JPH0377057A - 超音波探傷装置 - Google Patents

超音波探傷装置

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JPH0377057A
JPH0377057A JP21436589A JP21436589A JPH0377057A JP H0377057 A JPH0377057 A JP H0377057A JP 21436589 A JP21436589 A JP 21436589A JP 21436589 A JP21436589 A JP 21436589A JP H0377057 A JPH0377057 A JP H0377057A
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武 山口
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稲満 広志
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  • Length Measuring Devices Characterised By Use Of Acoustic Means (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、超音波探傷装置に係り、特に複雑な表面形状
の被検体を自動超音波探傷するのに好適な超音波探傷装
置に関するものである。
〔従来の技術〕
精密な探傷を目的とする超音波探傷の一方法として、水
中に被検体を沈め、その水中で超音波探触子により被検
体の表面上を走査して探傷する水浸自動探傷法がある。
水浸自動探傷法においては、傷(欠陥)の大きさ及び位
置を正確に知るために、超音波探触子と被検体との距離
を一定に保ち、しかも超音波ビームの中心軸の方向を被
検体の表面の法線方向に一致させておく必要がある。
なお、この種の装置として関連するものには、例えば、
「日本機械学会誌、j Vol、90.No、826.
p5〜9、「非破壊検査」第37巻、第2号、 P15
2〜153、特開昭63−309852号公報、特開昭
63−309853号公報等に示された技術が知られて
いる。
〔発明が解決しようとする課題〕
上記従来技術のうち、r日本機械学会誌」の例は、表面
が平面の被検体の探傷は可能であるが、表面が曲面の被
検体に対しては、超音波ビームの中心軸の方向を被検体
の表面の法線方向に一致させることが困難なため、探傷
が不可能であった。
一方、「非破壊検査」および特許公開公報の例は、まず
被検体全面の形状をレーザ距離計で計測し、次にその形
状データを用いて、超音波探触子を走査する方法を採っ
ている。
ここでは、距離センサと多軸制御される探触子とは独立
に姿勢制御されるため、探触子の法線方向を制御すると
ともに被検体表面からの距離を一定に制御すると、距離
センサによる測定点が大きく変化する場合があり、所定
の測定点における形状を測定できないことがあった。
また、スキャナ機構が被検体表面をレーザと超音波とで
2回走査する必要があり、超音波探傷に要する時間の2
倍の時間を必要とする問題があった。
さらに、レーザー距離計を用いた形状測定は空気中で、
超音波探傷は水中で行う必要があり、その段取りに大が
かりな装置を必要としたり、多くの時間を費やすという
問題があった。
本発明の目的は、曲面を有する被検体表面の所望の測定
点において、超音波探触子がその表面に対して常に所定
方向からその測定点に向いて探傷することができ、1回
の走査で表面形状の測定と探傷とを行うことが可能な超
音波探傷装置を提供することである。
〔課題を解決するための手段〕
本発明は、上記目的を達成するために、距離センサによ
り予め測定した被検体の形状データに基づき超音波探触
子の探傷点の法線方向と位置とを演算し、被検体を探傷
する超音波探傷装置において、前記距離センサと超音波
探触子とを一体的に結合し、前記距離センサによる前記
探傷点よりも先行する測定範囲の形状測定と、前記超音
波探触子の前記探傷点における所定方向および所定距離
からの探傷とを並行して実行する制御装置を備えた超音
波探傷装置を提案するものである。
前記制御装置は、探傷領域を含む領域で前記距離センサ
を走査し、この距離センサの検出信号と各駆動軸の位置
信号とから被検体表面の位置を演算する手段と、演算さ
れた被検体表面の位置を記憶する記憶部を備えることが
できる。
前記制御装置は、具体的には、前記測定範囲を小領域に
区分し、前記形状測定時に前記距離センサから得られた
