JPH04187211A - 排ガス処理装置 - Google Patents

排ガス処理装置

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JPH04187211A
JPH04187211A JP2312894A JP31289490A JPH04187211A JP H04187211 A JPH04187211 A JP H04187211A JP 2312894 A JP2312894 A JP 2312894A JP 31289490 A JP31289490 A JP 31289490A JP H04187211 A JPH04187211 A JP H04187211A
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JP
Japan
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layer
exhaust gas
amount
reaction
neutralizing agent
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Pending
Application number
JP2312894A
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English (en)
Inventor
Toshihiko Shioda
敏彦 塩田
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Ebara Corp
Original Assignee
Ebara Infilco Co Ltd
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Publication date
Application filed by Ebara Infilco Co Ltd filed Critical Ebara Infilco Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、酸性成分系等の排ガス、特に、半導体製造
工程において発生する酸性成分系等の排ガスを処理する
排ガス処理装置に関する。
〔従来の技術〕
一般に、半導体製造工程、特にエソチング工程において
はSiF、 、5iC14、BCl3、CI2等の酸性
成分系の排ガスを始めとして多種多量の排ガスが発生す
る。この排ガスを処理するため、排ガスと化学反応する
個々の薬剤が従来より種々選定され、開発されている。
そして、これらの薬剤を用いた排ガス処理装置は既に実
用化されている。
現在、実用化されている排ガス処理装置は、半導体製造
装置に、接続された真空ポンプを用いて半導体製造装置
の内部に発生した排ガスを排気し、その排気した排ガス
を薬剤と化学反応させることによって処理するように構
成されているものが一般的である。その排ガス処理方式
としては、屹式排ガス処理方式と湿式排ガス処理方式が
ある。湿式排ガス処理方式は、連続型であるが、除去率
が       ′低いことから、一般に乾式排ガス処
理方式が主流になっている。
乾式排ガス処理方式は、種々の成分の薬剤を均一に充填
して薬剤層を形成し、この薬剤層に排ガスを吸収反応さ
せるもので、排ガスと薬剤との反応は薬剤層表面から始
まり、薬剤層深部に向かって進行していく。排ガスと薬
剤との反応は有限であるので、薬剤の終点に達した排ガ
ス処理装置は、排ガス処理能力が落ちるので新しい薬剤
を充填した別の排ガス処理装置に切換える操作が行われ
ている。
薬剤の排ガスに対する吸収反応が薬剤の終点に達したか
否かの判断は、吸収反応による薬剤の重量増加や層圧力
損失値(差圧値)の増加を検出することによって行われ
る。排ガス処理装置に利用できる真空ポンプの排気圧力
は最大400m+nAq、−船釣には、200mmAq
程度である。従って、排ガス処理装置の出口と入口の差
圧値が200mmAqを超え始めると、薬剤交換時期が
近づいたと判断することができる。現状では、排ガスの
種類や濃度によって異なるものの、一層当たりの薬剤交
換サイクルは、24時間連続処理で約1ケ月〜2ケ月で
ある。
〔発明が解決しようとする課題〕
