JPH0365711B2 - - Google Patents

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JPH0365711B2
JPH0365711B2 JP59121089A JP12108984A JPH0365711B2 JP H0365711 B2 JPH0365711 B2 JP H0365711B2 JP 59121089 A JP59121089 A JP 59121089A JP 12108984 A JP12108984 A JP 12108984A JP H0365711 B2 JPH0365711 B2 JP H0365711B2
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Description

【発明の詳細な説明】 (発明の分野) 本発明は複数の半導体レーザから射出されたレ
ーザビームを、1本のビームに合成して走査する
半導体レーザ走査装置、特に詳細には合成された
ビームの光量を一定に保つ機能を備えた半導体レ
ーザ走査装置に関するものである。
(発明の技術的背景および先行技術) 従来より、光ビームを光偏向器により偏向して
走査する光ビーム走査装置が、例えば各種走査記
録装置、走査読取装置等において広く実用に供さ
れている。このような光ビーム走査装置において
光ビームを発生する手段の1つとして、半導体レ
ーザが従来から用いられている。この半導体レー
ザは、ガスレーザ等に比べれば小型、安価で消費
電力も少なく、また駆動電流を変えることによつ
て直接変調が可能である等、数々の長所を有して
いる。
しかしながら、その反面この半導体レーザは、
連続発振させる場合には現状では出力がたかだか
20〜30mwと小さく、したがつて高エネルギーの
走査光を必要とする光ビーム走査装置、例えば感
度の低い記録材料(金属膜、アモルフアス膜等の
DRAW材料等)に記録する走査記録装置等に用
いるのは極めて困難である。
また、ある種の螢光体に放射線(X線、α線、
β線、γ線、電子線、紫外線等)を照射すると、
この放射線エネルギーの一部が螢光体中に蓄積さ
れ、この螢光体に可視光等の励起光を照射する
と、蓄積されたエネルギーに応じて螢光体が輝尽
発光を示すことが知らられており、このような蓄
積性螢光体を利用して、人体等の被写体の放射線
画像情報を一旦蓄積性螢光体からなる層を有する
蓄積性螢光体シートに記録し、この蓄積性螢光体
シートをレーザ光等の励起光で走査して輝尽発光
光を生ぜしめ、得られた輝尽発光光を光電的に読
み出して画像信号を得、この画像信号に基づき被
写体の放射線画像を写真感光材料等の記録材料、
CRT等に可視像として出力させる放射線画像情
報記録再生システムが本出願人により既に提案さ
れている(特開昭55−12429号、同55−116340号、
同55−163472号、同56−11395号、同56−104645
号など)。このシステムにおいて放射線画像情報
が蓄積記録された蓄積性螢光体シートを走査して
画像情報の読取りを行なうのに、半導体レーザを
用いた光ビーム走査装置の使用が考えられている
が、蓄積性螢光体を輝尽発光させるためには、十
分に高エネルギーの励起光を該螢光体に照射する
必要があり、したがつて前記半導体レーザを用い
た光ビーム走査装置を、この放射線画像情報記録
再生システムにおいて画像情報読取りのために使
用することも極めて難しい。
そこで上記の通り光出力が低い半導体レーザか
ら十分高エネルギーの走査ビームを得るために、
複数の半導体レーザを使用し、これらの半導体レ
ーザから射出されたレーザビームを1本に合成す
ることが考えられる(この場合、各レーザビーム
は走査点までの光路途中で1本に合成されていて
もよいし、また走査点上で1本に合成されてもよ
い)。しかしながら、周知の通り半導体レーザか
ら射出されるレーザビームの光量は、半導体レー
ザの経時変化や周囲温度の変化等によつて変動す
るので、多くの場合、合成されたビームの光量を
一定に保つ制御を行なう必要がある。従来よりレ
ーザビームの光量を光量検出器によつて検出し、
その光量信号をレーザ光量制御回路にフイードバ
ツクしてレーザビームの光量を一定に保つ制御が
公知となつているが、前記のように複数のレーザ
ビームを合成して走査する場合、各半導体レーザ
に対してそれぞれ上記の光量一定化制御を行なう
と、光量検出器や光量制御回路が半導体レーザの
数だけ必要となつて、走査装置が大型化し、また
そのコストも高くなる難点がある。
(発明の目的) そこで本発明は、複数の半導体レーザから射出
されて1本に合成されたレーザビームの光量を一
定に保つことが可能で、小型、安価に形成される
半導体レーザ走査装置を提供することを目的とす
るものである。
(発明の構成) 本発明の半導体レーザ走査装置は、前述のよう
に複数の半導体レーザを有し、これら半導体レー
ザから射出された各レーザビームを1本のビーム
に合成して走査する半導体レーザ走査装置におい
て、一部の半導体レーザを光量制御手段により光
量制御可能に駆動するとともに、合成されたビー
ムの光量を検出する光量検出器の出力を上記光量
制御手段にフイードバツクして上記一部の半導体
