JPH04121669A - 大型アンテナ放射特性測定装置 - Google Patents
大型アンテナ放射特性測定装置Info
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- JPH04121669A JPH04121669A JP24535790A JP24535790A JPH04121669A JP H04121669 A JPH04121669 A JP H04121669A JP 24535790 A JP24535790 A JP 24535790A JP 24535790 A JP24535790 A JP 24535790A JP H04121669 A JPH04121669 A JP H04121669A
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- Aerials With Secondary Devices (AREA)
- Variable-Direction Aerials And Aerial Arrays (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、近傍界測定法を用いて大きな開口径の大型ア
ンテナの放射特性を測定する大型アンテナ放射特性測定
装置に関する。
ンテナの放射特性を測定する大型アンテナ放射特性測定
装置に関する。
(従来の技術)
従来の大型アンテナとしてはアレーアンテナや開口面ア
ンテナが一般的に知られており、ここでは開口面アンテ
ナを取り上げて説明する。
ンテナが一般的に知られており、ここでは開口面アンテ
ナを取り上げて説明する。
開口面アンテナは、第3図に示すように、−次放射器l
及びメツシュ鏡面2により構成され、次放射器lから放
射された電波がメツシュ鏡面2により反射されて空間に
放射される。また、メツシュ鏡面2は、第4図に示すメ
ツシュ状に金属綿3により形成され、メツシュ間隔Sが
使用される電波の波長に比べ充分に小さい場合には金属
板と同様な反射特性を有する。
及びメツシュ鏡面2により構成され、次放射器lから放
射された電波がメツシュ鏡面2により反射されて空間に
放射される。また、メツシュ鏡面2は、第4図に示すメ
ツシュ状に金属綿3により形成され、メツシュ間隔Sが
使用される電波の波長に比べ充分に小さい場合には金属
板と同様な反射特性を有する。
更に、上記メツシュ鏡面2には、その開口径が充分に小
さいとき、第5図に示すように、メツシュ鏡面2を垂直
に設置するための垂直架台4により一般に垂直に支持さ
れている。
さいとき、第5図に示すように、メツシュ鏡面2を垂直
に設置するための垂直架台4により一般に垂直に支持さ
れている。
この場合、メツシュ鏡面2を垂直に設置しても、メツシ
ュ鏡面2が充分に小さいので、垂直架台4が小さくて済
むとともに、重力の影響による鏡面自体の歪みも小さく
てすむ。
ュ鏡面2が充分に小さいので、垂直架台4が小さくて済
むとともに、重力の影響による鏡面自体の歪みも小さく
てすむ。
このため、アンテナの放射特性を測定するために第5図
の右側に示すような従来の近傍界測定法を用いることが
可能である。第5図はアンテナ放射特性測定装置の概略
を示しており1図中、5はアンテナ近傍の電界分布を測
定するプローブ、6はプローブ5を各移動方向78〜7
dに動かすプローブ走査面を示すC電気通信学会編[ア
ンテナ工学ハンドブック4.P447.オーム社559
)。
の右側に示すような従来の近傍界測定法を用いることが
可能である。第5図はアンテナ放射特性測定装置の概略
を示しており1図中、5はアンテナ近傍の電界分布を測
定するプローブ、6はプローブ5を各移動方向78〜7
dに動かすプローブ走査面を示すC電気通信学会編[ア
ンテナ工学ハンドブック4.P447.オーム社559
)。
そして、このような装置では、プローブ5の走査により
走査面6上の電界分布が測定され、この電界分布に基づ
いて遠方界をコンピュータによる計算により得るように
している。
