JPH04128635A - 検査方法及び装置 - Google Patents

検査方法及び装置

Info

Publication number
JPH04128635A
JPH04128635A JP2249711A JP24971190A JPH04128635A JP H04128635 A JPH04128635 A JP H04128635A JP 2249711 A JP2249711 A JP 2249711A JP 24971190 A JP24971190 A JP 24971190A JP H04128635 A JPH04128635 A JP H04128635A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
window
predetermined
inspection
electronic processing
image
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2249711A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0736004B2 (ja
Inventor
Hajime Yoshida
肇 吉田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hajime Industries Ltd
Original Assignee
Hajime Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hajime Industries Ltd filed Critical Hajime Industries Ltd
Priority to JP2249711A priority Critical patent/JPH0736004B2/ja
Priority to CA002051062A priority patent/CA2051062A1/en
Priority to AU83806/91A priority patent/AU8380691A/en
Priority to US07/757,543 priority patent/US5187573A/en
Priority to DE4130373A priority patent/DE4130373A1/de
Priority to GB9119503A priority patent/GB2248930A/en
Priority to FR9111556A priority patent/FR2667399A1/fr
Publication of JPH04128635A publication Critical patent/JPH04128635A/ja
Publication of JPH0736004B2 publication Critical patent/JPH0736004B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/90Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
    • G01N21/9045Inspection of ornamented or stippled container walls
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G01N2021/8887Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges based on image processing techniques

