JPH0369157B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0369157B2 JPH0369157B2 JP61015390A JP1539086A JPH0369157B2 JP H0369157 B2 JPH0369157 B2 JP H0369157B2 JP 61015390 A JP61015390 A JP 61015390A JP 1539086 A JP1539086 A JP 1539086A JP H0369157 B2 JPH0369157 B2 JP H0369157B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thin film
- zns
- selenium
- sulfur
- film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 28
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 12
- AXAZMDOAUQTMOW-UHFFFAOYSA-N dimethylzinc Chemical compound C[Zn]C AXAZMDOAUQTMOW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 8
- QMMFVYPAHWMCMS-UHFFFAOYSA-N Dimethyl sulfide Chemical compound CSC QMMFVYPAHWMCMS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 239000010408 film Substances 0.000 claims description 7
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 6
- LJSQFQKUNVCTIA-UHFFFAOYSA-N diethyl sulfide Chemical compound CCSCC LJSQFQKUNVCTIA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 5
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 4
- SBIBMFFZSBJNJF-UHFFFAOYSA-N selenium;zinc Chemical compound [Se]=[Zn] SBIBMFFZSBJNJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 125000002524 organometallic group Chemical group 0.000 claims description 2
- RVIXKDRPFPUUOO-UHFFFAOYSA-N dimethylselenide Chemical compound C[Se]C RVIXKDRPFPUUOO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 229940065287 selenium compound Drugs 0.000 claims 2
- 150000003343 selenium compounds Chemical class 0.000 claims 2
- 150000003464 sulfur compounds Chemical class 0.000 claims 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims 1
- HQWPLXHWEZZGKY-UHFFFAOYSA-N diethylzinc Chemical compound CC[Zn]CC HQWPLXHWEZZGKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- ALCDAWARCQFJBA-UHFFFAOYSA-N ethylselanylethane Chemical compound CC[Se]CC ALCDAWARCQFJBA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 239000011669 selenium Substances 0.000 claims 1
- 238000000927 vapour-phase epitaxy Methods 0.000 claims 1
- 150000003752 zinc compounds Chemical class 0.000 claims 1
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 19
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 7
- 238000002488 metal-organic chemical vapour deposition Methods 0.000 description 6
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 4
