JPH0388036A - Abnormality diagnostic device - Google Patents

Abstract

PURPOSE:To easily form data for concentrating abnormality causes and abnormality countermeasure by providing the abnormality diagnostic (AD) device with a function/constitutional element corresponding information storing means and an inference means and inferring the abnormality cause and counterplan based upon AD information and function/constitutional element corresponding information. CONSTITUTION:The AD device is provided with an abnormal state input means, an AD information storing means, the inference means, an output means, and the function/constitutional element corresponding information storing means for storing respective functions of the apparatus for diagnoses of abnormality and constitutional elements relating to the performance of the functions. The inference means infers the abnormality cause and countermeasure based upon the AD information and the function/constitutional element corresponding information. Thereby, concentrating data for concentrating abnormal causes or abnormal counterplans are automatically formed by the inference means. Consequently, data can easily be formed as compared to the case for previously supposing a status change or the like due to the generation of an abnormality cause and forming concentrating data.

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、工作機械、プリンタ、ミシン等の機器の異常
を診断する装置に関するものであり、特に、異常原因の
検証に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to a device for diagnosing abnormalities in equipment such as machine tools, printers, sewing machines, etc., and particularly relates to verifying the cause of the abnormality.

従来の技術 ］ンピュータを用いて機器に生じた異常の原因や対策等
を求めることは、特開昭６３−３２６５０号公報や特開
昭６２−６８５５号公報に記載されているように製造設
備や車両等において既に行われている。このような異常
診断装置は、（ａ）異常診断対象機器の異常症状を入力
する異常症状入力手段と、中）その異常症状入力手段か
ら入力される異常症状を生じさせる異常原因、異常対策
等、異常の診断に必要な異常診断情報を異常症状と対応
付けて記憶する異常診断情報記憶手段と、（Ｃ）異常診
断情報記憶手段に記憶された異常診断情報に基づいて、
異常症状入力手段から入力された異常症状に対応する異
常原因と異常対策との少なくとも一方を推論する推論手
段と、（ｄ）推論の結果を出力する出力手段とを含むよ
うに構成される。異常診断情報に異常原因と異常対策と
のいずれか一方のみが記憶されている場合には、記憶さ
れた異常原因あるいは異常対策が推論される。また、両
方が記憶されている場合には、異常原因が推論され、そ
の推論に基づいて異常対策が求められるか、あるいは異
常原因と異常対策とが同時に推論される。[Prior art] Using a computer to determine the causes and countermeasures for abnormalities that occur in equipment, as described in JP-A-63-32650 and JP-A-62-6855, it is possible to This has already been done in vehicles, etc. Such an abnormality diagnosis device includes (a) abnormal symptom input means for inputting abnormal symptoms of the equipment to be diagnosed, and (middle) abnormal causes, abnormality countermeasures, etc. that cause the abnormal symptoms inputted from the abnormal symptom input means. (C) based on the abnormality diagnosis information stored in the abnormality diagnosis information storage means, which stores abnormality diagnosis information necessary for diagnosing the abnormality in association with abnormal symptoms;
The apparatus is configured to include (d) an inference means for inferring at least one of an abnormality cause and an abnormality countermeasure corresponding to the abnormal symptom inputted from the abnormal symptom input means, and (d) an output means for outputting the result of the inference. If only one of the cause of the abnormality and the countermeasure for the abnormality is stored in the abnormality diagnosis information, the stored cause of the abnormality or the stored abnormality countermeasure is inferred. Furthermore, if both are stored, the cause of the abnormality is inferred and a countermeasure for the abnormality is determined based on the inference, or the cause of the abnormality and the countermeasure for the abnormality are simultaneously inferred.

いずれにしても異常症状に対する原因等、異常の診断に
必要な異常診断情報を記憶手段に記憶させておけば、異
常症状の入力に基づいて異常原因。In any case, if the abnormality diagnosis information necessary for diagnosing the abnormality, such as the cause of the abnormal symptom, is stored in the storage means, the cause of the abnormality can be determined based on the input of the abnormal symptom.

異常対策が推論され、出力されるため、診断者はその診
断結果に基づいて適切な処置を取ればよいのであって、
メンテナンスマニュアル等をいちいち調べて対策を施す
場合に比較して異常に対して迅速に対応することができ
る。Since abnormality countermeasures are inferred and output, the diagnostician only needs to take appropriate measures based on the diagnosis results.
Compared to the case where countermeasures are taken by checking maintenance manuals etc., it is possible to respond to abnormalities more quickly.

異常診断情報に基づいて異常原因や異常対策を推論する
場合、異常症状に対応する異常原因を検索した後、異常
原因を絞り込むことが行われている。異常対策が異常原
因と共に推論される場合は、異常原因の絞り込みが行わ
れた後に、絞り込まれた異常原因に対応する異常対策が
読み出されることとなるが、異常原因は推論されず、異
常対策が直接推論される場合は、異常対策の検索後、そ
れの絞り込みが行われる。この異常対策の推論は異常原
因の推論と実質的に変わらないので、以下、異常原因の
推論のみについて説明する。When inferring the cause of an abnormality and countermeasures for the abnormality based on abnormality diagnosis information, the causes of the abnormality are searched for corresponding to the abnormal symptoms, and then the causes of the abnormality are narrowed down. If an anomaly countermeasure is inferred together with an anomaly cause, the anomaly cause will be narrowed down and then the anomaly countermeasure corresponding to the narrowed down anomaly cause will be read, but the anomaly cause will not be inferred and the anomaly countermeasure will not be inferred. If it is directly inferred, the abnormality countermeasures are searched and then narrowed down. Since the inference of this abnormality countermeasure is substantially the same as the inference of the cause of the abnormality, only the inference of the cause of the abnormality will be explained below.