Landscapes

  • Biochemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Image Analysis (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Closed-Circuit Television Systems (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、容器等の物品の検査方法及びこの方法を実施
する検査装置、特にビデオカメラ等のイメージセンサ及
び電子処理機を利用した物品の検査方法及びこの方法を
実施する検査装置に関する。
〔従来の技術〕
従来、物品の製造工程中や完成した時に、製造工程中の
半製品の不具合の発見や、完成品の外観或は品質の検査
を、目視により多数の検査員により行っている.しかし
近年、人手不足に対する省力化と自動化を自損して、人
手による検査に代えてビデオカメラと電子処理機を利用
した自動検査装置を設置する傾向にある。
例えば飲料業界について言えば、飲料容器としてガラス
やプラスチックにより成型された壜等の容器が多く利用
されているが、その製造工程上の不具合や輸送中或は取
扱中の不測の事故等によって、容器の破損や漏液を賓す
ことがある。これには、容器の取扱上の不注意によるこ
とは別にしても、製造工程中の不具合、即ち容器に損傷
を与えた場合、或は製造工程上の不具合、即ち、飲料等
の容器内への充填処理、容器のキャッピング処理等に不
良の状態を作る原因があった時等がある。
従って、飲料容器の製造から始まって容器洗浄、液充填
、キャッピング、包装に至るまで、随所において多数の
人による目視検査等を行っているのが現状である.そこ
で、人手に代えてビデオカメラと電子処理機を利用した
自動検査装置を配置して、製造工程上の不具合或は欠陥
のある商品を発見して自動的に除去するようになった事
は、前述の通りである。
このようなことは飲料容器に対してのみならず、各種の
物品の生産過程において見られる事である。
次に、第4図B乃至第6図を参照して、上述の如き従来
の容器等の物品の検査装置の一例を説明する。
第4図は、従来の容器検査装置の全体構成を示す略線図
である.同.図において、(1)はガラス或はプラスチ
ック等の透明材料で作られた検査されるべき容器、(2
)はランプの如き容器(1)の照明装置、(3)は照明
光を均一に拡散する為の照明装置(2)と容器(1)と
の間に配置した光拡散板、(4)は容器(1)を撮像す
るイメージセンサとしてのビデオカメラ、(5)は例え
ばコンピュータ等により構成されるビデオカメラ(4)
の出力を処理する電子処理機である。
(MI)は、各ウィンドウ(6)及び(71)〜(74
)の形状を、容器(1)の画像と共に表示する、ビデオ
カメラ(4)及び電子処理機(5)の出力が供給される
モニタである。
この装置では、照明装置(2)よりの光は、光拡散板(
3)により均一に拡散され、容器(1)の全体を照明す
る.この光は、容器(1)を透過して、ビデオカメラ(
4)に捕えられ、その出力画像信号は電子処理機(5)
によって電子処理され、容器(1)の欠陥の有無を検出
する.尚、容器(1)は、ここでは透光性材より成るも
のと仮定している。透光性でない容器に対しては、それ
よりの反射光を捕えて電子処理するような構成にするこ
とにより、同様に容器の欠陥の検査が実施出来ることは
言うまでもない。
第5図は、従来における検査装置の電子処理機(5)の
構成及び機能の一例を示すブロック図、第6図は容器(
1)及び各ウィンドウの位置を示す略線図である。同図
に示す如く、ビデオカメラ(4)の出力ビデオ信号より
、先ず、位置決め用のウィンドウ(6)を、容器(1)
の首部に設定し、電子処理機(5)の電子処理口N (
6A)によって容器(1)の中心軸(X−Xを求める。
即ち、ウィンドウ(6)内で捕えられた容器(1)の首
部の両端面を検出し、それより容器(1)の中心軸(X
−X)を求める。この中心軸(X−Xは後に設定する各
検査用ウィンドウの位置を、容器(1)に対して正確に
設定する為である。即ち、容器(])が中心軸(X−χ
)に対して対象形をなしていると仮定すれば、設定する
各検査用ウィンドウを、容器(1)の中心軸(χ−X)
に関して対象形になるごとく設定すれば良いからである
第5及び第6図に於て、(71)、(7□)、 (73
) 、 (7,)は夫々上述した検査用ウィンドウを示
し、この例では4個の検査用ウィンドウを用い、各検査
用ウィンドウ(7,)〜(74)の寸法の多少の調整に
より容易にこの変化に対応出来ること、又同一容器(1
)の径が場所によって異なる為に住じる先の透過率の変
化に対応するように、電子処理に際して夫々のウィンド
ウ(7,)〜(74)は、夫々位置及び形状を異にする
。4個の検査用ウィンドウ(71)〜(74)内の容器
(1)の領域の欠陥の有無を、判定処理回路(7A)で
−括して判定する。
第6図は、上述の如く容器(1)に対する位置決めウィ
ンドウ(6)及び検査用ウィンドウ(7,)、(7□)
(7,)、(7,)の設定の状態を示したものである。
この例で、1個の容器(1)に対して4この検査用ウィ
ンドウ(71)〜(7,)を設けた理由は、容器(1)
の形状が多少変わった時例えば(容器(1)の直径が変
わった時、その首部の形が変わった時等)、夫々の検査
用ウィンドウ(7I)〜(74)の寸法の多少の調整に
より容易にこの変化に対応出来ること、又同一容器(1
)の径が場所によって異なる為に生じる光の透過率の変
化に対応するように、電子処理に際して夫々のウィンド
ウ(7I)〜(74)で別個の感度設定をすることが出
来るようにする為である。尚、第6図に於て、(8)は
、容器(1)の一部に存在する模様や文字列等(以下“
模様“と称す)部分を示し、この中にある欠陥のみを検
出することは困難であるので、この部分に対しての検査
を除外することにしている。
〔発明が解決しようとするR題〕
