JPH0417048B2 - - Google Patents
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- JPH0417048B2 JPH0417048B2 JP59206774A JP20677484A JPH0417048B2 JP H0417048 B2 JPH0417048 B2 JP H0417048B2 JP 59206774 A JP59206774 A JP 59206774A JP 20677484 A JP20677484 A JP 20677484A JP H0417048 B2 JPH0417048 B2 JP H0417048B2
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- fundus
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Classifications
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B3/00—Apparatus for testing the eyes; Instruments for examining the eyes
- A61B3/10—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions
- A61B3/12—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions for looking at the eye fundus, e.g. ophthalmoscopes
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Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、眼検査装置に関し、さらに詳しく
は、被検眼光学系の光伝達関数を測定するための
眼検査装置に関する。
は、被検眼光学系の光伝達関数を測定するための
眼検査装置に関する。
従来、眼検査装置として、被検眼の屈折度を測
定するための屈折度測定系を利用して、この眼底
反射光量を検出することにより、被検眼の水晶体
や硝子体の混濁等によつて生ずる被検眼光学系の
異常を検出する異常検出装置が知られている。
定するための屈折度測定系を利用して、この眼底
反射光量を検出することにより、被検眼の水晶体
や硝子体の混濁等によつて生ずる被検眼光学系の
異常を検出する異常検出装置が知られている。
また、眼光学系の異常の検査方法として、被検
眼の各径線方向の屈折度を測定し、これらの測定
値のばらつきから被検眼光学系の異常を推定する
方法が従来提案されている。
眼の各径線方向の屈折度を測定し、これらの測定
値のばらつきから被検眼光学系の異常を推定する
方法が従来提案されている。
上記従来の眼検査装置においては、眼底への入
射光束と眼底からの反射光束とが共通して通過す
る領域に混濁が存在すると、この混濁により反射
された光束が反射光束中に混入するため、眼底反
射光量の低下により透光体の混濁を判断している
異常検出系に混濁が異常として検出されない場合
もあつた。
射光束と眼底からの反射光束とが共通して通過す
る領域に混濁が存在すると、この混濁により反射
された光束が反射光束中に混入するため、眼底反
射光量の低下により透光体の混濁を判断している
異常検出系に混濁が異常として検出されない場合
もあつた。
また、上記眼光学系の異常の検査方法において
は、混濁が被検眼の眼底付近に生じた場合、この
混濁は関連する径線方向の屈折度に影響を及ぼす
が、混濁が瞳付近に生じた場合にはすべての径線
方向の測定光束が混濁を通過することになり、各
径線の測定値にばらつきが現われず、従つて混濁
が検出されないという問題があつた。
は、混濁が被検眼の眼底付近に生じた場合、この
混濁は関連する径線方向の屈折度に影響を及ぼす
が、混濁が瞳付近に生じた場合にはすべての径線
方向の測定光束が混濁を通過することになり、各
径線の測定値にばらつきが現われず、従つて混濁
が検出されないという問題があつた。
本発明はこれら従来の技術の問題に鑑みなされ
たものであつて、被検眼の光伝達関数を測定する
ことにより、被検眼のいずれの位置にある眼光学
系の異常も正確に検出することができる眼検査装
置を提供することを目的とする。本発明は、さら
に被検眼屈折度も容易に測定することができる眼
検査装置を提供することを目的とする。
たものであつて、被検眼の光伝達関数を測定する
ことにより、被検眼のいずれの位置にある眼光学
系の異常も正確に検出することができる眼検査装
置を提供することを目的とする。本発明は、さら
