JPH034976Y2 - - Google Patents
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- JPH034976Y2 JPH034976Y2 JP14058784U JP14058784U JPH034976Y2 JP H034976 Y2 JPH034976 Y2 JP H034976Y2 JP 14058784 U JP14058784 U JP 14058784U JP 14058784 U JP14058784 U JP 14058784U JP H034976 Y2 JPH034976 Y2 JP H034976Y2
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 9
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 201000009310 astigmatism Diseases 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 1
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- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
（産業上の利用）
本考案は情報を光学的に記録または再生する光
学記録再生装置（記録再生の両機能をもつ装置の
他に再生機能のみをもつ装置等を含む）に関し、
特に記録または再生入射光のフオーカス或いはト
ラツキング状態を制御するための制御信号を得る
ものである。
学記録再生装置（記録再生の両機能をもつ装置の
他に再生機能のみをもつ装置等を含む）に関し、
特に記録または再生入射光のフオーカス或いはト
ラツキング状態を制御するための制御信号を得る
ものである。
（従来の技術及びその問題点）
光学記録再生装置においては、記録或いは再生
入射光の微小スポツトが常にデイスクの情報記録
面上に結像すると共に、この微小スポツトが情報
トラツクを追従するようフオーカス及びトラツキ
ングサーボが行なわれ、かかるフオーカス及びト
ラツキングサーボ用のエラー信号は、例えば４分
割の光電変換素子からなるデイテクタでデイスク
からの反射光を受光し、各光電変換素子から取り
出される電気信号を所定の組合せで加算後、この
加算信号の差信号の形成によりそれぞれ得てい
る。
入射光の微小スポツトが常にデイスクの情報記録
面上に結像すると共に、この微小スポツトが情報
トラツクを追従するようフオーカス及びトラツキ
ングサーボが行なわれ、かかるフオーカス及びト
ラツキングサーボ用のエラー信号は、例えば４分
割の光電変換素子からなるデイテクタでデイスク
からの反射光を受光し、各光電変換素子から取り
出される電気信号を所定の組合せで加算後、この
加算信号の差信号の形成によりそれぞれ得てい
る。
然しながら、記録時と再生時とでは異なるパワ
ーの入射光が用いられ、またデイスクの光反射率
にもバラツキがあるため、これらの要因によつて
デイテクタの受光量が変化して、エラー信号の大
きさが変わり、サーボループのゲインが変化する
問題がある。
ーの入射光が用いられ、またデイスクの光反射率
にもバラツキがあるため、これらの要因によつて
デイテクタの受光量が変化して、エラー信号の大
きさが変わり、サーボループのゲインが変化する
問題がある。
（問題点を解決するための手段及び作用）
本考案装置は上記の問題点を解決するものであ
り、デイスクからの透過或いは反射光を分割受光
してその対応する電気信号の差信号である第１の
電気信号を得る手段と、前記電気信号の和信号か
ら全受光量に対応する第２の電気信号を得る手段
と、前記第２の電気信号で基準電圧を除算した除
算信号を得る手段と、前記第１の電気信号と前記
除算信号を乗算して乗算信号を得る手段とを具備
して、前記乗算信号をフオーカス或いはトラツキ
ングサーボ回路への制御信号とすることにより、
制御信号の大きさが受光量に応じて制御され、入
射光のパワー変化やデイスクの光反射率変化によ
つて変化しないようにしたものである。
り、デイスクからの透過或いは反射光を分割受光
してその対応する電気信号の差信号である第１の