走査面6上の電界分布が測定され、この電界分布に基づ
いて遠方界をコンピュータによる計算により得るように
している。
(発明が解決しようとする課題)
上述したような測定装置によれば、メツシュ鏡面の開口
径が充分に小さい場合、重力の影響による鏡面の歪みも
小さいので特に問題はないが、メツシュ鏡面の開口径が
大きくなる場合には下記の如き問題が生ずる。
径が充分に小さい場合、重力の影響による鏡面の歪みも
小さいので特に問題はないが、メツシュ鏡面の開口径が
大きくなる場合には下記の如き問題が生ずる。
即ち、大きな間口径のメツシュ鏡面の場合には1重力の
影響が大きくなり、これに伴なってメツシュ鏡面自体の
歪みも大きくなる。
影響が大きくなり、これに伴なってメツシュ鏡面自体の
歪みも大きくなる。
この歪みの増大を小さくするためにメツシュ鏡面の背面
側に補強部材を設けることが考えられるが、メツシュ鏡
面が非常に重くなり、鏡面自体を支える垂直架台も強固
にする必要があり、装置が非常に大掛かりになる不具合
を生じてしまう。
側に補強部材を設けることが考えられるが、メツシュ鏡
面が非常に重くなり、鏡面自体を支える垂直架台も強固
にする必要があり、装置が非常に大掛かりになる不具合
を生じてしまう。
このような不具合を解決するために、例えば、■コンポ
ーネント試験データ、鏡面写真測定データ及びアライメ
ン]・データを取り込んだ特性計算結果と電気試験治具
にアンテナを取り付けて行なった試験結果を比較する方
法を採用したり(rETS−Vl搭載用アンテナ系の総
合電気特性」板波他著、信学技報、5AT89−48)
。
ーネント試験データ、鏡面写真測定データ及びアライメ
ン]・データを取り込んだ特性計算結果と電気試験治具
にアンテナを取り付けて行なった試験結果を比較する方
法を採用したり(rETS−Vl搭載用アンテナ系の総
合電気特性」板波他著、信学技報、5AT89−48)
。
■鏡面精度を短時間で測定でき、評価し易い方法として
近傍界測定法を用いている。(「近傍界測定技術を用い
た衛星用メツシュ展開アンテナの鏡面精度測定」中條他
著、信学技報、A−P86−86)。
近傍界測定法を用いている。(「近傍界測定技術を用い
た衛星用メツシュ展開アンテナの鏡面精度測定」中條他
著、信学技報、A−P86−86)。
しかしながら1反射鏡面上部において、鏡面誤差が大き
くなる問題を有している。
くなる問題を有している。
そこで1本発明は、メツシュ鏡面の開口径が大きい場合
でも、重力の影響によるメツシュ鏡面の歪みを小さくシ
、且つ、アンテナの支持構造が簡易且つ軽量可能な大型
アンテナ放射特性測定装置を提供することを目的とする
。
でも、重力の影響によるメツシュ鏡面の歪みを小さくシ
、且つ、アンテナの支持構造が簡易且つ軽量可能な大型
アンテナ放射特性測定装置を提供することを目的とする
。
(課題を解決するための手段)
本発明の大型アンテナ放射特性測定装置は、開口径が充
分に大きな大型アンテナの放射パターン等の放射特性を
測定する大型アンテナ放射特性測定装置において、水平
に設置され上方に向けて主ビームの電波を発する大型ア
ンテナと、この大型アンテナの上方に配設され大型アン
テナから発っせられる電波の方向をプローブ走査面に向
けて変える反射鏡とを備えた構成とされている。
分に大きな大型アンテナの放射パターン等の放射特性を
測定する大型アンテナ放射特性測定装置において、水平
に設置され上方に向けて主ビームの電波を発する大型ア
ンテナと、この大型アンテナの上方に配設され大型アン
テナから発っせられる電波の方向をプローブ走査面に向
けて変える反射鏡とを備えた構成とされている。
(作用)
従って、メツシュ鏡面を水平に設置して反射鏡により電
波の方向の向きをプローブ走査面に変える構成であるた
め、メツシュ鏡面に作用する重力が一様となり、メツシ
ュ鏡面の歪みが小さくなる。
波の方向の向きをプローブ走査面に変える構成であるた
め、メツシュ鏡面に作用する重力が一様となり、メツシ
ュ鏡面の歪みが小さくなる。
また、メツシュ鏡面の支持点を多くすることによりメツ
シュ鏡面の重さが分散され、更にメック、L鏡面の歪み
を小さくできると共に、メツシュ鏡面の支持構造を簡易
で軽量なものとすることが可能となる。
シュ鏡面の重さが分散され、更にメック、L鏡面の歪み
を小さくできると共に、メツシュ鏡面の支持構造を簡易
で軽量なものとすることが可能となる。
(実施例)
以下に本発明の一実施例を図面に基づき説明する。
第1図は本実施例の大型アンテナ放射特性測定装置10
を示し、同図中、lJは一次放射器、12はメツシュ鏡
面、13はアンテナ近傍の電界分布を測定するプローブ
、14はプローブの走査面、15a=15dはプローブ
の各移動方向を示している。
を示し、同図中、lJは一次放射器、12はメツシュ鏡
面、13はアンテナ近傍の電界分布を測定するプローブ
、14はプローブの走査面、15a=15dはプローブ
の各移動方向を示している。
上記メツシュ鏡面12は鉄骨材16によって水平に測定
系架台17上に支持されている。
系架台17上に支持されている。
上記プローブ13は枠体18に上下移動部材19及び左
右移動部材20を介して上下左右移動できるよう支持架
台21に支持されている。
右移動部材20を介して上下左右移動できるよう支持架
台21に支持されている。
上記測定系架台17上には、固定架台22を介してロッ
ド状の支持部材24と26が垂直に固設されている。一
方の支持部材24は、回転部25を介して、上記メツシ
ュ鏡面12の上方に配設された平面反射!(反射鏡)3
0の一側を支持している。他方の支持部材26には回転
部27を介して別の支持部材28が連結され、別の支持
部材28の先端側が回転部29を介して上記平面反射鏡
30の他側を支持している。
ド状の支持部材24と26が垂直に固設されている。一
方の支持部材24は、回転部25を介して、上記メツシ
ュ鏡面12の上方に配設された平面反射!(反射鏡)3
0の一側を支持している。他方の支持部材26には回転
部27を介して別の支持部材28が連結され、別の支持
部材28の先端側が回転部29を介して上記平面反射鏡
30の他側を支持している。
また、各支持部材24,26.28は中間部分にそれぞ
れ伸縮部24a、26a、28aを備え、自在に伸縮で
きるとともに各回転部25゜27.29の動作により平
面反射鏡30をメツシュ鏡面12の上方で大型アンテナ
の主ビーム方向が上記プローブ13に向くように任意の
角度(通常45°)に設定でき、−次放射器11から放
射された電波がメツシュ鏡面12により反射され、更に
平面反射鏡30により反射されてプローブ13において
ピックアップされる構造となっている。
れ伸縮部24a、26a、28aを備え、自在に伸縮で
きるとともに各回転部25゜27.29の動作により平
面反射鏡30をメツシュ鏡面12の上方で大型アンテナ
の主ビーム方向が上記プローブ13に向くように任意の
角度(通常45°)に設定でき、−次放射器11から放
射された電波がメツシュ鏡面12により反射され、更に
平面反射鏡30により反射されてプローブ13において
ピックアップされる構造となっている。
また、この装置lOにおいて、平面反射鏡30の傾きを
変える場合には、伸縮部28aを伸縮すればよく、平面
反射鏡30の上下方向の位置を変えるには、伸縮部24
a及び26aを伸縮させればよい。
変える場合には、伸縮部28aを伸縮すればよく、平面
反射鏡30の上下方向の位置を変えるには、伸縮部24
a及び26aを伸縮させればよい。
尚、各回転部25,27.29は、−軸の回転機構を有
し1回転させないときにはロックされて回転できない機
構を有している。
し1回転させないときにはロックされて回転できない機
構を有している。
更に、上記プローブ13を近傍界の領域に設ける必要が
あることから、例えばメツシュ鏡面12の開口径が小さ
い場合には、2つの伸縮部24a及び26aを縮めれば
よ(、逆に開口径が大きい場合には全ての伸縮部24a
、26a、28aを伸長すれば対応することができる。
あることから、例えばメツシュ鏡面12の開口径が小さ
い場合には、2つの伸縮部24a及び26aを縮めれば
よ(、逆に開口径が大きい場合には全ての伸縮部24a
、26a、28aを伸長すれば対応することができる。
また、各伸縮部24a、26a、28aを駆動すること
によりメツシュ鏡面12からプローブ13に至る光路を
微調整することが可能である。
によりメツシュ鏡面12からプローブ13に至る光路を
微調整することが可能である。
そしてプローブ13を走査面14内で各移動方向15a
〜15dに移動することにより、走査面14内での電界
分布が測定できる構成となっている。
〜15dに移動することにより、走査面14内での電界
分布が測定できる構成となっている。
次に、本装置lOによりメツシュ鏡面12における開口
上での電界分布を測定する場合について第2図に基づき
説明する。
上での電界分布を測定する場合について第2図に基づき
説明する。
尚、第2図中、12はメツシュ鏡面、31はメツシュ鏡
面の開口面、14はプローブの走査面。
面の開口面、14はプローブの走査面。
30は平面反射鏡、32A、32B、32Cは電波の進
行方向をそれぞれ示す。
行方向をそれぞれ示す。
先ず、−次放射器11から発っせられた電波はメツシュ
鏡面12において反射され、メツシュ鏡面12の開口面
31に対して45°傾いた平面反射鏡30により再度反
射され、各光線32A、32B、32Cとしてプローブ
走査面14に至り。
鏡面12において反射され、メツシュ鏡面12の開口面
31に対して45°傾いた平面反射鏡30により再度反
射され、各光線32A、32B、32Cとしてプローブ
走査面14に至り。
この走査面14上で電界分布を生ずる。この電界分布は
プローブ13によりピックアップされる。
プローブ13によりピックアップされる。
電界分布が測定されると、従来と同様に、測定された電
界分布に基づいてコンピュータにより遠方界が計算され
る。この場合にも、従来の場合と同様に電磁界分布の変
換を容易に行なうことが可能である。
界分布に基づいてコンピュータにより遠方界が計算され
る。この場合にも、従来の場合と同様に電磁界分布の変
換を容易に行なうことが可能である。
即ち、「アンテナ工学ハンドブック」 (電子通信学会
編、オーム社刊[S59] 、P44B)に示されてい
るように、アンテナ開口面31からの距離り。が (但しえは波長、Dはアンテナ開口径を示す、)の領域
を放射近傍界領域と呼ばれているが、このが知られてい
る。そこで、平面反射鏡30を上記り、の範囲内に設置
すると、位置の違いによる電磁界の交換が容易となる。
編、オーム社刊[S59] 、P44B)に示されてい
るように、アンテナ開口面31からの距離り。が (但しえは波長、Dはアンテナ開口径を示す、)の領域
を放射近傍界領域と呼ばれているが、このが知られてい
る。そこで、平面反射鏡30を上記り、の範囲内に設置
すると、位置の違いによる電磁界の交換が容易となる。
例えば、第2図において、点A−B間の距離をl
π るので、アンテナ開口面31の中心Cとこの点Cでの垂
線(光1132B)と平面反射鏡30の交点Fの距離は
、 であり、プローブ走査面14を点G、Hに限りなく近付
ける場合を考慮すると、結局1点C−F間の距離りは となる、この場合、電磁界は□に比例するので、従来の
場合と同様に電磁界分布の変換が容易に行なえることに
なる。
π るので、アンテナ開口面31の中心Cとこの点Cでの垂
線(光1132B)と平面反射鏡30の交点Fの距離は
、 であり、プローブ走査面14を点G、Hに限りなく近付
ける場合を考慮すると、結局1点C−F間の距離りは となる、この場合、電磁界は□に比例するので、従来の
場合と同様に電磁界分布の変換が容易に行なえることに
なる。
但し1本実施例では、平面反射鏡を介して電界分布をプ
ローブ走査面上で測定することから、従来の第5図に示
す場合とは厳密には異なっているが、厳密に一致させる
必要がある場合には、プローブ走査面上で測定された電
界分布を用い、計算によって平面反射鏡で反射する前の
所謂メ・ソシェ反射鏡の開口面上での電界分布を求め、
この電界分布を用いて遠方界を計算すれば容易に得るこ
とが可能である。
ローブ走査面上で測定することから、従来の第5図に示
す場合とは厳密には異なっているが、厳密に一致させる
必要がある場合には、プローブ走査面上で測定された電
界分布を用い、計算によって平面反射鏡で反射する前の
所謂メ・ソシェ反射鏡の開口面上での電界分布を求め、
この電界分布を用いて遠方界を計算すれば容易に得るこ
とが可能である。
このように、本実施例によれば、メツシュ鏡面を地上に
対し水平に設置して平面反射鏡により電波の方向を変え
て測定する構成としているので、メツシュ鏡面に作用す
る重力が一様となり1重力の影響が殆どなくなり、メツ
シュ鏡面の歪みを非常に小さくすることができる。
対し水平に設置して平面反射鏡により電波の方向を変え
て測定する構成としているので、メツシュ鏡面に作用す
る重力が一様となり1重力の影響が殆どなくなり、メツ
シュ鏡面の歪みを非常に小さくすることができる。
また、メツシュ鏡面を水平に設置するので背面架台への
固定点を多くすることにより、メツシュ鏡面の重さが分
散されて更にメツシュ鏡面の歪みを小さくできると共に
、メツシュ鏡面の支持が簡易且つ軽量なものとすること
ができる。
固定点を多くすることにより、メツシュ鏡面の重さが分
散されて更にメツシュ鏡面の歪みを小さくできると共に
、メツシュ鏡面の支持が簡易且つ軽量なものとすること
ができる。
更に平面反射鏡の支持部材に回転部及び伸縮部を備えて
いるので、アンテナの開口径の大きさに応じて、平面反
射鏡の上下位置や傾き角度の微調整が自在に可能となる
利点を有する。
いるので、アンテナの開口径の大きさに応じて、平面反
射鏡の上下位置や傾き角度の微調整が自在に可能となる
利点を有する。
尚、本実施例では、大型アンテナとしてメツシュ鏡面の
開口面アンテナを例にとって説明したが、これに限らず
1例えば重量が非常に大きく垂直に設置できない大型の
アレーアンテナ或いは他の大型展開アンテナ等の場合に
も適用することが可能である。
開口面アンテナを例にとって説明したが、これに限らず
1例えば重量が非常に大きく垂直に設置できない大型の
アレーアンテナ或いは他の大型展開アンテナ等の場合に
も適用することが可能である。
また1反射鏡として平面反射鏡の場合について説明した
が、曲面反射鏡と平面反射鏡を組み合わせて使用しても
よい。
が、曲面反射鏡と平面反射鏡を組み合わせて使用しても
よい。
更に、プローブを平面操作する場合について説明したが
1円筒面走査など、他の近傍電界測定を適用することも
可能である。
1円筒面走査など、他の近傍電界測定を適用することも
可能である。
また更に、平面反射鏡を45°に傾けた場合について説
明したが、平面反射鏡の設定精度を考えて傾斜角度を4
0°〜50°程度としても同様な効果を期待できる。
明したが、平面反射鏡の設定精度を考えて傾斜角度を4
0°〜50°程度としても同様な効果を期待できる。
(発明の効果)
以上説明したように本発明によれば、メツシュ鏡面を水
平に設置できるので、メツシュ鏡面に作用する重力が一
様となり、重力によるメツシュ鏡面の歪みを極めて小さ
(することができ、メツシュ鏡面の支持構造を簡単で軽
量な構成とすることが可能となる。
平に設置できるので、メツシュ鏡面に作用する重力が一
様となり、重力によるメツシュ鏡面の歪みを極めて小さ
(することができ、メツシュ鏡面の支持構造を簡単で軽
量な構成とすることが可能となる。
また、メツシュ鏡面の支持点を多くすることにより、メ
ツシュ鏡面の重さが分散されて更にメ・ンシュ鏡面の歪
みを小さくすることが可能となる。
ツシュ鏡面の重さが分散されて更にメ・ンシュ鏡面の歪
みを小さくすることが可能となる。
更に、反射鏡の支持部材に回転部及び伸縮部を備えてい
るので、アンテナの大きさに対応して反射鏡の上下位置
や傾き角度の微調整が可能となり、宇宙用のメツシュ鏡
面大型展開アンテナの地上試験等に用いる場合に好適と
なる利点を有する。
るので、アンテナの大きさに対応して反射鏡の上下位置
や傾き角度の微調整が可能となり、宇宙用のメツシュ鏡
面大型展開アンテナの地上試験等に用いる場合に好適と
なる利点を有する。
第1図及び第2図は本発明の実施例を示し、第1図は大
型アンテナ放射特性測定装置の斜視図。 第2図はその動作説明図、第3図乃至第5図は従来例を
示し、第3図はメツシュ鏡面の斜視図、第4図はメツシ
ュを示す拡大図、第5図はアンテナ放射特性測定装置の
斜視図である。 尚図中lOは大型アンテナ放射特性測定装置、l2はメ
ツシュ鏡面、14はプローブ走査面、24,26.28
は支持部材、24a、26a。 28aは伸縮部、25,27.29は回転部、30は反
射鏡である。
型アンテナ放射特性測定装置の斜視図。 第2図はその動作説明図、第3図乃至第5図は従来例を
示し、第3図はメツシュ鏡面の斜視図、第4図はメツシ
ュを示す拡大図、第5図はアンテナ放射特性測定装置の
斜視図である。 尚図中lOは大型アンテナ放射特性測定装置、l2はメ
ツシュ鏡面、14はプローブ走査面、24,26.28
は支持部材、24a、26a。 28aは伸縮部、25,27.29は回転部、30は反
射鏡である。
Claims (2)
- (1)開口径が充分に大きな大型アンテナの放射パター
ン等の放射特性を測定する大型アンテナ放射特性測定装
置において、 水平に設置され上方に向けて主ビームの電波を発する大
型アンテナと、 この大型アンテナの上方に配設され大型アンテナから発
っせられる電波の方向をプローブ走査面に向けて変える
反射鏡と、 を備えたことを特徴とする大型アンテナ放射特性測定装
置。 - (2)前記反射鏡を、回転部及び伸縮部を有する複数の
支持部材により支持し、反射鏡の傾き及び上下方向位置
を変化可能とした請求項1記載の大型アンテナ放射特性
測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24535790A JPH04121669A (ja) | 1990-09-13 | 1990-09-13 | 大型アンテナ放射特性測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24535790A JPH04121669A (ja) | 1990-09-13 | 1990-09-13 | 大型アンテナ放射特性測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04121669A true JPH04121669A (ja) | 1992-04-22 |
Family
ID=17132471
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP24535790A Pending JPH04121669A (ja) | 1990-09-13 | 1990-09-13 | 大型アンテナ放射特性測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04121669A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5934923A (en) * | 1996-04-22 | 1999-08-10 | Sumitomo Wiring Ststems, Ltd. | Terminal metal fitting assembling structure |
-
1990
- 1990-09-13 JP JP24535790A patent/JPH04121669A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5934923A (en) * | 1996-04-22 | 1999-08-10 | Sumitomo Wiring Ststems, Ltd. | Terminal metal fitting assembling structure |
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