情報と各駆動軸の位置から得られた情報とを、同一の小
領域には1個の位置情報として記憶する記憶部を含むこ
とが可能である。
前記制御装置は、さらに、各探傷点の法線方向および位
置を演算するに際し、当該探傷点を囲む周囲の小領域に
対応する記憶部に格納されている位置情報を選択的に取
り出して演算する手段を含んでもよい。
また、前記距離センサを、1個の超音波探触子で構成し
た場合は、前記制御装置は、探傷用超音波探触子が移動
すべき位置およびその法線方向を演算する際に外挿演算
を行い、必要なデータを補間する。
〔作用〕
形状測定動作では、距離検出手段の出力信号と駆動装置
の位置信号とから被検体表面の位置を演算する。そして
、探傷動作では、前記形状測定動作で演算した位置に基
づいて超音波探触子を位置決めし、探傷を行うとともに
、形状測定動作と同様の演算も行うので、探傷と形状測
定とが並行して進行し、1回の走査で曲面を有する被検
体の探傷が可能となる。
なお、本明細書において、形状測定動作とは、形状測定
のみを行う動作をいい、探傷動作とは、形状測定動作を
しなから探傷を並行して行う動作をいう。
〔実施例〕
第1図〜第3図を用いて、本発明の第1実施例を説明す
る。
第工図は本発明による超音波探傷装置の第1実施例の全
体構成を示すブロック図、第2図は第1図実施例の手首
部の側面を示す図、第3図は第1図実施例における超音
波探触子等の配置例を示す図である。
1は探傷するための超音波探触子、2a、2bは被検体
3の表面の位置を検出するための距離センサであり、具
体的には超音波探触子であって、第1ブラケツト4によ
り超音波探触子1と結合されている。5はα軸用の駆動
装置であり、例えば電気モータで、この駆動装置を動作
させると、超音波探触子1.2a、2bを取り付けた第
1ブラケツト4はα軸回りに回転する。6はβ軸用の駆
動装置であり、この駆動装置を動作させると、第1ブラ
ケツト4はβ軸回りに回転する。7は駆動装置5を取り
付けた第2ブラケツト、8はZ軸アームである。Z軸角
駆動装置9を動作させると、Z軸アーム8はZ軸方向す
なわち上下方向に移動する。10は第3ブラケツトであ
る。ここでは図示していないが、この第3ブラケツト1
0をX軸。
Y軸方向に移動させる駆動装置を備えている。11は探
傷範囲等を入力する入力装置、12は記録装置、工3は
距離検出装置、工4は制御装置115〜工9は各軸の駆
動装置用の増幅器であり、例えばサーボ増幅器である。
20〜24は各駆動装置に内蔵された位置または角度検
出器9例えばポテンショメータからの信号である。25
〜29は制御装置14からの指令値、30は超音波探触
子1からの超音波信号、31a、31bは超音波探触子
2a、2bからの超音波信号である。これらの信号31
a、31bは距離検出装置13に入力されている。
第4図は距離検出装置13の構成の一例を示すブロック
図である。距離検出装置!13は、超音波探触子2a用
の距離検出回路13aと、超音波探触子2b用の距離検
出回路13bとからなる。距離検出回路13aは、超音
波探触子2aに超音波信号を送信する送信器32と、被
検体3から反射してくる超音波信号を受信する受信器3
3と、計時回路34とからなる。計時回路34は送信器
32からの送信信号と被検体3の表面からの超音波反射
信号との時間間隔を測定し、制御装置14に出力する。
なお、この時間間隔をtoとし、水中の音速をVとする
と、超音波探触子2aと被検体3の表面との距離mは、 m=Vto/2・・・・・・(1) で求められる。また、距離検出回路13bは13aと同
様の構成となっている。
次に、制御装置14の制御内容について説明する。第5
図は概略的な制御内容を示すフローチャートである。
まず1手順35でメモリのクリアなどの初期処理を行い
、次に、手順36で超音波探触子2a。
2bを制御開始位置に位置決めする。その位置決め動作
が完了した状態を第6図に示す。そして、形状測定動作
37に移る。
形状測定動作37の詳細フローチャートを第7図に示す
、形状測定動作における各駆動装置の位置指令値は予め
わかっているものとする。ただし、探傷するときの指令
値よりは精度を必要としないので、例えば、l走査のう
ち代表点の位置を被検体の設計データ等から求め、その
間を補間して指令値を求めておく。
形状測定動作37では、まず、手順40で1走査分の各
駆動装置の指令値(以下、各軸指令値という)を取り込
み、メモリに記憶する。この上走査分の各軸指令値は式
(2)〜(6)に示すようなデータ群となっている。
Xre1= (X、、 X、、 −、Xn、 ・・・、