電気信号を得る手段と、前記電気信号の和信号か
ら全受光量に対応する第２の電気信号を得る手段
と、前記第２の電気信号で基準電圧を除算した除
算信号を得る手段と、前記第１の電気信号と前記
除算信号を乗算して乗算信号を得る手段とを具備
して、前記乗算信号をフオーカス或いはトラツキ
ングサーボ回路への制御信号とすることにより、
制御信号の大きさが受光量に応じて制御され、入
射光のパワー変化やデイスクの光反射率変化によ
つて変化しないようにしたものである。
（実施例）
以下、本考案装置の実施例を図面を参照して説
明する。
明する。
図において、半導体レーザ等の光源から放射さ
れたレーザ光はコリメートレンズ、整形プリズム
等を介して略円形の平行光とされ、ビームスプリ
ツタ１、λ／４板２、対物レンズ３を通つてデイ
スク４の情報記録面上に記録或いは再生入射光の
微小スポツトとして収束される。
れたレーザ光はコリメートレンズ、整形プリズム
等を介して略円形の平行光とされ、ビームスプリ
ツタ１、λ／４板２、対物レンズ３を通つてデイ
スク４の情報記録面上に記録或いは再生入射光の
微小スポツトとして収束される。
一方、デイスク４で反射された反射光は入射光
路を戻るが、ビームスプリツタ１での反射光がシ
リンドリカルレンズ５を通して４分割の光電変換
素子６ａ，６ｂ，６ｃ，６ｄからなるデイテクタ
６で受光される。７および８はそれぞれフオーカ
スおよびトラツキング用のアクチユエータであ
り、駆動回路９，１０からの各出力に応答して対
物レンズ３を上下、左右方向に移動する。
路を戻るが、ビームスプリツタ１での反射光がシ
リンドリカルレンズ５を通して４分割の光電変換
素子６ａ，６ｂ，６ｃ，６ｄからなるデイテクタ
６で受光される。７および８はそれぞれフオーカ
スおよびトラツキング用のアクチユエータであ
り、駆動回路９，１０からの各出力に応答して対
物レンズ３を上下、左右方向に移動する。
ここで、シリンドリカルレンズ５を用いた周知
の非点収差法においては、４分割の光電変換素子
６ａ，６ｂ，６ｃ，６ｄからの電気信号Sa，Sb，
Sc，Sdにより、例えば加算信号（Sa＋Sb）、（Sc
＋Sd）の差信号（Sa＋Sb）−（Sc＋Sd）からフオ
ーカスエラー信号を、また加算信号（Sa＋Sc）、
（Sb＋Sd）の差信号（Sa＋Sc）−（Sb＋Sd）から
トラツキングエラー信号をそれぞれ得ることがで
きるものである。図において、加算器１１〜１４
はそれぞれ加算信号（Sa＋Sb）、（Sc＋Sd）、（Sa
＋Sc）、（Sb＋Sd）を形成し、また差動アンプ１
５，１６はそれぞれ差信号（Sa＋Sb）−（Sc＋
Sd）、（Sa＋Sc）−（Sb＋Sd）を形成する。
の非点収差法においては、４分割の光電変換素子
６ａ，６ｂ，６ｃ，６ｄからの電気信号Sa，Sb，
Sc，Sdにより、例えば加算信号（Sa＋Sb）、（Sc
＋Sd）の差信号（Sa＋Sb）−（Sc＋Sd）からフオ
ーカスエラー信号を、また加算信号（Sa＋Sc）、
（Sb＋Sd）の差信号（Sa＋Sc）−（Sb＋Sd）から
トラツキングエラー信号をそれぞれ得ることがで
きるものである。図において、加算器１１〜１４
はそれぞれ加算信号（Sa＋Sb）、（Sc＋Sd）、（Sa
＋Sc）、（Sb＋Sd）を形成し、また差動アンプ１
５，１６はそれぞれ差信号（Sa＋Sb）−（Sc＋
Sd）、（Sa＋Sc）−（Sb＋Sd）を形成する。
加算器１１からの加算信号（Sa＋Sb）はアン
プ１７を、また加算器１２からの加算信号（Sc
＋Sd）はアンプ１８を介してそれぞれ差動アン
プ１５に入力されるが、一方のアンプ１８がゲイ
ン可変とされてこのステージでオフセツト調整さ
れる。同様に、加算器１３，１４と差動アンプ１
６間にそれぞれアンプ１９，２０が設けられ、一
方のアンプ２０のゲインが可変とされている。
プ１７を、また加算器１２からの加算信号（Sc
＋Sd）はアンプ１８を介してそれぞれ差動アン
プ１５に入力されるが、一方のアンプ１８がゲイ
ン可変とされてこのステージでオフセツト調整さ
れる。同様に、加算器１３，１４と差動アンプ１
６間にそれぞれアンプ１９，２０が設けられ、一
方のアンプ２０のゲインが可変とされている。
差動アンプ１５，１６からの各差信号は掛算器
２１，２２にそれぞれ入力される。一方、加算器
２３は全受光量に対応する加算信号（Sa＋Sb＋
