JPH04138366A - 自己評価可能な分析装置 - Google Patents
自己評価可能な分析装置Info
- Publication number
- JPH04138366A JPH04138366A JP26157290A JP26157290A JPH04138366A JP H04138366 A JPH04138366 A JP H04138366A JP 26157290 A JP26157290 A JP 26157290A JP 26157290 A JP26157290 A JP 26157290A JP H04138366 A JPH04138366 A JP H04138366A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 28
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 18
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 9
- 238000004445 quantitative analysis Methods 0.000 claims description 3
- 238000000611 regression analysis Methods 0.000 abstract description 2
- 239000003792 electrolyte Substances 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
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- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は臨床検査用の電解質分析装置などの分析装置に
関するものである。
関するものである。
（従来の技術）
電解質分析装置では分析性能の測定や評価は主として製
造者側で行なっており、顧客側では単純な操作ですむ再
現性の評価が行なわれている程度である。
造者側で行なっており、顧客側では単純な操作ですむ再
現性の評価が行なわれている程度である。
一般に、分析装置には分析性能を自己評価するためのプ
ログラムは備えられていない。
ログラムは備えられていない。
（発明が解決しようとする課題）
実際の分析状態で分析性能の精密さを評価しようとする
と、何らかの評価手法に栽づいて手動で実行することは
できるか、操作が煩雑であり、また測定者により評価結
果に差異が生しる恐れがある。
と、何らかの評価手法に栽づいて手動で実行することは
できるか、操作が煩雑であり、また測定者により評価結
果に差異が生しる恐れがある。
本発明は実際の分析状態で分析性能を自動的に自己評価
する機能を備えた分析装置を提供することを［］的とす
るものである。
する機能を備えた分析装置を提供することを［］的とす
るものである。
（課題を解決するための手段）
第１図に本発明を示す。
２は複数の試料を保持し任意の試料を試料採取部へ位置
決めできる試料保持部、４は試料保持部２の試料採取位
置の試料を採取して定量分析する分析部、６は一群の試
料について測定順序を変えた２回の測定を行なうように
試料保持部２の動作を制御する試料選択部、８は分析部
による定器分析結果を試料番号に対応づけて記憶する記
憶部、１０は記憶部８から分析結果を呼び出して２回の
測定結果について自己相関を算出する演算部である。
決めできる試料保持部、４は試料保持部２の試料採取位
置の試料を採取して定量分析する分析部、６は一群の試
料について測定順序を変えた２回の測定を行なうように
試料保持部２の動作を制御する試料選択部、８は分析部
による定器分析結果を試料番号に対応づけて記憶する記
憶部、１０は記憶部８から分析結果を呼び出して２回の
測定結果について自己相関を算出する演算部である。
（作用）
試料保持部２に並へられたＮ個の試料について、１回に
１の測定では１番１１からＮ番目までの試料をその順に
分析部４で１ｌｌ１１定し、その測定結果を試料番号に
対応させて記憶部８に記憶させていく。
１の測定では１番１１からＮ番目までの試料をその順に
分析部４で１ｌｌ１１定し、その測定結果を試料番号に
対応させて記憶部８に記憶させていく。
次に、２回目の測定を行なうときは、測定順序を異なら
せる。例えば試料選択部６に乱数を発生する部分を設け
ておき、乱数に従って２回［」の６１１１定順序を決め
る。そのように決められた順序で２回目の測定を行ない
、分析部４による測定結果も試料番号と対応づけて記憶
部８に記憶させていく。
せる。例えば試料選択部６に乱数を発生する部分を設け
ておき、乱数に従って２回［」の６１１１定順序を決め
る。そのように決められた順序で２回目の測定を行ない
、分析部４による測定結果も試料番号と対応づけて記憶
部８に記憶させていく。
１回目の測定値をＸ］ 輸＝１〜Ｎ）、２回１１の測定
値をｙ］ （ｉ＝１〜Ｎ）とする。１は試料番刊である