ところで、薬剤層の高さ(層高寸法)は、真空ポンプの
排気圧力によって決まる。つまり、層高寸法は、薬剤層
の80〜90%の反応が終了した時点で差圧値が200
mmAqになるように設計される。
従って、この薬剤層の反応時間を延ばすには、薬剤層の
平面積を大きくすればよいが、平面積が大き過ぎると、
反応が薬剤層表面に平行して進行しなくなる。即ち、平
面積が小さい場合、少なくとも、薬剤層表面寸法(表面
の対角線または直径)が層高寸法以下の場合には、反応
境界線が薬剤層表面に平行して進行するものの、薬剤層
表面寸法の1〜1.5倍を超えた場合には、しばしば反
応境界線が傾き、ショートパスが発生即ちガス流が一部
に集中して薬剤層の一部のみが反応終了となり、薬剤層
底部から未処理排ガスが流出するようになる。例えば、
全体として層高寸法の50%前後しか反応しないうちに
、反応続行不可能という事態が発生することになる。従
って、反応時間を延ばすにも限界があり、いかにして反
応時間を延ばすかという課題を解決する必要がある。
また、従来のように、差圧値を検出する方法では、上記
の事態が発生したことを検出することができないので、
薬剤が飽和状態に達したか否か(吸収反応が薬剤の終点
に達したか否か)を正確に判断することができない。ま
た、薬剤がガス成分を吸収して重量増加した値が設計設
定値を超えたら警報を発する方法でも、吸収反応が薬剤
の終点に達したか否かを正確に判断することができない
。従って、排ガス処理能力が極端に落ちた排ガ入処理装
置をそのまま使用することGこなり、新しい薬剤を充填
した別の排ガス処理装置に切換えるタイミングがずれて
しまうという問題点がある。
そこで、この発明の目的は、上記の課題を解決すること
であり、薬剤層の反応時間を大幅に延ばすとともに、薬
剤層の交換時期あるいは切換時期を正確に検出すること
のできる排ガス処理薬剤層を使用する排ガス処理装置を
提供することであり、更に、上記排ガス処理薬剤層で排
ガスを処理する時に、交換時期に達した薬剤層を新しい
薬剤層に自動的に切換えることができる排ガス処理装置
を提供することである。
〔課題を解決するための手段〕
この発明は、上記の目的を達成するために、次のように
構成されている。
即ち、この発明の一番目は、排ガス中の酸性成分以外の
主成分を吸収させる主成剤の必要量と排ガス中の酸性成
分を吸収させる中和剤の必要量から所定量を減じた量と
を混合した第一層、及び該第一層の後段に配置した前記
中和剤の必要量から減じた前記所定量から成る第二層を
有する排ガス処理装置に関する。
或いは、この発明の二番目は、排ガス中の酸性成分以外
の主成分を吸収させる主成剤の必要量以上の量と排ガス
中の酸性成分を吸収させる中和剤の必要量から所定量を
減じた量とを混合した第一層、及び該第一層の後段に配
置した前記中和剤の必要量から減じた前記所定量の2〜
3倍の量から成る第二層を有する排ガス処理装置に関す
る。
また、この排ガス処理薬剤層において、中和剤の必要量
から減じた前記所定量は20〜40%である。
又は、この発明の三番目は、排ガス中の酸性成分以外の
主成分を吸収させる主成剤の必要量と排ガス中の酸性成
分を吸収させる中和剤の必要量から所定量を減じた量と
を混合した第一層及び該第一層の後段に配置した前記中
和剤の必要量から減じた前記所定量から成る第二層を有
する排ガス処理薬剤層を充填した複数の反応室を有する
反応槽、前記各反応室に設けた排ガス流れ切換装置、前
記第二層の温度を検出する温度センサー、並びに該温度
センサーによる検出温度が設定温度以上の検出信号に応
答して前記反応室内を流れる排ガスの流れを別の前記反
応室内を流れるように前記排ガス流れ切換装置を切換え
るコントローラを有する排ガス処理装置に関する。
或いは、この発明の四番目は、排ガス中の酸性成分以外
の主成分を吸収させる主成剤の必要量以上の量と排ガス
中の酸性成分を吸収させる中和剤の必要量から所定量を
減じた量とを混合した第一層及び該第一層の後段に配置
した前記中和剤の必要量から減じた前記所定量の2〜3
倍の量から成る第二層を有する排ガス処理薬剤層を充填
した複数の反応室を有する反応槽、前記反応槽内に前記
各反応室を直列に順次配置するように仕切った仕切壁、
並びに前記第二層の温度が所定温度以上の温度に上昇す
ることに応答して排ガスが次の段の前記反応室内を流れ