レーザのみの光量を制御し、それによつて合成さ
れたビームの光量を一定に保つようにしたことを
特徴とするものである。
(実施態様) 以下、図面に示す実施態様に基づいて本発明を
詳細に説明する。
第1図は本発明の第1実施態様による半導体レ
ーザ走査装置を概略的に示すものである。一例と
して4つの半導体レーザ11,12,13,14
は互いにビーム射出軸を平行に揃えて配置され、
これらの半導体レーザ11,12,13,14の
それぞれに対してコリメータレンズ21,22,
23,24と、反射ミラー31,32,33,3
4が設けられている。各半導体レーザ11,1
2,13,14から射出されたレーザビームは、
上記コリメータレンズ21,22,23,24に
よつて平行ビーム41,42,43,44とさ
れ、この平行ビーム41,42,43,44は上
記反射ミラー31,32,33,34により反射
されて、共通のカルバノメータミラー5に入射す
る。
ガルバノメータミラー5は図中矢印A方向に往
復回動し、上記平行ビーム41,42,43,4
4を偏向する。偏向された平行ビーム41,4
2,43,44は、共通の集束レンズ6によつて
1つの合成ビームスポツトSに集中されるととも
に、それぞれがこのスポツトSにおいて集束され
る。したがつて上記スポツトSが照射される位置
に被走査面7を配置すれば、該被走査面7は、各
半導体レーザ11,12,13,14から射出さ
れた光ビームが合成されて高エネルギーとなつた
走査ビームによつて矢印B方向に走査される。な
お通常上記被走査面7は平面とされ、そのために
上記集束レンズ6としてfθレンズが用いられる。
ここで前述した半導体レーザ11,12,1
3,14のうち3つの半導体レーザ11,12,
13は、レーザ駆動回路50によつて電流固定で
(すなわち光量無制御で)駆動される。そしても
う1つの半導体レーザ14は、レーザ駆動制御回
路51によつて出力可変で(すなわち光量制御可
能に)駆動される。また被走査面7上の有効走査
幅から外れた位置には、前記合成ビームスポツト
Sの光量を検出する例えばフオトダイオード等か
らなる光量検出器52が配され、該光量検出器5
2の出力は増幅器53によつて増幅され、光量信
号Pとして上記レーザ駆動制御回路51に入力さ
れる。
既述の通り半導体レーザ11,12,13,1
4の経時変化や、周囲温度の変化等により、これ
ら半導体レーザ11,12,13,14から射出
されるレーザビームの光量が変動し、したがつて
平行ビーム41,42,43,44が合成された
ビームスポツトSの光量も変動する。このスポツ
トSの光量は、走査1回ごとに前記光量検出器5
2によつて検出され、その光量を示す光量信号P
が上記の通りレーザ駆動制御回路51に入力され
る。このレーザ駆動制御回路51は光量信号P
と、基準光量を担持する基準光量信号とを比較
し、検出光量が上記基準光量よりも低ければ半導
体レーザ14の出力を増大し、検出光量が基準光
量よりも高ければ半導体レーザ14の出力を低下
するように該半導体レーザ14を駆動する。半導
体レーザ14がこのように駆動制御されることに
より、合成ビームスポツトSの光量変動が打ち消
され、該スポツトSの光量が一定に維持されるよ
うになる。勿論、この場合半導体レーザ14の出
力の制御量(増大量、低下量)は、検出光量と基
準光量との差の量に応じて変えてもよいし、ある
いは微小な一定量に設定しておいてもよい。
なお前述したような理由による半導体レーザ1
1,12,13,14の光量変動のサイクルは、
合成ビームスポツトSによる走査の周期に比べれ
ば極度に長いものであるから、1走査の間に合成
ビームスポツトSの光量が変動することはなく、
したがつて上記のように1回の走査毎にスポツト
Sの光量に応じて半導体レーザ14の出力を制御
するだけで、スポツトSの光量は一定に保たれ
る。また上記実施態様装置は、平行ビーム41,
42,43,44を集束レンズ6によつて1点に
集束させるものであるが、複数の集れんビーム
を、それぞれの集れん点が共通のスポツトにおい
て重なるように合成する半導体レーザ走査装置に
おいても、本発明は同様に適用可能である。
第2図は本発明の第2実施態様装置を概略的に
示すものである。本実施態様においては、6つの
半導体レーザ61,62,63,64,65,6
6から射出されたレーザビームがコリメータレン
ズ71,72,73,74,75,76を通して
平行ビーム81,82,83,84,85,86
とされ、これら平行ビーム81,82,83,8
4,85,86がホログラム素子90によつて1
本の高エネルギーのビーム87に合成されてい
る。この合成ビーム87は一例として回転多面鏡
91によつて偏向され、図示しない被走査面上を
走査する。
上記6つの半導体レーザ61,62,63,6
4,65,66のうち5つの半導体レーザ61〜
65は、前記第1実施態様におけるのと同様のレ
ーザ駆動回路50によつて電流固定で駆動され、
もう1つの半導体レーザ66は同じく前記第1実
施態様におけるのと同様のレーザ駆動制御回路5
1によつて出力可変で駆動される。そして合成ビ
ーム87の光路途中にはハーフミラー92が配設
され、該ハーフミラー92によつて分岐された合
成ビーム87の一部(ビーム87a)の光量が、
光量検出器52によつて検出される。上記ビーム
