＩ回路に構成された多数のゲートの故障を検出す
るために入力端子から試験信号を入力し、出力端子から
の出力信号により故障検出困難なゲートを特定して行く
故障検出回路において、前記複数の故障検出困難なゲー
トの出力信号を入力し正常か異常かの論理判定を行う複
数個の排他的論理和回路で構成された故障検出回路本体
と、外部からの制御信号により前記故障検出回路本体の
出力信号を前記出力端子の少なくとも１つに切り換えて
出力するセレクタとを有する。
【０００６】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明する
。
。
【０００７】図１は本発明の一実施例のブロック図であ
る。図１において、被試験ＬＳＩの機能部３１０は、複
数の入力端子３０１と、故障検出の困難なゲート３１１
〜３１４を含む機能部本体と複数の出力端子３０２，３
０２Ａとからなる。また、故障検出困難なゲート３１１
〜３１４の出力線を分岐してゲート出力信号Ｉ１〜Ｉ４
を入力し、故障の有無を排他的論理和３２１〜３２３に
より論理判断する故障検出回路３０５と、機能部３１０
の試験動作と正規の動作との切り換えを行うセレクタ３
２４と、出力端子３０２中の１個の出力端子を試験用と
して兼用する出力端子３０２Ａと、試験動作にセレクタ
３２４を切替える制御信号を入力する制御端子３０３か
ら構成される。
る。図１において、被試験ＬＳＩの機能部３１０は、複
数の入力端子３０１と、故障検出の困難なゲート３１１
〜３１４を含む機能部本体と複数の出力端子３０２，３
０２Ａとからなる。また、故障検出困難なゲート３１１
〜３１４の出力線を分岐してゲート出力信号Ｉ１〜Ｉ４
を入力し、故障の有無を排他的論理和３２１〜３２３に
より論理判断する故障検出回路３０５と、機能部３１０
の試験動作と正規の動作との切り換えを行うセレクタ３
２４と、出力端子３０２中の１個の出力端子を試験用と
して兼用する出力端子３０２Ａと、試験動作にセレクタ
３２４を切替える制御信号を入力する制御端子３０３か
ら構成される。
【０００８】次に本実施例の動作を説明する。本実施例
では故障検出回路３０５とセレクタ３２４が追加されて
いるので、この論理動作の一例を説明する。
では故障検出回路３０５とセレクタ３２４が追加されて
いるので、この論理動作の一例を説明する。
【０００９】今制御端子３０３から試験する旨の制御信
号が入力されると、セレクタ３２４は正規動作のＡ０か
らＴへの接続をＡ１からＴへの試験接続に変換される。 次に入力端子３０１から試験のパターン信号が入力され
る。例えばゲート出力信号Ｉ１〜Ｉ４が正常の場合には
すべて“１”レベルが出力されるように試験パターンを
入力したとする。排他的論理和（以下ＥＸ−ＯＲという
）３２１，３２２の出力にはともに“０”レベルが出力
される。ＥＸ−ＯＲ３２３は２つの“０”レベルで“０
”レベルを出力する。この出力信号は共用の出力端子３
０２Ａに“０”レベルとして出力され、すべてのゲート
３１１〜３１４の正常を確認できる。例えばゲート３１
１が異常で“０”レベルを出力したとすると、ＥＸ−Ｏ
Ｒ３２１は“０”，“１”レベルを入力して“１”レベ
ルを出力する。ＥＸ−ＯＲ３２３は“１”と“０”レベ
ルとを入力して“１”レベルを出力し、異常が確認され
る。さらにゲートの異常個所を特定するためには、４個
の入力試験信号の条件を１個づつ変えることにより、故
障しているゲートを特定することができる。このように
故障検出困難なゲートのグループに故障検出回路を分岐
して設定することにより故障個所のゲートを特定して行
き故障検出率を向上させて行くことができる。なお、こ
の故障検出回路を複数個故障検出困難なゲートのグルー
プに取り付けて故障検出率を効率的に向上させることも
できる。
号が入力されると、セレクタ３２４は正規動作のＡ０か
らＴへの接続をＡ１からＴへの試験接続に変換される。 次に入力端子３０１から試験のパターン信号が入力され
る。例えばゲート出力信号Ｉ１〜Ｉ４が正常の場合には
すべて“１”レベルが出力されるように試験パターンを
入力したとする。排他的論理和（以下ＥＸ−ＯＲという
）３２１，３２２の出力にはともに“０”レベルが出力
される。ＥＸ−ＯＲ３２３は２つの“０”レベルで“０
”レベルを出力する。この出力信号は共用の出力端子３
０２Ａに“０”レベルとして出力され、すべてのゲート
３１１〜３１４の正常を確認できる。例えばゲート３１
１が異常で“０”レベルを出力したとすると、ＥＸ−Ｏ
Ｒ３２１は“０”，“１”レベルを入力して“１”レベ
ルを出力する。ＥＸ−ＯＲ３２３は“１”と“０”レベ
ルとを入力して“１”レベルを出力し、異常が確認され
る。さらにゲートの異常個所を特定するためには、４個
の入力試験信号の条件を１個づつ変えることにより、故
障しているゲートを特定することができる。このように
故障検出困難なゲートのグループに故障検出回路を分岐
して設定することにより故障個所のゲートを特定して行
き故障検出率を向上させて行くことができる。なお、こ
の故障検出回路を複数個故障検出困難なゲートのグルー
プに取り付けて故障検出率を効率的に向上させることも
できる。
【００１０】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、故障検出
回路と外部から試験モードに制御するセレクタとを追加
することにより、検出困難なゲートをグループ化して故
障ゲートを特定して行くことができ、故障検出率を効率