 X、ax) −(2)Yre*= (Y、、 Yl、
 −、Y□”・、 Y、ix) ・・・(3)Zret
= (Zo、 Z−−・=−Zn、−2Z−ax) ・
・・(4)αref=(α。、α1.・・・、α。、・
・・、αmaX) ’・・(5)βret=(β。、β
0.・・・、β。、・・・、β、&X)・・・(6)次
に、手順41で、走査開始点に位置決めする。
すなわち、Xrei=X6t Yret=Y6t Zr
e*=L*αrez”α。、βrez =β。とし、各
軸を位置決めする。この位置決めが完了したら、変数N
を1にし。
手順43で走査開始指令をタイマー割り込みプログラム
に出力する。タイマー割り込みプログラムでは、走査開
始指令を受は取ると、第8図に示すプログラムが、ある
決められた一定時間間隔で動作する。
まず、手順47で、走査停止指令かどうか判定する。最
初は走査開始指令であるので、手順48に移り、N番目
すなわちN=1なので、Xre1=X1g Yre1=
Ytt Zrez=Z1. c!rei= (t□sβ
ret ”β1の指令値を取り込み、その指令値と各軸
の現在位置xat L+ ZO2α。、β。との差を計
算し、その偏差にある係数を乗じるサーボ演算を行い、
その演算結果を第1図におけるサーボ増幅器15〜19
に出力する。
手順49で、超音波探触子2a、2bと被検体3表面と
の距離Qa、Qbを距離検出装置13からの信号により
取り込む。次に、手順50で、各軸の現在位置X Il
l Ylllt Zol α、β。を取り込む。
手)@51で、距離信号Ra、Qbと各軸の現在位置信
号X、、Y、、z、、α。、β。とから、被検体3の表
面に超音波探触子2a、2bの超音波ビームが当ってい
る点の位置(Xa、Ya、Zl) 、(xb。
Yb、Zl、)を演算する。ここで、X&〜Z、は次の
関係式から演算される。
Xa= ft CXot Yes Lp αomβat
 ia) −(7)Ya= f z (Zol Ya9
 zO# αatβa−Qa) −(8)Za” fi
 (Xa+ Yoy Zop aa*β、、 11) 
”・(9)Xb=fz (xat Yap Zet a
o+ f’a* fib) ・”(10)Yb=fx 
(Xa+ Yo、Zot αovβ、、 ub)−(n
)Zb=fl (Xoe Y+p Zoo αo+ f
’at Qb) ・・’(12)すなわち、x0〜β。
で示す現在位置と1次の距離検出位置データX工〜β、
との偏差を求め、その偏差と距離測定値Qa、Qbとか
ら1次のN=1番目の距離測定点の位置を演算する。
次に、手)@52で、(7)〜(12)で求めた被検体
3の表面の位置を記憶しておく。
ここで、第9図を用いて、位置の記憶方式の一例を説明
する。第9図は1位置記憶用の領域分割の一例を示して
いる。同図において斜線で示した領域が被検体3のx−
y座標平面における探傷範囲とする。
位置記憶用領域はその探傷領域より少し大きい領域とし
、その領域(X軸はXth工〜Xい、、Y軸がYtbl
〜Ythzで囲まれた領域)をX軸方向にP+1分割し
、Y軸方向にS+1分割し、小さい領域に区分する。
そして、式(7)、  (8)で得られたXa、Yaが
第9図のどの小領域に対応するかを調べ、対応する領域
の値として、X&= YJL、 ZJLと記憶完了を示
すフラグとを記憶しておく。また、式(10)〜(12
)で得られた値についても同様の処理を行う。
なお、検出された位置データを上記小領域に記憶する際
に、例えば小領域の区分間隔より距離測定手段の測定間
隔を小さくとれば、小領域1個の範囲内に得られる位置
情報は密になり、逆に測定間隔をより大きくとれば、小
領域1個の範囲内には相当する位置情報が記憶されない
ことになり、例えば1行おきに記憶される等、その方法
はいずれでも選択できる。
また、探触子と形状測定用探触子とが一体的に駆動され
るため、探触子を法線方向に向けると。
近くにある形状測定用探触子も距離検出点の法線方向に
近い方向に向くことになり、検出距離データが確実に得
られ易くなる。
上述のとおり、探傷用探触子と形状測定用探触子とを一
体的に結合して姿勢制御するので、探傷動作のために法
線方向を制御すると、探傷に先立って形状を測定する形
状測定用探触子が既に測定した測定点に再び向けられる
こともある。このように、既に記憶されている領域に新
たにデータが得られた場合は、 (1)新しいデータを記憶データとする。
(2)古いデータを記憶データとする。
(3)新しいデータと古いデータを加え、2で割って記
憶データとする。
のどの方式を用いてもよい。