異常原因の絞り込みは、例えば、検索された異常原因を
原因とする別の異常症状の発生について情報を得ること
により行われる。別の異常症状の発生が否定されれば、
その異常原因は異常原因候補から外され、別の異常症状
の発生が肯定されればその異常原因が真の異常原因とさ
れるのであり、前記特開昭６２−６８５５号公報に記載
の異常診断装置においては、異常診断対象機器からその
構成要素の正常・異常情報が入力され、その情報に基づ
いて異常原因を検証すべく予め定められた異常症状の発
生の有無を検証し、異常原因を絞り込むようにされてい
る。このように異常原因の絞り込みが行われれば、診断
者は絞り込まれた異常原因、異常対策に基づいて異常を
解消すればよく、検索された全部の異常原因あるいは異
常対策について異常の解消を試みる場合に比較して容易
に異常を解消することができる。Narrowing down the cause of the abnormality is performed, for example, by obtaining information about the occurrence of another abnormal symptom caused by the searched cause of the abnormality. If the occurrence of other abnormal symptoms is ruled out,
The cause of the abnormality is excluded from the candidate causes of the abnormality, and if the occurrence of another abnormal symptom is confirmed, the cause of the abnormality is determined to be the true cause of the abnormality. In the device, the normal/abnormal information of its components is input from the equipment to be diagnosed, and based on that information, it verifies the occurrence of predetermined abnormal symptoms to verify the cause of the abnormality, and narrows down the cause of the abnormality. It is like that. If the cause of the abnormality is narrowed down in this way, the diagnostician only needs to resolve the abnormality based on the narrowed-down causes of the abnormality and countermeasures, and when attempting to resolve the abnormality for all the found causes of the abnormality or countermeasures for the abnormality. Anomalies can be easily resolved compared to

発明が解決しようとする課題 このような異常原因の絞り込みは、発生した異常症状と
原因を同しくする別の異常症状の発生についての情報を
得るための情報獲得用データなど、予め作成された絞り
込み用データに基づいて情報を得ることにより行われる
ようにされているが、その絞り込み用データの作成は容
易ではない。異常原因を確実に絞り込むためには情報を
できる限り多く得ることが望ましいが、そのためには異
常原因に対する異常症状や、異常原因の発生に伴う状況
の変化等を広く想定することが必要であり、データ作成
に時間がかかるのである。Problems to be Solved by the Invention Narrowing down the cause of the abnormality as described above is possible by narrowing down the cause of the abnormality by using pre-created narrowing down data such as information acquisition data to obtain information about the occurrence of another abnormal symptom that has the same cause as the abnormal symptom that has occurred. Although this is done by obtaining information based on data for narrowing down, it is not easy to create the data for narrowing down. In order to reliably narrow down the cause of an abnormality, it is desirable to obtain as much information as possible, but in order to do so, it is necessary to widely assume the abnormal symptoms associated with the cause of the abnormality and the changes in the situation associated with the occurrence of the cause of the abnormality. It takes time to create data.

また、相異なる異常症状が異常原因を同しくする場合、
同じ異常原因についてそれぞれ同じ絞り込み用のデータ
を作成することとなり、データ量が増大し、容量の大き
い記憶手段が必要となる。In addition, when different abnormal symptoms have the same abnormal cause,
The same data for narrowing down is created for each cause of the same abnormality, which increases the amount of data and requires storage means with a large capacity.

本発明は、異常原因や異常対策の絞り込みを行うための
データの作成が容易な異常診断装置を提供することを課
題として為されたものである。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made with the object of providing an abnormality diagnosis device that allows easy creation of data for narrowing down causes of abnormalities and countermeasures for abnormalities.

課題を解決するための手段 本発明は上記の課題を解決するために、第１図に示すよ
うに、前記（ａ）異常症状入力手段、（ｂ）異常診断情
報記憶手段、（Ｃ）推論手段および（ｄ）出力手段を備
えた異常診断装置において、異常診断対象機器の各機能
と、その機能の達成に関与する構成要素とを対応付けて
記憶する機能・構成要素対応情報記憶手段を設けるとと
もに、推論手段を、異常診断情報と機能・構成要素対応
情報とに基づいて推論を行うものとしたことを特徴とす
る。Means for Solving the Problems In order to solve the above problems, the present invention, as shown in FIG. and (d) in an abnormality diagnosis device equipped with an output means, a function/component correspondence information storage means is provided for storing each function of the equipment to be abnormally diagnosed and a component involved in achieving the function in association with each other; , characterized in that the inference means performs inference based on abnormality diagnosis information and function/component element correspondence information.