上述した従来の検査装置では、容器(1)の模様(8)
の部分の検査は、全く前提にない。所が、一般に、模様
(8)は、容器(1)の胴部の全外周に亘って存在する
のみでは無く、例えば、その半周のみに設けられている
場合が多い、この場合、容器(1)の胴部の模様(8)
の無い部分の良否の判定をする必要があるが、従来の装
置では、この部分の良否の判定は、全く不可能であった
従って、本発明の主目的は、上記従来の装置の欠点を一
掃した新規な検査装置を提供せんとするものである。
[課題を解決するための手段及び作用]本発明によれば
、被検査物(1)に照明光を照射し、その反射光若しく
は透過光をビデオカメラ(4)で捕らえて光を変換し、
該ビデオカメラが出力する画像信号を電子処理機(5)
により解析し、このビデオカメラが捕らえた画像の中に
、上記被検査物に対して予め定められた位置と形状を有
する第1のウィンドウ(9)を設定し、該第1のウィン
ドウ内の画像に対して予め定められた第1の所定の電子
処理(9A)を行い、該第1のウィンドウ内の画像に対
して行われた第1の所定の電子処理の結果に基づき、上
記被検査物に対し、予め定められた位置と形状を有する
複数個の検査用の第2のウィンドウ(11,)〜(11
4)、 (131)〜(13,)を設定し、該第2のウ
ィンドウ内の画像に対して予め定められた第2の所定の
電子処理(IIA)を行い、被検査物に存在する欠陥の
有無を検出す検査方法において、上記第1の所定の電子
処理の結果にもとづき、上記被検査物に対し予め定めら
れた位1と形状を有する第3のウィンドウ(10)を設
定し、該第3のウィンドウ内の画像に対して予め定めら
れた第3の所定の電子処理(IOA)を行い、該第3の
電子処理の結果に基づいて上記第2のウィンドウの一部
を変更するか、或は第4のウィンドウ(121)、 (
121)を設定し、該第4のウィンドウ内の画像に対し
て予め定められた第4の所定の電子処理(121A)、
 (12ffiA)を行い、該第4の電子処理の結果に
基づいて上記第2のつイントウを設定するか、第5のウ
ィンドウ(135)。
(136)を上記第2のウィンドウに加えて設定し、上
記第2のウィンドウ及び/或は第5のウィンドウ内の画
像に対して予め定められた第5の所定の電子処理(13
A)を行い、被検査物に存在する欠陥の有無を検査する
ようになしたことを特徴とする検査方法が得られる。
本発明によれば、更に被検査物(1)に照明光を照射し
、その反射光若しくは透過光をビデオカメラ(4)で捕
らえて光電変換し、該ビデオカメラが出力する画像信号
を電子処理機(5)により解析し、このビデオカメラが
捕らえた画像の中に、上記被検査物に対して予め定めら
れた位置と形状を有する第1のウィンドウ(9)を設定
し、該第1のウィンドウ内の画像に対して予め定められ
た第1の所定の電子処理を第1の電子処理回路(9A)
で行い、該第1のウィンドウ内の画像に対して行われた
第1の所定の電子処理の結果に基づき、上記被検査物に
対し、予め定められた位置と形状を有する複数個の検査
用の第2のウィンドウ(111)〜(LL); (13
,)〜(13,)を設定し、該第2のウィンドウ内の画
像に対して予め定められた第2の所定の電子処理を第2
の電子処理回路(IIA)で行い、被検査物に存在する
欠陥の有無を検出する装置において、上記第1の所定の
電子処理の結果に基づき、上記被検査物に対し予め定め
られた位置と形状を有する第3のウィンドウ(10)を
設定し、該第3のウィンドウ内の画像に対して予め定め
られた第3の所定の電子処理を第3の電子処理回路(I
OA)で行い、該第3の電子処理の結果に基づいて上記
第2のウィンドウの一部を変更するか、或は第4のウィ
ンドウ(12,)、 (12りを設定し、該第4のウィ
ンドウ内の画像に対して予め定められた第4の所定の電
子処理を第4の電子処理回路(12+A) 、 (12
za)で行い、該第4の電子処理の結果に基づいて上記
第2のウィンドウを設定するか、第5のウィンドウ(1
35) 。
(136)を上記第2のウィンドウに加えて設定し、上
記第2のウィンドウ及び/或は第5のウィンドウ内の画
像に対して予め定められた第5の所定の電子処理を第5
の電子処理回路(13A)で行い、被検査物に存在する
欠陥の有無を検査するようになしたことを特徴とする検
査装置が得られる。
〔実施例〕
以下、第1乃至第3図を参照して本発明の一実施例を説
明する。尚、本発明のこの例に於ても、第4図に示す従
来例と同様の構成を用いるので、それ等の図示及び説明
を省略する。
第1図は、本発明による検査装置の電子処理機(5)の
−例の構成及び機能を示すブロック図である。
同図に示す如く、本発明に於ては、ビデオカメラ(4)
(第4図参照)よりのビデオ信号に基づいて、先づ位置
決め用ウィンドウ(9)を容器(1)の首部に設定し、
このウィンドウ(9)に基づいて、電子処理回路(9A
)により容器(1)の中心軸(X−X)を求める。
次に、容器(1)の模様(8)の有無の判定に供する模
様判定用のウィンドウ(10)を設定する。
ここで、本発明の動作を分かり易くする為に、第2図A
及びBに各々のウィンドウの状態を示し、第1図と第2
図A及びBとに基づいて上記動作の説明を行う。
本発明に於ては、模様判定用ウィンドウ(10)を第2
図Aに示すように従来例においては検査を除外した領域
部分、即ち模様(8)の部分に設定する。
このウィンドウ(10)内の明暗により、模様(8)の
有無を調べる。即ち、模様(8)が容器(1)の外周に
あると、照明光はその模様(8)の部分で拡散され、ビ
デオカメラ(4)に到達する光が弱まるので、この光の
強弱を調べることにより模様(8)の有無が容易に分か
る。
明暗処理回路(IOA)は、ウィンドウ(10)による
模様(8)の有無に基づき、次に設定する各検査用ウィ
ンドウの位置及び形状等を選択する為のものである。即
ち、この明暗処理回路(IOA)は、容器(1)に模様
(8)がある場合には、その部分を検査領域から除外し
、無い場合には除外しないような後述する別のウィンド
