JPH04151628A - 電子撮像装置の測光装置 - Google Patents
電子撮像装置の測光装置Info
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- JPH04151628A JPH04151628A JP2275311A JP27531190A JPH04151628A JP H04151628 A JPH04151628 A JP H04151628A JP 2275311 A JP2275311 A JP 2275311A JP 27531190 A JP27531190 A JP 27531190A JP H04151628 A JPH04151628 A JP H04151628A
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- JP
- Japan
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- light
- photometry
- lens
- optical axis
- pass filter
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- Pending
Links
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 24
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 9
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- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 3
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 abstract 2
- 101100115215 Caenorhabditis elegans cul-2 gene Proteins 0.000 description 9
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- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 3
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- -1 silver halide Chemical class 0.000 description 1
Landscapes
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Exposure Control For Cameras (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は電子撮像装置の測光装置に関し、レンズを通っ
た光を直接測光できるようにしたものである。
た光を直接測光できるようにしたものである。
（従来の技術）
第２図は従来の電子撮像装置の測光装置の構成例を示し
、第３図はそのストロボ使用時の動作フローチャートを
示す。通常はレンズＪを通った光は、光学的ローパスフ
ィルタ（ＬＰＦ）２にて空間周波数の高い成分が除去さ
れ、電荷結合素子（ＣＣＤイメージセンサ−）３により
、予め仮露光される。このＣＣＤの出力はプロセス部４
を経由としてマイクロコンピュータ（ＣＰＬＪ）５に入
力され、仮露光で決定されたシャッタスピード（絞り）
にてシャッター駆動１１ＦＩＩ６が制御され、レンズと
ＣＣＤとを結ぶ光軸上に配設されたシャッター７を本露
光させる。
、第３図はそのストロボ使用時の動作フローチャートを
示す。通常はレンズＪを通った光は、光学的ローパスフ
ィルタ（ＬＰＦ）２にて空間周波数の高い成分が除去さ
れ、電荷結合素子（ＣＣＤイメージセンサ−）３により
、予め仮露光される。このＣＣＤの出力はプロセス部４
を経由としてマイクロコンピュータ（ＣＰＬＪ）５に入
力され、仮露光で決定されたシャッタスピード（絞り）
にてシャッター駆動１１ＦＩＩ６が制御され、レンズと
ＣＣＤとを結ぶ光軸上に配設されたシャッター７を本露
光させる。
次にストロボ８を使用時には、シャッター７を固定（開
放）したまま（Ｓｌ）、ストロボ発光回路９からの信号
によりストロボ８を発光させ（Ｓ、）、レンズ外部の測
光素子ＩＯで横比しくＳ６）、その横比信号にもとづき
ＣＰＵ５が適正露光光量となったところで（Ｓ、のＹＥ
Ｓ）、ストロボ発光回路９からの信号によりストロボ８
の発光を停止する（Ｓ、）。
放）したまま（Ｓｌ）、ストロボ発光回路９からの信号
によりストロボ８を発光させ（Ｓ、）、レンズ外部の測
光素子ＩＯで横比しくＳ６）、その横比信号にもとづき
ＣＰＵ５が適正露光光量となったところで（Ｓ、のＹＥ
Ｓ）、ストロボ発光回路９からの信号によりストロボ８
の発光を停止する（Ｓ、）。
（発明が解決しようとするｔｌＭ）
上記従来の第２図に示す電子撮像装置の測光装置におい
ては、ＣＣＤ３において測光する場合、トリガー（凹路
）を押してから仮露光するため、必ず時間遅れが発生す
る。また、ＣＣＤ自体のラチチュードが狭いため極端に
高精度もしくは低輝度の被写体では、−度の仮露光では
正確な露出値を把握できない。