なお、ここにおいて異常とは、機器の修理を要するよう
な故障のみならず、操作ミスや調整不良等、修理なしで
解消することができる事態とを含む。Note that the term "abnormality" as used herein includes not only failures that require repair of the equipment, but also situations that can be resolved without repair, such as operational errors and poor adjustment.

作用 本異常診断装置では、異常原因を絞り込むための情報獲
得用データ等絞り込み用データが機能・構成要素対応情
報に基づいて自動的に作威される。In the functional abnormality diagnosis device, narrowing down data such as information acquisition data for narrowing down the cause of the abnormality is automatically created based on function/component element correspondence information.

異常診断対象機器に異常が生じた場合、その異常の原因
の主体である構成要素がある。したがって、その構成要
素の関与により達成される機能を機能・構成要素対応情
報に基づいて検索し、その機能が正常であるか否かの情
報を得ることにより異常原因を絞り込むことができる。When an abnormality occurs in a device to be diagnosed, there is a component that is the main cause of the abnormality. Therefore, the cause of the abnormality can be narrowed down by searching for the function achieved through the involvement of the component based on the function/component correspondence information and obtaining information as to whether the function is normal or not.

機能が正常であれば、その機能の達成に関与する構成要
素も正常のはずであり、この構成要素が主体である異常
原因を先に検索された異常原因候補から外すことができ
、機能が正常でなければ、その構成要素が主体となる異
常原因が真の原因である可能性が高いと判断することが
できる。異常対策が直接推論される場合、その絞り込み
も同様に、異常対策の主体である構成要素の関与により
達成される機能が正常か否かによって行うことができる
。If a function is normal, the components involved in achieving that function must also be normal, and the main cause of the abnormality caused by this component can be removed from the abnormality cause candidates searched earlier, and the function is normal. If not, it can be determined that there is a high possibility that the true cause of the abnormality is mainly caused by that component. When countermeasures against anomalies are directly inferred, they can be narrowed down based on whether or not the function achieved through the involvement of the component that is the subject of the countermeasures against anomalies is normal.

なお、機能が正常であるか否かの情報は、診断者への問
診によって得るようにしてもよく、あるいは異常診断対
象機器の制御装置と異常診断装置とを接続し、その制御
装置から得るようにしてもよい。Information on whether the function is normal may be obtained by interviewing the diagnostician, or it may be obtained from the control device by connecting the control device of the equipment to be diagnosed with the abnormality diagnosis device. You can also do this.

発明の効果 このように本発明の異常診断装置においては、機能・構
成要素対応情報に基づいて異常原因や異常対策を絞り込
むための絞り込み用データが推論手段により自動的に作
成されるのであり、異常診断対象機器の機能と構成要素
との対応関係は、その機器の設計上、比較的容易に把握
し得る関係であって、機能・構成要素対応情報の作成は
容易であるため、異常原因に対する異常症状や、異常原
因の発生に伴う状況の変化等を予め想定して絞り込み用
データを作成する場合に比較してデータの作成が容易と
なる。Effects of the Invention As described above, in the abnormality diagnosis device of the present invention, narrowing down data for narrowing down the cause of abnormality and abnormality countermeasures is automatically created by the inference means based on the function/component correspondence information. The correspondence relationship between the functions and components of a device to be diagnosed is a relationship that can be grasped relatively easily due to the design of the device, and it is easy to create function/component correspondence information. Data creation is easier than in the case where narrowing-down data is created by anticipating symptoms, changes in the situation due to the occurrence of abnormalities, etc. in advance.

また、異なる異常症状について同じ異常原因がある場合
に、異常原因を絞り込むために同し絞り込み用データを
作成する必要がなくなり、データ景を少なくし得るとと
もに、データ作成効率を向上させることができる。Furthermore, when different abnormal symptoms have the same abnormal cause, it is no longer necessary to create the same narrowing down data in order to narrow down the abnormal cause, making it possible to reduce the data landscape and improve data creation efficiency.

なお、このように機能・構成要素対応情報に基ついて自
動的に絞り込み用データを作威し、異常原因を絞り込む
場合、予め絞り込み用データを作成する作業を全く省略
することができるが、両方行うようにしてもよい。後者
の場合、機能・構成要素対応情報に基づく絞り込みによ
り異常原因がある程度絞り込まれるため、予め作威して
おく絞り込み用データはそれほど多くなくてよく、容易
に作成することができる。Note that when narrowing down the cause of an abnormality by automatically creating narrowing data based on function/component correspondence information in this way, it is possible to completely omit the work of creating narrowing data in advance, but it is possible to do both. You can do it like this. In the latter case, the cause of the abnormality is narrowed down to a certain extent by narrowing down based on the function/component correspondence information, so it is not necessary to create so much narrowing data in advance, and it can be easily created.

また、複数の異常原因の主体である複数の構成要素が同
一の機能の達成に関与している場合、それら構成要素の
すべてとその機能とを対応付ける機能・構成要素対応情
報を作威しておけば、その機能が正常であるとの情報に
よってそれら複数の異常原因を一度に否定することがで
きる。In addition, if multiple components that are the main causes of multiple abnormalities are involved in achieving the same function, it is necessary to create function/component correspondence information that associates all of these components with their functions. For example, multiple causes of the abnormality can be denied at once based on information that the function is normal.

