JPH04206761A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JPH04206761A
JPH04206761A JP33653990A JP33653990A JPH04206761A JP H04206761 A JPH04206761 A JP H04206761A JP 33653990 A JP33653990 A JP 33653990A JP 33653990 A JP33653990 A JP 33653990A JP H04206761 A JPH04206761 A JP H04206761A
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Nobuharu Yano
矢野 伸春
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NEC Corp
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    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
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    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
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    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item

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  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体装置に関し、特に樹脂封止型の半導体装
置に関する。
〔従来の技術〕
従来のこの種の半導体装置は、リードの一部にペレット
をマウントし、このペレットと他のリードとをボンディ
ングワイヤを用いて電気接続し、その上でこれらを樹脂
で封止している。また、各リードの端部を樹脂の外部に
突出させ、これら端部を実装基板の配線にロー付は等に
より接続することで平面実装を実現している。
第5図はその一例を示しており、樹脂7の外部に突出さ
れている各リード1〜3の端部を、実装基板8に設けた
配線9にロー付けしている。また、この例ではペレット
を搭載したり一部1の素子搭載部1aも配線9にロー付
けしている。
〔発明が解決しようとする課題〕
この従来の半導体装置では、半導体装置の動作時にペレ
ットから発生する熱は、ペレットをマウントしているリ
ードを介して、あるいは樹脂を通して樹脂外部に放熱さ
せている。このため、リードが完全に樹脂内に封止され
る絶縁タイプの半導体装置の場合には、放熱効果が十分
ではなく、許容損失を大きくすることが難しいという問
題がある。
また、非絶縁タイプの半導体装置の場合には、実装基板
8に実装する半導体装置の直下には露呈された配線9を
設けることができないため、配線を迂回させたり多層配
線構造にする等の必要があり、配線面積が大きくなり、
あるいは配線構造が複雑になるという問題がある。
さらに、ボンディングワイヤのワイヤループが異常に高
いものが発生した場合でも、樹脂内に封入した後ではこ
れを判別することができず、したがって半導体装置の電
気的特性が良品であれば製品として使用されるため、経
時変化による信軌性の低下が生じることがあるという問
題がある。
本発明の目的は、これらの問題を解消した半導体装置を
提供することにある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の半導体装置は、リード上にマウントされたペレ
ットの表面側にペレットと所要間隔おいて金属配線板を
設け、この金属配線板を樹脂内に一体的に封止し、かつ
この金属配線板の両端部を樹脂から突出させた構成とす
る。
この場合、金属配線板上ペレット表面との間隔を、ボン
ディングワイヤのループ高さの管理限界値の上限に設定
する。
〔作用〕
本発明によれば、金属配線板を配線の一部に利用でき、
かつ放熱に利用し、さらにボンディングワイヤのループ
高さの異常を判断することに利用できる。
(実施例〕 次に、本発明を図面を参照して説明する。 −第1図(
a)ないしくC)は本発明を絶縁タイプの平面実装型半
導体装置に適用した実施例の内部構造の平面図、正面図
、側面図である。これらの図において、1〜3はリード
であり、リードlに設けた素子搭載部1aにペレット4
を搭載し、かつこのペレット4と他のり一部2.3とを
ボンディングワイヤ5で電気接続している。また、前記
ペレット4の表面側には、ペレット4に対して所要間隔
おいた位置に金属配線板6を延設している。その上でこ
れらを樹脂7で封止している。このとき、各リード1〜
3の端部と、金属配線板6の両端部は夫々樹脂7の側面
から突出させ、かつ曲げ形成することでそれぞれが同一
平面上に位置されるように構成している。
なお、このような構成の製造に際しては、第2図(a)
に示すように、リードフレーム10に形成されたり一部
1の素子搭載部1aにペレット4をマウントし、他のり