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 4
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 3
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 3
- -1 alkyl zinc Chemical compound 0.000 description 2
- 229910052798 chalcogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000001787 chalcogens Chemical class 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- SPVXKVOXSXTJOY-UHFFFAOYSA-N selane Chemical compound [SeH2] SPVXKVOXSXTJOY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910000058 selane Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000012808 vapor phase Substances 0.000 description 2
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011593 sulfur Substances 0.000 description 1
- 238000005979 thermal decomposition reaction Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
- Luminescent Compositions (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、高輝度、高耐圧などの各特性を有
する多色の薄膜EL(Electro Luminescence)素
子の作製方法に関するものである。
する多色の薄膜EL(Electro Luminescence)素
子の作製方法に関するものである。
近時、薄膜EL素子の作製方法として、アルキ
ルジンクとH2Sまたはアルキルイオウなどを用い
た有機金属気相成長(Metal organic CVD;以
下、MOCVDと略称する。)法が高品質の薄膜を
均一にかつ大面積で安価に作製できる点で注目さ
れつつある。
ルジンクとH2Sまたはアルキルイオウなどを用い
た有機金属気相成長(Metal organic CVD;以
下、MOCVDと略称する。)法が高品質の薄膜を
均一にかつ大面積で安価に作製できる点で注目さ
れつつある。
ところで、本出願人は、1985年秋の応用物理学
会の予稿集P.590において、MOCVD法を用いて
黄橙色発光センタとなるMnの有機金属であるト
リカルボニルメチルシクロペンタジエニルMnを
反応炉導入時に加熱分解し、この分解ガスを基板
上にドーピングしてZnS:Mn薄膜EL素子を作製
する薄膜EL素子の作製方法を提案しており、こ
の薄膜EL素子は、5000cd/m2以上の高輝度、高
耐圧などの各特性を有するものである。
会の予稿集P.590において、MOCVD法を用いて
黄橙色発光センタとなるMnの有機金属であるト
リカルボニルメチルシクロペンタジエニルMnを
反応炉導入時に加熱分解し、この分解ガスを基板
上にドーピングしてZnS:Mn薄膜EL素子を作製
する薄膜EL素子の作製方法を提案しており、こ
の薄膜EL素子は、5000cd/m2以上の高輝度、高
耐圧などの各特性を有するものである。
ところが、この種の薄膜EL素子の作製方法に
あつては、黄橙色の発光が得られるZnS:Mn薄
膜EL素子を高品質で作製されるものの、他の有
機金属、例えばTb(縁色発光センタ)、Sm(赤色
発光センタ)、Ce,Tm(青色発光センタ)などを
ZnSと合成することが困難で、たとえ合成できて
も固体となるため、蒸気圧による制御が難しく基
板上にドーピングできず、黄橙色以外の発光EL
素子を作製することができない問題があつた。
あつては、黄橙色の発光が得られるZnS:Mn薄
膜EL素子を高品質で作製されるものの、他の有
機金属、例えばTb(縁色発光センタ)、Sm(赤色
発光センタ)、Ce,Tm(青色発光センタ)などを
ZnSと合成することが困難で、たとえ合成できて
も固体となるため、蒸気圧による制御が難しく基
板上にドーピングできず、黄橙色以外の発光EL
素子を作製することができない問題があつた。
そこで、この発明は、Mn,MnCl2,MnF2,
TbF3,SmF3,TmF3,CeF3,CeCl3からなる群
より選ばれた発光物質を減圧下の反応炉内で抵抗
加熱して蒸発させ基板上にドーピングしてZnS:
XまたはZnSe:X膜を形成することにより、上
記の問題点を解決するようにした。
TbF3,SmF3,TmF3,CeF3,CeCl3からなる群
より選ばれた発光物質を減圧下の反応炉内で抵抗
加熱して蒸発させ基板上にドーピングしてZnS:
XまたはZnSe:X膜を形成することにより、上
記の問題点を解決するようにした。
〔実施例 1〕
発光センタ物質にTbF3をまた主原料にジメチ
ルジンク(DMZ)およびH2Sを使つてZnS:
TbF3からなる薄膜を第1図に示すような
MOCVD気相装置により作製した。
ルジンク(DMZ)およびH2Sを使つてZnS:
TbF3からなる薄膜を第1図に示すような
MOCVD気相装置により作製した。
このMOCVD気相装置は、円筒状の反応炉1
の上部にこの反応炉1内にDMZを供給するため
のノズル2とH2Sを供給するためのノズル3と、
電源4aを備え、かつTbF3粉末が収容された抵
抗加熱用ヒータ4とがそれぞれ配設されてなるも
のである。また、この反応炉1の外周部には、反
応炉1内を加熱する高周波加熱コイル5が設けら
れ、反応炉1内には、SiCをコートしたグラフア
イトサセブタ6が設けられ、このグラフアイトサ
セブタ6上には、薄膜が形成される基板7が配置
されている。また、この反応炉1には、図示しな
い真空ポンプが配設されている。
の上部にこの反応炉1内にDMZを供給するため
のノズル2とH2Sを供給するためのノズル3と、
電源4aを備え、かつTbF3粉末が収容された抵
抗加熱用ヒータ4とがそれぞれ配設されてなるも
のである。また、この反応炉1の外周部には、反
応炉1内を加熱する高周波加熱コイル5が設けら
れ、反応炉1内には、SiCをコートしたグラフア
イトサセブタ6が設けられ、このグラフアイトサ
セブタ6上には、薄膜が形成される基板7が配置
されている。また、この反応炉1には、図示しな
い真空ポンプが配設されている。
このような構成からなるMOCVD気相装置を
用い、次のような条件で基板7上にZnS:TbF3
膜を作製した。
用い、次のような条件で基板7上にZnS:TbF3
膜を作製した。
〔作製条件〕
基板7上の温度…約300℃、
反応炉1内の真空度…0.1Torr、
ノズル2から反応炉1へのDMZ導入速度…
2×10-6mol/min、
ノズル3から反応炉1へのH2S導入速度…
6.7×10-6mol/min、
TbF3の加熱温度…1150℃。
上記の〜の各条件に設定したところ、反応
炉1内においては、DMZとH2Sとが反応して基
板7上でZnSとして気相成長するとともに、この
ZnSからなる気相中に抵抗加熱用ヒータ4から蒸
発したTbF3分子が取り込まれてZnS−TbF3薄膜
を作製することができた。
炉1内においては、DMZとH2Sとが反応して基
板7上でZnSとして気相成長するとともに、この
ZnSからなる気相中に抵抗加熱用ヒータ4から蒸
発したTbF3分子が取り込まれてZnS−TbF3薄膜
を作製することができた。
次に、上記のようにして得られたZnS:TbF3
膜上にSm2O3からなる薄膜を作製して二重絶縁
構造のEL素子を製造した。このEL素子の輝度−
電圧特性を調べ、その結果を第2図に示した。
膜上にSm2O3からなる薄膜を作製して二重絶縁
構造のEL素子を製造した。このEL素子の輝度−
電圧特性を調べ、その結果を第2図に示した。
第2図から明らかなように、このEL素子は、
周波数5kHz、電圧195Vで4500cd/m2の輝度を示
す高輝度で高耐圧の縁色発光の素子であることが
わかつた。ZnS膜に取り込まれるTbF3の濃度は
抵抗加熱ヒータの温度、反応炉の真空度に依存す
る。最適温度をドーピングさせるためには、反応
炉内を減圧下(1Torr以下)にする必要がある。
周波数5kHz、電圧195Vで4500cd/m2の輝度を示
す高輝度で高耐圧の縁色発光の素子であることが
わかつた。ZnS膜に取り込まれるTbF3の濃度は
抵抗加熱ヒータの温度、反応炉の真空度に依存す
る。最適温度をドーピングさせるためには、反応
炉内を減圧下(1Torr以下)にする必要がある。
〔実施例 2〕
発光センタ物質にMn、MnCl2、MnF2、
SmF3、TmF3、CeF3、CeCl3を用いた他は、実
施例1と同様にして各々ZnS:Mn、ZnS:
SmF3、ZnS:TmF3、ZnS:Ceの薄膜を作製し
た。そして、これらの薄膜上にSm2O3の絶縁層
を形成して二重絶縁構造のEL素子を製造した。
SmF3、TmF3、CeF3、CeCl3を用いた他は、実
施例1と同様にして各々ZnS:Mn、ZnS:
SmF3、ZnS:TmF3、ZnS:Ceの薄膜を作製し
た。そして、これらの薄膜上にSm2O3の絶縁層
を形成して二重絶縁構造のEL素子を製造した。
これらのEL素子は、いずれも高輝度、高耐圧
の特性を示し、ZnS:Mnを用いたものでは、黄
橙色に、ZnS:SmF3を用いたものでは、赤色に、
ZnS:TmF3、ZnS:Ceを用いたものでは、青色
にそれぞれ発光する素子が得られた。
の特性を示し、ZnS:Mnを用いたものでは、黄
橙色に、ZnS:SmF3を用いたものでは、赤色に、
ZnS:TmF3、ZnS:Ceを用いたものでは、青色
にそれぞれ発光する素子が得られた。
〔実施例 3〕
主原料にジエチルジルク(DEZ)とH2S、
DMZと硫化ジエチル(DES)、DEZとDEZ、
DEZと硫化ジメチル(DMS)の組合せでZnS(カ
ルコゲン亜鉛)膜を得るようにし、他は実施例1
と同様にしてZnSに発光センタ物質が添加されて
なる薄膜をそれぞれ作製した。これらの薄膜は、
Sm2O3による二重絶縁構造としたことにより、
高輝度、高耐圧のEL素子となつた。
DMZと硫化ジエチル(DES)、DEZとDEZ、
DEZと硫化ジメチル(DMS)の組合せでZnS(カ
ルコゲン亜鉛)膜を得るようにし、他は実施例1
と同様にしてZnSに発光センタ物質が添加されて