さらに、一つの異常原因について複数の絞り込み用デー
タを作威し、それらに対して異常情報が得られるように
した場合には、異常情報数が多いほどその異常原因が真
の異常原因である可能性が高いのであるから、異常情報
獲得結果に基づいて異常原因に順番を付ければ、異常解
消の効率を向上させることができる。Furthermore, if multiple narrowing data are created for one abnormal cause and abnormal information is obtained for them, the more abnormal information there is, the more likely that the abnormal cause is the true abnormal cause. Therefore, if the causes of the abnormality are ordered based on the result of obtaining the abnormality information, the efficiency of resolving the abnormality can be improved.

実施例 以下、本発明を工作機械の異常診断装置に適用した場合
を例に取り、図面に基づいて詳細に説明する。EXAMPLE Hereinafter, a case in which the present invention is applied to an abnormality diagnosis device for a machine tool will be explained in detail based on the drawings.

本異常診断装置は工作機械とは別の場所に設けられ、ユ
ーザからの電話連絡等により異常診断が行われる。この
異常診断装置の制御装置１０は、第２図に示すように、
ＣＰＵ１２．ＲＯＭ１４゜ＲＡＭ１６．１７およびそれ
らを接続するバス１８を有するコンピュータを主体とす
るものである。This abnormality diagnosis device is installed in a location separate from the machine tool, and abnormality diagnosis is performed by telephone contact from the user. The control device 10 of this abnormality diagnosis device, as shown in FIG.
CPU12. The main body of the computer is a ROM 14, a RAM 16, 17, and a bus 18 that connects them.

バス１８には入力インタフェース２０が接続されており
、入力インタフェース２０には入力装置２２が接続され
ている。入力装置２２は診断者が異常症状等を入力する
ものである。バス１８にはまた、出力インタフェース２
８が接続され、出力インタフェース２８には駆動回路３
０を介して表示装置３２が接続されている。An input interface 20 is connected to the bus 18, and an input device 22 is connected to the input interface 20. The input device 22 is used by a diagnostician to input abnormal symptoms and the like. Bus 18 also includes output interface 2.
8 is connected to the output interface 28, and the drive circuit 3 is connected to the output interface 28.
A display device 32 is connected via 0.

ＲＡＭ１６は異常診断装置の電源がＯＦＦかにされても
記憶内容が消えないバックアップＲＡＭであり、第３図
に示すように、異常症状入力用質問データメモリ、異常
診断情報メモリ、異常原因絞り込み用データメモリおよ
び機能・構成要素対応情報メモリを有している。また、
ＲＡＭ１７には、第４図に示すように異常症状メモリお
よび異常原因メモリ等がワーキングメモリと共に設けら
れている。The RAM 16 is a backup RAM whose memory contents do not disappear even when the power of the abnormality diagnosis device is turned off, and as shown in Fig. 3, it stores a question data memory for inputting abnormal symptoms, an abnormality diagnosis information memory, and data for narrowing down the cause of the abnormality. It has memory and function/component correspondence information memory. Also,
As shown in FIG. 4, the RAM 17 is provided with an abnormal symptom memory, an abnormal cause memory, etc. together with a working memory.

本異常診断装置において異常症状の入力は、表示装置３
２に質問が表示され、それに対して診断者が答えを入力
することにより行われるようにされており、異常症状入
力用質問データメモリには異常症状の入力に必要な種々
の質問が記憶されている。また、異常診断情報メモリに
は、異常診断情報が記憶されている。異常診断情報は、
異常症状と、それに対応する異常原因および異常対策と
を含み、工作機械の構成等に基づいて予め生ずることが
想定された事態であって、異常診断装置の作成時に異常
診断情報メモリに記憶される。第６図に異常診断情報の
例を示す。In this abnormality diagnosis device, input of abnormal symptoms is performed on the display device 3.
Questions are displayed in 2, and the diagnosis is made by inputting answers to the questions, and the question data memory for abnormal symptom input stores various questions necessary for inputting abnormal symptoms. There is. Furthermore, the abnormality diagnosis information memory stores abnormality diagnosis information. Abnormal diagnosis information is
A situation that includes abnormal symptoms, corresponding abnormal causes, and abnormal countermeasures, and is assumed to occur in advance based on the configuration of the machine tool, etc., and is stored in the abnormal diagnosis information memory when the abnormality diagnosis device is created. . FIG. 6 shows an example of abnormality diagnosis information.

機能・構成要素対応情報メモリには、工作機械の機能と
、その機能の達成に関与する構成要素とが対応付けられ
て記憶されている。機能・構成要素データの例を第７図
に示す。The function/component correspondence information memory stores the functions of the machine tool and the components involved in achieving the functions in correspondence with each other. An example of function/component data is shown in FIG.

異常原因絞り込み用データメモリには、異常原因の絞り
込みに用いるデータが記憶されている。The abnormality cause narrowing down data memory stores data used for narrowing down the abnormality causes.

後述するように本異常診断装置において異常原因の絞り
込みは、まず、機能・構成要素データに基づいて行われ
るようにされており、異常原因絞り込み用データメモリ
のデータは、その絞り込みにより残った異常原因そのも
のの発生を診断者に問う質問のデータとされている。As described later, in this abnormality diagnosis device, the causes of abnormalities are first narrowed down based on function/component data, and the data in the data memory for narrowing down the causes of abnormalities is the causes of abnormalities remaining after narrowing down. This data is used to ask the diagnostician about the occurrence of the disease.

