JPH041867A - 画質の評価方法 - Google Patents

画質の評価方法

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JPH041867A
JPH041867A JP2103759A JP10375990A JPH041867A JP H041867 A JPH041867 A JP H041867A JP 2103759 A JP2103759 A JP 2103759A JP 10375990 A JP10375990 A JP 10375990A JP H041867 A JPH041867 A JP H041867A
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JP
Japan
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average
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Pending
Application number
JP2103759A
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English (en)
Inventor
Yuji Ueno
裕司 上野
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Nippon Sheet Glass Co Ltd
Original Assignee
Nippon Sheet Glass Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は画像の周辺部のぼけに着目した画質の評価方法
に関する。
〔従来の技術〕
画質の検査方法の1つとして、入力画像のぼけ具合を判
定する方法がある。このようなぼけ具合の判定は、定量
化が困難である故、一般には、目視による判定が行われ
ている。自動的に判定を行うものとしては、画像信号の
最大値、最小値を検出し、予め設定しである基準レベル
との比較により良否の判定を行うものが知られている。
〔発明が解決しようとする課題] 画像信号の最大値、最小値で画質の良否を判定しようと
すると、撮像対象に対する照明の強度で画像信号レベル
が変動するために、正確な判断ができない。
本発明はこの問題にかんがみ、画像信号レベルに影響さ
れずにぼけそのものを評価できるような画質の評価方法
を提供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の画質の評価方法は、入力画像のエツジ部分を抽
出し、そのエツジ部分の平均の画素値を求めて、この平
均画素値を入力画素の画質の指標としたことを特徴とす
る。
〔作用〕
エツジ部分の平均画素値が画像周辺部のぼけを示してい
るので、これを画質評価の指標とする。
〔実施例〕
第1図に本発明による画質の検査方法の処理手順をフロ
ーチャートで示し、第2図に処理手順に沿った画像の画
素値方向の断面を示す。
まずステップS1にて入力画像Aを取込む(第2図A)
。入力画像はテレビカメラなどの画像入力装置の出力で
ある。なお第2図Aは、平面図で示す画像入力対象21
を横切るライン22上の画素値(画像濃度)を示す。
次に、入力画像AをステップS2において適当なしきい
値で2値化して画像Bを得る(第2図B)。この画像B
は2値化により入力画像Aの周辺部を除いて縮小した縮
小画像である。
次にステップS3で2値化画像Bに対して拡大処理(膨
張処理)を施し拡大画像C(第2図C)を得る。
次にステップS4にて画像BからCへ拡大した周辺部(
エツジ部)の画像りを、画像BとCの排他的論理和又は
画像CからBの減算により取出す。
次にステップS5に進み、2値化画像B(階調のないパ
ターン画像)の領域内に属する入力画像Aの画素値(信
号強度)の和IBを求め、IBの値を2値化画像B(パ
ターン部)の面積SBで割って、パターン部の平均濃度
MB (平均画素値)を求める。
MB=IB/SB なお面積SBは、画像Bの画素数でよい。パターン部の
画素値の和IBは、第2図IBに示すように、ライン2
2上の斜線部23の面積についての画像Bの領域全体の
和である。
続いてステップS6において、周辺部(エツジ部)の画
像りの領域内に属する入力画像Aの画素値の和IDを求
め、値IDを画像りの面積SDで割って、周辺部の平均
濃度MD(平均画素値)を求める。
MD=ID/SD なお周辺部の和10は、第2図IDに示すように、ライ
ン22上の斜線部24の面積についての画像りの領域全
体の和である。
次にステップS7で、パターン部(B)と周辺部(D)
との平均濃度の比Rを求める。
R=MD/MB この比Rは、画質を定量化した数値であり、理想的なボ
ケのない画像では、R=0になるはずであり、Rが大き
い程ぼけた画質の悪い画像である。
従ってRの値により画質を判定することができる。
上述の実施例における第1図のステップS3の拡大処理
については、例えば第3図のような演算処理により行う
ことができる。即ち、元の画像Bから3X3のマトリッ
クス画素配列a −iを取出し、その画素値の最大値を
新らしいマトリックスa′〜i′の中央e′の画素値に
置き換える。
e ’ =m a x (a 、 bSc−−−−i 
