JPH04207313A - 駆動回路 - Google Patents

駆動回路

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JPH04207313A
JPH04207313A JP2310695A JP31069590A JPH04207313A JP H04207313 A JPH04207313 A JP H04207313A JP 2310695 A JP2310695 A JP 2310695A JP 31069590 A JP31069590 A JP 31069590A JP H04207313 A JPH04207313 A JP H04207313A
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JP
Japan
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fet
switching element
load
switching
current
Prior art date
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Pending
Application number
JP2310695A
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English (en)
Inventor
Kouichi Makinose
公一 牧野瀬
Yasuyuki Mizobuchi
康之 溝渕
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Toyota Industries Corp
Original Assignee
Toyoda Automatic Loom Works Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概  要〕 直流モータ等の負荷をドライブするのに好適に適用でき
る駆動回路に関し、高速スイッチングに伴ってスイッチ
ング素子が破壊されることなく、効率よくスイッチング
動作が為されるようにした駆動回路を提供することを目
的し、そのために、トーテムボールドライブ回路を構成
するスイッチング素子の一端にインダクタンス素子を接
続した駆動回路を構成する。
[産業上の利用分野〕 本発明は直流モータ等の負荷をドライブするのに好適に
適用できる駆動回路に関する。
〔従来の技術] ロボット、工作機械、電気自動車等の動力源には直流モ
ータが多く用いられる。
第6図はモータ等の負荷をドライブするための従来の駆
動回路を示す概略回路構成図である。同図において、駆
動回路はスイッチング素子Q1、スイッチング素子Q2
、スイッチング素子Q3及びスイッチング素子Q4によ
るフルブリッジ回路を有し、このブリフジ回路の入力端
子T+、Tzに電源Eが接続されている。また、前記ブ
リッジ回路の出力端子T3、T4には、例えば、直流モ
ータが負荷として接続されている。なお、第6図には図
示を省略しているが、前記各スイッチング素子のゲート
は図外の制御回路に接続されている。
そして、前記スイッチング素子Q、と前記スイッチング
素子Q4をオンに、前記スイッチング素子Q2と前記ス
イッチング素子Q3をオフにすると前記ブリッジ回路の
出力端子T3から負荷を通り出力端子T4に向かう電流
が流れる。また、前記各スイッチング素子のオン・オフ
状態を逆転させると、今度は前記ブリッジ回路の出力端
子T4から負荷を通り出力端子T3に向かう電流が流れ
る。このように前記各スイッチング素子のオン・オフ状
態を制御することにより、例えば、直流モータの正転・
逆転を制御することができる。
前記第6図に示した回路は直流電圧を負荷に印加して、
負荷であるモータ等を正転や反転させる制御を行ってい
る。これに対し、交流を負荷に印加するため、駆動回路
が第7図に示すようにスイッチング素子Q5、スイッチ
ング素子Qb、コンデンサC1及びコンデンサC2によ
るハーフブリッジと呼ばれるブリッジ回路で構成される
こともある。この様な回路では、コンデンサC,,C。
の容量は負荷の電流やスイッチする周波数により決定さ
れる。
〔発明が解決しようとする課題〕
ところで、電気自動車等では電源となるバッテリーを経
済的に用い、且つ、制動特性を向上させるため、直流モ
ータの回転エネルギーから変換された電気エネルギーを
バッテリーに還流させてパンテリーを充電し、その充電
したエネルギーに応じた力を制動力として利用する回生
制動と呼ばれる制動手法が採られることが多い。
しかしながら、前述したブリフジ回路のスイッチ素子を
高速にスイッチングさせると、寄性ダイオードのリカバ
リー電流が急峻に立ち上がり、前述の寄性ダイオードの
リカバリー電流のd i / dt耐量を超えてしまう
ことがあった。
例えば負荷がインダクタンス成分を有するものであり、
スイッチング素子Qz、Chがオンとして端子T4から
端子T3に慣性電流を流しておき、スイッチング素子Q
2 、Q3をオフしたとする。
この時、スイッチング素子Q、の寄性ダイオードdl+
電源E、スイッチング素子Q4の寄性ダイオードd4+
負荷、のループで電流が流れる。
次に、スイッチング素子Q、、Q4がオンとなると前述
の慣性電流は低下して減速し、遂には逆向きの慣性電流
となる。スイッチング素子QI。
Q4のオン時間が短いと、逆向きには至らず、依然とし
て端子T3から端子T4への電流が同一ループを流れる
。この条件下において再びスイッチング素子Qz 、 
 Cbがオンとなると、この直前までスイッチング素子
Q+ 、Q4の寄性ダイオードが動作していたため、急
に逆電圧の印加となり、リカバリー電流が流れる。この
リカバリー電流が寄性ダイオードのリカバリー電流のd
 i / d を耐量を超えてしまうと、スイッチング
素子の破壊となってしまう。
ハーフブリッジの場合にもJ同様であり、FETQ5.