87aと、走査される合成ビーム87bの光量は
対応しているので、ビーム87aの光量を検出す
ることにより、走査される合成ビーム87bの光
量を検出できる。増幅器53によつて増幅された
光量信号Pはレーザ駆動制御回路51に入力さ
れ、該レーザ駆動制御回路51がこの光量信号P
に応じて前記第1実施態様におけるのと同様に作
動し、走査される合成ビーム87bの光量が一定
に保たれる。
なお上記第2実施態様におけるように、複数の
半導体レーザから射出されたレーザビームを、走
査点よりも前において1本のビームに合成するた
めには、前記ホログラム素子90の他、2軸性結
晶素子等公知のビーム合成手段が用いられてもよ
い。またレーザビームを走査するための光偏向器
としては、以上述べたガルバノメータミラー5や
回転多面鏡91の他、ホログラムスキヤナ等が用
いられてもよい。
本発明において合成するレーザビームの本数
は、以上説明の実施態様における4本、6本に限
られるものではない。また光量制御駆動される半
導体レーザは1台に限られるものではなく、合成
するレーザビームの数が増大して合成ビームの光
量変動幅が大きくなる場合には、光量制御駆動す
る半導体レーザの数を2台以上に適宜増やして、
合成ビームの光量変動幅以上の光量制御範囲を確
保すればよい。
(発明の効果) 以上詳細に説明した通り本発明の半導体レーザ
走査装置によれば、走査される合成ビームの光量
を一定に保つことが可能であり、そして上記光量
の一定化は、一部の半導体レーザの光量を制御す
ることによつて達成されるので、光量制御回路が
簡素化され、本装置は極めて小型、安価に形成さ
れるものとなる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の半導体レーザ走査装置の第1
実施態様を示す概略斜視図、第2図は本発明の半
導体レーザ走査装置の第2実施態様を示す概略図
である。 5…ガルバノメータミラー、11,12,1
3,14,61,62,63,64,65,66
…半導体レーザ、41,42,43,44,8
1,82,83,84,85,86…平行ビーム
(レーザビーム)、50…レーザ駆動回路、51…
レーザ駆動制御回路、52…光量検出器、53…
増幅器、87,87a,87b…合成ビーム、9
0…ホログラム素子、91…回転多面鏡、S…合
成ビームスポツト。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 複数の半導体レーザから射出された各レーザ
    ビームを1本に合成して走査する半導体レーザ走
    査装置において、前記複数の半導体レーザのうち
    の一部の半導体レーザが光量制御手段により光量
    制御可能に駆動され、前記光量制御手段が、合成
    されたビームの光量を検出する光量検出器の出力
    を受けて、前記合成されたビームの光量を一定に
    するように前記一部の半導体レーザの光量を制御
    することを特徴とする半導体レーザ走査装置。
JP59121089A 1984-06-13 1984-06-13 半導体レ−ザ走査装置 Granted JPS60264158A (ja)

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JP59121089A JPS60264158A (ja) 1984-06-13 1984-06-13 半導体レ−ザ走査装置
DE8585304186T DE3583969D1 (de) 1984-06-13 1985-06-12 Abtastvorrichtung mit halbleiterlaser.
EP85304186A EP0165060B1 (en) 1984-06-13 1985-06-12 Semiconductor laser beam scanning device
US06/744,413 US4689482A (en) 1984-06-13 1985-06-13 Multiple laser beam scanner with beam intensity control

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JP59121089A JPS60264158A (ja) 1984-06-13 1984-06-13 半導体レ−ザ走査装置

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4517808B2 (ja) * 2004-10-08 2010-08-04 富士ゼロックス株式会社 光走査装置、及び、画像形成装置

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JP6665835B2 (ja) * 2017-07-18 2020-03-13 株式会社島津製作所 半導体レーザ装置

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JPS60264158A (ja) 1985-12-27

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