ては、ＣＣＤ３において測光する場合、トリガー（凹路
）を押してから仮露光するため、必ず時間遅れが発生す
る。また、ＣＣＤ自体のラチチュードが狭いため極端に
高精度もしくは低輝度の被写体では、−度の仮露光では
正確な露出値を把握できない。
また、ストロボ使用時には、上記ＣＣＤ露光が使えない
ため、外部素子にて測光することになるが、この場合、
次のような欠点がある。
ため、外部素子にて測光することになるが、この場合、
次のような欠点がある。
（ａ）レンズ外に測光素子があるため、レンズのズーム
倍率、変化により正確な露出値が得られない。
倍率、変化により正確な露出値が得られない。
（ｂ）レンズ変換に対応できない。
（ｃ）被写体の正確な露出値ではない。
（ｄ）被写体の近くに高反射率の物体があると誤動作し
やすい。
やすい。
これらの欠点を解決する手段として、銀塩カメラで用い
られているＴＴＬダイレクト測光方式がある。これは、
レンズを通してフィルム面に当った光の反射を測光素子
で測光する。このＴＴＬダイレクト測光方式を電子撮像
装置に応用すれば、上記欠点は解消されるが、ＣＯＤに
当った光の反射は、通常、省スペースのためＣＣＤ直前
に光学的ローパスフィルター（ＬＰＦ）２を配置するた
め、測光素子を配置するのは難しいという問題があった
。
られているＴＴＬダイレクト測光方式がある。これは、
レンズを通してフィルム面に当った光の反射を測光素子
で測光する。このＴＴＬダイレクト測光方式を電子撮像
装置に応用すれば、上記欠点は解消されるが、ＣＯＤに
当った光の反射は、通常、省スペースのためＣＣＤ直前
に光学的ローパスフィルター（ＬＰＦ）２を配置するた
め、測光素子を配置するのは難しいという問題があった
。
本発明はこのような問題点を解決し、簡単な構成でＣＣ
Ｄ面からの反射光を検出できる電子撮像装置の測光装置
を提供することを目的とする。
Ｄ面からの反射光を検出できる電子撮像装置の測光装置
を提供することを目的とする。
（課題を解決するための手段）
本発明は上記課題を解決し目的を達成するため、光の疑
解像を防止するための複屈折を利用した光学的ローパス
フィルター手段と、光を光電変換する光電変換手段と、
前記光学的ローパスフィルター手段と光電変換手段の光
軸上に配設された偏光光分離手段と、該偏光光分離手段
により光軸から分離された偏光光軸上に配設された前記
光電変換手段に入射した光量を直接に測光検出する測光
手段とを有することを特徴とする。
解像を防止するための複屈折を利用した光学的ローパス
フィルター手段と、光を光電変換する光電変換手段と、
前記光学的ローパスフィルター手段と光電変換手段の光
軸上に配設された偏光光分離手段と、該偏光光分離手段
により光軸から分離された偏光光軸上に配設された前記
光電変換手段に入射した光量を直接に測光検出する測光
手段とを有することを特徴とする。
（作 用）
本発明はレンズを通った光を偏光分離によって直接測光
できるように構成したので、外乱による影響が少なく、
また、レンズの倍率、レンズの種類に左右されることな
く、トリガーオンからの時間遅れも最小に抑えられる。
できるように構成したので、外乱による影響が少なく、
また、レンズの倍率、レンズの種類に左右されることな
く、トリガーオンからの時間遅れも最小に抑えられる。
（実施例）
第１図は本発明の一実施例の構成図を示し、２はＣＣＤ
３による疑解像を防止するための水晶ローパスフィルタ
ー（Ｌ Ｐ Ｆ）、１１は該ＬＰＦ２とＣＣＤ３の光軸
上に配設された光の偏光ビームスプリッタ−（ＰＢＳ）
、■２は同じく光軸上に配設されたｌ／４波長板であり
、測光素子ｌＯは前記ＰＢＳＩＩで偏光された光軸上に
配設され、レンズ１からＣＣＤ３を結ぶ光軸とは分離さ
れている。
３による疑解像を防止するための水晶ローパスフィルタ
ー（Ｌ Ｐ Ｆ）、１１は該ＬＰＦ２とＣＣＤ３の光軸
上に配設された光の偏光ビームスプリッタ−（ＰＢＳ）
、■２は同じく光軸上に配設されたｌ／４波長板であり
、測光素子ｌＯは前記ＰＢＳＩＩで偏光された光軸上に
配設され、レンズ１からＣＣＤ３を結ぶ光軸とは分離さ
れている。
次に上記構成の測光装置の動作について説明すると、レ
ンズ１を通った光は、ＣＣＤ３による疑解像を防止する
ための水晶ローパスフィルター（ＬＰＦ）２にて空間周
波数の高い成分が取除かれる。このＬＰＦ２を通過した
光は偏光ビームスプリッタ−（Ｐ Ｂ ５）１１を通り
、１７４波長板１２を介してＣＣＤ３に入射する。
ンズ１を通った光は、ＣＣＤ３による疑解像を防止する
ための水晶ローパスフィルター（ＬＰＦ）２にて空間周
波数の高い成分が取除かれる。このＬＰＦ２を通過した
光は偏光ビームスプリッタ−（Ｐ Ｂ ５）１１を通り
、１７４波長板１２を介してＣＣＤ３に入射する。
二のＣＣＤ３に入射した光の一部は、ＣＣＤ板面上、も
しくはカバーガラスにて反射してＰＢＳｌｌに入射する
。
しくはカバーガラスにて反射してＰＢＳｌｌに入射する
。
さて、ＬＰＦ２を出射した光は、このＬＰＦが水晶の複
屈折を利用しているため直線偏光されている。この光は
、次に１７４波長板！２を２度通過するため反射して偏
光ビームスプリッタ−（Ｐ Ｂ ５）１１に入射する光
は、Ｌ Ｐ ｊ２の出射光に対して偏光方向の異なった
直線偏光光となる。即ち、ＰＢＳｌｌの方向を適切な光
軸上に配置することで、損失なくＣＣＤ３からの反射光
を光軸外に取出せる。
屈折を利用しているため直線偏光されている。この光は