なる薄膜をそれぞれ作製した。これらの薄膜は、
Sm2O3による二重絶縁構造としたことにより、
高輝度、高耐圧のEL素子となつた。
〔実施例 4〕
実施例1で用いたZnSからなるカルコゲン薄膜
をZnSe−TbF3薄膜を作製した。この薄膜は、
Sm2O3による二重絶縁構造としたことにより、
高輝度、高耐圧のEL素子となつた。
をZnSe−TbF3薄膜を作製した。この薄膜は、
Sm2O3による二重絶縁構造としたことにより、
高輝度、高耐圧のEL素子となつた。
また、ZnSe薄膜を作製する際の原料は、DMZ
とH2Se、DEZとH2Se、DMZとDESe、DMZと
DMSe、DEZとDESe、DEZとDMSeなどの組合
せが可能であることがわかつた。
とH2Se、DEZとH2Se、DMZとDESe、DMZと
DMSe、DEZとDESe、DEZとDMSeなどの組合
せが可能であることがわかつた。
以上説明したように、この発明の方法によれ
ば、前述した各発光センタ物質を減圧状態でそれ
ぞれ加熱蒸発させせてガス化し、このガスをZnS
またはZnSe気相中に取り込ませることができる
ので、高輝度、高耐圧の各特性を有する多色の薄
膜EL素子を作製することができる。
ば、前述した各発光センタ物質を減圧状態でそれ
ぞれ加熱蒸発させせてガス化し、このガスをZnS
またはZnSe気相中に取り込ませることができる
ので、高輝度、高耐圧の各特性を有する多色の薄
膜EL素子を作製することができる。
また、この方法によつて得られた薄膜EL素子
は、膜厚が一定で、しかも面積の大きい安価なも
のとなる。
は、膜厚が一定で、しかも面積の大きい安価なも
のとなる。
第1図は、この発明の薄膜EL素子の作製方法
に好適に用いられるMOCVD成長装置の反応炉
を示す概略構成図、第2図は、この発明の薄膜
EL素子の作製方法によつて得られたZnS:TbF3
二重絶縁薄膜EL素子の輝度−電圧特性を示すグ
ラフである。
に好適に用いられるMOCVD成長装置の反応炉
を示す概略構成図、第2図は、この発明の薄膜
EL素子の作製方法によつて得られたZnS:TbF3
二重絶縁薄膜EL素子の輝度−電圧特性を示すグ
ラフである。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 有機亜鉛化合物ガスと硫黄化合物ガスまたは
セレン化合物ガスを反応炉内で反応させ、同時に
発光センタとなる物質をドーピングする有機金属
気相成長法による薄膜EL発光膜の作製方法にお
いて、発光センタ物質Xを減圧下の反応炉内で抵
抗加熱して蒸発させることによりドーピングして
ZnS:XまたはZnSe:X膜を形成することを特
徴とする薄膜EL素子の作製方法。 2 発光センタ物質XがMn,MnCl2,MnF2,
TbF3,SmF3,TmF3,CeF3,CeCl3からなる群
より選ばれたものであることを特徴とする特許請
求範囲第1項記載の薄膜EL素子の作製方法。 3 有機亜鉛化合物ガスがジメチルジンクまたは
ジエチルジンクであることを特徴とする特許請求
範囲第1項記載の薄膜EL素子の作製方法。 4 硫黄化合物またはセレン化合物がH2S,
H2Se,ジメチルイオウ,ジエチルイオウ,ジメ
チルセレン,ジエチルセレンのいずれかであるこ
とを特徴とする特許請求範囲第1項記載の薄膜
EL素子の作製方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61015390A JPS62176091A (ja) | 1986-01-27 | 1986-01-27 | 薄膜el素子の作製方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61015390A JPS62176091A (ja) | 1986-01-27 | 1986-01-27 | 薄膜el素子の作製方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62176091A JPS62176091A (ja) | 1987-08-01 |
JPH0369157B2 true JPH0369157B2 (ja) | 1991-10-31 |
Family
ID=11887409
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61015390A Granted JPS62176091A (ja) | 1986-01-27 | 1986-01-27 | 薄膜el素子の作製方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62176091A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2009150764A1 (ja) | 2008-06-09 | 2009-12-17 | 株式会社菊星 | 毛髪形状の処理装置 |
US9046860B2 (en) | 1995-03-27 | 2015-06-02 | Canon Kabushiki Kaisha | Coupling part, photosensitive drum, process cartridge and electrophotographic image forming apparatus |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6343292A (ja) * | 1986-08-08 | 1988-02-24 | 日本電信電話株式会社 | 有機金属気相成長装置 |