ウを選択する。
本発明においては、容器(1)に例えば模様(8)が無
く、従って、電子処理回路(IOA)がその部分は明る
いと判定したと仮定すると、この場合、電子処理回路(
10A)は検査用のウィンドウ(11)を選定して設け
る。この検査用のウィンドウ(11)は、この場合、上
述の従来例の場合と同様に、4個のウィンドウ(11,
)、(11,)、(11,)、(11,) とする。こ
の場合、上述の従来例と異なる点は、第2図Aに示す如
くウィンドウ(11,)の形状が従来のウィンドウ(7
,)と異なり、模様(8)を含む様に大きくしであるこ
れは、模様(8)が無いと判定されたことで、その部分
も検査の対象N域に加える為である。このようにして、
従来例と同様に4個のウィンドウ(11,)〜(114
)内の容器(1)の欠陥を、欠陥処理回路(IIA)で
−括して検出する電子処理を行う。
一方、ウィンドウ(10)の中に模様(8)が存在して
、電子処理回路(10A)がその部分は暗いと判定した
時は、この電子処理回路(IOA)は、第1図に示す如
く、ウィンドウ(11)の代わりに模様の形状等を判別
する模様判別ウィンドウ(12)を選択して設定する。
このウィンドウ(12)は、第2図Bに示す如く、互い
に隣合う2個のウィンドウ(12,) 、 (12□)
をもって1組となし、これ等を容器(1)の模様や文字
列等があると思われる模様(8)の部分に設定して、そ
の状態を観察する。即ち、第2図Bに示すように、一方
のウィンドウ(12,)を模様(8)の部分の一方、即
ちその左側半分に設け、他方のウィンドウ(12□)を
その右側半分の部分に設ける。
一般に、容器(1)の模様(8)の状態は色々あり、例
えばそれが全周に渡って設けである場合や、一部だけに
設けである場合等がある。ここでは、模様(8)が、第
3図A、B及びCに示すように、容器(1)の略々半周
に渡って設けられている場合についての説明を行う。
ビデオカメラ(4)が容器(1)を撮像する場合、模様
(8)は、容器(1)の回転方向の角度に応じてビデオ
カメラ(4)に対する映り方が色々に変わる。これは、
例えば、容器(1)がベルトコンベア上を移動している
間に検査を行をうとすると、容器(1)の模様(8)の
ビデオカメラ(4)に対する回転角度は不定になるから
である。第3図A、B及びCは、動作の説明の為に、容
器(1)の模様(8)の異る回転角の三つの場合の例を
挙げたものである。
第3図への場合は、ウィンドウ(12,)と(12□)
とが共に模様(8)を含んでいるので、それ等の電子処
理回路又は明暗検出及び寸法処理回路(12□A)と(
12□A)は、両ウィンドウ(121)、 (12□)
内が全域に渡って暗いと判定し、第3図A′に示すよう
に、4個の検査様ウィンドウ(13,)、 (13オ)
、 (13s) 、 (13,)を設定する。この場合
は、模様(8)のあるところを検査領域から除外するの
で、各検査用ウィンドウ(i3+)〜(13,)は、丁
度第6図の従来例の場合と同様になる。を子処理回路(
13A)又は欠陥検出処理回路で、容器(1)の4個の
ウィンドウ(13,)〜(13,)内の欠陥の検出処理
を一括して行うことも、従来と同様である。
第3図Bは、模様(8)が容器(1)の左側に寄ってい
ると仮定した場合のもので、ウィンドウ(12,)は模
様(8)にかかっているので、その電子処理回路(12
,A)は、ウィンドウ(12,)内が暗いと判定するの
で、前述の検査用ウィンドウ(13I)、(13z) 
、(IL) 。
(13,)を設定する。一方、ウィンドウ(12□)内
には、模様(8)が無ので、その電子処理回路(12□
A)はウィンドウ(12g)内が、明るいと判定するの
で、第3図B′に示すように、検査用ウィンドウ(13
s)を上記4個のウィンドウ(13+)〜(13,)に
加えて容器(1)のウィンドウ(12□)の部分に設定
する。検査用ウィンドウ(13,)乃至(13,)まで
は、検査用ウィンドウ(11,)乃至(11,)までの
ものと同様なもので、これ等に検査用ウィンドウ(13
s)が加わる。この検査用ウィンドウ(13S)により
、容器(1)の右側の模様(8)が無い部分の検査が出
来る。このことは、従来例では出来なかったことである
。これにより、5個のウィンドウ(13,)〜(13s
)内の欠陥を一括して電子処理回路又は欠陥検出処理回
路(13A)で検出処理する。
第3図Cは模様(8)が、容器(1)の右側に寄ってお
り、且つ模様(8)の左端が容器(1)の中心軸(X−
X)より左にはみ出ていると仮定した場合である。この
時、電子処理回路(xl)は、勿論ウィンドウ(12□
)内が暗いと判定し、第3図C′に示す如く、検査用ウ
ィンドウ(13,)、(13□”) 、 (133)、
 (13,)を第3図A′の場合と同様に設定する。一
方、電子処理回路(12,A)は、ウィンドウ(12+
)内の一部に明るい部分があることを判定し、ウィンド
ウ(12,)内の左側の模様(8)の無い部分の寸法を
測定し、第3図C′に示すような適切な形状の検査用ウ
ィンドウ(136)を、ウィンドウ(131)、 (1
3□)、(13,)。
(13,)と共に設定する。この時、電子処理回路(1
3A)が5個のウィンドウ(130〜(13,)及び(
13,)内の欠陥を一括して電子処理することは、前述
の場合と同様である。
第3図Bにおいて、模様(8)の右端が容器(1)の中
心軸(X−X)より右側に寄っている場合も、第3図C
′の場合と同様に、電子処理回路(12□A)は、ウィ
ンドウ(12□)の右側のIm(8)の無い部分の寸法
を測定して、適切な形状の検査用ウィンドウ(13s)
を設定出来ることは言うまでもない。
電子処理回路(IIA)や(13A)の判定出力は、総
合判定回路(14)に入力される。総合判定回路(14
)は、電子処理回路(IIA)や(13A)の判定出力
から必要な最終情報出力信号を作成して出力する。この
信号は必要に応じて、図示せずもホスト・コンピュータ
に供給されたり、プリンタに供給されて記録されたり、
或は搬送装置の制御等の為に用いられる。時によっては
