JPH04168366A - Lsi用プローブ - Google Patents
Lsi用プローブInfo
- Publication number
- JPH04168366A JPH04168366A JP2296061A JP29606190A JPH04168366A JP H04168366 A JPH04168366 A JP H04168366A JP 2296061 A JP2296061 A JP 2296061A JP 29606190 A JP29606190 A JP 29606190A JP H04168366 A JPH04168366 A JP H04168366A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- terminal
- terminals
- signal
- lsi
- input
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract description 23
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はLSI用プローブに関し、特にLSIの任意の
端子の信号を選択し出力するLSI用プローブに関する
。
端子の信号を選択し出力するLSI用プローブに関する
。
従来、LSI用プローブとして特に定まった形式のもの
はな(、各端子信号の観測方法は、第3図の外観図に示
すように、被観測LSI8の端子に直接、あるいはLS
IソケットやLSIクリップ等を介して、対応する端子
に測定器10に接続している通常のプローブ11を接触
させることによって行うものである。
はな(、各端子信号の観測方法は、第3図の外観図に示
すように、被観測LSI8の端子に直接、あるいはLS
IソケットやLSIクリップ等を介して、対応する端子
に測定器10に接続している通常のプローブ11を接触
させることによって行うものである。
上述した従来の通常のプローブを用いたLSI端子信号
の観測方法では、LSIの端子数が多くなるに従って端
子間隔が狭くなり、目的の端子を探し出すため作業者が
眼を酷使したり、複数の端子に対し順に接続を替えてい
くとプローブがうまく接触できない端子が生ずる等、作
業性が悪くなるという問題点があった。
の観測方法では、LSIの端子数が多くなるに従って端
子間隔が狭くなり、目的の端子を探し出すため作業者が
眼を酷使したり、複数の端子に対し順に接続を替えてい
くとプローブがうまく接触できない端子が生ずる等、作
業性が悪くなるという問題点があった。
本発明の目的は、各LSI端子との接続を確実にし、し
かもプローブの接続替えを行わずに任意の端子の信号の
観測を可能とする作業性の良いLSI用プローブを提供
することにある。
かもプローブの接続替えを行わずに任意の端子の信号の
観測を可能とする作業性の良いLSI用プローブを提供
することにある。
本発明のLSI用プローブは、被観測LSIの少なくと
も一部の端子と接続し各端子の信号状態を入力する複数
の入力端子と、前記複数の入力端子から入力した複数の
信号の中の1つの信号を選択するための選択信号を入力
する選択信号端子と、前記選択信号端子に入力する選択
信号を受信し前記複数の入力端子から入力した複数の信
号の中の1つの信号を選択し出力するセレクタ回路と、
前記セレクタ回路の出力を外部に出力する出力端子とを
備える構成である。
も一部の端子と接続し各端子の信号状態を入力する複数
の入力端子と、前記複数の入力端子から入力した複数の
信号の中の1つの信号を選択するための選択信号を入力
する選択信号端子と、前記選択信号端子に入力する選択
信号を受信し前記複数の入力端子から入力した複数の信
号の中の1つの信号を選択し出力するセレクタ回路と、
前記セレクタ回路の出力を外部に出力する出力端子とを
備える構成である。
次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例の斜視図である。なお、一部
の端子については透視図として発明の理解を助ける。
の端子については透視図として発明の理解を助ける。
プローブ本体1は、上面に68本の入力端子2と、7本
の選択信号端子3と、1本の出力端子4と、セレクタ回
路5とを備えている。68本の入力端子2は、そのまま
プローブ本体1の下面まで貫通している。セレクタ回路
5は、プローブ本体1に埋め込まれたLSIチップであ
り、入力端子2と選択信号端子3と出力端子4とに図示
されていないリード線で電気的に接続している。セレク
タ回路5は、68本の入力端子2の信号を入力し、7本
の選択信号端子3がバイナリで示す番号の入力信号を出
力端子4に出力する。
の選択信号端子3と、1本の出力端子4と、セレクタ回
路5とを備えている。68本の入力端子2は、そのまま
プローブ本体1の下面まで貫通している。セレクタ回路
5は、プローブ本体1に埋め込まれたLSIチップであ
り、入力端子2と選択信号端子3と出力端子4とに図示
されていないリード線で電気的に接続している。セレク
タ回路5は、68本の入力端子2の信号を入力し、7本
の選択信号端子3がバイナリで示す番号の入力信号を出
力端子4に出力する。
第2図は本発明の一実施例の使用法を示す外観図である
。
。
プローブ本体1の外見および使用法は、従来のLSIソ
ケットとほぼ同様である。プローブ本体1は、基板7に
実装し、被観測LSI8はプローブ本体1の上面に実装
する。選択信号端子と出力端子は、ケーブル9によって