一部2,3にボンディングワイヤ5で電気接続を行った
後に、第2図(b)に示すように金属配線板6を形成し
た金属フレーム11を所要の間隔で重ね、この状態で樹
脂封止する。その後、リードフレーム10および金属フ
レーム11に対して曲げ加工と切断を行うことで第1図
の構造が実現される。
なお、金属配線板6とペレット4の表面との間隔は、ボ
ンディングワイヤ5のループ高さの管理限界値の上限に
なるように配置しておくことが好ましい。
また、第3図(a)ないしくC)は非絶縁タイプの平面
実装型半導体装置に本発明を適用した実施例の内部構造
の平面図、正面図、側面図であり、第1図の実施例と対
応する部分には同一符号を付しである。この構成では、
ペレット4をマウントしたり一部1の裏面を樹脂7の底
面に露呈させている。
このように構成された半導体装置によれば、例えば、第
3図に示した非絶縁タイプ平面実装型半導体装置を基板
に実装する場合には、第4図に示すように、リード1〜
3の端部を実装基板8の配線9にロー付は等により実装
を行うと同時に、金属配線板6の両端部を配線9にロー
付けしてもよい。また、ここではペレット4を搭載した
素子搭載部1aの露呈面も配線9にロー付けしている。
これにより、金属配線板6は半導体装置の両側の配線9
を相互に接続することが可能となり、この金属配線板6
が半導体装置の内部を通過させる配線の一部として構成
でき、実装基板8の配線9を多層化しなくとも交差配線
を実現することができ、実装基板の配線面積を縮小でき
る。
また、金属配線板6を設けることにより、ペレット4で
発生した熱を金属配線板6を通して放熱することも可能
となり、許容損失を大きくすることができる。
さらに、ボンディングワイヤ5のループが異常に高い場
合には、ボンディングワイヤ5が金属配線板6に接触し
て電気的に短絡した状態となるため、樹脂7での封止後
においても金属配線板6に対する導通試験によって半導
体装置の良否を判別することができる。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、ペレットの表面側にペレ
ットと所要間隔おいて金属配線板を設け、この金属配線
板を樹脂内に一体的に封止するとともに金属配線板の両
端部を樹脂から突出させているので、実装基板の配線面
積を低減できるとともに、放熱効果を高めて許容損失を
大きくすることができる。また、金属配線板とペレット
表面との間隔を、ボンディングワイヤのループ高さの管
理限界値の上限に設定することで、ボンディングワイヤ
のループ高さ異常を容易に判別することができる効果が
ある。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)ないしくC)は本発明を絶縁タイプ半導体
装置に適用した実施例の平面図、正面図、側面図、第2
図(a)および(b)は第1図の構造を製造する際に用
いられるフレームの平面図、第3図(a)ないしくc)
は本発明を非絶縁タイプ半導体装置に適用した実施例の
平面図、正面図、側面図、第4図は第3図の半導体装置
を平面実装した状態を示す平面図、第5図は従来の半導
体装置を平面実装した状態を示す平面図である。 1〜3・・・リード、1a・・・素子搭載部、4・・・
ペレット、5・・・ボンディングワイヤ、6・・・金属
配線板、7・・・樹脂、8・・・実装基板、9・・・配
線、1o・・・リードフレーム、11・・・金属フレー
ム。 第1図 第2図 第3図 第4図 (C) 第5図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、リード上にペレットをマウントし、このペレットと
    他のリードとをボンディングワイヤで電気接続し、これ
    らを樹脂で封止してなる半導体装置において、前記ペレ
    ットの表面側にペレットと所要間隔おいて金属配線板を
    設け、この金属配線板を前記樹脂内に一体的に封止し、
    かつこの金属配線板の両端部を樹脂から突出させたこと
    を特徴とする半導体装置。 2、金属配線板とペレット表面との間隔を、ボンディン
    グワイヤのループ高さの管理限界値の上限に設定してな
    る特許請求の範囲第1項記載の半導体装置。
JP33653990A 1990-11-30 1990-11-30 半導体装置 Expired - Lifetime JP2979637B2 (ja)

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JPH04206761A true JPH04206761A (ja) 1992-07-28
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100328746B1 (ko) * 1997-05-19 2002-05-09 가네꼬 히사시 방열판상에장착된펠릿을구비하는반도체장치및제조방법

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100328746B1 (ko) * 1997-05-19 2002-05-09 가네꼬 히사시 방열판상에장착된펠릿을구비하는반도체장치및제조방법

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