さらに、ＲＯＭ１４には、第５図にフローチャートで示
す異常診断用のプログラムが格納されている。以下、こ
のフローチャートに基づき、本異常診断装置の作動を説
明する。Furthermore, the ROM 14 stores an abnormality diagnosis program shown in the flowchart of FIG. Hereinafter, the operation of the present abnormality diagnosis device will be explained based on this flowchart.

まず、ステップＳｌ（以下、Ｓｌと略記する。First, step Sl (hereinafter abbreviated as Sl).

他のステップについても同じ。）において、異常症状入
力用質問データメモリからデータが読み出され、Ｓ２に
おいてそのデータが入力完了を示すデータであるか否か
の判定が行われる。当初はこの判定はＮｏであり、Ｓ３
において読み出された質問が表示装置３２に表示される
。質問に対する答えが入力されればＳ４がＹＥＳとなり
、Ｓ５において異常症状が異常症状メモリに記憶される
。The same goes for other steps. ), data is read from the abnormal symptom input question data memory, and in S2 it is determined whether or not the data indicates completion of input. Initially, this judgment was No, and S3
The question read out is displayed on the display device 32. If the answer to the question is input, S4 becomes YES, and the abnormal symptom is stored in the abnormal symptom memory in S5.

異常症状入力用質問データメモリに記憶された全部の質
問について答えの入力が完了すればＳ２がＹＥＳとなり
、Ｓ６が実行され、異常診断情報に基づいて異常原因お
よび異常対策の候補が検索される。異常原因候補があれ
ばＳ７がＹＥＳとなり、Ｓ８において異常対策と共に異
常原因メモリに記憶された後、Ｓ９においてその異常原
因候補の主体である構成要素が機能・構成要素対応情報
メモリに記憶されたデータ中にあるか否かが検索される
。今、異常症状が「Ｘ軸が動かない」であるとすれば、
その異常原因候補は「共通電源ユニットの不良」および
「Ｘ軸ドライバの不良」である。「共通電源ユニットの
不良」という異常原因候補の主体である「共通電源ユニ
ット」は、「主軸回転」という機能の達成に関与する構
成要素として機能・構成要素対応情報メモリ中に記憶さ
れており、ＳＩＯがＹＥＳとなる。なお、他方の異常原
因候補「Ｘ軸ドライバの不良」の主体である「Ｘ軸ドラ
イバ」については、達成に関与する機能が機能・構成要
素対応情報メモリに記憶されてないが、複数の異常原因
候補のうちの少なくとも一つについて、それの主体であ
る構成要素が達成に関与する機能が記憶されていれば３
１０がＹＥＳとなる。When inputting answers to all questions stored in the question data memory for abnormal symptom input is completed, S2 becomes YES, S6 is executed, and candidates for abnormality causes and abnormality countermeasures are searched based on abnormality diagnosis information. If there is an abnormality cause candidate, S7 becomes YES, and the data is stored in the abnormality cause memory along with the abnormality countermeasure in S8, and then in S9, the component that is the subject of the abnormality cause candidate is stored in the function/component element correspondence information memory. It is searched to see if it is inside. Now, if the abnormal symptom is "X-axis does not move",
Candidates for the cause of the abnormality are "defective common power supply unit" and "defective X-axis driver." The "common power supply unit" which is the subject of the abnormality cause candidate "defective common power supply unit" is stored in the function/component correspondence information memory as a component involved in achieving the function of "spindle rotation". SIO becomes YES. Regarding the "X-axis driver" which is the subject of the other abnormality cause candidate "defective X-axis driver", the function involved in achieving the achievement is not stored in the function/component correspondence information memory, but there are multiple abnormality causes. For at least one of the candidates, if the function that the main component is involved in achieving is memorized, then 3.
10 becomes YES.