に被検眼屈折度も容易に測定することができる眼
検査装置を提供することを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は上記問題点を解決するため以下の構成
上の特徴を有する。すなわち、本発明は、被検眼
眼底へ測定ターゲツト像を投影するためのターゲ
ツト投影系と、眼底上の測定ターゲツト像の合焦
状態を検出して測定ターゲツト像を眼定上に合焦
するための合焦手段と、眼底上に前記合焦手段に
より合焦された測定ターゲツト像のコントラスト
を検出して被検眼の光伝達関数を測定するための
光伝達関数測定系とを有することによつて構成さ
れる。
上の特徴を有する。すなわち、本発明は、被検眼
眼底へ測定ターゲツト像を投影するためのターゲ
ツト投影系と、眼底上の測定ターゲツト像の合焦
状態を検出して測定ターゲツト像を眼定上に合焦
するための合焦手段と、眼底上に前記合焦手段に
より合焦された測定ターゲツト像のコントラスト
を検出して被検眼の光伝達関数を測定するための
光伝達関数測定系とを有することによつて構成さ
れる。
また、本発明の実施態様の一つは、前記ターゲ
ツト投影系が、測定ターゲツト像を光軸を中心に
回転させるための手段を包含して構成される。
ツト投影系が、測定ターゲツト像を光軸を中心に
回転させるための手段を包含して構成される。
本発明の他の実施態様は、前記光伝達関数と正
常眼の光伝達関数とを比較するための比較手段を
包含して構成される。
常眼の光伝達関数とを比較するための比較手段を
包含して構成される。
以下に本発明の実施例である眼検査装置を図に
基いて説明する。第１実施例の眼検査装置は、第
１図のブロツク図に示すように、光伝達関数測定
用の標板を被検眼Ｅの眼底ERに投影する投影光
学系、及び眼底ERにおける標板像の結像状態を
検出する測定光学系を包含する光学装置２を包含
し、該測定光学系によつて検出された標板像の結
像状態は撮像管により映像信号に変えられて出力
される。
基いて説明する。第１実施例の眼検査装置は、第
１図のブロツク図に示すように、光伝達関数測定
用の標板を被検眼Ｅの眼底ERに投影する投影光
学系、及び眼底ERにおける標板像の結像状態を
検出する測定光学系を包含する光学装置２を包含
し、該測定光学系によつて検出された標板像の結
像状態は撮像管により映像信号に変えられて出力
される。
光学装置２はモニタTV４に接続されてこれに
映像信号を出力し、モニタTV４は眼底ERにおけ
る標板像及び後述の測定結果を表示する。
映像信号を出力し、モニタTV４は眼底ERにおけ
る標板像及び後述の測定結果を表示する。
光学装置２の出力が入力される電気系は、光学
装置２からの映像信号により光伝達関数を計算し
て被検眼光学系の異常・正常を判定しかつ屈折度
等を算出する演算回路８と、演算回路８に接続さ
れ、映像信号を一時的に記憶する第１メモリー１
０と、同じく演算回路に接続され、正常眼の光伝
達関数を記憶する第２メモリー１２と、光学装置
２、第１メモリー１０及び演算回路８に接続さ
れ、映像信号を一時的に記憶する第１メモリー１
０と、光学装置２、第１メモリー１０及び演算回
路８に接続された第１インタフエイス１４と、光
学装置２及び演算回路８に接続された第２インタ
フエイス１６と、演算回路８に接続されて演算回
路８の出力をプリント信号に変換する第３インタ
フエイス１８とを有する。
装置２からの映像信号により光伝達関数を計算し
て被検眼光学系の異常・正常を判定しかつ屈折度
等を算出する演算回路８と、演算回路８に接続さ
れ、映像信号を一時的に記憶する第１メモリー１
０と、同じく演算回路に接続され、正常眼の光伝
達関数を記憶する第２メモリー１２と、光学装置
２、第１メモリー１０及び演算回路８に接続さ
れ、映像信号を一時的に記憶する第１メモリー１
０と、光学装置２、第１メモリー１０及び演算回
路８に接続された第１インタフエイス１４と、光
学装置２及び演算回路８に接続された第２インタ
フエイス１６と、演算回路８に接続されて演算回
路８の出力をプリント信号に変換する第３インタ
フエイス１８とを有する。
測定結果をプリント出力するプリンタ２０は第
３インタフエイスに接続される。
３インタフエイスに接続される。
上記構成において、投影光学系によつて眼底
ERに形成された標板像は、測定光学系によつて
撮像管上に投影されて映像信号に変換される。映
像信号はモニタTV４に入力され、モニタTV４
が被検眼眼底の標板像を表示する。一方、映像信
号は、第１インタフエイス１４を介して第１メモ
リー１０に入力されて記憶され、これが演算回路
８に入力される。演算回路８は映像信号から光伝
達関数を演算するとともに、算出した被検眼の光
伝達関数と第２メモリー１２に記憶されている正