次に、プログラムの手順は第8図の手順53に移り、変
数Nに1を加えて、すなわちN=2として終了する。
第8図のタイマー割り込みプログラムの動作が完了する
と、プログラム手順は第7@の手)@44に戻り、−回
の走査が完了したかどうかを調べる。
この判定はNがmax+1になったかどうかで行う。
この段階ではN=2なので、手順44を繰り返すことに
なる。この手順44を繰り返している間に、ある一定時
間間隔で第8図のタイマー割り込みプログラムが動作し
、超音波探触子1,2a、2b。
を結合したブラケット4が第10図に示すように、X軸
方向に走査される。その走査とともに、先に説明した記
憶方式により、被検体3の表面の位置が記憶される。
そして、N=max+1になると、プログラムは手順4
4から手順45へ移り、走査停止指令をタイマー割り込
みプログラムに出力する。この停止指令により、第8図
の手順54のみを行うことになり、1回の走査における
最後の指令値であるXm1x + Y 、ax 、 Z
 wax 、α□8.β、Xを指令値として、サーボ演
算及びその演算結果をサーボ増幅器15〜19に出力す
る。手順54は第7図の手J[40が完了するまで繰り
返される。
再び第7図に戻る。プログラムは手順45で走査停止指
令を出力した後、手5@46に移り、形状測定動作が完
了したかどうかを調査する。超音波探触子1により被検
体3を探傷するためには、少くとも、超音波探触子lが
第3図のLだけY方向に移動するまで走査を繰り返す必
要がある。したがって、1回の走査では、完了しないの
で、プログラムは手順46から手I@40に移り1次の
1走査分の各軸位置指令値を取り込み、手順41〜46
を順次繰り返す。
そして、第11図に示すように、被検体3の表面の位置
が記憶されている近傍に超音波探触子1の超音波ビーム
が達した時点で、形状測定動作が完了したと判断され、
プログラムは第7図の手順46から第5図の手順38の
探傷動作へ移る。
以上説明した形状測定動作により、第11図の一点鎖線
で示した領域の被検体3の表面の位置は、第9図で示し
た記憶方式により記憶される。
次に、第5図の探傷動作38について詳述する。
第12図は、探傷動作38の詳細なフローチャートであ
る。このフローチャートが第7図の形状測定動作のフロ
ーチャートと違うところは、手順40の1走査分の各軸
位置指令値の取り込みが、手順55の1走査分の各軸位
置指令値の演算に代り、手順46の形状測定動作完了判
定が、手順56の探傷動作完了判定に代わっていること
である。
その他の手順は第7図と全く同じである。また、探傷動
作におけるタイマー割り込みプログラムは形状測定動作
のそれと全く同じである。
手順55の1走査分の各軸位置指令値の演算について詳
述する。第13図は1走査分の各軸位置指令値の演算手
順のフローチャートである。また。
第14図は各軸位置指令値を演算する時に、記憶した被
検体3の表面め位置データのうち、どのデータを使用す
るかを説明する図である。同図の太い実線が走査するラ
インであり、黒丸と白丸で示した制御点位置の各軸指令
値を演算するものである。
まず1手順57で制御点位置近傍における被検体3の表
面の法線ベクトルを演算する。例えば。
第14図の黒丸の制御点位置の場合は、次の様になる。
黒丸の場合、黒丸を含む近傍の領域(1゜1)、(1,
2)、(2,2)、(2,1)のデータから法線ベクト
ルを演算すると、場合によっては、4カ所のデータがす
べて黒丸のごく近傍になった場合、被検体3の表面位置
の検出誤差があると、法線ベクトルの演算誤差が大きく
なり好ましくない。そこで、領域(0,O)、(0,3
)。
(3,3)、(3,O)のデータを用いることにする。
領域(0,O)のデータをXz+ ’/1+ Zn*領
域(0,3)のデータをXx+ ’/z+ Zn*領域
(3,3)のデータをX31 ’/、v Z31領域(
3゜O)のデータをX。V、t Z4とすると、被検体
3の表面における制御点位置黒丸の近傍の法線ベクトル
N (=Nx、Ny、Nz)は次式によって求まる。
ただし、i≠4ならj=i+1.i=4ならj=1であ
る。
次に、手順58で制御点位置の位置演算を行う。
第14図における制御点黒丸の位置を(xkt yk+
zk)とすると、Xhy yhは記憶領域を設定するた
めに与えた値であり、既知である。したがって、手順5
8の制御点位置の位置演算はハを求める演算である。
平面式は Nxx+Nyy+Nzz+d=O−−−−−−(1[i
)であるので、法線ベクトルN (=Nx、Ny−Nz
)が求まれば、平面上の一点の座標(X□y□z、)か