、電子処理回路(IIA)や(134)の判定出力を直
接利用しても良いことは言うまでもない。尚、第4図に
示す如く、ビデオカメラ(4)の画像及び電子処理機(
5)の出力をモニタ(Ml)に供給し、各ウィンドウを
画像に重複させて表示するようにすれば、装置の動作状
態が容易に確認出来る。
このようにして、容器(1)において模様や文字列等の
有無や、容器(])の回転角度の相異による模様や文字
列等の現れ方の違いに対して、本発明の検査装置は自在
に対応することが出来る。説明においては、容器の場合
についての1例を示したが、他の物品についても同様に
本発明の主旨に従って応用出来ることは明白であろう。
即ち、ウィンドウの数や、ウィンドウの設定数や処理の
回数は、実施例−にとられれることなく目的に応じて自
在に構成しても良いことは勿論である。
又、矩形のウィンドウによって欠陥の検査の説明を行っ
たが、ウィンドウの形状は自在なもので良く、電子処理
についてもその他の方法として、ウィンドウ内において
形状を判別することや、特定部分の面積を測る等目的に
応じて適切な処理方法を採用して良いことは前述の通り
である。
更に、容器(1)の模様(8)が上述の如く1個ではな
く、複数個の場合は、これと同じ複数個の模様判定用ウ
ィンドウを複数個の模様部分に設定し、第1図に示す模
様判定用ウィンドウ(10)に対する処理を、これ等複
数個の模様判定用ウィンドウの各々に対して施せばよい
又、第1図に示す欠陥検出処理回路(IIA) 、 (
13A)の結果に応じて、模様判定用ウィンドウ(10
)の設定及びそれ以降の処理と同様の処理を追加しても
よい、更に、この様な処理を多数縦続して行ってもよい
ことは勿論である。
〔発明の効果〕
従来の検査装置において複数のウィンドウを設けた場合
は、その作用は並列的であり結果が一括して処理され、
然かも設定条件は一定であるので、自在性を有していな
い、これに対して本発明における複数のウィンドウの作
用は、夫々が因果関係にあるように設定される。即ち、
特定のウィンドウに定められた電子処理の結果に従って
次に設定される各ウィンドウが選択され、総合的な検査
処理の流れを形作る。
一度、色々な変化条件に対応できるようにウィンドウと
電子処理の方法を確立して置けば、検査される対象物の
物理的或は光学的な変化等に対応して装置が自動的な判
断を下し、柔軟にして適切な総合検査が行えることは、
従来の検査装置には無い本発明の大きな特徴である。
従って種々の製品検査に対する応用範囲が広がり、更に
又検査に際して設定変更の操作の手間が省略出来る等、
実用上の効果は極めて大なるものがある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一例の主要部の構成及び機能を示すブ
ロック図、第2図A、 B及び第3図A。 B、C及びA’、B’、C’は夫々本発明の詳細な説明
に供する路線図、第4図は本発明が適用される従来例の
路線図、第5図は第4図の電子処理機の構成及び機能を
示すブロック図、第6図は従来例の動作の説明に供する
路線図である。 図に於て、(1)は容器、(2)は照明装置、(3)は
光拡散板、(4)はビデオカメラ、(5)は電子処理機
、(9)は位置決めウィンドウ、(9A)は電子処理回
路、(10)は模様判定用ウィンドウ、(IOA)は明
暗処理回路、(111)〜(114)、 (130〜(
13,)は検査用ウィンドウ、(12□)、 (12□
)は模様判別用ウィンドウ、(IIA)は欠陥検出処理
回路、(12,A)、 (12□A)は明暗検出及び寸
法処理回路、(13A)は欠陥検出処理回路、(14)
は総合判定回路を夫々示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、被検体物に照明光を照射し、その反射光若しくは透
    過光をビデオカメラで捕らえて光電変換し、該ビデオカ
    メラが出力する画像信号を電子処理機により解析し、 上記ビデオカメラが捕らえた画像の中に、上記被検査物
    に対して予め定められた位置と形状を有する第1のウィ
    ンドウを設定し、 該第1のウィンドウ内の画像に対して予め定められた第
    1の所定の電子処理を行い、 該第1のウィンドウ内の画像に対して行われた第1の所
    定の電子処理の結果に基づき、上記被検体物に対し、予
    め定められた位置と形状を有する複数個の検査用の第2
    のウィンドウを設定し、 該第2のウィンドウ内の画像に対して予め定められた第
    2の所定の電子処理を行い、被検査物体に存在する欠陥
    の有無を検出する検査方法において、 上記第1の所定の電子処理の結果に基づき、上記被検査
    物に対し予め定められた位置と形状を有する第3のウィ
    ンドウを設定し、 該第3のウィンドウ内の画像に対して予め定められた第
    3の所定の電子処理を行い、 該第3の電子処理の結果に基づいて上記第2のウィンド
    ウの一部を変更するか、或は第4のウィンドウを設定し
    、該第4のウィンドウ内の画像に対して予め定められた
    第4の所定の電子処理を行い、該第4の電子処理の結果
    に基づいて上記第2のウィンドウを設定するか、第5の
    ウィンドウを上記第2のウィンドウに加えて設定し、上
    記第2のウィンドウ及び/或は第5のウィンドウ内の画
    像に対して予め定められた第5の所定の電子処理を行い
    、被検査物に存在する欠陥の有無を検査するようになし
    たことを特徴とする検査方法。 2、被検査物に照明光に照射し、その反射光若しくは透
    過光をビデオカメラで捕られて光電変換し、該ビデオカ
    メラが出力する画像信号を電子処理機により解析し、 上記ビデオカメラが捕られた画像の中に、上記被検査物
    に対して予め定められた位置と形状を有する第1のウィ
    ンドウを設定し、 該第1のウィンドウ内の画像に対して予め定められた第