常眼の光伝達関数を比較して被検眼の眼光学系の
異常・正常を判別し、これらの結果をモニタTV
４に表示しまたプリンタ２０によりプリント出力
する。
ERに形成された標板像は、測定光学系によつて
撮像管上に投影されて映像信号に変換される。映
像信号はモニタTV４に入力され、モニタTV４
が被検眼眼底の標板像を表示する。一方、映像信
号は、第１インタフエイス１４を介して第１メモ
リー１０に入力されて記憶され、これが演算回路
８に入力される。演算回路８は映像信号から光伝
達関数を演算するとともに、算出した被検眼の光
伝達関数と第２メモリー１２に記憶されている正
常眼の光伝達関数を比較して被検眼の眼光学系の
異常・正常を判別し、これらの結果をモニタTV
４に表示しまたプリンタ２０によりプリント出力
する。
また、演算回路８には眼屈折度の情報が第２イ
ンタフエイス１６を介して入力され、被検眼の球
面度数、乱視軸、乱視度数を演算し、同様にモニ
タTV４に表示しまたプリンタ２０によりプリン
ト出力する。
ンタフエイス１６を介して入力され、被検眼の球
面度数、乱視軸、乱視度数を演算し、同様にモニ
タTV４に表示しまたプリンタ２０によりプリン
ト出力する。
光学装置２は、第２図の光学図に示すように、
投影光学系３０と、測定光学系３２と、注視光学
系３４を包含する。投影光学系３０は、光源４０
と、コンデンサーレンズ４２と、コンデンサーレ
ンズ４２の前方（被検眼Ｅの側）に斜設されて注
視光学系３４の光源光束となる可視光束を取出す
赤外透過ミラー４８と、標板５０と、投影レンズ
５２と、投影光学系３０の光軸５３を直角に屈折
させるペンタプリズム５４と、光軸５３から離れ
た位置に矩形開口５６を有する絞り板５８とを包
含する。絞り板５８は投影レンズ５２に関して光
源４０と共役となるように配置される。
投影光学系３０と、測定光学系３２と、注視光学
系３４を包含する。投影光学系３０は、光源４０
と、コンデンサーレンズ４２と、コンデンサーレ
ンズ４２の前方（被検眼Ｅの側）に斜設されて注
視光学系３４の光源光束となる可視光束を取出す
赤外透過ミラー４８と、標板５０と、投影レンズ
５２と、投影光学系３０の光軸５３を直角に屈折
させるペンタプリズム５４と、光軸５３から離れ
た位置に矩形開口５６を有する絞り板５８とを包
含する。絞り板５８は投影レンズ５２に関して光
源４０と共役となるように配置される。
投影光学系３０は、さらに測定光学系３２の光
軸６０上に配置され、光軸６０に一致した軸線を
有する貫通口６２を設けた直角プリズム６４と、
イメージローテータ６６と、対物レンズ６８とを
包含し、絞り板５８は対物レンズ６８に関し被検
眼瞳と共役な位置に配置される。さらに、標板５
０は投影レンズ５２及び対物レンズ６８に関し被
検眼眼底ERと共役な位置に位置決めされる。
軸６０上に配置され、光軸６０に一致した軸線を
有する貫通口６２を設けた直角プリズム６４と、
イメージローテータ６６と、対物レンズ６８とを
包含し、絞り板５８は対物レンズ６８に関し被検
眼瞳と共役な位置に配置される。さらに、標板５
０は投影レンズ５２及び対物レンズ６８に関し被
検眼眼底ERと共役な位置に位置決めされる。
標板５０は、第３図に示すように、スリツト板
７０と、この被検眼Ｅ側に配置されたプリズム板
７２とを隣接させて構成される。スリツト板７０
は、放射方向の屈折度測定用スリツト７４と、こ
れと直交する方向の乱視軸測定用スリツト７６
と、放射方向の境界線７７により赤外光透過部と
非透過部に分割した光伝達関数測定用パターン７
８とからなる。プリズム板７２は、赤外線透過性
の板部材８１上に屈折度測定用スリツト７４及び
乱視軸測定用スリツト７６を透過した光束の一部
を第３図における水平方向に屈折させる４個のプ
リズム８３を取付けて構成される。
７０と、この被検眼Ｅ側に配置されたプリズム板
７２とを隣接させて構成される。スリツト板７０
は、放射方向の屈折度測定用スリツト７４と、こ
れと直交する方向の乱視軸測定用スリツト７６
と、放射方向の境界線７７により赤外光透過部と
非透過部に分割した光伝達関数測定用パターン７
８とからなる。プリズム板７２は、赤外線透過性
の板部材８１上に屈折度測定用スリツト７４及び
乱視軸測定用スリツト７６を透過した光束の一部
を第３図における水平方向に屈折させる４個のプ
リズム８３を取付けて構成される。
上述の投影光学系３０において、標板投影光束
は被検眼瞳EPの周辺部５６を通過して眼底ERに
到達し、投影光束が乱視のない被検眼眼底ERに
合焦している時にはスリツト板７０と同一のパタ
ーンが結像し、合焦していないときには全体がボ
ケると同時に屈折度測定用スリツト７４の像のそ
れぞれが２分割され、かつ２分割された部分がス
リツト方向と直交する方向に変位して結像する。
は被検眼瞳EPの周辺部５６を通過して眼底ERに