るように開放する前記仕切壁に形成したゲート、を有す
る排ガス処理装置に関する。
〔作用〕
この発明による排ガス処理装置は、上記のように構成さ
れており、次のように作用する。
この発明の一番目の排ガス処理装置は、生成剤を必要量
と中和剤を必要量から所定量を減じた量とを混合した第
一層と及び該第一層の下流側に配置した前i己所定量の
中和剤のみの第二層とから成るので、排ガスと薬剤との
反応が薬剤層の第一層表面から始まり、徐々に反応が進
行する。中和剤と酸性成分との反応は発熱反応であり、
第一層における中和剤は必要量よりも所定量だけ減じて
いるのに対し、第二層は中和剤のみであるから、中和剤
と酸性成分が反応する時に、中和剤と酸性成分との発熱
反応により第一層よりも第二層の方が温度上昇が大きく
なる。そして、第二層における中和反応が終了する頃に
第二層の温度が予め設定している所定温度を超えるよう
になる。従って、第二層の温度が所定値を超えたことを
検出することにより、薬剤層の交換時期あるいは切換時
期を直ちに且つ正確に検出することができる。
或いは、この発明の二番目の排カス処理装置は、主成剤
を必要量以上の量(好ましくは120〜140%)と中
和剤を必要量から所定値を減じた量とを混合した第一層
及び該第一層の後段即ち下流側に配置した前記所定量の
2〜3倍の中和剤のみの第二層とから成るので、上記の
一番目の発明とほぼ同様に作用する。従って、第二層の
温度が所定値を超えたことを検出することにより、薬剤
層の切換時期をより正確に検出することができる。
また、上記三番目の排ガス処理装置は、第二層の温度が
所定値を超えた時、制御装置によってガス流れが自動的
に別の薬剤層へ切換えられるように構成されているので
、ガス流れを常に最適な時期に新しい薬剤層に切換える
ことができる。
或いは、上記四番目の排ガス処理装置は、以下のように
作用する。即ち、ガス入口から反応槽の第一番目の反応
室に入ってきた排ガスは、薬剤層の表面から入って第二
層の底から排出される。その過程で第一層表面から反応
が始まり、徐々に反応が進行する。第二層における中和
反応が進行す1す るのに伴って第二層の温度が上昇してくる。そして、第
二層の温度が所定値を超えた時に、隣接する第二番目の
反応室のゲートが自動的に開放され、排ガスの大部分は
第二番目の反応室へ流れる。−方、第一番目の反応室に
もわずかではあるが排ガスが流れる。そして、第二層に
おける中和剤を所定量の2〜3倍の量にすることによっ
て第二層の厚さを厚くしであるから、第一番目の反応室
の第二層の圧力損失はさらに上昇を続け、やがては第二
層は閉塞状態となり、排ガスの流れを遮断する。
以後、同様に各反応室は反応終了近くに生じる発熱によ
り、ゲートを開放し、排ガスを順次新しい反応室に誘導
していく。このように、反応が終了した薬剤層を新しい
薬剤層に自動的に切換えることができる。
また、上記いずれも、第二層の中和反応が起きた部分は
ガス通過抵抗が上昇していくので、たとえ、反応境界線
が(頃いたとしても、ガスの流れは抵抗の低い方へ横移
動し、不均一なガス流れが是正される。従って、薬剤層
表面寸法を従来に比べて大きくすることが可能となり、
反応時間を大幅に延ばすことができる。
〔実施例〕
以下、図面を参照して、この発明による排ガス処理装置
の実施例について説明する。
第1図はこの発明による排ガス処理装置の一実施例を示
す説明図である。半導体製造時に発生して排出される排
ガスは酸性成分を始めとして種々の成分を含んでいる。
酸性成分以外の除去対象となる排ガス成分を主成分と呼
ぶことにする。そして、排ガス中の主成分を処理する作
用がある薬剤が主成剤、また、酸性成分を処理する作用
がある薬剤が中和剤である。主成剤の薬剤は、排ガス中
に含まれる主成分の種類によって異なる。例えば、主成
剤として、粒状活性炭、活性炭繊維のチップ状充填剤、
シリカゲル、吸湿性ポリマー等が使用されるが、この発
明では主成剤の種類は、特に規定しない。また、中和剤
としては、生石灰(市販粒状ライム等)等の中和反応に
より反応熱を発生するものを使用する。
反応槽には、反応剤として、排ガス中の主成分量と酸性
成分量の比に見合う主成剤と中和剤とが充填される。反
応剤は層状に配置され、第一層と第二層からなる薬剤層
を形成している。第1図において、白い部分が排ガス中