Q6は寄性ダイオードd6.d、を有しそのリカバリー
電流のd i / d を耐容量を高速スイッチング時
に超えてしまって破壊することがある。この破壊を防止
するため、瞬時にスイッチング素子Q2やスイッチング
素子Q3がオンセずに緩慢に完全なオン状態に至るよう
、即ち、スロースイッチングとなるよう前記スイッチン
グ素子Q2等のゲートへ流す電流を制御していた。しか
しながら、そのようなスロースイッチングによる制御で
は扱う電力が小さい場合には、あまり問題にならないが
、扱う電力が大きくなるにつれスイッチングに伴う電力
損失が太き(なり、その結果、発熱等の弊害がでてくる
と云った問題があった。
そこで、本発明は高速スイッチングに伴ってスイ・7チ
ング素子が破壊されることなく、効率よくスイッチング
素子が為されるようにした駆動回路を提(バすることを
目的とする。
1課題を解決するだめの手段〕 第1関は本発明を説明する原理ブロック図である。、電
源7には、スイッチング素子3.インダクタンス素子5
.スイッチング素子1の直列回路と、スイッチング素子
4.インダクタンス素子8.スイッチング素子2の直列
回路とが接続し、スイッチング素子3とインダクタンス
素子5の接続点と、スイッチング素子4とインダクタン
ス素子8の接続点に負荷6が接続している。この駆動回
路のスイッチング素子1〜4は例えば寄性ダイオードを
有するFETである。スイッチング素子1〜4をFET
で構成した場合、FETIのドレインはインダクタンス
素子5を介して負荷6の一端に接続している。また、こ
の負荷6の一端は前記FET3のソースにも接続し7て
おり、このFET3のドレインは電tj、7のプラス端
子に接続している。−方、前記FET2の1−レインは
インダクタンス素子8を介して前記負荷6の他端に接続
すると共に前記FET4のソースに接続している。また
、このFET4のドレインは前記電源7のプラス端子に
接続している。そして、この電源7のマイナス端子は前
記FETIと前記FET2のソースに接続している。な
お、各FETのゲートは図示を省略している制御回路に
接続されている。
(作  用〕 負荷6、スイッチング素子3、電源7、スイッチング素
子2、そして負荷6に戻る経路に回生電流を流している
とき、スイッチング素子4がオンとなると、それまで、
電源7の電圧と負荷に残留しているサージ電圧が急にス
イッチング素子2に印加され急峻に立ち上がろうとする
。しかしながら、前記インダクタンス素子8のリアクタ
ンスの作用で急峻に立ち上がろうとするサージ電圧を抑
制する。インダクタンス素子のリアクタンスは幅の狭い
急激なインパルスに対しより大きく作用する。従って、
前記スイッチング素子2にそのようなサージ電圧が印加
されるのを防止でき、スイッチング素子2を電力消費を
伴わずに保護できる。
また、その逆にスイッチング素子1に対する動作も同様
である。
スイッチング素子1〜4が前述した如く寄性ダイオード
を有するFETであった場合には、インダクタンス素子
5.8によって電流の2、激な変化を防止しているので
、寄性ダイオードのリカバリー電流のdi/dtの耐量
をオーバーすることを防止できる。
[実 施 例〕 以下、図面を参照しながら本発明の実施例について詳細
に説明する。
第2図は本発明の一実施例を示す回路構成図である。負
荷6を駆動する駆動回路はFET5I、FET52、F
ET53及びFET54を有し、前記FET51のドレ
インはコイル9を介して負荷6の一端に接続している。
また、この負荷6の一端は前記FET53のソースにも
接続しており、二〇FET53のドレインは電源7のプ
ラス端子に接続している。
一方、前記FET52のドレインはコイル10を介して
前記負荷6の他端に接続すると共に前記FET4のソー
スに接続している。また、このFET4のドレインは前
記電源7のプラス端子に接続している。また、この電源
7のマイナス端子は前記FET51と前記FET2のソ
ースに接続している。
前記FET5Iのドレインスナバ(snubber)用
ダイオード11のアノードに接続しており、前記ダイオ
ード11のカソードは電源7のプラス端子に接続すると
ともにコンデンサ12を介して前記電源7のマイナス端
子に接続している。
また、前記FET3のソースはスナバ用ダイオード13
0カソードに接続し、このダイオード13のアノードは
前記電源7のマイナス端子に接続すると共にコンデンサ
14を介して前記電源7のプラス端子に接続している。
さらに同様に前記FET52のドレインはスナバ用ダイ