次いで、Ｓ１１において異常原因絞り込み用の質問が作
成される。質問は、機能が正常か異常かあるいはそのい
ずれであるか不明かを問うように作成され、１つの異常
原因の主体である構成要素が複数の機能の達成に関与す
る場合、質問は複数作成され、また、複数の異常原因候
補についてその主体である構成要素が達成に関与する機
能がある場合にも質問が複数作成され、ワーキングメモ
リに記憶される。そして、３１２では質問が表示装置３
２に表示されるが、質問が複数ある場合には、そのうち
最も効率良く異常原因を絞り込むことができる質問から
表示される。複数の異常原因のそれぞれ主体である構成
要素が一つの機能の達成に関与している場合、その機能
が正常か異常かの答えが得られれば、複数の異常原因に
ついて一度に絞り込み用データを得ることができ、絞り
込みを効率良く行うことができるのである。また、質問
が一つのみ作成された場合には、その質問が表示される
。ここでは、「共通電源ユニット」という構成要素に基
づいて「主軸は正常ですか」という質問が作成され、３
１２において表示装置３２に表示される。そして、その
質問に出された機能が正常か異常かが調べられ、答えが
入力されればＳ１３がＹＥＳとなり、質問と対応付けて
ワーキングメモリに記憶された後、３１４において質問
が終了か否かの判定が行われる。質問が複数作成されて
いればＳ１４はＮｏとなり、Ｓ１５において機能が正常
か異常かが不明であるかの判定が行われる。そして、入
力された答えが不明を指示するものであれば３１５がＹ
ＥＳとなって３１２が実行され、残りの質問の中から次
に効率良く異常原因を絞り込むことができる質問が表示
される。Next, in S11, questions for narrowing down the cause of the abnormality are created. Questions are created to ask whether a function is normal or abnormal, or whether it is unclear whether the function is normal or abnormal, and if a component that is the main cause of an abnormality is involved in achieving multiple functions, multiple questions can be created. In addition, when there are functions that are involved in the achievement of a plurality of abnormality cause candidates, a plurality of questions are created and stored in the working memory. Then, at 312, the question is displayed on the display device 3.
2, but if there are multiple questions, the question that most efficiently narrows down the cause of the abnormality will be displayed first. If the main components of multiple causes of anomaly are involved in achieving a single function, if the answer to whether that function is normal or abnormal is obtained, data for narrowing down multiple causes of anomaly can be obtained at once. This allows for efficient narrowing down. Further, if only one question is created, that question is displayed. Here, the question ``Is the main shaft normal?'' is created based on the component ``common power supply unit,'' and 3
12, it is displayed on the display device 32. Then, it is checked whether the function asked for the question is normal or abnormal, and if the answer is input, S13 becomes YES, and after being stored in the working memory in association with the question, it is determined in 314 whether the question is finished or not. A determination is made. If a plurality of questions have been created, the answer in S14 is No, and it is determined in S15 whether it is unclear whether the function is normal or abnormal. If the input answer indicates unknown, 315 is Y.
ES is executed and step 312 is executed, and from among the remaining questions, the next question that can efficiently narrow down the cause of the abnormality is displayed.

また、入力された答えが正常あるいは異常を指示するも
のであれば３１５がＮｏとなり、３１７以下において異
常原因の絞り込みが行われる。質問が複数作成された場
合、そのうちの一つについて正常あるいは異常の入力が
為されれば異常原因の絞り込みが行われるようにされて
いるのである。Further, if the input answer indicates normality or abnormality, 315 becomes No, and the cause of the abnormality is narrowed down in 317 and below. When multiple questions are created, if one of them is entered as normal or abnormal, the cause of the abnormality is narrowed down.

また、質問が１つのみ作成された場合、あるいは複数作
成された場合でも最初の質問から最後の一つ前の質問ま
で全部不明を指示する答えが入力され、全部の質問が表
示された場合には３１４がＹＥＳとなり、３１６におい
て入力された答えが不明を指示するものであるか否かの
判定が行われ、その答えが正常あるいは異常の指示であ
ればＳ１６がＮＯとなり、３１７以下において異常原因
の絞り込みが行われる。また、質問に対する答えが正常
、異常かが不明であることを指示するものであればＳ１
６がＹＥＳとなり、５１７．３１８がスキップされてＳ
１９が実行され、予め作成された異常原因絞り込み用デ
ータに基づいて絞り込みが行われる。質問に対して正常
あるいは異常の答えが得られなければ、３１７の絞り込
みを行うことができないからである。Also, if only one question is created, or even if multiple questions are created, an answer indicating "Unknown" is entered for all questions from the first question to the question before the last, and all questions are displayed. 314 becomes YES, and in 316 it is determined whether the input answer indicates unknown. If the answer is normal or abnormal, S16 becomes NO, and in 317 or below, the cause of the abnormality is determined. are narrowed down. Also, if the answer to the question indicates that it is unclear whether it is normal or abnormal, S1
6 becomes YES, 517.318 is skipped and S
19 is executed, and narrowing down is performed based on data for narrowing down the cause of abnormality created in advance. This is because 317 cannot be narrowed down unless a normal or abnormal answer is obtained for the question.

質問に対して正常あるいは異常の答えが得られた場合に
は、その答えに基づき３１７において異常原因候補の絞
り込みが行われる。ある機能が正常であれば、その機能
の達成に関与する構成要素は正常であり、その構成要素
が主体である異常原因が候補から外される一方、機能が
正常でなければ、その構成要素が主体である異常原因が
真の異常原因である可能性が高く、異常原因候補として
残される。今、「主軸は正常ですか。」という質問に対
して「正常である」という答えが入力されたとすれば、
主軸の回転に関与する構成要素である「共通電源ユニッ
ト」は正常であり、異常原因候補は「Ｘ軸ドライバの不
良」に絞り込まれるのである。When a normal or abnormal answer is obtained to the question, the abnormality cause candidates are narrowed down in step 317 based on the answer. If a certain function is normal, the components involved in achieving that function are normal, and the cause of the abnormality in which that component is the main cause is excluded from the candidates. On the other hand, if the function is not normal, the component involved in achieving that function is normal. The main abnormality cause is likely to be the true abnormality cause, and is left as an abnormality cause candidate. Now, if the answer to the question "Is the spindle normal?" is "normal", then
The "common power supply unit", which is a component involved in the rotation of the main shaft, is normal, and the candidate cause of the abnormality has been narrowed down to "defective X-axis driver."