の主成分を吸収する生成剤lであり、また、黒い粒で示
す部分が酸性成分を中和する中和剤2である。第一層と
しての混合剤層3は中和剤2を主成剤1に均一に混合分
散させた薬剤層である。この混合薬剤層3はガス流れの
前段即ち上流側に配置する。混合薬剤層3の後段即ち下
流側には、中和剤のみからなる第二層としての単一薬剤
層即ち単層中和剤4を配置する。
薬剤層全体の重量は、除去対象の排ガスの主成分及び酸
性成分の量と何日分の反応日数にするかによって決定さ
れる。例として、薬剤層全体の重量を仮に10kgとし
、内訳を主成剤8kg、中和剤2kgとする。この中和
剤2kgのうち、その80%(1,6kg)を主成剤8
kgと十分混合して、主成剤中に中和剤をほぼ均一に混
合分散させた混合薬剤層3を作り、所定の反応槽に充填
する。この混合薬剤層3の下方に、中和剤の残り20%
(0,4kg)を配置して単層中和剤4を構成する。
第2図は反応境界線についての説明である。排ガスを反
応槽の上方から通すと、排ガスと薬剤との反応は薬剤層
の表面から始まり、薬剤層底部に向かって進んでいく。
任意の時点において反応が進行している状態を示す線を
反応境界線と呼んでいる。この反応境界線より上方の薬
剤は、除去対象の排ガス成分とほぼ100%反応済みで
ある。
図では、符号Aは主成分の反応境界線、符号Bは酸性成
分の反応境界線を示している。半導体製造工程から発生
する排ガスの濃度は、1サイクルの中では製造工程の変
化から当然変動する。しかし、各サイクルともその変動
曲線は全く同じであり、1サイクル当たりに発生してく
る主成分量と酸性成分量は毎回同じである。この両成分
の比と主成剤及び中和剤の比とが同じであれば、処理開
始後の任意の時間における反応済み薬剤と未反応薬剤と
の境界線は、第2図のケースIに示すようになる。即ち
、主成分反応境界線Aと酸性成分反応境界線Bは、はぼ
同一線上に並んで降下してくる。
ところが、この発明のように、混合薬剤層3の中和剤が
20%はど減じられている場合には、任意の時間におけ
る再反応境界線A、Bは同一直線上に並んで降下しない
。即ち、第2図のケースHに示すように、薬剤層表面か
ら主成分反応境界線Aまでの距離h3よりも薬剤層表面
から酸性成分反応境界線Bまでの距離り、の方が長<’
<hb=1.2h、 )、酸性成分反応境界線Bが主成
剤反応境界線Aよりも約20%下側に位置することにな
る。
従って、排ガス処理が進行して混合薬剤層3内、の主成
分反応境界線Aが混合薬剤層3の高さの約80%に到達
した時に、酸性成分反応境界線Bば単層中和剤4に到達
する。これは第2図のケース■である。
ところで、吊和剤と酸性成分との反応は発熱反応である
が、ケースI、■では、中和剤が分散しているので、生
石灰が酸性成分と中和反応(例えば、C,a O+ 2
 HCI →Ca (,1K + H2,、Q)によっ
て発熱しても、混合薬剤層3全体としては温度上昇はわ
ずかである。即ち、流入する排ガスの温度が30〜40
 ’cとすれば、温度上昇は4〜5℃程度である。
ケース■の状態がさらに進むと、単層中和剤4では、や
がてまとまった熱量とな2す、中和剤の量にもよるが、
温度上昇して50〜80℃の温度が得られる。
また、単層中和剤4を薬剤層底部に位置させると次のよ
うな作用もある。混合薬剤層3内の充填密度が不均一で
あったり、充填密度が不十分な場合には、反応境界線A
、Bは薬剤層表面と平行に降下しなくなる。特に、充填
密度が不十分な場合には反応槽の壁面と反応剤との間に
間隙が生じてケース■のように反応境界線がかなり傾く
ことになる。つまり、この間隔にガス・が集中して流れ
るからである。このような時、その反応境界線のうち酸
性成分反応境界線Bが底部の単層中和剤4に早く達する
が、その部分では排ガスと中和剤との中和反応が始まる
単層中和剤4内でその反応が生じる時に発生する水分に
よって粒状の一部が溶けて粒状間にあった空間が減少し
ていく。更に、CO2から炭酸カルシウムCaCO3が
生成され、該パウダが粒状空間を埋めていく、これらの
作用により単層中和剤4の反応部分はガス通過抵抗を上
昇させることになる。このようにガスの流れは抵抗の低
い方へ単層中和剤4の表層を横移動していく。即ち、ガ
ス流の不均一な流れを是正する作用がある。
この作用があるからこそ薬剤層表面寸法を層高寸法の1
,5倍以上にすること、即ち、反応総容量を増加させる