オード15のアノード端子に接続し、前記ダイオード1
5のカソードは電源7のプラス端子に接続するとともに
コンデンサエ6を介して前記電源7のマイナス端子に接
続している。また、前記FET54のソースはスナバ用
ダイオード17のカソードに接続し、このダイオード1
7のアノードは前記電源7のマイナス端子に接続すると
共にコンデンサ18を介して前記電源7のプラス端子に
接続している。なお、図示を省略しているが、各FET
のゲートは制御回路に接続されている。また、各図にお
いて、各FETに並列に接続されているダイオードdx
〜dx4は寄生ダイオードを示している。
而して、前記FET52と前記FET53がオン、前記
FET51と前記FET54がオフで電流ILDが正方
向(矢印の向き)に流れている状態から回路動作を考え
る。ここで、オンであった前記FET52と前記FET
53がオフすると、即ち、総てのFET5I〜S4がオ
フ状態になると、前記負荷6のインダクタンス成分に蓄
えられたエネルギーは前記電源7に回生される。その際
、流れる電流は前記FET54の寄生ダイオードdx4
、前記コンデンサ14、前記ダイオード13を通り前記
負荷6に帰る経路と、もう一つは、前記FET54の寄
生ダイオードdx4、前記電源7、前記FET5Iの寄
生ダイオードdχ1、前記コイル9を通り前記負荷6に
帰る経路とを流れる。
一方、前記FET52がオフする前に前記コイル10に
蓄えられたエネルギーによっても回路に電流が流る。そ
の電流は前記ダイオード15、前記コンデンサ18、前
記ダイオード17を通る経路と、いま一つは、前記ダイ
オード15、前記コンデンサ16、前記ダイオード17
を通る経路を流れる。その状態で、前記FET5Iと前
記FET54がオンしても、前記負荷6と前記コイル1
0に蓄えられたエネルギーが消失しない限り、その状態
は変わらない。
こうした状態で前記各FETのオン・オフ状態がさらに
反転すると、それまでオン状態にあった前記FET5I
と前記FET54の寄生ダイオードに逆電流(リカバリ
ー電流)か流れ始めるか、そのときの電流の立ち上がり
はコイル9によって抑制される。再度前記各FETのオ
ン・オフ状態が反転すると、今度は、それまでオン状態
にあった前記FET52と前記FET53の寄生ダイオ
ードに逆電流(リカバリー電流)が流れ始めるが、その
ときの電流の立ち上がりは前記コイル10によって抑制
される。こうして、各F E、Tへの過大なリカバリー
電流は前記コイル9.10で抑えられて、FETが破壊
されることなくFETを動作させることができる。そし
て、その電流の抑制のために電力消費を殆ど伴わない。
すなわち、1&llのスイッチング素子を所定時間オン
状態とし、その後オフとした直後に再度オンとした場合
、回生電流が流れ終わらない状態でオフから再度オンと
なる。この時リカバリー電流は流れるがその量はコイル
9.10によって制限されるので、寄性ダイオードを破
壊することはない。
第2図における本発明の実施例においては、スナバ用ダ
イオードの一方にはコンデンサが接続している。すなわ
ち、ダイオード13.17のアノードにはコンデンサ1
4.28がダイオード11゜15のカソードにはコンデ
ンサ12.16が接続している。このコンデンサはスイ
ッチング素子であるFETが高速で変化した場合であっ
ても電源7の内部抵抗を小さくさせるためのコンデンサ
である。尚、このコンデンサ12,14.16.18は
これらの駆動回路全体を小さく作る等すれば必要としな
いものである。
第3図は本発明の他の実施例を示す回路構成図である。
この構成は第6図のハーフブリッジにコイル19、スナ
バ用ダイオード20.21、コンデンサ22.23を付
加したものである。
すなわち、交流を要求する負荷6′に対して、給電する
ため、スイッチング素子であるFETQs。
Q6を交互してオン・オフし、負荷に交流の電圧を加え
ている。この時にも前述した如く、後続にスイッチを行
なっても、リカバリー電流のdi/dt耐量を超えない
ように、コイル19が設けられ、このコイル19によっ
てその電流が制限される。
第4図は各実施例におけるコイルの挿入箇所の態様を説
明する概略回路構成図である。同図において、第4図(
a)に示す構成は第1図乃至第3図に示した態様であり
、トーテムポール構成のF E Tのうち下側に示され
たFETのドレ、インはコイルを介L2て負荷2に接続
されている。第4図(目に丞す構成はトーテムポール構
成のFETの・)ち上側に示されたF E ′T”のソ