ら、平面式の係数dは次式となる。
d=  (NxXm+Ny3’+a+NzZ+s)”’
(17)この係数dを用いることにより、制御点の位置
Zhは次の様に求まる。
2 次に、係数dの演算に使用する(xmyy□Z+a)に
ついて説明する。
法線ベクトルの演算は、第14図における領域(0,0
)、(0,3)、(3,3)、(3,0)の記憶データ
を用いて行ったが、係数dの演算に使用する記憶データ
は制御点位置黒丸の近傍の方が真の値に近い。したがっ
て、領域(1,1)、(i、2)。
(2,2)、(2,1)の記憶データを用いることにす
る。すなわち、領域(1t1)の記憶データと式(13
)〜(15)で得られた法線ベクトルを式(17)に代
入して演算し、その値をdlとする。同様の方法を用い
て領域(1,2)の記憶データから計算した値をd21
領域(2,2)の記憶データから計算した値をd31領
域(2,1)の記憶データから計算した値をd4とする
。そして、次式を計算して、係数dとする。
d=(d□+d、+d、十d4)/4  ・・・(19
)この様に、4つの領域から求めた係数を平均化すれば
、真の値に近いものとなる。
以上の説明により、制御点位置の法線ベクトルN (=
Nx、Ny−Nz)と位置(Xh、  yk+  zh
)が求められた。
プログラムの手順は次に手順59に移り、各軸の位置指
令値の演算と記憶を行う。ここで、超音波探触子1と被
検体3の表面との距離がΩ。になるように設定すると、
各軸の位置指令値(X r Hyrt zr)は次の関
係式から演算される。
xr=f*(Xh、yktzb+Nx5Ny+Nz+l
2o)  −・−・−(2o)yr=f5 (Xhy)
’btZh、NxyNytNztQo)  −−−−−
−(2i)Zr=L (Xh*ymyZheNx+Ny
tNztQa)  ””・(”2)ar= ft (N
xx Nyy Nz)        ・・”・(23
)βt= f * (Nx、 Ny、 Nz)    
    −”(24)すなわち、探傷点周囲の小領域の
データから探傷点における法線方向と位置とを演算する
そして1式(20)〜(24)の値を記憶しておく。
次に、手順60に移り、1走査分の演算が完了したかど
うかを調べる。当然のことであるが、上記説明では第1
4図の黒丸で示された制御点しか演算してないので、手
順57に移り1次の制御点の近傍の法線ベクトル演算を
行う。この様に手順57〜60を順次繰り返し、第I4
図の■印の制御点位置まで演算および各廃動装置の制御
を繰り返しながら探傷し、第I3図のプログラムを完了
して、第12図の手順41へ移る。
以上説明した手順55の1走査分の各軸位置指令値の演
算により得られた指令値は、式(2)〜(6)で表わさ
れたデータ群と同じになっている。このデータ群を用い
、手順41〜45を実行し、1回の走査を完了すること
になる。そして、手順56に移り、探傷動作が完了した
かどうか調べる。すなわち、第9図の太い実線で示され
た範囲をすべて走査したかどうか調べ、走査してなかっ
たら手順55に戻り、次の■走査分例えば、第14図の
X印のラインの各軸位置指令値の演算を行う、なお、手
順44の走査完了待ちの時は、形状測定動作と同じタイ
マー割り込みプログラムが動作しているので、第15図
に示すように、被検体3の表面の位置演算と記憶を行っ
ていることは言うまでもない。
第14図で示された探傷範囲をすべて走査したならば、
プログラムは手順56から第5図の手順39へ移り、あ
る決められた終了位置へ各軸を位置決めし、制御は完了
する。
また、被検体3の欠陥探傷についての詳しい説明はしな
かったが、探傷動作において、超音波探触子1の超音波
信号30と制御点位置(x、yk)のデータとを用いる
ことにより、記録装置上3で欠陥分布を記録できる。
なお1手順57の法線ベクトル演算の説明においては、
第14図の黒丸を含む4ケの記憶データから法線ベクト
ルを演算したが、黒丸を含むような領域のデータであれ
ば、3ケの記憶データから法線ベクトルを求めてもよい
また、4個以上の記憶データから法線ベクトルを求めて
もよい。
さらに、以上の例はすべて探傷用探触子を被検体表面の
法線方向に向けるものであったが、法線方向に対しであ
る角度をもたせて1例えば表面波臨界角方向に探触子を
向けて探傷するように制御してもよいことも明らかであ
る。
上記実施例の説明では、被検体3の表面の位置を検出す
るための超音波探触子が2個(2a、2b)であったが
、第16図に示すように、2個以上取り付けても、式(
7)〜(9)の計算と同じ計算が増すだけであり、本発