ことが可能になる。  ・   ・この発明による排ガ
ス処理装置を使用すると、単層中和剤4が50〜80℃
に上昇したことを検出して、反応が終点に近づいている
ことを、知ることができる。万一、反応境界線が傾いた
場合でも、この底部の単層中和剤4の温度上昇を検出す
る方法は有効に作用する。従来のように、差圧値を検出
する方法では、反応境界線が傾いた場合には未処理ガス
が漏れて、さほど差圧が大きくならず、反応の終点を検
出することができないが、温度を検出する方法ならば、
ガスの一部または全量が層成に達したことを示すので、
未処理ガスが漏れないうちに別の薬剤層に切り換えるこ
とが可能である。
第3図はこの発明による排ガス処理装置の一実施例を示
す説明図である。この排ガス処理装置は、複数の反応槽
5 A、  5 B 、  5 C−−−5Xを並ヘテ
配置したもので、個々の反応槽5A、5B、5C1−−
−−−5Xには、流入口に自動開閉弁6A、6B。
6 C−−−−−−6X、流出口に自動開閉弁7A、7
B。
7 C−−−−−7Xが設けられている。最初は自動開
閉弁は6A及び7Aのみが開いていて、残りの自動開閉
弁は閉じている。各反応槽5A、5B、5C−−−−−
−5Xには、反応剤が充填されている。その反応剤は、
第1図及び第2図に示した混合薬剤層3と単層中和剤4
とからなる反応剤である。
また、各反応槽5 A、  5 B、  5 C−−−
−5Xの底部には温度センサー8 A 、  8 B 
、  8 C−一−−8Xが設けられている。温度セン
サー8A、8B、8C−−−−一−−8Xは単層中和剤
4の層成における温度を検出する。反応槽5Aの単層中
和剤4の温度が所定値を超えた場合には、流入口の自動
開閉弁6Aと流出口の自動開閉弁7Aを閉じて、次の反
応槽5Bの自動開閉弁6B及び7Bを開く。このように
自動開閉弁を図示しない制御装置によって制御すること
により、ガスの流れを順次新しい反応槽に切り換えてい
く。なお、酸性成分の割合が多い排ガスを処理する場合
には、単層中和剤4の作用でガスの温度上昇が定常時よ
りも大きくなる。処理したガスが定常時より5℃以上上
昇する場合には、各反応槽5 A、  5 B、  5
 C−−−−−−5Xの温度センサー 8 A、  8
 B、  8 C−−−−−−−8Xを省略して、※印
の位置に温度検出器を取り付けてもよい。その場合には
、温度検出器で温度を検出し、定常時より5℃を超えた
時、制御装置によって自動開閉弁を制御することにより
ガスの流れを順次新しい反応槽5 B 、  5 C−
−−−5Xに切り換えられる。
次に、第4図はこの発明による排ガス処理装置の別の実
施例を示す断面図である。この排ガス処理装置は円筒型
の反応槽10の内部を仕切壁11で区切って4つの反応
室を形成し、各反応室に反応剤を充填したものである。
反応剤は混合薬剤層3と単層中和剤4とからなる。反応
槽10は、排ガス流入ノズル12Aを有する上蓋12、
反応剤を充填した胴部13、処理ガス流出ノズル14A
を有する下蓋14からなる。上蓋12はフランジ12B
、胴部13は上下にそれぞれフランジ13A、13B、
及び下蓋14はフランジ14Bを有する。
上蓋12と胴部13はフランジ12B、13Aの間に仕
切板15を挟んで固定されている。フランジ12B、1
3Aと仕切板15の間には0リング16.17が設けら
れ、密封されている。仕切板15には、反応槽10の各
反応室に通じる4つの開口15Aが形成されている。ま
た、胴部13と下蓋14は、フランジ13B、14Bの
間に支持板18を挟んで固定されている。フランジ13
B、14Bと支持板18の間にはOリング19゜20が
設けられ、密封されている。更に、支持板18には、多
数の孔18Bが形成されている。
仕切板15の上方には切換板21が設置されている。切
換板21は第5図に示すように反応槽10の4つの反応
室のうちの一つに連通ずる開口21Aが一つ形成されて
いる。切換板21の中心には回転軸22が溶接されてい
1て、上蓋12を貫通して上方へ延びている。回転軸2
2は上蓋12に設けられた軸シール部12Cによって支
持されている。また、回転軸22の先端にはウオームギ
ヤ23及びモータ24が設けられ、切換板21はモータ
24によって駆動されて、例えば、90度ずつ回転する
切換板21と仕切板15との間の密封構造は、第6図(