ースはコイルを介して負荷Zに接続されている。そして
、第4図(C)に示す構成はトーテムポール構成のFE
Tの・うち下側に示されたFETのソースと下側に示さ
れたFE”lりドレインとのいずれからもコイルを介し
て負荷Zに接続されている。ここに示されたどの構成に
よっても前述したように各FETへの過大なリカバリー
電流を抑制することができる。
前述した本発明の実施例においては、FETと寄性ダイ
オードによるスイッチング素fを用いて説明しこいるが
、本発明はこれに限るものではない。たとえば第5図に
示すごとく、バイポーラI・ランジスタq1〜94によ
ってブリッジを構成し・、各バイポーラトランジスタq
1〜q/Iのコレクタとエミ/り間にダ・イ牙−ドd 
y + 〜dyiを設けた場合にも2.ブリッジ内に二
1イル30,31を1人し、電流を制御するごとによっ
て同様の破壊を防止することができる。さら乙二従末の
バイポーラトランジスタを用いた場合乙こはリカバリー
電流によって破壊しない大きなダイオードを用いなj−
1ればならなかったが第5図の実施例においては小さな
ダイオードで代用することができる。尚、バイポーラ)
・ランジスタの場合にも第4図と同様にコイルの位置を
変更しても同様である。
[発明の効果] 以」二詳細に説明し7たよう乙こ本発明によればスイッ
チング素子のリカバリー電流をインダクタンス素子によ
って抑制しているので、高速スイッチングに件ってスイ
ッチング素子が破壊されることなく、スイッチング素子
を効率よく動性ざゼることがてきる。その結果、無駄な
電力を消費せず発熱も抑制できる。
4、、tlの筒中な説明 第1図は本発明を説明する原理ブ1−1ンク図、第2図
は本発明の一実施例を示す回路構成図、第3図は本発明
の他の実施例を示す回路構成図、第4図は各実施例にお
けるコイルの挿入箇所の態様を説明する概略回路構成図
、 第5図は本発明の他の実施例の構成図、第6図はモータ
等の負荷をドライブするだめの従来の駆動回路を示す概
略回路構成図、第7図は従来のハーフブリッジ構成の駆
動回路を示す概略回路構成図である。
]・・・・F E T、 2・・・・FET。
3・・・・FET。
4・・・・FET。
5・・・・インダクタンス素子、 8・・・・インダクタンス素子−0 特許出願人  株式会社豊田自動織機製作所第 1 図 ′1!4  図 15図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)スイッチング素子によってブリッジを構成し、負荷
    へ正方向と逆方向の電圧を目的に応じて印加する駆動回
    路において、 同時にオンとなるスイッチング素子の少なくとも一個に
    直列にそれぞれインダクタンス素子を設けてなることを
    特徴とする駆動回路。 2)前記インダクタンス素子の両端には、一旦が電源に
    接続されたスナバ用ダイオードが接続されて成ることを
    特徴とする請求項1記載の駆動回路。 3)前記スイッチング素子はFETであり、前記インダ
    クタンス素子は前記FETに有する寄性ダイオードのリ
    カバリー電流のdi/dt耐量を超えない電流値とする
    インダクタンス値であることを特徴とする請求項1記載
    の駆動回路。 4)前記スイッチング素子はバイポーラトランジスタと
    該トランジスタのコレクタとエミッタに接続されたダイ
    オードとより成り、インダクイタンス素子は前記バイポ
    ーラトランジスタに接続されたダイオードのリカバリー
    電流のdi/dt耐量を超えない電流値とするインダク
    タンス値であることを特徴とする請求項1記載の駆動回
    路。
JP2310695A 1990-11-30 1990-11-30 駆動回路 Pending JPH04207313A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009165127A (ja) * 2007-12-28 2009-07-23 Johnson Electric Sa 容量性負荷のためのパワースイッチアッセンブリ
CN103151342A (zh) * 2013-02-05 2013-06-12 上海空间推进研究所 一种多路阀门驱动的vmos混膜集成芯片

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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