JP2545694B2 (ja) * | 1993-10-22 | 1996-10-23 | 日産自動車株式会社 | 分散型elパネルの製造方法 |
JP4851875B2 (ja) * | 2006-07-14 | 2012-01-11 | 川崎重工業株式会社 | 自動二輪車のリヤステップ取付構造及び該リヤステップ取付構造を備えた自動二輪車 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6137857A (ja) * | 1984-07-30 | 1986-02-22 | Seiko Epson Corp | ケイ光物質薄膜の製法および製造装置 |
-
1986
- 1986-01-27 JP JP61015390A patent/JPS62176091A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6137857A (ja) * | 1984-07-30 | 1986-02-22 | Seiko Epson Corp | ケイ光物質薄膜の製法および製造装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9046860B2 (en) | 1995-03-27 | 2015-06-02 | Canon Kabushiki Kaisha | Coupling part, photosensitive drum, process cartridge and electrophotographic image forming apparatus |
WO2009150764A1 (ja) | 2008-06-09 | 2009-12-17 | 株式会社菊星 | 毛髪形状の処理装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS62176091A (ja) | 1987-08-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
FI100758B (fi) | Menetelmä ZnS:Mn-loisteainekerroksen kasvattamiseksi ohutkalvoelektrol uminenssikomponentteja varten | |
KR100327105B1 (ko) | 고휘도 형광체 및 그 제조방법 | |
US5773085A (en) | Method of manufacturing ternary compound thin films | |
JP2803631B2 (ja) | エレクトロルミネッセンス素子およびその製造方法 | |
US5750188A (en) | Method for forming a thin film of a non-stoichiometric metal oxide | |
JPH0369157B2 (ja) | ||
CN1381541A (zh) | 荧光体薄膜及其制造方法,和el板 | |
JPH0744069B2 (ja) | 電場発光素子の製造方法 | |
Migita et al. | The preparation of ZnS: Mn electroluminescent layers by MOCVD using new manganese sources | |
US6004618A (en) | Method and apparatus for fabricating electroluminescent device | |
JPH0377639B2 (ja) | ||
CN1197932C (zh) | 荧光体薄膜及其制造方法和el板 | |
JP2537527B2 (ja) | 薄膜el素子の製造方法 | |
JP3133829B2 (ja) | Elディスプレイ素子の製造方法 | |
JP3564737B2 (ja) | エレクトロルミネッセンス素子の製造方法および製造装置 | |
JPH0793189B2 (ja) | 薄膜el素子用発光膜の作製方法 | |
JP3584574B2 (ja) | El素子及びその製造方法 | |
JPH01294396A (ja) | 薄膜el素子の作製方法 | |
JP2900814B2 (ja) | エレクトロルミネッセンス素子の製造方法及び製造装置 | |
US20020145129A1 (en) | High luminance-phosphor and method for fabricating the same | |
JPH0744071B2 (ja) | 電場発光素子の製造方法 | |
JP3543414B2 (ja) | エレクトロルミネッセンス素子及びその製造方法 | |
JPS63301530A (ja) | 硫化亜鉛の製造方法 | |
JPH056792A (ja) | 蛍光体薄膜の製造方法 | |
JPS6329487A (ja) | 薄膜el素子の作製方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
EXPY | Cancellation because of completion of term |