。演算部１０では２回の測定値から、回帰式として ：３ Ｙ ｉ ＝ ＋ｉ ＋ｂ Ｘ １ か算出される。算出結果は表示される。
値をｙ］ （ｉ＝１〜Ｎ）とする。１は試料番刊である
。演算部１０では２回の測定値から、回帰式として ：３ Ｙ ｉ ＝ ＋ｉ ＋ｂ Ｘ １ か算出される。算出結果は表示される。
（実施例）
第２図は一実施例を表わす。
１２は試料保持部のターンテーブルであり、その円周に
沿って複数個の試料容器１４が配置される。１６はター
ンチーフル１２を回転させるモタである。ターンテーブ
ル１２に１妾近してターンテーブル］２の回転位置を検
出する位置検出器１８が設けられている。位置検出器１
８の検出４４号により、コンピュータ２０ては試料採取
位置にある試料の番号が判断される。
沿って複数個の試料容器１４が配置される。１６はター
ンチーフル１２を回転させるモタである。ターンテーブ
ル１２に１妾近してターンテーブル］２の回転位置を検
出する位置検出器１８が設けられている。位置検出器１
８の検出４４号により、コンピュータ２０ては試料採取
位置にある試料の番号が判断される。
試料採取位置の試料−に方には試才゛トを採取する試料
注入用ノズル２２か設けられ、ノズル２２は」１下方向
に移動して試料容器から試料を採取し、回転して分析部
２８に注入する。２４はノズル２２の移動を１５μ動す
るモータである。モータ１６，２４はコンピュータ２０
からの信号によりモータ制！制 御回路２６により制御される。
注入用ノズル２２か設けられ、ノズル２２は」１下方向
に移動して試料容器から試料を採取し、回転して分析部
２８に注入する。２４はノズル２２の移動を１５μ動す
るモータである。モータ１６，２４はコンピュータ２０
からの信号によりモータ制！制 御回路２６により制御される。
２８は分析部であり、電解質分析装置ではセンサとして
電極を備えている。分析部２８による定旦分析結果は増
幅回路などのアナログ回路及びΔ／Ｄ変換器３０を経て
コンピュータ２０に取り込まれる。３２はＣＲＴやプリ
ンタなどの表示装置である。
電極を備えている。分析部２８による定旦分析結果は増
幅回路などのアナログ回路及びΔ／Ｄ変換器３０を経て
コンピュータ２０に取り込まれる。３２はＣＲＴやプリ
ンタなどの表示装置である。
第１図における試料選択部６、記憶部８及び演算部１０
はコンピュータ２０により実現される。
はコンピュータ２０により実現される。
次に一実施例の動作を第３図により説明する。
測定開始が指示されると、測定試料番号が１に設定され
、ターンテーブル１２が回転して番号１の試料が試料採
取位置に位置決めされる。その試料が採取され分析部２
８で測定される。その１ｌｌｌｌ定結果はテジタル信号
に変換されてコンピュータ２０へ取り込まれ、試料番号
と測定値が記憶される。
、ターンテーブル１２が回転して番号１の試料が試料採
取位置に位置決めされる。その試料が採取され分析部２
８で測定される。その１ｌｌｌｌ定結果はテジタル信号
に変換されてコンピュータ２０へ取り込まれ、試料番号
と測定値が記憶される。
次に、Ｓ定試料番号に１が加算されて、次の番号の試料
が試料採取位置に位置決めされ、同様にして測定され、
その測定値も試料番号とともにコンピュータ２０に記憶
されていく。
が試料採取位置に位置決めされ、同様にして測定され、
その測定値も試料番号とともにコンピュータ２０に記憶
されていく。
以下、同様にして試料番号順に化１定が進められ、全て
の試料について１回１」の測定が終了すると、２回目の
測定に進む。
の試料について１回１」の測定が終了すると、２回目の
測定に進む。
２回目の４１１定では試料のｄｌす定順序を変えるため
に、例えば乱数列が発生し、その乱数列により２回目の
測定順序が決められる。そして、決められた測定順序に
従って試料が測定されていき、それらの測定値も試料番
号とともにコンピュータ２゜に記憶されていく。
に、例えば乱数列が発生し、その乱数列により２回目の
測定順序が決められる。そして、決められた測定順序に
従って試料が測定されていき、それらの測定値も試料番
号とともにコンピュータ２゜に記憶されていく。
２回目の測定が全ての試料について終了すると、演算が
行なわれる。
行なわれる。
演算では回帰分析により前述の（１）式により回帰式か
求められ、（２）式により自己相関Ｓｙ・Ｘが求められ
る。演算結果はＣＲＴに表示され、プリンタに印字され
る。
求められ、（２）式により自己相関Ｓｙ・Ｘが求められ
る。演算結果はＣＲＴに表示され、プリンタに印字され
る。
演算結果を表示する際、・分析性能の評価基準として自
己相関５ｙ−ｘの基Ｑ１０値を製造側において予め定め
ておき、又は使用者が設定しておき、演算された自己相
関結果が評価基僧を満たさなかった場合にはその分析装
置の分析性能が低下したことを警報として表示するよう
にしてもよい。
己相関５ｙ−ｘの基Ｑ１０値を製造側において予め定め
ておき、又は使用者が設定しておき、演算された自己相
関結果が評価基僧を満たさなかった場合にはその分析装