A)及び第6図(B)に示すとおりである。第6図(B
)は第6図(A)におけるA−A断面図である。仕切板
15−の上面には開口15Aを囲む環状シート15Bが
溶接され、環状シート15Bに形成された環状溝15C
にOリング25が設けられている。このOリング25を
介して仕切板15と切換板21の間は密封されている。
また、仕切壁11と仕切板15との間にはOリング11
A、仕切壁11と支持板18との間にはOリング1’l
Bが設けられていて、反応室間の密封を保持している。
支持板18の上面に充填された単層中和剤4の温度を検
出する温度検出器26が、支持板18の中心から下蓋1
4を貫通して下方に延びる軸の先端に設けられている。
更に、コントローラ27は、温度センサー26で検出し
た温度と予め設定した設定値とを比較し、検出温度が設
定値を超えた時に、モータ24を駆動させる。
上記排ガス処理薬剤層を使用する排ガス処理装置の作動
は次のとおりである。まず、排ガスは排ガス流入ノズル
12Aから反応槽12に流入し、切換板21の開口21
A及び仕切板15Aを通過して反応室に流入する。排ガ
スはさらに反応室内に充填された混合副層3及び単層中
和剤4内を通過して浄化され、浄化された処理ガスは処
理ガス排出ノズル14Aから排出される。単層中和剤4
の温度が所定値以上に達したことを温度センサー26が
検出すると、コントローラ27から制御信号がモータ2
4へ発信される。この結果、モータ24が駆動されてウ
オームギヤ23及び回転軸22が回転し、切換板21が
90度回転する。これにより切換板21の開口21Aが
仕切板15の別の開口15Aと重なり、排ガスが別の反
応室に流入するようになる。その反応室の単層中和剤4
の温度が所定値以上に達すると、切換板21が更に90
度回転して、別の反応室へ排ガスが流入するようになる
。このように、次々と反応室が切換えられていく。そし
て、4つの反応室がすべて反応終了となった時点で、コ
ントローラ27から警報信号が発信されて、図示しない
警報器が鳴るようになっている。
第7図はこの発明による排ガス処理装置の更に別の実施
例を示す断面図である。
この排ガス処理装置は、箱型の反応槽40の内部を仕切
壁41で区切って複数の反応室42A。
42 B 、  42 C−−−−−−42Xを形成し
、各反応室に反応剤を充填したものである。反応槽40
及び仕切壁41はフッ素樹脂系材料で製作されるのが好
ましい。反応槽40の前面上部には排ガス流入ノズル4
0.Aが形成され、前面下部には処理ガス排出ノズル4
0Bが形成されている。各反応室42A、  42 B
 、  42 C−−−−−42Xは排ガス流入ノズル
40Aから離れる方向に直列に並んでいる。排ガス流入
ノズル40Aから最も下流にある反応室42Xには温度
指示警報計43が設けられている。
また、各反応室42A、42B、42C−・−42Xを
連通して延びるガス通路44が処理ガス排出ノズル40
Bに接続している。各反応室42A。
42B、42C−・・・・・42Xの底部には、ガス通
路44と反応室を区画する支持板45が設けられている
。支持板45は多数の孔45Aを有する。反応室42に
は反応剤が充填されていて、混合薬剤層3及び単層中和
剤4からなる薬剤層が形成されている。
排ガス処理薬剤層として1、混合薬剤層3は、主成分を
処理するための主成剤を必要量以上の量、好ましくは1
20〜140%と、酸性成分を処理するための中和剤を
必要量の60〜80%とを均一に混合したものである。
主成剤を多めにしている理由は余裕を与えるためである
。単層中和剤4は、必要量の残り20〜40%の2〜3
倍の量を充填する。この層の下層部はパウダ状生石灰を
使用する。仕切壁41にはそれぞれゲート50が設けら
れている。
第8図はゲート50の構造を示す断面図である。
ゲート50はステンレス等の耐触性のある金属で製造さ
れる。ゲート50は開閉扉51と本体プレート52とか
らなる。本体プレート52はガスシール用ガスケット5
3を挟んで仕切壁41に対してビス54などで固定され
ている。この本体プレート52の下部は水平になるよう
に直角に折り曲げられ、この水平部分52Aに多数の孔
52Bが形成されている。この水平部分52Aは、単層
中和剤4に挿入される。また、開閉扉51は本体プレー
ト52に蝶番55で接続され、蝶番55を中心に回転す