    1の所定の電子処理を第1の電子処理回路で行い、 該第1のウィンドウ内の画像に対して行われた第1の所
    定の電子処理の結果に基づき、上記被検査物に対し、予
    め定められた位置と形状を有する複数個の検査用の第2
    のウィンドウを設定し、 該第2のウィンドウ内の画像に対して予め定められた第
    2の所定の電子処理を第2の電子処理回路で行い、被検
    査物に存在する欠陥の有無を検出する検査装置において
    、 上記第1の所定の電子処理の結果に基づき、上記被検査
    物に対し予め定められた位置と形状を有する第3のウィ
    ンドウを設定し、 該第3のウィンドウ内の画像に対して予め定められた第
    3の所定の電子処理を第3の電子処理回路で行い、 該第3の電子処理の結果に基づいて上記第2のウィンド
    ウの一部を変更するか、或は第4のウィンドウを設定し
    、該第4のウィンドウ内の画像に対して予め定められた
    第4の所定の電子処理を第4の電子処理回路で行い、該
    第4の電子処理の結果に基づいて上記第2のウィンドウ
    を設定するか、第5のウィンドウを設定し、上記第2の
    ウィンドウ及び/或は第5のウィンドウ内の画像に対し
    て予め定められた第5の所定の電子処理を第5の電子処
    理回路で行い、被検査物に存在する欠陥の有無を検査す
    るようになしたことを特徴とする検査装置。 3、上記第3のウィンドウは上記被検査物に模様が在る
    か否かの模様判定用ウィンドウであることを特徴とする
    上記特許請求の範囲第1項記載の検査方法。 4、上記第2の所定の電子処理は欠陥検出処理であるこ
    とを特徴とする上記特許請求の範囲第1項記載の検出方
    法。 5、上記第3の所定の電子処理は明暗判定処理であるこ
    とを特徴とする上記特許請求の範囲第3項記載の検査方
    法。 6、上記第4のウィンドウは模様判別ウィンドウである
    ことを特徴とする上記特許請求の範囲第1項記載の検査
    方法。 7、上記模様判別ウィンドウは2個であることを特徴と
    する上記特許請求の範囲第6項記載の検査方法。 8、上記第4の所定の電子処理は明暗判定及び寸法処理
    であることを特徴とする上記特許請求の範囲第7項記載
    の検査方法。 9、上記第5のウィンドウは検査用ウィンドウであるこ
    とを特徴とする上記特許請求の範囲第1項記載の検査方
    法。 10、上記第5の所定の電子処理は欠陥検出処理である
    ことを特徴とする上記特許請求の範囲第1項記載の検査
    方法。 11、上記第2及び第5の所定の電子処理の結果を総合
    判定処理して欠陥の有無を検査するようになしたことを
    特徴とする上記特許請求の範囲第1項記載の検査方法。 12、上記第3のウィンドウは上記被検査物に模様が在
    るか否かの模様判定用ウィンドウであることを特徴とす
    る上記特許請求の範囲第2項記載の検査装置。 13、上記第2の所定の電子処理回路は欠陥検出処理回
    路であることを特徴とする上記特許請求の範囲第2項記
    載の検査装置。 14、上記第3の所定の電子処理回路は明暗判定処理回
    路であることを特徴とする上記特許請求の範囲第12項
    記載の検査装置。 15、上記第4のウィンドウは模様判別ウィンドウであ
    ることを特徴とする上記特許請求の範囲第2項記載の検
    査装置。 16、上記模様判別ウィンドウは2個であることを特徴
    とする上記特許請求の範囲第14項記載の検査装置。 17、上記第4の所定の電子処理回路は明暗判定及び寸
    法処理回路であることを特徴とする上記特許請求の範囲
    第16項記載の検査装置。 18、上記第5のウィンドウは検査用ウィンドウである
    ことを特徴とする上記特許請求の範囲第2項記載の検査
    装置。 19、上記第5の所定の電子処理回路は欠陥検出処理回
    路であることを特徴とする上記特許請求の範囲第2項記
    載の検査装置。 20、上記第2及び第5の電子処理回路の出力を総合判
    定回路に供給し欠陥の有無を検査するようになしたこと
    を特徴とする上記特許請求の範囲第2項記載の検査装置
JP2249711A 1990-09-19 1990-09-19 検査方法及び装置 Expired - Lifetime JPH0736004B2 (ja)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2249711A JPH0736004B2 (ja) 1990-09-19 1990-09-19 検査方法及び装置
CA002051062A CA2051062A1 (en) 1990-09-19 1991-09-10 Inspection method and apparatus
AU83806/91A AU8380691A (en) 1990-09-19 1991-09-11 Inspection method and apparatus
US07/757,543 US5187573A (en) 1990-09-19 1991-09-11 Inspection method and apparatus
DE4130373A DE4130373A1 (de) 1990-09-19 1991-09-12 Pruefverfahren und pruefvorrichtung
GB9119503A GB2248930A (en) 1990-09-19 1991-09-12 Defect inspection method and apparatus using image processing with pattern detection and identification steps
FR9111556A FR2667399A1 (fr) 1990-09-19 1991-09-19 Procede et appareil de controle, notamment pour des recipients.