置の分析性能が低下したことを警報として表示するよう
にしてもよい。
（発明の効果）
本発明では分析性能の評価測定を自動的に行なわせるよ
うにしたので、分析装置の信頼性を長期間にわたって確
認し維持することに操作者の手間をかけずにすみ、また
評価のための操作にばらつきをなくして安定した分析性
能評価をすることが可能になる。
うにしたので、分析装置の信頼性を長期間にわたって確
認し維持することに操作者の手間をかけずにすみ、また
評価のための操作にばらつきをなくして安定した分析性
能評価をすることが可能になる。
第１図は本発明を示すブロック図、第２図は一実施例を
丞すブロック図、第３図は一実施例の動作を示すフロー
チャート図である。 ２・・・試料保持部、４・・・・・分析部、６・ ・・
試料選択部、８・・・・記憶部、１０・・・・・演算部
、１２・・・・ターンテーブル、１４・・・・・・試料
容器、２０コンピユータ、２８・・・・分析部。 特許出願人 株式会社島津製作所
丞すブロック図、第３図は一実施例の動作を示すフロー
チャート図である。 ２・・・試料保持部、４・・・・・分析部、６・ ・・
試料選択部、８・・・・記憶部、１０・・・・・演算部
、１２・・・・ターンテーブル、１４・・・・・・試料
容器、２０コンピユータ、２８・・・・分析部。 特許出願人 株式会社島津製作所
Claims (1)
- （１）複数の試料を保持し任意の試料を試料採取部へ位
置決めできる試料保持部と、試料保持部の試料採取位置
の試料を採取して定量分析する分析部と、一群の試料に
ついて測定順序を変えた２回の測定を行なうように試料
保持部の動作を制御する試料選択部と、分析部による定
量分析結果を試料番号に対応づけて記憶する記憶部と、
記憶部から分析結果を呼び出して２回の測定結果につい
て自己相関を算出する演算部とを備えた分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26157290A JPH04138366A (ja) | 1990-09-29 | 1990-09-29 | 自己評価可能な分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26157290A JPH04138366A (ja) | 1990-09-29 | 1990-09-29 | 自己評価可能な分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04138366A true JPH04138366A (ja) | 1992-05-12 |
Family
ID=17363778
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26157290A Pending JPH04138366A (ja) | 1990-09-29 | 1990-09-29 | 自己評価可能な分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04138366A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006292698A (ja) * | 2005-04-15 | 2006-10-26 | Hitachi High-Technologies Corp | 臨床検査用自動分析装置の精度管理方法、及び自動分析装置 |
| WO2013069298A1 (ja) * | 2011-11-09 | 2013-05-16 | ベックマン コールター， インコーポレイテッド | 自動分析装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6463860A (en) * | 1987-09-04 | 1989-03-09 | Hitachi Ltd | Automatic analyser |
-
1990
- 1990-09-29 JP JP26157290A patent/JPH04138366A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6463860A (en) * | 1987-09-04 | 1989-03-09 | Hitachi Ltd | Automatic analyser |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006292698A (ja) * | 2005-04-15 | 2006-10-26 | Hitachi High-Technologies Corp | 臨床検査用自動分析装置の精度管理方法、及び自動分析装置 |
| WO2013069298A1 (ja) * | 2011-11-09 | 2013-05-16 | ベックマン コールター， インコーポレイテッド | 自動分析装置 |
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