到達し、投影光束が乱視のない被検眼眼底ERに
合焦している時にはスリツト板７０と同一のパタ
ーンが結像し、合焦していないときには全体がボ
ケると同時に屈折度測定用スリツト７４の像のそ
れぞれが２分割され、かつ２分割された部分がス
リツト方向と直交する方向に変位して結像する。
一方、乱視のある被検眼であつて、乱視軸測定
用スリツト７６の眼底ERにおけるスリツト方向
と乱視軸が一致していない時には、乱視軸測定用
スリツト７６の像のそれぞれが２分割され、かつ
２分割された部分がスリツト方向と直交する方向
に変位して結像する。また、乱視軸測定用スリツ
ト７６の眼底ERにおけるスリツト方向と乱視軸
が一致している時には、眼底ERにおける乱視軸
測定用スリツト７６のスリツト像は一直線とな
る。
用スリツト７６の眼底ERにおけるスリツト方向
と乱視軸が一致していない時には、乱視軸測定用
スリツト７６の像のそれぞれが２分割され、かつ
２分割された部分がスリツト方向と直交する方向
に変位して結像する。また、乱視軸測定用スリツ
ト７６の眼底ERにおけるスリツト方向と乱視軸
が一致している時には、眼底ERにおける乱視軸
測定用スリツト７６のスリツト像は一直線とな
る。
イメージローテータ６６を回転させると、眼底
ER上のスリツト板７０の像が眼光軸を中心に回
転し、乱視軸測定用スリツト７６の方向及び光伝
達関数測定用パターン７８の境界線７７の方向を
乱視軸に合致させることができる。
ER上のスリツト板７０の像が眼光軸を中心に回
転し、乱視軸測定用スリツト７６の方向及び光伝
達関数測定用パターン７８の境界線７７の方向を
乱視軸に合致させることができる。
測定光学系３２は、上述の対物レンズ６８と、
イメージローテータ６６と、２つの結像レンズ８
０，８２から構成され、結像レンズ８０は投影レ
ンズ５２と一体となつてそれぞれの光軸上を移動
する。結像レンズ８２の後方には撮像管８４が配
置され、眼底ERと撮像管８４の受光面８６は対
物レンズ６８と結像レンズ８０，８２に関し共役
となるように配置される。
イメージローテータ６６と、２つの結像レンズ８
０，８２から構成され、結像レンズ８０は投影レ
ンズ５２と一体となつてそれぞれの光軸上を移動
する。結像レンズ８２の後方には撮像管８４が配
置され、眼底ERと撮像管８４の受光面８６は対
物レンズ６８と結像レンズ８０，８２に関し共役
となるように配置される。
上述の測定光学系３２において、眼底ERにス
リツト板７０の像を結像させて反射された測定光
束は、直角プリズム６４の貫通口６２を通過して
受光面８６に到達する。ここで、イメージローテ
ータ６６の回転により眼底ERにおけるスリツト
板像が回転するが、測定光束がイメージローテー
タ６６によつて逆方向に同じ角度だけ回転させら
れるから、受光面８６上には常に一定方向を向い
たスリツト板像が結像する。
リツト板７０の像を結像させて反射された測定光
束は、直角プリズム６４の貫通口６２を通過して
受光面８６に到達する。ここで、イメージローテ
ータ６６の回転により眼底ERにおけるスリツト
板像が回転するが、測定光束がイメージローテー
タ６６によつて逆方向に同じ角度だけ回転させら
れるから、受光面８６上には常に一定方向を向い
たスリツト板像が結像する。
注視光学系３４は、赤外透過ミラー４８の反射
光束を反射するミラー９０と、注視ターゲツト９
２と、投影レンズ９４と、２つのミラー９６，９
８と、イメージローテータ６６と対物レンズ６８
との間に斜設された赤外透過可視反射のミラー９
９から構成される。
光束を反射するミラー９０と、注視ターゲツト９
２と、投影レンズ９４と、２つのミラー９６，９
８と、イメージローテータ６６と対物レンズ６８
との間に斜設された赤外透過可視反射のミラー９
９から構成される。
注視ターゲツト９２は、第４図に示すように、
中心点９２′とリング９２″だけを透過部として構
成され、被検眼を雲霧する目的で対物レンズ６８
と投影レンズ９４に関し眼底ERと共役な位置よ
りもプラスデイオプトリー側に配置される。
中心点９２′とリング９２″だけを透過部として構
成され、被検眼を雲霧する目的で対物レンズ６８
と投影レンズ９４に関し眼底ERと共役な位置よ
りもプラスデイオプトリー側に配置される。
次に、上述した光学装置２における測定手順に
ついて説明する。最初に、モニタTV上のスリツ
ト像を観察して、乱視軸測定用スリツト像が一直
線となるまでイメージローテータ６６を回転させ
て眼底ER上のスリツト像を回転させる。この操
作により光伝達関数測定用パターン７８の境界線
７７の方向が一方の乱視軸に一致させられる。
ついて説明する。最初に、モニタTV上のスリツ
ト像を観察して、乱視軸測定用スリツト像が一直
線となるまでイメージローテータ６６を回転させ