測定器10に接続している。測定器10から観測したい
端子番号を、プローブ本体1の選択信号端子に出力する
ことにより、プローブ本体1は、出力端子4に指定され
た端子の信号を出力する。
ケットとほぼ同様である。プローブ本体1は、基板7に
実装し、被観測LSI8はプローブ本体1の上面に実装
する。選択信号端子と出力端子は、ケーブル9によって
測定器10に接続している。測定器10から観測したい
端子番号を、プローブ本体1の選択信号端子に出力する
ことにより、プローブ本体1は、出力端子4に指定され
た端子の信号を出力する。
なお、本実施例では7本の選択信号端子3を設け、7ビ
ツトの並列バイナリコードで端子番号を入力しているが
、これを1本の選択信号とし7ビツトの直列バイナリコ
ードで端子番号を入力するように変更することも、セレ
クタ回路の機能を一部変更することで対応可能である。
ツトの並列バイナリコードで端子番号を入力しているが
、これを1本の選択信号とし7ビツトの直列バイナリコ
ードで端子番号を入力するように変更することも、セレ
クタ回路の機能を一部変更することで対応可能である。
以上説明したように本発明は、被観測LSIの少なくと
も一部の端子と接続し各端子の信号状態を入力する複数
の入力端子と、複数の入力端子から入力した複数の信号
の中の1つの信号を選択するための選択信号を入力する
選択信号端子と、選択信号端子1こ入力する選択信号を
受信し前記複数の入力端子から入力した複数の信号の中
の1つの信号を選択し出力するセレクタ回路と、セレク
タ回路の出力を外部に出力する出力端子とを備えること
により、各LSI端子との接続を確実にし、しかもプロ
ーブの接続替えを行わずに任意の端子の信号の観測を可
能とするので、作業性を著しく改善できるという効果が
ある。
も一部の端子と接続し各端子の信号状態を入力する複数
の入力端子と、複数の入力端子から入力した複数の信号
の中の1つの信号を選択するための選択信号を入力する
選択信号端子と、選択信号端子1こ入力する選択信号を
受信し前記複数の入力端子から入力した複数の信号の中
の1つの信号を選択し出力するセレクタ回路と、セレク
タ回路の出力を外部に出力する出力端子とを備えること
により、各LSI端子との接続を確実にし、しかもプロ
ーブの接続替えを行わずに任意の端子の信号の観測を可
能とするので、作業性を著しく改善できるという効果が
ある。
第1図は本発明の一実施例の斜視図、第2図は本発明の
一実施例の使用例を示す外観図、第3図は従来の信号観
測の方法を示す外観図である。 1・・・プローブ本体、2・・・入力端子、3・・・選
択信号端子、4・・・出力端子、5・・・セレクタ回路
、7・・・基板、8・・・被観測LS119・・・ケー
ブル、10・・・測定器。
一実施例の使用例を示す外観図、第3図は従来の信号観
測の方法を示す外観図である。 1・・・プローブ本体、2・・・入力端子、3・・・選
択信号端子、4・・・出力端子、5・・・セレクタ回路
、7・・・基板、8・・・被観測LS119・・・ケー
ブル、10・・・測定器。
Claims (1)
- 被観測LSIの少なくとも一部の端子と接続し各端子の
信号状態を入力する複数の入力端子と、前記複数の入力
端子から入力した複数の信号の中の1つの信号を選択す
るための選択信号を入力する選択信号端子と、前記選択
信号端子に入力する選択信号を受信し前記複数の入力端
子から入力した複数の信号の中の1つの信号を選択し出
力するセレクタ回路と、前記セレクタ回路の出力を外部
に出力する出力端子とを備えることを特徴とするLSI
用プローブ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2296061A JPH04168366A (ja) | 1990-10-31 | 1990-10-31 | Lsi用プローブ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2296061A JPH04168366A (ja) | 1990-10-31 | 1990-10-31 | Lsi用プローブ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04168366A true JPH04168366A (ja) | 1992-06-16 |
Family
ID=17828598
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2296061A Pending JPH04168366A (ja) | 1990-10-31 | 1990-10-31 | Lsi用プローブ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04168366A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0943304A (ja) * | 1995-07-26 | 1997-02-14 | Nec Corp | 半導体試験装置 |
-
1990
- 1990-10-31 JP JP2296061A patent/JPH04168366A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0943304A (ja) * | 1995-07-26 | 1997-02-14 | Nec Corp | 半導体試験装置 |
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