明が成立することは明らかである。
また、第14図を用いた説明においては、制御点位置を
記憶領域の境に設定したが、第17図に示すように、記
憶領域の中に設定しても良い。ただし、この時の手順5
8の制御点位置の位置演算は、例えば第17図の黒丸の
場合は領域(2,1)の記憶データを用いて行う。
本実施例によれば、被検体3の表面の位置を検出するた
めの超音波探触子を少くとも2個(2a。
2b)有しているので、第14図の太い実線で示すライ
ンを超音波探触子1が走査しても、探傷点より外にある
0、1.P−1,P列の領域における被検体3の表面の
位置を検出できる。
第18図および第19図に本発明の第2実施例を示す。
第18図は手首部の側面図を示し、第19図は第14図
と同様に、各軸位置指令値を演算する時に、記憶した被
検体3の表面の位置データのうち、どのデータを使用す
るかを説明するための図である。
第1実施例では被検体3の表面の位置を検出するための
形状測定用超音波探触子を2個有していたが、第2実施
例ではその超音波探触子2を1個としたものであり、そ
の他の構成は第1実施例と同じである。
被検体3の表面の位置を検出するための超音波接触子を
1個とした場合に生じる問題点は、手順55の1走査分
の各軸位置指令値の演算部分である。すなわち、第1実
施例の説明で述べたように、形状測定用超音波探触子が
2ケ(2a、2b)あると、0,1.P−1,P列の領
域における被検体3の表面の位置を検出できるが、超音
波探触子が1個であると、超音波探触子1が第19図で
示すxthLからXthzの間しか走査しないので、O
印で示す制御点の各軸位置指令値の演算ができない。
そこで、次にO印における各軸位置指令値の演算方法に
ついて説明する。
まず、第19図の制御点黒丸の近傍における法線ベクト
ルN(=Nx、Ny、Nz)を領域(0,0)。
(0,3)、(3,3)、(3,0)の記憶データを用
い、式(13)〜(15)と同様の演算を行い求める。
そして、第19図の制御点A、Bは制御点黒丸と法線ベ
クトルが同じであるとして、以下の演算を実行する。
すなわち、制御点Aについては、領域(1,O)の記憶
データと上述の法線ベクトルNを式(17)に代入して
演算した結果の値をd□とする。同様の方法を用い領域
(1,1)の記憶データから計算した値をd2M領域(
2,1)の記憶データから計算した値をd、、 ft域
(2,O’)の記憶データから計算した値をd4とする
。そして、式(19)を演算すると、係数dが得られる
次に、この係数dと制御点黒丸の近傍における法線ベク
トルN (=Nx、Ny、Nz)と制御点Aの位置Xk
、Ykとを式(18)式に代入すると、制御点Aの位R
zhを求めることができる。
制御点Bの位置Zkは、係数dを求める演算として、領
域(1,O)と領域(2,O)の記憶データを用いるだ
けで、あとの演算は上述の順序と同じである。
制御点り、Eについても、制御点Cの法線ベクトルと同
じとし、上述の計算順序と同じ方法で演算できる。
第2実施例によれば、被検体3の表面の位置を検出する
ための超音波探触子を1個にできるので、装置が安価と
なる。
第20図〜第22図に本発明の第3実施例を示す。本発
明の第1実施例においては、形状測定動作時に用いる各
軸位置指令値が予めわかっているものであったが、第3
実施例においては、制御開始位置の各軸位置指令値しか
わからず、被検体3の形状を検出しながら形状測定動作
を行う場合につ゛いての一例である。したがって、装置
構成は、第工図〜第5図までの第1実施例と同じである
異なる所は制御装置14の制御内容であり、第20図が
第1実施例の第7図の形状測定動作37のフローチャー
トに対応し、第21図が第8図のタイマー割り込みプロ
グラムに対応する。そして、第22図は第3実施例の動
作を説明するための超音波探触子2a、2bの状態図で
ある。
以下、第20図〜第22図を用いて、本発明の第3実施
例の動作について説明する。
第20図において、手順41と43で走査開始専に位置
決めした後、走査開始指令を第21図のタイマー割り込
みプログラムに出力すると、まず、手順47〜52によ
って被検体3の表面の位置を記憶しておく。以上の説明
までは、第1実施例と同じである0次に、各軸位置指令
の演算方法について説明する。なお、被検体3の表面は
、走査方向(X軸方向)と直角方向の法線の変化はあま
りないものとする1反対の場合には走査方向を変えれば
本発明が成立することは明らかである。したがって、X
軸方向に走査する場合には、X、Z。
α各軸のみ制御すればよいことになる。