る。この回転を助けるために、開閉扉51の上端51A
を回転させたい方に折り曲げてある。開閉扉51と本体
プレーI・52は反応槽40内に設置する前に、両者の
間隙に液状にしたパラフィンワックス56又は同等品を
開口部周辺に連続塗布して本体プレート52と開閉扉5
1を重ね、放冷して固着する。なお、パラフィンワック
ス56と同等品とは60°C未満では固形状であるが、
60℃を超えたら液状になるもので、ピンチ、食物油の
ヤシ油等もこれに含まれる。
本体プレート52には方形又は円形の開Iコ52Cが形
成されている。この開口52Cの面積はガス流入ノズル
4. OAの断面積の2〜5倍である。
仕切壁41には開口41 Aが形成されていて、開口4
1Aの大きさA2は本体プレート52の開口52Cの大
きさA、よりも大きいか或いは同じ大きさである。また
、開閉扉51の大きさA3は開口52Cの大きさA、よ
りも30闘以上大きくする。A3とA、の面積差の部分
にバラフィンワ・7クス56等が塗布される。
上記排ガス処理薬剤層を使用する排ガス処理装置の作動
は以下のとおりである。反応が終了に近づいて単層中和
剤4が発熱を開始すると、その熱は反応槽10本体プレ
ート52の水平部分52Aから本体プレート52内を伝
達し、本体プレート52全体が昇温される。単層中和剤
4の約半分が反応した頃には本体プレート52は60〜
80°Cに上昇する。それは反応槽40本体や仕切壁4
1が断熱性材料でできていることから、この部分を経由
して外気に放散する熱量が小さいため、発熱によって確
実に本体プレート52が昇温する。開閉扉51を本体プ
レート52に固着させたパラフィンワックス56は、融
点温度が45〜60°Cであるので、本体プレート52
の昇温により液化して固着力を失い、開閉1i51が開
放状態となる。
このようにして、ガスは隣の反応室4.2Bに流入する
ことになる。既に反応がほぼ完了した今までガスが流れ
ていた反応室42Aは必要差圧が200mmAq程に達
しているのに対し、開閉扉51が開放した新しい反応室
42Bは必要差圧20〜40mmAqであるので、はと
んどのガスは低圧側に流れる。しかし少量のガスは今ま
での反応室42Aにも流れる。単層中和剤4には、必要
以上の層厚を持たせており、且つ粉体生石灰を使用して
いるため、単層中和剤4の圧力損失は200mmA q
から更に上昇を続け、やがて閉塞状態になり、ガスの流
れを完全に遮断する。以後、同様に各反応室42Cは反
応終了近くに生じる発熱により開閉扉51を開放し、ガ
スを順次新しい反応室に誘導していく。最後の反応室?
1.2 Xが発熱して所定温度を超えると、温度指示警
報計43が警報を発して反応終了時期であることを知ら
せる。
なお、第7図では、反応室の開閉fiU51の開放をパ
ラフィンワックス56などの溶融を利用することにより
行うようにしたが、反応室の開閉扉51の開放を温度検
出器で検出した温度に基づいてコントローラで電気的に
制御するようにしてもよい。また、第7図の方式は、箱
型の反応槽だけでなく、第4図に示したような円筒型の
反応槽において採用してもよい。
〔発明の効果〕
この発明による排ガス処理装置は、上記のように構成さ
れているので、次のような効果を有する。
この発明による排ガス処理装置は、排ガス処理薬剤層に
おいて中和剤のみから成る第二層には、ガスの不均一な
流れを是正する作用があるので、薬剤層表面寸法に対し
て1.5倍以上にすることが可能となる。従って、薬剤
層表面寸法の1.0倍程度に抑えざるを得なかった従来
の薬剤層の場合、薬剤層を1〜2ケ月で交換しなければ
ならなかったが、この発明による排ガス処理薬剤層の場
合には、交換時期が2倍以上に延びるという利点がある
また、中和反応による発熱に着目し、第二層の温度が所
定値に達した時をもって、薬剤層の反応終了時期を検出
するようにしたので、従来のどの検出方法よりも的確に
その時期を検出することができる。従って、この排ガス
処理装置における薬剤層の切換えを自動化することが可
能となるとともに、薬剤層の交換時期を直ちに且つ正確
に知ることができるようになる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明による排ガス処理装置の一実施例を示
す説明図、第2図は反応境界線についての説明図、第3
図はこの発明による排ガス処理装置の一実施例を示す説
明図、第4図はこの発明による排ガス処理装置の別の実
施例を示す断面図、第5図は第4図の排ガス処理装置の
切換板の構造を示す平面図、第6図(A)は切換板と仕
切板との間の密封構造を示す平面図、第6図(B)は第
6図(A)におけるA−A断面図、第7図はこの発明に
よる排ガス処理装置の更に別の実施例を示す断面図、第
8図は第7図の排ガス処理装置のゲートの構造を示す断
面図である。 1−−−−−一主成剤、2−−−一中和剤、3−−−−
一混合薬剤層(第一層)、4−−−単層中和剤(第二層
)、5A、5B、5C,5’X−−−−反応槽、6A、
6B。 6C,6X、7A、7B、7C,7X−−−−−一・自
動開閉弁、8A、8B、8C,8X−−−−温度センサ
ー、10−−−一反応槽、15−−一仕切板、113−
−−一支持板、21−・−切換板、26 、 43−−
−一温度指示警報計、27・−−−−−コントローラ、
40−−−一反応槽、41−−−一仕切壁、42A、4
2B、42C,42x−一−−−−−反応室、50−・
−ゲート、51−−−−−−一開閉扉、52−−−−−
一本体プレート、56−−−−−パラフインワソクス。 出願人  荏原インフィルコ株式会社 代理人  弁理士 尾 仲 −宗 □ □ □ 、[ 1 1  k hl       ’  II□

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)排ガス中の酸性成分以外の主成分を吸収させる主
    成剤の必要量と排ガス中の酸性成分を吸収させる中和剤
    の必要量から所定量を減じた量とを混合した第一層、及
    び該第一層の後段に配置した前記中和剤の必要量から減
    じた前記所定量から成る第二層を有する排ガス処理装置
  2. (2)排ガス中の酸性成分以外の主成分を吸収させる主
    成剤の必要量以上の量と排ガス中の酸性成分を吸収させ
    る中和剤の必要量から所定量を減じた量とを混合した第
    一層、及び該第一層の後段に配置した前記中和剤の必要
    量から減じた前記所定量の2〜3倍の量から成る第二層
    を有する排ガス処理装置。
  3. (3)中和剤の必要量から減じた前記所定量は20〜4
    0%である請求項2に記載の排ガス処理装置。
  4. (4)排ガス中の酸性成分以外の主成分を吸収させる主
    成剤の必要量と排ガス中の酸性成分を吸収させる中和剤
    の必要量から所定量を減じた量とを混合した第一層及び
    該第一層の後段に配置した前記中和剤の必要量から減じ
    た前記所定量から成る第二層を有する排ガス処理薬剤層
    を充填した複数の反応室を有する反応槽、前記各反応室
    に設けた排ガス流れ切換装置、前記第二層の温度を検出
    する温度センサー、並びに該温度センサーによる検出温
    度が設定温度以上の検出信号に応答して前記反応室内を
    流れる排ガスの流れを別の前記反応室内を流れるように
    前記排ガス流れ切換装置を切換えるコントローラを有す
    る排ガス処理装置。
  5. (5)排ガス中の酸性成分以外の主成分を吸収させる主
    成剤の必要量以上の量と排ガス中の酸性成分を吸収させ
    る中和剤の必要量から所定量を減じた量とを混合した第
    一層及び該第一層の後段に配置した前記中和剤の必要量
    から減じた前記所定量の2〜3倍の量から成る第二層を
    有する排ガス処理薬剤層を充填した複数の反応室を有す
    る反応槽、前記反応槽内に前記各反応室を直列に順次配
    置するように仕切った仕切壁、並びに前記第二層の温度
    が所定温度以上の温度に上昇することに応答して排ガス
    が次の段の前記反応室内を流れるように開放する前記仕
    切壁に形成したゲート、を有する排ガス処理装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2003033115A1 (en) * 2001-10-12 2003-04-24 Asahi Glass Company, Limited Method for removing halogen-containing gas

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