て眼底ER上のスリツト像を回転させる。この操
作により光伝達関数測定用パターン７８の境界線
７７の方向が一方の乱視軸に一致させられる。
続いて、屈折度測定用スリツト像が一直線とな
るまで投影レンズ５２を光軸５３に沿つて移動さ
せる。この操作によりスリツト板７０の像が眼底
ER上に合焦して結像させられる。
るまで投影レンズ５２を光軸５３に沿つて移動さ
せる。この操作によりスリツト板７０の像が眼底
ER上に合焦して結像させられる。
次に、イメージローテータ６６を回転させて眼
底ER上のスリツト板７０の像を90°回転させ、さ
らに屈折度測定用スリツト像が一直線となるまで
投影レンズ５２を光軸５３に沿つて移動させる。
この操作により光伝達関数測定用パターン７８の
境界線７７の方向がもう一方の乱視軸の方向に一
致させられ、かつスリツト板７０の像が眼底ER
上に合焦させられる。これまでの操作による投影
レンズ５２の位置及びイメージローテータ６６の
回転角度を電気的に検出し、この検出信号に基づ
き球面度数、乱視度数及び乱視軸角度を算出する
ことができることは当業者の知るところであるか
ら、その説明を省略する。
底ER上のスリツト板７０の像を90°回転させ、さ
らに屈折度測定用スリツト像が一直線となるまで
投影レンズ５２を光軸５３に沿つて移動させる。
この操作により光伝達関数測定用パターン７８の
境界線７７の方向がもう一方の乱視軸の方向に一
致させられ、かつスリツト板７０の像が眼底ER
上に合焦させられる。これまでの操作による投影
レンズ５２の位置及びイメージローテータ６６の
回転角度を電気的に検出し、この検出信号に基づ
き球面度数、乱視度数及び乱視軸角度を算出する
ことができることは当業者の知るところであるか
ら、その説明を省略する。
続いて、前記した光伝達関数測定用パターン７
８の境界線７７の方向が一方の乱視軸に一致し、
かつスリツト板７０の像が眼底ER上に合焦させ
られた状態を保持した状態で、光伝達関数測定用
パターン７８の眼底像の映像信号から以下に示す
方法により被検眼光学系の異常を検出する。
８の境界線７７の方向が一方の乱視軸に一致し、
かつスリツト板７０の像が眼底ER上に合焦させ
られた状態を保持した状態で、光伝達関数測定用
パターン７８の眼底像の映像信号から以下に示す
方法により被検眼光学系の異常を検出する。
スリツト板７０は第５図Ａに示すように下部に
光伝達関数測定用パターン７８を有し、この境界
線７７のエツジ関数０（ｘ）は第５図Ｂに示すよ
うに、光伝達関数測定用パターン７８の透過部及
び不透過部を表わす段階関数であつて、 ０（ｘ）＝１ ｘ＜x1 ０（ｘ）＝０ ｘ＞x1 ……(1) である。
光伝達関数測定用パターン７８を有し、この境界
線７７のエツジ関数０（ｘ）は第５図Ｂに示すよ
うに、光伝達関数測定用パターン７８の透過部及
び不透過部を表わす段階関数であつて、 ０（ｘ）＝１ ｘ＜x1 ０（ｘ）＝０ ｘ＞x1 ……(1) である。
一方、被検眼光学系を通過した光伝達関数測定
用パターン７８の眼底ER上の結像は、第５図Ｃ
に示すように境界線７７が不鮮明になり、第５図
Ｄに示すようなエツジ関数ｅ（ｘ）となる。エツ
ジ関数ｅ（ｘ）は撮像関８４からの複数の走査線
での映像信号を平均化することによつて求めるこ
とができる。被検眼光学系の線像強度分布関数ｈ
（ｘ）は、第５図Ｅ及びＦに示すように、エツジ
関数ｅ（ｘ）よりこれを微分することにより求め
られるから、 ｈ（ｘ）＝de（ｘ）／dx ……(2) と表わされ、また ｅ（ｘ）＝Ｏ（ｘ）＊ｈ（ｘ） の関係がある。ここで、＊はコンポリユーシヨン
である。このようにして求めた線像強度分布関数
ｈ（ｘ）は、第５図Ｇ及びＦに示すように、フー
リエ変換されさらにその平方をとることによつ
て、被検眼光学系の空間周波数Ｕにおけるスペク
トル強度Ｈ（ｕ）を示す光伝達関数Ｈ（ｕ）を求め
ることができる。なお、被検眼以外の光学系及び
処理系による影響は小さいから省略できる。
用パターン７８の眼底ER上の結像は、第５図Ｃ
に示すように境界線７７が不鮮明になり、第５図
Ｄに示すようなエツジ関数ｅ（ｘ）となる。エツ
ジ関数ｅ（ｘ）は撮像関８４からの複数の走査線
での映像信号を平均化することによつて求めるこ
とができる。被検眼光学系の線像強度分布関数ｈ
（ｘ）は、第５図Ｅ及びＦに示すように、エツジ
関数ｅ（ｘ）よりこれを微分することにより求め
られるから、 ｈ（ｘ）＝de（ｘ）／dx ……(2) と表わされ、また ｅ（ｘ）＝Ｏ（ｘ）＊ｈ（ｘ） の関係がある。ここで、＊はコンポリユーシヨン
である。このようにして求めた線像強度分布関数
ｈ（ｘ）は、第５図Ｇ及びＦに示すように、フー
リエ変換されさらにその平方をとることによつ
て、被検眼光学系の空間周波数Ｕにおけるスペク
トル強度Ｈ（ｕ）を示す光伝達関数Ｈ（ｕ）を求め