、次に１７４波長板！２を２度通過するため反射して偏
光ビームスプリッタ−（Ｐ Ｂ ５）１１に入射する光
は、Ｌ Ｐ ｊ２の出射光に対して偏光方向の異なった
直線偏光光となる。即ち、ＰＢＳｌｌの方向を適切な光
軸上に配置することで、損失なくＣＣＤ３からの反射光
を光軸外に取出せる。
この光軸外に取出した反射光を測光素子ＩＯにて検出す
れば、ＣＣＤ３の入射光量を正確にＣＰＵ５は知ること
が出来る。そして、該ＣＰＵ５が測光素子１０の検出値
にて露光量を決定し、シャッター駆動部６を制御する。
れば、ＣＣＤ３の入射光量を正確にＣＰＵ５は知ること
が出来る。そして、該ＣＰＵ５が測光素子１０の検出値
にて露光量を決定し、シャッター駆動部６を制御する。
（発明の効果）
以上説明したように本発明は、偏光ビームスプリッタ−
により偏光した光軸上に測光素子を配置するようにした
ので５従来の問題点が解消された。
により偏光した光軸上に測光素子を配置するようにした
ので５従来の問題点が解消された。
そして、レンズを通った光を直接測光できるので、外乱
による影響が少なく、また、レンズの倍率、レンズの種
類により左右されることなく、トリガーオンからの時間
遅れも最小に抑えることが出来る。
による影響が少なく、また、レンズの倍率、レンズの種
類により左右されることなく、トリガーオンからの時間
遅れも最小に抑えることが出来る。
第１図は本発明の一実施例の構成図、第２図は従来の電
子撮像装置の測光装置の構成例を示す図、第３図は第２
図でストロボ使用時の動作フローを示す図である。 ｌ・・・レンズ、 ２・・・ローパスフィルター（Ｌ
ＰＦ）、 ３・・・電荷結合素子（ＣＯＤ）、４・・・
プロセス部、 ５・・・マイクロコンピュータ（ＣＰ
Ｕ）、 ６・・・シャッター駆動部、 ７・・・
シャッター ８・・・ストロボ、９・・・ストロボ発
光回路、 １０・・・測光素子、１１・・・偏光ビーム
スプリッタ−（Ｐ Ｂ Ｓ）、１２・・・１７４波長板
。 特許呂願人 株式会社 リ コ 第 図 ７ンマ、り 第 図 １し／ズ
子撮像装置の測光装置の構成例を示す図、第３図は第２
図でストロボ使用時の動作フローを示す図である。 ｌ・・・レンズ、 ２・・・ローパスフィルター（Ｌ
ＰＦ）、 ３・・・電荷結合素子（ＣＯＤ）、４・・・
プロセス部、 ５・・・マイクロコンピュータ（ＣＰ
Ｕ）、 ６・・・シャッター駆動部、 ７・・・
シャッター ８・・・ストロボ、９・・・ストロボ発
光回路、 １０・・・測光素子、１１・・・偏光ビーム
スプリッタ−（Ｐ Ｂ Ｓ）、１２・・・１７４波長板
。 特許呂願人 株式会社 リ コ 第 図 ７ンマ、り 第 図 １し／ズ
Claims (1)
- 光の疑解像を防止するための複屈折を利用した光学的ロ
ーパスフィルター手段と、光を光電変換する光電変換手
段と、前記光学的ローパスフィルター手段と光電変換手
段の光軸上に配設された偏光光分離手段と、該偏光光分
離手段により光軸から分離された偏光光軸上に配設され
た前記光電変換手段に入射した光量を直接に測光検出す
る測光手段とを有することを特徴とする電子撮像装置の
測光装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2275311A JPH04151628A (ja) | 1990-10-16 | 1990-10-16 | 電子撮像装置の測光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2275311A JPH04151628A (ja) | 1990-10-16 | 1990-10-16 | 電子撮像装置の測光装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04151628A true JPH04151628A (ja) | 1992-05-25 |
Family
ID=17553675
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2275311A Pending JPH04151628A (ja) | 1990-10-16 | 1990-10-16 | 電子撮像装置の測光装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04151628A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7616879B2 (en) | 2004-10-06 | 2009-11-10 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical apparatus and image-taking system |
-
1990
- 1990-10-16 JP JP2275311A patent/JPH04151628A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7616879B2 (en) | 2004-10-06 | 2009-11-10 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical apparatus and image-taking system |
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