第22図のIの状態は1例えば、走査開始点への位置決
めが完了した状態であり、超音波探触子2a、2bと被
検体3の表面との距離Qa1と党b1が等しく、かつ。
f2 r =  (Da□+ Qb、)  / 2  
  −−(25)であるとする。ここで、RrはQal
と氾b1の平均値の制御指令である。したがって、■の
状態は、ブラケット4の中心線が正確に法線方向に向い
ており、しかも被検体3の表面との距離も制御指令慣通
りになっている。
■の状態において、手順61で、まず角度δの演算を行
う、ここで、δはブラケット4の中心線と法線方向との
ずれ量である。したがって、■の状態では、δ=0であ
る。次に、手順62でα軸の位置指令値を演算するわけ
であるが、δ=Oなので。
αr=αロ               ・・・・・
・(26)である、ここで、α、はα軸の位置指令値、
α。はα軸の現在位値である。
次に手M63でX、Z軸の位置指令値を演算する。
1回のタイマー割り込みプログラムでブラケット4を進
める距離をΔLとし、その方向は被検体3の表面の接線
方向とする。このように定義すると、第22図に示すよ
うに、X、Z軸の位置指令値は次式となる。
Xr=X、+ΔX1 =X、+ΔL cos a 、     ・−−−−−
(27)Zr=Z、+Δz1 =20+ΔL sin a、    =−−−−・(2
8)次に、式(26)〜(28)により求めた各軸位置
指令値と現在位置とを用い、サーボ演算及びその出力を
行い、第21図のタイマ割り込みプログラムを終了する
第21図のタイマー割り込みプログラムの動作が完了す
ると、プログラム手順は第20図の手順65に戻り、1
回の走査が完了したかどうか調べる。この判定は5式(
7)または式(lO)で演算したXaまたはxbが、第
9図におけるX t b xより大きい値となったかど
うかで行う。ただし、逆に走査するときはX。!より小
さい値となったかどうかで判定する。
この段階ではXa、XbがともにXtb、以下なので、
手順44を繰り返し行うことになる。
そして、再びタイマー割り込みプログラムに処理が移る
と、まず、手順47〜52によって被検体3の表面の位
置を記憶する。
この時、ブラケット4が第22図の■の状態になってい
たとすると、角度δは次式となる。
δ= tan″″’ ((Qb、−Qaz) /L)−
・・−(29)したがって、α軸の位置指令値のαrは
次式により、求めることができる。
α1=α。十δ          ・・・・・・(3
0)次に、X、Z軸の位置指令値Xr、Zrを求めるの
で娶るが、今回はα、が変化し、かつDrと(Qbx 
+ Qam ) / 2が等しくないので、この補正量
も計算する必要がある。
まず、Qr=(Qa2+Qb2)/2となるようにする
には、第22図の矢印A方向にX、Z軸を動かせばよい
。この時の補正量をΔX2tΔZ2とする0次に、点O
を中心に角度δ回転する。その結果、第22図の■の状
態となる。この時の補正量をΔX1.ΔZ、とすると、
X、Z軸の位置指令値は次式となる。
X r = X、+ΔX1+ΔX2+ΔX3−−−−・
−(31)Zr=Z、+ΔZ1+ΔZ2+ΔZ、  ・
・−=・(32)そして1手順64を処理し、タイマー
割り込みプログラムを終了する。
その他の部分の処理については、第1実施例と同じであ
る。
なお、上述の説明では、走査方向と直角方向の法線の変
化はあまりないことを前提としたが、走査方向と直角方
向に新たに距離検出用の超音波探触子を取り付け、その
出力信号と前記2ケの距離検出用超音波探触子の出力信
号を用いれば、走査方向と直角方向に対しても法線方向
にブラケット4を向けることができるのは明らかである
第3実施例によれば、形状測定動作時の各軸位置指令値
を予め演算する必要がないので、設計データがない被検
体にも適用するのが容易となる。
本発明の実施例のサーボ演算においては、位置指令値と
現鉦位置の差を演算し、その偏差にある係数を乗じてサ
ーボ増幅器に出力するフィードバック制御について説明
した。ところが、探傷動作時においては、1走査分の各
軸位置指令値が予めわかっているので、その位置指令値
から速度指令値を計算できる。したがって、サーボ演算
時に速度指令値を前向きに加えるフィードフォワード制
御をフィードバック制御と併用できる。この方式を用い
ることにより、高速化、高精度化が可能となる。
また、本発明は被検体表面を領域分割して表面位置を記
憶しているので、ある−ケ所で表面にキズがあり、距離
を検出し得ないためにその位置を計算できなくとも、そ
の回りの位置データからその点の位置を内挿でき、表面