そして、３１Ｂにおいて３１７の絞り込みの後にまだ異
常原因候補が残っているか否かの判定が行われ、残って
いればＳ１９において更に異常原因の絞り込みが行われ
る。この絞り込みは予め作成された異常原因絞り込み用
データ（質問データ）に基づいて行われ、その質問に対
する入力の結果、原因の発生が否定されず、発生してい
る可能性が高い場合にはＳ２０がＹＥＳとなり、Ｓ２１
において原因および対策が報知され、診断者はその報知
に従って異常を解消することとなる。また、異常原因の
発生が否定されればＳ２０がＮｏとなり、Ｓ２２におい
て異常原因がない旨の報知が為され、診断者あるいはメ
ンテナンス要員等が異常原因を調べ、対策を施すことと
なる。Then, in 31B, it is determined whether or not there are any abnormality cause candidates remaining after the narrowing down in 317, and if there are, the abnormality causes are further narrowed down in S19. This narrowing down is performed based on pre-created abnormality cause narrowing data (question data), and as a result of the input to the question, if the occurrence of the cause is not denied and there is a high possibility that it has occurred, S20 is performed. YES, S21
The cause and countermeasures will be reported to the diagnostician, and the diagnostician will follow the information to resolve the abnormality. Furthermore, if the occurrence of the cause of the abnormality is denied, S20 becomes No, and a notification that there is no cause of the abnormality is issued in S22, and a diagnostician or maintenance personnel or the like investigates the cause of the abnormality and takes countermeasures.

なお、異常診断情報に基づいて原因、対策が推論された
結果、異常症状に対応する異常原因、対策の候補がなか
った場合にはＳ７がＮＯとなり、Ｓ２２において異常原
因がない旨の報知が為される。また、検索された異常原
因の全部について、それぞれ主体である構成要素が機能
・構成要素対応情報中にない場合にはＳＩＯがＮｏとな
り、Ｓ１９が実行されて予め作成された絞り込み用デー
タに基づいて異常原因が絞り込まれる。If the cause and countermeasure are inferred based on the abnormality diagnosis information and there is no candidate for the abnormality cause or countermeasure corresponding to the abnormal symptom, S7 becomes NO, and a notification that there is no abnormality cause is issued in S22. be done. In addition, for all of the searched abnormality causes, if the main component is not in the function/component correspondence information, the SIO will be No, and S19 will be executed based on the narrowing down data created in advance. The cause of the abnormality is narrowed down.

以上の説明から明らかなように、本実施例においては、
入力装置２２が異常症状入力］−段を構成ｊ７、表示装
置３２が出力手段を構成し、異常診断情報メモリが異常
診断情報記憶手段を構成１〜、機能・構成要素対応情報
メモリが機能・構成要素対応情報記憶手段を構成し、Ｒ
ＯＭ１４のＳ６−　Ｓ２０を実行する部分およびＣＰＵ
１２のそれらステップを実ｊｊする部分が推論手段を構
成しているのである。As is clear from the above explanation, in this example,
The input device 22 constitutes the abnormal symptom input]-stage j7, the display device 32 constitutes the output means, the abnormal diagnosis information memory constitutes the abnormal diagnosis information storage means 1~, the function/component correspondence information memory functions/configures constitutes an element correspondence information storage means, R
Part that executes S6-S20 of OM14 and CPU
The part that executes these 12 steps constitutes the inference means.

なお、上記実施例においては異常症状が診断者により入
力されるようになっていたが、異常診断装置を工作機織
の制御装置と接続１−１異常発住信号が異常診断装置に
供給されるようにする、丁とるこより、異常症状が入力
されるようＧこしてもよい。In the above embodiment, abnormal symptoms are input by the diagnostician, but the abnormality diagnosis device is connected to the control device of the machine loom 1-1 so that the abnormality occurrence signal is supplied to the abnormality diagnosis device. You may also press G to input abnormal symptoms.

また、」記実施例４．１おいては機能・構成要素対応情
報に基−ブいて自動的乙こ作成されだ質問６．−よる検
証が予め作成された異常原因絞り込み用データによる検
証より先に行われるようになっていたが、後に行われる
ようにすることも同時に行われるようにすることも可能
である。In addition, in Example 4.1, question 6.1 is automatically created based on the function/component correspondence information. - verification is performed before verification using abnormality cause narrowing data created in advance, but it is also possible to perform it later or at the same time.

さらに、上記実施例ｔこおいＹは、−・つの質問６、二
ついて正畠あるいは異常の答云が得られれば異常原因候
補の絞り込のが行われ、それにより異常原因（Ｉｉ補が
残った場合乙に予め作成された絞り込み用データに基づ
いて絞り込みが行われるようになっていたが、Ｓ１２に
戻って別の質問を行い、その入力結果乙こ基づいて絞り
込みを行うよ・うに１〜でもよい。Furthermore, in the above-mentioned Example t, the abnormality cause candidates are narrowed down if the answers to two questions 6 and 2 are correct or abnormal, and the abnormality cause (Ii supplement remains) is narrowed down. In this case, the narrowing down was to be performed based on the narrowing down data created in advance by the user, but the process returns to S12, asks another question, and narrows down based on the input result. But that's fine.