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2249711A JPH0736004B2 (ja) 1990-09-19 1990-09-19 検査方法及び装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH04128635A true JPH04128635A (ja) 1992-04-30
JPH0736004B2 JPH0736004B2 (ja) 1995-04-19

Family

ID=17197065

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2249711A Expired - Lifetime JPH0736004B2 (ja) 1990-09-19 1990-09-19 検査方法及び装置

Country Status (7)

Country Link
US (1) US5187573A (ja)
JP (1) JPH0736004B2 (ja)
AU (1) AU8380691A (ja)
CA (1) CA2051062A1 (ja)
DE (1) DE4130373A1 (ja)
FR (1) FR2667399A1 (ja)
GB (1) GB2248930A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08226902A (ja) * 1994-10-19 1996-09-03 Emhart Glass Mach Investments Inc 容器検査機械
JPH08509417A (ja) * 1993-04-30 1996-10-08 ローベルト マーセン, 材料部分の選別方法および装置
JP2002122550A (ja) * 2000-08-11 2002-04-26 Ajinomoto Faruma Kk 可撓性プラスチック容器の異物検査装置及びその異物検査方法
JP2015517659A (ja) * 2012-05-18 2015-06-22 カーハーエス・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツング 空ビンを検査するための方法及び設備
WO2018158824A1 (ja) * 2017-02-28 2018-09-07 東洋ガラス株式会社 容器の検査装置及び容器の検査方法

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2893078B2 (ja) * 1990-12-06 1999-05-17 オムロン株式会社 シェーディング補正方法およびその装置
US6064429A (en) * 1997-08-18 2000-05-16 Mcdonnell Douglas Corporation Foreign object video detection and alert system and method
US6621573B2 (en) * 2001-02-27 2003-09-16 Emhart Glass, S.A. Glass container inspection machine
US7171033B2 (en) * 2001-03-28 2007-01-30 The Boeing Company System and method for identifying defects in a composite structure
US6871684B2 (en) 2002-08-13 2005-03-29 The Boeing Company System for identifying defects in a composite structure
US20060108048A1 (en) * 2004-11-24 2006-05-25 The Boeing Company In-process vision detection of flaws and fod by back field illumination
US7424902B2 (en) 2004-11-24 2008-09-16 The Boeing Company In-process vision detection of flaw and FOD characteristics
DE102007021130A1 (de) * 2007-05-03 2008-11-13 Panasonic Electric Works Europe Ag Verfahren zur automatischen Ermittlung von Prüfbereichen, Prüfverfahren und Prüfsystem
FR2961599B1 (fr) * 2010-06-18 2012-08-24 Sgd Sa Procede de controle optique automatise de decor et dispositif de controle optique automatise correspondant.
US10001445B2 (en) * 2011-09-27 2018-06-19 Ring Container Technologies, Llc Vision system
FR2991052B1 (fr) 2012-05-28 2015-05-01 Msc & Sgcc Procede optique d'inspection de recipients transparents ou translucides portant des motifs visuels