ることができる。なお、被検眼以外の光学系及び
処理系による影響は小さいから省略できる。
光伝達関数Ｈ（ｕ）は、被検眼光学系に混濁等
がある場合には、光伝達関数測定用パターン７８
の境界線７７が不鮮明となり、高周波領域でスペ
クトル強度Ｈ（ｕ）が低下する。一方、平均的な
正常眼の光伝達関数Ho（ｕ）が第２メモリー１２
に蓄積されていて（第５図Ｉ）、特定の周波数、
例えばＵ＝faにおける｛Ho（ｕ）−Ｈ（ｕ）｝を計
算して比較し（第５図Ｊ）、これが一定値を超え
たとき、その被検眼光学系に異常があると判断し
てその結果を出力する（第５図Ｈ）。
がある場合には、光伝達関数測定用パターン７８
の境界線７７が不鮮明となり、高周波領域でスペ
クトル強度Ｈ（ｕ）が低下する。一方、平均的な
正常眼の光伝達関数Ho（ｕ）が第２メモリー１２
に蓄積されていて（第５図Ｉ）、特定の周波数、
例えばＵ＝faにおける｛Ho（ｕ）−Ｈ（ｕ）｝を計
算して比較し（第５図Ｊ）、これが一定値を超え
たとき、その被検眼光学系に異常があると判断し
てその結果を出力する（第５図Ｈ）。
本発明の第２実施例は、被検眼の球面度数、乱
視度及び乱視軸の測定、ならびに光伝達関数測定
用パターンの境界線の方向位置の調節を自動的に
行うように構成される。すなわち、２分割されて
スリツトと直交する方向に隔離した２つの分割ス
リツト像の間隔を撮像管８４からの映像信号に基
づき検出し、この検出信号により間隔が０になる
まで測定ターゲツトを自動的に移動させ、この移
動量からこの径線方向の屈折度を求める。この屈
折度の測定を３つの径線方向に関して行い、これ
らの測定結果から球面度数、乱視度及び乱視軸を
演算する。さらにこの演算結果にもとづいて光伝
達関数測定用パターンの境界線を乱視軸に自動的
に一致させるように構成される。
視度及び乱視軸の測定、ならびに光伝達関数測定
用パターンの境界線の方向位置の調節を自動的に
行うように構成される。すなわち、２分割されて
スリツトと直交する方向に隔離した２つの分割ス
リツト像の間隔を撮像管８４からの映像信号に基
づき検出し、この検出信号により間隔が０になる
まで測定ターゲツトを自動的に移動させ、この移
動量からこの径線方向の屈折度を求める。この屈
折度の測定を３つの径線方向に関して行い、これ
らの測定結果から球面度数、乱視度及び乱視軸を
演算する。さらにこの演算結果にもとづいて光伝
達関数測定用パターンの境界線を乱視軸に自動的
に一致させるように構成される。
本発明の第３実施例は、第１実施例における光
伝達関数測定用パターンを、前記境界線に一致し
た位置に設けたスリツトにより構成する。この実
施例においては、スリツトの光伝達関数測定用パ
ターンの眼底ERにおける像からスリツト巾を考
慮して直接線像強度分布関数Ｈ（ｘ）を求めるこ
とができる。
伝達関数測定用パターンを、前記境界線に一致し
た位置に設けたスリツトにより構成する。この実
施例においては、スリツトの光伝達関数測定用パ
ターンの眼底ERにおける像からスリツト巾を考
慮して直接線像強度分布関数Ｈ（ｘ）を求めるこ
とができる。
本発明の第４実施例は、眼底ER上の光伝達関
数測定用パターンの像を２次元アレイセンサー、
１次元アレイセンサー、メカニカルスキヤンによ
るセンサー等の光電変換装置上に投影してエツジ
関数ｅ（ｘ）を求めるように構成される。
数測定用パターンの像を２次元アレイセンサー、
１次元アレイセンサー、メカニカルスキヤンによ
るセンサー等の光電変換装置上に投影してエツジ
関数ｅ（ｘ）を求めるように構成される。
本発明の第５実施例は、第１実施例のように光
伝達関数測定専用のパターンを設けず、被検眼の
屈折度及び乱視軸を測定するためのターゲツト像
を光伝達関数の測定にも使用するように構成され
る。
伝達関数測定専用のパターンを設けず、被検眼の
屈折度及び乱視軸を測定するためのターゲツト像
を光伝達関数の測定にも使用するように構成され
る。
本発明の第６実施例は、光伝達関数測定用のパ
ターンとして、第６図に示めすように、連続的に
周波数の変化する矩形チヤートあるいは正弦波チ
ヤートで構成する。このチヤートを用いると映像
信号から周波数解析の手段を経ずに、眼球光学系
の各周波での周波数伝達関数を求めることができ
る。
ターンとして、第６図に示めすように、連続的に
周波数の変化する矩形チヤートあるいは正弦波チ
ヤートで構成する。このチヤートを用いると映像
信号から周波数解析の手段を経ずに、眼球光学系
の各周波での周波数伝達関数を求めることができ
る。
本発明は、測定ターゲツト像の合焦手段の作用
により被検眼の屈折度を矯正しかつ測定ターゲツ
ト像の合焦をなした状態で被検眼光学系の光伝達
関数を測定することができ、被検眼光学系のいず
れの位置における混濁、白内障等も正確に検出す