的に向上できる効果がある。また、出力端子の一部を正
規の信号出力用と試験用とに兼用できるので、端子利用
の効率化もはかることができる。
回路と外部から試験モードに制御するセレクタとを追加
することにより、検出困難なゲートをグループ化して故
障ゲートを特定して行くことができ、故障検出率を効率
的に向上できる効果がある。また、出力端子の一部を正
規の信号出力用と試験用とに兼用できるので、端子利用
の効率化もはかることができる。
【図１】本発明の一実施例のブロック図である。
３０１ 入力端子
３０２，３０２Ａ 出力端子
３０３ 制御端子
３０５ 故障検出回路
３１０ 機能部
３１１〜３１４ 故障検出困難なゲート３２１〜
３２３ 排他的論理和 ３２４ セレクタ
３２３ 排他的論理和 ３２４ セレクタ
Claims (1)
- 【請求項１】 ＬＳＩ回路に構成された多数のゲート
の故障を検出するために入力端子から試験信号を入力し
、出力端子からの出力信号により故障検出困難なゲート
を特定して行く故障検出回路において、前記複数の故障
検出困難なゲートの出力信号を入力し正常か異常かの論
理判定を行う複数個の排他的論理和回路で構成された故
障検出回路本体と、外部からの制御信号により前記故障
検出回路本体の出力信号を前記出力端子の少なくとも１
つに切り換えて出力するセレクタとを有することを特徴
とする故障検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2401777A JPH04215080A (ja) | 1990-12-13 | 1990-12-13 | 故障検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2401777A JPH04215080A (ja) | 1990-12-13 | 1990-12-13 | 故障検出回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04215080A true JPH04215080A (ja) | 1992-08-05 |
Family
ID=18511606
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2401777A Pending JPH04215080A (ja) | 1990-12-13 | 1990-12-13 | 故障検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04215080A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007316020A (ja) * | 2006-05-29 | 2007-12-06 | Mitsumi Electric Co Ltd | 集積回路及びその試験方法 |
-
1990
- 1990-12-13 JP JP2401777A patent/JPH04215080A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007316020A (ja) * | 2006-05-29 | 2007-12-06 | Mitsumi Electric Co Ltd | 集積回路及びその試験方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH03180936A (ja) | 内部バスのテスト回路 | |
| JPH0549190B2 (ja) | ||
| JPH04215080A (ja) | 故障検出回路 | |
| JPH09211076A (ja) | 回路基板検査装置および半導体回路 | |
| JPS63254821A (ja) | Ｃ−ｍｏｓ構造の論理回路 | |
| JPH07245865A (ja) | 配電盤とデジタル継電装置 | |
| JPS61262856A (ja) | 試験回路 | |
| JP2002139546A (ja) | テスト回路 | |
| JP2641968B2 (ja) | 集積回路装置 | |
| KR0161163B1 (ko) | 전전자 교환기에 있어서 이중화된 게이트웨이노드에 대한 글로벌버스 이중화구조 | |
| JP2885575B2 (ja) | 補助リレー駆動回路 | |
| KR850001381B1 (ko) | 디지탈장치의 신뢰성 개선 검사 시스템 | |
| JPH04170065A (ja) | 半導体集積回路 | |
| JPS61134846A (ja) | 電子計算機システム | |
| JPH01199171A (ja) | 断線検出回路 | |
| JP2591470B2 (ja) | 信号処理装置 | |
| JPS6048708B2 (ja) | 論理装置 | |
| JPH03189736A (ja) | 選択回路の障害検出方式 | |
| JP2000206199A (ja) | 実装検査のためのｌｓｉ設計手法 | |
| JPH03106154A (ja) | バイト回路 | |
| JPS61286770A (ja) | 故障診断装置 | |
| JPH02159584A (ja) | 半導体集積回路の故障検出回路 | |
| JPH01286462A (ja) | 半導体集積回路 | |
| JPS62129A (ja) | 集積回路 | |
| JPH0310172A (ja) | 故障検出回路を含むｌｓｉ回路 |