のキズに強いシステムとなる。
〔発明の効果〕
本発明によれば、探触子と距離センサとを一体的に結合
して姿勢制御できるので、距離センサによる距離測定が
確実になされ、その結果得られるデータを基に法線方向
の演算がより正確に行なわれるため、総合的に探傷精度
が上がる。
また、探傷しながら被検体表面の形状も測定できること
から、曲面を有する被検体の探傷を1回の走査で実行可
能であり、作業時間が短縮される。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による超音波探傷装置の第1実施例の全
体構成を示すブロック図、第2図(A)(B)は第1実
施例の手首部の側面図、第3図は第1実施例における超
音波探触子の配置を示す図、第4図は距離検出装置の構
成の一例を示す図、第5図は本発明の概略的な制御内容
を示すフローチャート、第6図は位置決め動作が完了し
た状態を示す図、第7図は形状測定動作の詳細フローチ
ャート、第8図はタイマー割り込みプログラムを示すフ
ローチャート、第9図は位置記憶用の領域分割の一例を
示す図、第10図はブラケット4の動きを示す図、第1
1図は形状測定動作が完了した状態を示す図、第12図
は探傷動作の詳細フローチャート、第13図は1走査分
の各軸位置指令値の演算手順のフローチャート、第14
図は各軸位置指令値演算時のデータ選択方式を説明する
図。 第15図は探傷動作時の状態を示す図、第16図は超音
波探触子の配置の他の例を示す図、第17図は制御点位
置を示す図、第18図は第2実施例の手首部の側面図、
第19図は第2実施例における各軸位置指令値演算時の
データ選択方式を説明する図、第20図は第3実施例に
おける形状測定動作のフローチャート、第21図はタイ
マー割り込みプログラムのフローチャート、第22図は
第3実施例の動作を示す図である。 1.2,2a、2b・・・超音波探触子、3・・・被検
体。 4・・・第1ブラケツト、5・・・α軸用罠動装置、6
・・・β軸用駆動装置、7・・・第2ブラケツト、8・
・・2軸アーム、9・・・Z軸用駆動装置、1o・・・
第3ブラケツト、11・・・入力装置、12・・・記録
装置、13・・・距離検出装置、14・・・制御装置、
15〜19・・・駆動装置用増幅器、20〜24・・・
角度検出器、25〜29・・・指令値、30・・・超音
波探触子1の信号、 31a、31b−超音波探触子2a、2bの信号、32
・・・送信器、33・・・受信器、34・・・計時回路

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、距離センサにより予め測定した被検体の形状データ
    に基づき超音波探触子の探傷点の法線方向と位置とを演
    算し、被検体を探傷する超音波探傷装置において、 前記距離センサと超音波探触子とを一体的に結合し、 前記距離センサによる前記探傷点よりも先行する測定範
    囲の形状測定と、前記超音波探触子の前記探傷点におけ
    る所定方向および所定距離からの探傷とを並行して実行
    する制御装置を備えた ことを特徴とする超音波探傷装置。 2、前記制御装置が、探傷領域を含む領域で前記距離セ
    ンサを走査し、当該距離センサの検出信号と各駆動軸の
    位置信号とから被検体表面の位置を演算する手段と、演
    算された被検体表面の位置を記憶する記憶部とを備えた ことを特徴とする請求項1に記載の超音波探傷装置。 3、前記制御装置が、前記測定範囲を小領域に区分し、
    前記形状測定時に前記距離センサから得られた情報と各
    駆動軸の位置から得られた情報とを、同一の小領域には
    1個の位置情報として記憶する記憶部を含む ことを特徴とする請求項1または2に記載の超音波探傷
    装置。 4、前記制御装置が、各探傷点の法線方向および位置を
    演算するに際し、当該探傷点を囲む周囲の小領域に対応
    する記憶部に格納されている位置情報を選択的に取り出
    して演算する手段を含む ことを特徴とする請求項1ないし3のいずれか一項に記
    載の超音波探傷装置。 5、前記距離センサが、1個の超音波探触子からなり、 前記制御装置が、探傷用超音波探触子が移動すべき位置
    およびその法線方向を演算する際に外挿演算を行う手段
    を備えた ことを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載の
    超音波探傷装置。
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