ることができる効果を有する。本発明はさらに、
上記合焦手段の調整量から被検眼の屈折度を容易
に測定することができる効果を有する。
により被検眼の屈折度を矯正しかつ測定ターゲツ
ト像の合焦をなした状態で被検眼光学系の光伝達
関数を測定することができ、被検眼光学系のいず
れの位置における混濁、白内障等も正確に検出す
ることができる効果を有する。本発明はさらに、
上記合焦手段の調整量から被検眼の屈折度を容易
に測定することができる効果を有する。
第１図は本発明の実施例である眼検査装置のブ
ロツク図であり、第２図は眼屈折装置の光学図で
あり、第３図は標板の分解斜視図、第４図は注視
ターゲツトの斜視図、第５図は光伝達関数の演算
方法の説明図であり、第６図は光伝達関数測定用
パターンの一実施例を示す模式図である。 Ｅ……被検眼、ER……被検眼眼底、EP……被
検眼瞳、２……光学装置、４……モニタTV、８
……演算回路、１０……第１メモリー、１２……
第２メモリー、３０……投影光学系、３２……測
定光学系、３４……注視光学系、５０……標板、
５８……絞り板、６６……イメージローテータ、
７０……スリツト板、７２……プリズム板、７４
……屈折度測定用スリツト、７６……乱視軸測定
用スリツト、７８……光伝達関数測定用パター
ン。
ロツク図であり、第２図は眼屈折装置の光学図で
あり、第３図は標板の分解斜視図、第４図は注視
ターゲツトの斜視図、第５図は光伝達関数の演算
方法の説明図であり、第６図は光伝達関数測定用
パターンの一実施例を示す模式図である。 Ｅ……被検眼、ER……被検眼眼底、EP……被
検眼瞳、２……光学装置、４……モニタTV、８
……演算回路、１０……第１メモリー、１２……
第２メモリー、３０……投影光学系、３２……測
定光学系、３４……注視光学系、５０……標板、
５８……絞り板、６６……イメージローテータ、
７０……スリツト板、７２……プリズム板、７４
……屈折度測定用スリツト、７６……乱視軸測定
用スリツト、７８……光伝達関数測定用パター
ン。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 被検眼眼底へ測定ターゲツト像を投影するた
めのターゲツト投影系と、眼底上の測定ターゲツ
ト像の合焦状態を検出して測定ターゲツト像を眼
底上に合焦するための合焦手段と、眼底上に前記
合焦手段により合焦された測定ターゲツト像のコ
ントラストを検出して被検眼の光伝達関数を測定
するための光伝達関数測定系とを有することを特
徴とする眼検査装置。 ２ 前記ターゲツト投影系は、測定ターゲツト像
を光軸を中心に回転させるための手段を包含する
特許請求の範囲第１項に記載の眼検査装置。 ３ 前記光伝達関数測定系は、測定された光伝達
関数と正常眼の光伝達関数とを比較するための比
較手段を包含する特許請求の範囲第１項に記載の
眼検査装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59206774A JPS6185919A (ja) | 1984-10-02 | 1984-10-02 | 眼検査装置 |
| EP85112367A EP0177005A3 (en) | 1984-10-02 | 1985-09-30 | Eye examining apparatus |
| US06/783,238 US4676612A (en) | 1984-10-02 | 1985-10-02 | Eye examining apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59206774A JPS6185919A (ja) | 1984-10-02 | 1984-10-02 | 眼検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6185919A JPS6185919A (ja) | 1986-05-01 |
| JPH0417048B2 true JPH0417048B2 (ja) | 1992-03-25 |
Family
ID=16528863
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59206774A Granted JPS6185919A (ja) | 1984-10-02 | 1984-10-02 | 眼検査装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4676612A (ja) |
| EP (1) | EP0177005A3 (ja) |