また、質問が複数作成された場合、上記実施例にお（・
〕るよう６．″、異常原因を届も効率Ｑ＜絞り込むこと
ができる質問から表示すれば、異常原因の絞り込みを迅
速に行うことができるが、複数の質問全部が表示され、
それら質問に対する答える１−基づいて異常原因の校り
込みが行われるよ・）Ｌ：、Ｌ−てもよい。In addition, if multiple questions are created, please refer to the above example (・
] 6. ″, if you display the cause of the abnormality from the questions that can be narrowed down, you can quickly narrow down the cause of the abnormality, but if all the questions are displayed,
Based on the answers to these questions, the cause of the abnormality will be built in. L:, L- may be used.

さら乙にまた、異常原因の検証は、機能・購成要素対爪
・情報６．二基づいて作成された質問のみ乙、二基−ブ
いて行うようにＵ２てもよい。In addition, the cause of the abnormality can be verified by comparing functions/purchasing factors with claws/information 6. Only the questions created based on the second question may be asked, and the second question may be asked based on the second question.

４二た、異常診断情報は異常原因のみがｊ＃論さ、）す
るものどし、異常対策は推論ン＼れた異常原囚乙に基づ
いて診訪五等が尤え、あるいは調べて施すよっにしでも
よい。42. In the abnormality diagnosis information, only the cause of the abnormality is discussed, and countermeasures for the abnormality are determined or investigated by the medical examiner based on the inferred abnormality. You can do it anyway.

さらに、本発明は、Ｔ作機械以外Ｃ）機器の異常４；診
断する装置にも適用することができる。Furthermore, the present invention can also be applied to equipment for diagnosing abnormality 4 of equipment other than T-machines.

その他、特許請求の範囲を逸脱することなく、当業者の
知識に基づいて種々の変形１改良を施（７た態様で本発
明を実施することができる。In addition, the present invention can be implemented in various modifications and improvements based on the knowledge of those skilled in the art without departing from the scope of the claims.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第１図は本発明の構成を概念的に示ずブじ７ノク図であ
る。第２図は本発明の一実施例である異常診断装置のブ
ロック図である。第３図はその異常診断ｇ置の主体を成
すコンピュータのへ／クアップ尺ＡＭの構Ｊ戊を示す図
であり、第４図はＲＡ　Ｍの構成を示す図である。第５
図は上記コンピュ−タのＲＯＭに格納された異常診断ブ
１コグラムを示すフローチャートである。第６図はＬ記
バンクアップＲＡＭに設けられた異常診断情報メ七りに
記憶された異常診断情報の例を示す表で３ちり、第７図
は機能・構成要素対応情報メモリ６ご記憶された機能・
構成要素対応情報の例を示−４表−ごある。 １０：制御装置　　　２２：入力装置 ：表示装置FIG. 1 is a block diagram conceptually showing the structure of the present invention. FIG. 2 is a block diagram of an abnormality diagnosis device that is an embodiment of the present invention. FIG. 3 is a diagram showing the configuration of the computer head/up module AM which constitutes the main body of the abnormality diagnosis equipment, and FIG. 4 is a diagram showing the configuration of the RAM. Fifth
The figure is a flowchart showing an abnormality diagnosis blockogram stored in the ROM of the computer. FIG. 6 is a table showing an example of the abnormality diagnosis information stored in the abnormality diagnosis information memory 6 provided in the L bank-up RAM, and FIG. Features・
An example of component correspondence information is shown in Table 4. 10: Control device 22: Input device: Display device

Claims (1)

【特許請求の範囲】 異常診断対象機器の異常症状を入力する異常症状入力手
段と、 その異常症状入力手段から入力される異常症状を生じさ
せる異常原因、異常対策等、異常の診断に必要な異常診
断情報を異常症状と対応付けて記憶する異常診断情報記
憶手段と、前記異常診断情報記憶手段に記憶された異常
診断情報に基づいて、前記異常症状入力手段から入力さ
れた異常症状に対応する異常原因と異常対策との少なく
とも一方を推論する推論手段と、推論の結果を出力する
出力手段と を有する異常診断装置において、 前記異常診断対象機器の各機能と、その機能の達成に関
与する構成要素とを対応付けて記憶する機能・構成要素
対応情報記憶手段を設けるとともに、前記推論手段を、
前記異常診断情報と前記機能・構成要素対応情報に基づ
いて推論を行うものとしたことを特徴とする異常診断装
置。[Scope of Claims] Abnormal symptom input means for inputting abnormal symptoms of the equipment to be diagnosed, and abnormalities necessary for diagnosing the abnormality, such as abnormal causes causing the abnormal symptoms and abnormal countermeasures inputted from the abnormal symptom input means. an abnormality diagnosis information storage means for storing diagnostic information in association with abnormal symptoms; and an abnormality corresponding to the abnormal symptom input from the abnormal symptom input means based on the abnormality diagnosis information stored in the abnormality diagnosis information storage means. An anomaly diagnosis device having an inference means for inferring at least one of a cause and an anomaly countermeasure, and an output means for outputting a result of the inference, each function of the equipment to be anomaly diagnosed and the components involved in achieving the functions. and a function/component correspondence information storage means for storing the information in association with each other, and the inference means,
An abnormality diagnosis device characterized in that an inference is made based on the abnormality diagnosis information and the function/component element correspondence information.