)この処理を画像Bを含む2次元平面の全体についてマ
トリックスの位置を1画素ずつずらしながら行い、更に
これを2〜3回繰り返すことにより、拡大画像が得られ
る。
上述の例では、パターン部CB)の平均濃度を求めたが
、2値化画像Bを2値化するときのしきいレベルをもっ
てパターン部の平均濃度としてもよい。
また入力画像Aが背景を有している場合には、それを取
除いた後の画像を第1図の入力画像Aとみなして各ステ
ップ81〜S7の処理を行ってもよい。
また上述の実施例では、パターン部(B)と周辺部(D
)との濃度の比Rをとって画質評価の指標としているが
、これは照明等によって入力画像Aのレベルが影響を受
けている場合に、その変動要因を除去する効果がある。
従って照明等による影響が少ない場合には、周辺部(エ
ツジ部)の平均濃度MD−自体を画質評価の指標とする
ことが可能である。
第4図は本発明の画質検査方法の利用分野の一例を示す
。第4図は、板ガラスにサンドブラスト法で形成する刻
印のテンプレートである。この刻印は文字及び記号を形
成したテンプレートを板ガラス上に密着させ、砂を吹き
付けて形成する。従来ではこの刻印がかすれたり、欠け
たりしないで正しく形成されているか否かを目視判断し
ていたが、本発明の画質評価方法を利用すれば、刻印の
画像を第1図のステップに従って処理することにより、
自動的判定することが可能となる。
〔発明の効果〕
請求項1の発明は上述のように、入力画像のエツジ部分
の平均画素値でもって画質の評価を行うものであり、平
均画素値がエツジ部分のぼけ具合を示すので、従来のよ
うに入力画像信号のレベル変動による影響を軽減した定
量的な画質評価を行うことができる。
請求項2の発明は、入力画像の2値化処理によって縮小
画像を得てエツジ部分を抽出するので、処理手順が簡単
で高速処理ができる。
請求項3の発明は、縮小画像部分に対応する入力画像の
平均画素値とエツジ部分の平均画素値との比でもって画
質の評価を行うので、入力画像のレベル変動要因を完全
に取り除くことができ、撮像時の照明などに影響されず
に対象像の画質を評価することができる。
請求項4の発明では、2値化による縮小画像を拡大して
、拡大画像と縮小画像との差により入力画像のエツジ部
分を抽出するようにしたので、ディジタル画像に適した
処理であり、処理手順が簡単である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の画質評価方法の一実施例を示す画像処
理手順のフローチャート、第2図は入力画像の2次元の
形及び画素値方向の断面を夫々示す図、第3図は画像の
拡大処理を示す図、第4図は本発明によって評価される
画像の例を示す図である。 なお、図面に用いた符号において、 A    −−−一−・・・・−−−一−−−−・入力
画像B−・−・・・・−・・・・・・・・・・・・・−
2値化画像C−・−・・・−・・・・・・・−・−・・
−・・拡大画像D−・−・−・−・・・−・・−・−−
一一一・−・−周辺部(エツジ部)である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、入力画像のエッジ部分を抽出し、そのエッジ部分の
    平均の画素値を求めて、この平均画素値を入力画像の画
    質の指標としたことを特徴とする画質の評価方法。 2、入力画像を2値化することにより画像の2次元面上
    で縮小した縮小画像を得て、入力画像と縮小画像との差
    部分を上記エッジ部分として抽出し、このエッジ部分に
    対応する入力画素値の総和をエッジ部分の面積で割って
    上記平均画素値を求めることを特徴とする請求項1の画
    質の評価方法。 3、上記縮小画像部分に対応する上記入力画像の平均画
    素値と、上記エッジ部分の平均画素値との比を上記画質
    評価の指標とすることを特徴とする請求項2の画質の評
    価方法。 4、上記2値化による縮小画像に対して画像の2次元画
    上で拡大処理した拡大画像を形成し、この拡大画像と縮
    小画像との差部分を上記エッジ部分とすることを特徴と
    する請求項3の画質の評価方法。
JP2103759A 1990-04-19 1990-04-19 画質の評価方法 Pending JPH041867A (ja)

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000046650A (ja) * 1998-07-23 2000-02-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd 画質検査装置
JPWO2010021039A1 (ja) * 2008-08-21 2012-01-26 パイオニア株式会社 画像処理装置、画像処理方法、及び画像処理プログラム
JP2015156189A (ja) * 2014-02-21 2015-08-27 株式会社ニコン 画像評価装置、および画像評価プログラム
JP2019096364A (ja) * 2019-03-18 2019-06-20 株式会社ニコン 画像評価装置
JP2020170555A (ja) * 2020-07-13 2020-10-15 株式会社ニコン 画像評価装置、カメラおよびプログラム

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