| JP (1) | JPS6185919A (ja) |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3689757T2 (de) * | 1985-01-22 | 1994-11-03 | Topcon Corp | Gerät zur Messung der Brechkraft der Augen. |
| EP0349228B1 (en) * | 1988-06-27 | 1995-03-01 | Ryusyo Industrial Co., Ltd. | Apparatus for measuring refractive power of eye |
| JPH02234738A (ja) * | 1989-03-08 | 1990-09-17 | Agency Of Ind Science & Technol | 光学系の屈折力の測定装置 |
| US5382987A (en) * | 1992-05-22 | 1995-01-17 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Device for ERG spectral perimetry |
| JPH08299269A (ja) * | 1995-05-10 | 1996-11-19 | Nikon Corp | 検影型他覚眼屈折力測定装置 |
| JP4598261B2 (ja) * | 2000-11-16 | 2010-12-15 | 株式会社トプコン | 眼光学特性測定装置 |
| JP5173569B2 (ja) * | 2008-05-09 | 2013-04-03 | キヤノン株式会社 | 眼科装置 |
| CN102869299A (zh) * | 2010-05-04 | 2013-01-09 | 爱克透镜国际公司 | 角膜地形图仪 |
| JP5643078B2 (ja) * | 2010-12-27 | 2014-12-17 | 株式会社ニデック | 眼屈折力測定装置 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4277150A (en) * | 1977-08-24 | 1981-07-07 | Tokyo Kogaku Kikai Kabushiki Kaisha | Eye refractmeter |
| US4162828A (en) * | 1977-09-30 | 1979-07-31 | Trachtman Joseph N | Apparatus and methods for directly measuring the refraction of the eye |
| JPS5566347A (en) * | 1978-11-13 | 1980-05-19 | Tokyo Optical | Infrared ray refractometer |
| JPS55155631A (en) * | 1979-05-21 | 1980-12-04 | Tokyo Optical | Projector for target in infrared eye refractometer |
| JPS55160538A (en) * | 1979-06-02 | 1980-12-13 | Nippon Chemical Ind | Objective eye refraction device |
| AU553164B2 (en) * | 1980-10-31 | 1986-07-03 | Allergan Humphrey | Objective refractor for the eye |
-
1984
- 1984-10-02 JP JP59206774A patent/JPS6185919A/ja active Granted
-
1985
- 1985-09-30 EP EP85112367A patent/EP0177005A3/en not_active Withdrawn
- 1985-10-02 US US06/783,238 patent/US4676612A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4676612A (en) | 1987-06-30 |
| EP0177005A2 (en) | 1986-04-09 |
| EP0177005A3 (en) | 1988-02-03 |
| JPS6185919A (ja) | 1986-05-01 |
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| JPH0350532B2 (ja) | ||
| JPH0588131B2 (ja) |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |