JPH04117717A - 半導体集積回路装置 - Google Patents

半導体集積回路装置

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Publication number
JPH04117717A
JPH04117717A JP23780290A JP23780290A JPH04117717A JP H04117717 A JPH04117717 A JP H04117717A JP 23780290 A JP23780290 A JP 23780290A JP 23780290 A JP23780290 A JP 23780290A JP H04117717 A JPH04117717 A JP H04117717A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
power supply
point
level
inverter
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP23780290A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroyasu Makihara
牧原 浩泰
Masahide Kaneko
金子 正秀
Kenji Koda
香田 憲次
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPH04117717A publication Critical patent/JPH04117717A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は半導体集積回路装置に関し、特にその電源立
ち上げ検知回路の改良を図ったものに関するものである
〔従来の技術〕
第2図は、従来の電源立ち上げ検知回路の回路図であり
、図において、Q、はソースを電源にゲートをGNDに
ドレインをA点に接続した、プルアップ用素子としての
PチャネルMOSトランジスタ、Q2はドレインとゲー
トをA点にソースを0点に接続したNチャネルMOSト
ランジスタ、Q3はドレインとゲートを0点にソースを
GNDに接続したNチャネルMOSトランジスタであり
、このように接続されたNチャネルMO3)ランジスタ
Q、、Q、によりダイオード素子か構成されている。ま
た、T、は入力をA点に出力をB点にそれぞれ接続した
インバータである。
次に動作について説明する。
まず電源(Vcc)か立ち上かり始めると、Pチャネル
MOSトランジスタQ1はゲートかGNDに接続されて
おり、導通状態となっているか、NチャネルMO3)ラ
ンジスタQ2.Q、はA点の電位かしきい値を越えるま
で導通しないので、第4図に示すようにA点の電位はト
ランジスタQ2、Q、が導通し始める電位までVccに
追従して上昇する。
この間、A点の電位は立ち上かり始めているVCCとほ
ぼ同電位なので、インバータT、はA点をハイレベルと
みなし、B点にロウレベルを出力する。さらにA点電位
か上がり続けるとトランジスタQ、、Q、か導通し始め
、もはや上述のようにVccに追従してA点電位は上昇
しなくなる。
VccとA点電位の差がひらきはじめると、インバータ
T、はA点をロウレベルとみなし、出力Bにハイを出力
する。つまり、電源の立ち上かりを検知し、その検知出
力として一定期間出力Bにロウレベルを出力する。
そしてこの検知信号は、例えば半導体メモリ装置の場合
、そのラッチを初期化するためのパルスとして使用され
る。
〔発明か解決しようとする課題〕
従来の電源立ち上がり検知回路は以上のように構成され
ているので、電源の立ち上かりか例えは数十μsまでで
あれば、十分検出できるか、第5図に示すように数十μ
sないし1μs以下の早い立ち上かりになると、トラン
ジスタQ1かA点を充電する時間か足りず、インバータ
T1は出力をハイに保ち続け、ロウを出力しなくなるな
どの問題点かある。
この発明は、上記のような問題点を解消するためになさ
れたもので、電源の早い立ち上かりにも追従できる電源
立ち上げ検出回路を有する半導体集積回路装置を得るこ
とを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
この発明に係る半導体集積回路装置は、プルアップ用素
子と、一端を前記プルアップ用素子の出力と接続し他端
を接地したダイオード素子と、前記プルアップ用素子の
出力を入力端子に接続したインバータとからなる電源立
ち上げ検出回路において、前記インバータの入力端子と
電源との間に容量素子を設けたものである。
〔作用〕
この発明における半導体集積回路装置は、インバータの
入力端子と電源間に容量素子を設け、その容量結合によ
りインバータの入力を電源に追従して同じレベルに引き
上げるようにしたので、早い電源の立ち上げの場合でも
電源立ち上げ検出回路が動作する。
〔実施例〕
以下、この発明の一実施例を図について説明する。
第1図はこの発明の一実施例による半導体集積回路装置
を示す。図において、QlはPチャネルMOSトランジ
スタ、Q、、Q、はNチャネルMOSトランジスタ、T
、“はインバータてあり、これらは従来例と同様に接続
されている。ここてC3はA点と電源Vcc間に形成さ
れた容量素子であり、例えば0.5pF以上の容量をも
つものである。
次に動作について説明する。
通常の電源の立ち上がりの場合、本実施例は、従来例と
同様の動作を行なう。次に早い電源の立ち上がりの場合
は第3図に示すようにVccの上昇とともに容量C3は
Vccとの容量結合によりA点電位をVccと同じレベ
ルまで引き上げる二とになる。このとき、A点電位の上
昇にともないNチャネルMO3)ランジスタQ2.Q、
は導通し始めるが、A点電位を引き下げるには少し時間
を要し、この間A点電位はハイレベルになりインバータ
T、は出力Bにロウレベルを出力する。その後、容量C
3の電荷はトランジスタQ、、Q。
によって引き抜かれ、従ってA点電位か下がり出力Bは
ハイレベルとなる。
なお、上記実施例ではトランジスタQ、としてPチャネ
ルMO3)ランジスタを用いたか、これはNチャネルデ
イプリージョントランジスタでもよく、高抵抗素子であ
ってもよい。
また、上記実施例ではメモリ装置に内蔵したものについ
て説明したか、これに限るものてはないことは言うまで
もない。
〔発明の効果〕
以上のように、この発明に係る半導体集積回路装置によ
れば、プルアップ用素子と、一端を前記プルアップ用素
子の出力と接続し他端を接地したダイオード素子と、前
記プルアップ用素子の出力を入力端子に接続したインバ
ータとからなる電源立ち上げ検出回路において、前記イ
ンバータの入力端子と電源との間に容量素子を設けたの
で、早い電源の立ち上がりでも電源の立ち上がりを検出
できる効果かある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例による半導体集積回路装置
の回路図、第2図は従来の電源立ち上げ検出回路の回路
図、第3図はこの発明の一実施例による各部の電位の経
時変化を示す図、第4図。 第5図は従来の電源立ち上げ検出回路の各部の電位の経
時変化を示す図である。 図において、QlはPチャネルMOSトランジスタ、Q
2.Q、はNチャネルMOSトランジスタ、T1はイン
バータ、C1は容量素子である。 なお図中同一符号は同−又は相当部分を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)入力が電源に接続されたプルアップ用素子と、一
    端が該プルアップ用素子の出力と接続され他端が接地さ
    れたダイオード素子と、前記プルアップ用素子の出力が
    入力端子に接続されたインバータとからなる電源立ち上
    げ検出回路において、前記インバータの入力端子と電源
    との間に容量素子を備えたことを特徴とする半導体集積
    回路装置。
JP23780290A 1990-09-06 1990-09-06 半導体集積回路装置 Pending JPH04117717A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5721502A (en) * 1995-06-06 1998-02-24 Analog Devices, Inc. Voltage-controlled reset for logic state initialization
US6087885A (en) * 1997-09-11 2000-07-11 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor device allowing fast and stable transmission of signals
JP2014171197A (ja) * 2013-03-05 2014-09-18 Renesas Electronics Corp 半導体装置及び無線通信装置

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US6087885A (en) * 1997-09-11 2000-07-11 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor device allowing fast and stable transmission of signals
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