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4002823A (en) * 1974-11-01 1977-01-11 Ball Corporation Method and apparatus for video inspection of articles of manufacture
GB1581392A (en) * 1976-11-04 1980-12-10 Industrial Dynamics Co Optical bottle inspection apparatus
DE2705936B2 (de) * 1977-02-10 1979-11-08 Barry-Wehmiller Co., Saint Louis, Mo. (V.St.A.) Verfahren und Anordnung zur elektronischen Bildanalyse
US4691231A (en) * 1985-10-01 1987-09-01 Vistech Corporation Bottle inspection system
US4915237A (en) * 1986-09-11 1990-04-10 Inex/Vistech Technologies, Inc. Comprehensive container inspection system
US5007096A (en) * 1987-02-18 1991-04-09 Hajime Industries Ltd. Object inspection apparatus
DE8702811U1 (de) * 1987-02-24 1987-07-09 Hajime Industries, Ltd., Tokio/Tokyo Prüfgerät
US4910411A (en) * 1988-02-12 1990-03-20 Sumitumo Rubber Industries Apparatus for inspecting a side wall of a tire
JPH0641924B2 (ja) * 1988-05-27 1994-06-01 株式会社キリンテクノシステム 壜胴部の欠陥検出装置
US5046111A (en) * 1989-02-09 1991-09-03 Philip Morris Incorporated Methods and apparatus for optically determining the acceptability of products

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08509417A (ja) * 1993-04-30 1996-10-08 ローベルト マーセン, 材料部分の選別方法および装置
JPH08226902A (ja) * 1994-10-19 1996-09-03 Emhart Glass Mach Investments Inc 容器検査機械
JP2002122550A (ja) * 2000-08-11 2002-04-26 Ajinomoto Faruma Kk 可撓性プラスチック容器の異物検査装置及びその異物検査方法
JP2015517659A (ja) * 2012-05-18 2015-06-22 カーハーエス・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツング 空ビンを検査するための方法及び設備
US9665933B2 (en) 2012-05-18 2017-05-30 Khs Gmbh Method and apparatus for inspecting containers, such as bottles or similar containers
WO2018158824A1 (ja) * 2017-02-28 2018-09-07 東洋ガラス株式会社 容器の検査装置及び容器の検査方法
JPWO2018158824A1 (ja) * 2017-02-28 2019-12-26 東洋ガラス株式会社 容器の検査装置及び容器の検査方法

Also Published As

Publication number Publication date
GB2248930A (en) 1992-04-22
GB9119503D0 (en) 1991-10-23
US5187573A (en) 1993-02-16
CA2051062A1 (en) 1992-03-20
DE4130373A1 (de) 1992-03-26
FR2667399A1 (fr) 1992-04-03
AU8380691A (en) 1992-03-26
JPH0736004B2 (ja) 1995-04-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH04128635A (ja) 検査方法及び装置
CN101346623B (zh) 根据图像分析进行缺陷检查的缺陷检查装置
US5095204A (en) Machine vision inspection system and method for transparent containers
JPH0249148A (ja) 壜の胴部検査方法及び装置
US20090245614A1 (en) Method and apparatus for detecting defects using structured light
JP4060750B2 (ja) 撮像検査システム
US6556291B2 (en) Defect inspection method and defect inspection apparatus
WO2004036198A1 (ja) ガラス壜の検査装置における基準画像の作成方法及び装置
JPH0513257B2 (ja)
JP6360782B2 (ja) ねじ類の検査方法
JP5959430B2 (ja) ボトルキャップの外観検査装置及び外観検査方法
JPH03168640A (ja) ホトマスクの検査装置及びホトマスクの検査方法
JPH06186002A (ja) ラベル外観検査方法及び装置
JP3155106B2 (ja) ボトルシールの外観検査方法及び装置
WO2021203651A1 (zh) 一种电子产品的壳体侧边检测装置及壳体侧边检测方法
JP2015200595A (ja) 検査装置及びptp包装機
JPH0436644A (ja) 円筒内壁面の欠陥の検査方法
JP2001235425A (ja) ペットボトルの偏肉検査方法および装置
KR102085090B1 (ko) 세탁조 전자동 비전 검사 장치
JPH10160676A (ja) 米粒検査装置
JPH02103453A (ja) 透明容器検査装置
JPH0558497B2 (ja)
JP5290043B2 (ja) トレッドカラーライン検査装置
JPH046448A (ja) 積層板の検査方法
JPH0346532A (ja) キャップ締め角度検査装置