Sc＋Sd）を形成し、この加算信号は割算器２４
に入力される。
２１，２２にそれぞれ入力される。一方、加算器
２３は全受光量に対応する加算信号（Sa＋Sb＋
Sc＋Sd）を形成し、この加算信号は割算器２４
に入力される。
ここで、掛算器２１，２２及び割算器２４に
は、例えば米国のインターシル社製の４象限アナ
ログ掛算器（リニアIC8013）が用いられ、掛算
器２１，２２においてはＸ入力端子への入力信号
をＸ，Ｙ入力端子への入力信号をＹとすると乗算
信号Ｘ・Ｙ／10を出力し、また割算器２４におい
てはＸ入力端子への入力信号をＸ，Ｚ入力端子へ
の入力信号をＺとすると除算信号10・Ｚ／Ｘを出
力するものである。
は、例えば米国のインターシル社製の４象限アナ
ログ掛算器（リニアIC8013）が用いられ、掛算
器２１，２２においてはＸ入力端子への入力信号
をＸ，Ｙ入力端子への入力信号をＹとすると乗算
信号Ｘ・Ｙ／10を出力し、また割算器２４におい
てはＸ入力端子への入力信号をＸ，Ｚ入力端子へ
の入力信号をＺとすると除算信号10・Ｚ／Ｘを出
力するものである。
割算器２４のＸ入力端子へは上記の全受光量に
対応する加算信号が、またそのＺ入力端子へは基
準電圧信号Vrefがそれぞれ入力されており、こ
の割算器２４の除算信号がローパスフイルター回
路２５を介して掛算器２１，２２のＹ入力端子へ
それぞれ入力される。掛算器２１，２２のＸ入力
端子へはそれぞれ上記の差信号が入力されてお
り、掛算器２１，２２の各乗算信号がフオーカス
及びトラツキングエラー制御信号Sfe，Steとして
駆動回路９，１０に入力される。
対応する加算信号が、またそのＺ入力端子へは基
準電圧信号Vrefがそれぞれ入力されており、こ
の割算器２４の除算信号がローパスフイルター回
路２５を介して掛算器２１，２２のＹ入力端子へ
それぞれ入力される。掛算器２１，２２のＸ入力
端子へはそれぞれ上記の差信号が入力されてお
り、掛算器２１，２２の各乗算信号がフオーカス
及びトラツキングエラー制御信号Sfe，Steとして
駆動回路９，１０に入力される。
以上の構成において、入射光のパワー変化やデ
イスク４の光反射率変化に起因するデイテクタ６
での受光量の変化率をＨ、また簡単のため掛算器
２１，２２への差信号、割算器２４への全受光量
信号をそれぞれSd，Stで表すと、 割算器２４からの除算信号は 10・Vref／Ｈ・Stとなり、 掛算器２１，２２から駆動回路９，１０に入力
されるフオーカス或いはトラツキングエラー制御
信号Sfe，Steは Ｈ・Sd／10×10・Vref／Ｈ・St＝Sd・Vref／St となり、入射光のパワー変化やデイスク４の光反
射率変化に影響されないフオーカス或いはトラツ
キングエラー制御信号Sfe，Steを得ることがで
き、常に安定、正確なフオーカス或いはトラツキ
ングサーボが可能となる。
イスク４の光反射率変化に起因するデイテクタ６
での受光量の変化率をＨ、また簡単のため掛算器
２１，２２への差信号、割算器２４への全受光量
信号をそれぞれSd，Stで表すと、 割算器２４からの除算信号は 10・Vref／Ｈ・Stとなり、 掛算器２１，２２から駆動回路９，１０に入力
されるフオーカス或いはトラツキングエラー制御
信号Sfe，Steは Ｈ・Sd／10×10・Vref／Ｈ・St＝Sd・Vref／St となり、入射光のパワー変化やデイスク４の光反
射率変化に影響されないフオーカス或いはトラツ
キングエラー制御信号Sfe，Steを得ることがで
き、常に安定、正確なフオーカス或いはトラツキ
ングサーボが可能となる。
なお、上記の実施例においてはフオーカス、ト
ラツキングエラー信号を非点収差法で検出する装
置に関連して述べたが、本考案は臨界角法などそ
の他の検出法による装置にも適用できることは勿
論であり、また反射光のみならず透過光を利用す
る装置にも適用でき、その他にも実施例に限定さ
れることなく種々の態様をとりかえるものであ
る。
ラツキングエラー信号を非点収差法で検出する装
置に関連して述べたが、本考案は臨界角法などそ
の他の検出法による装置にも適用できることは勿
論であり、また反射光のみならず透過光を利用す
る装置にも適用でき、その他にも実施例に限定さ
れることなく種々の態様をとりかえるものであ
る。
（考案の効果）
以上の本考案によれば、入射光のパワー変化や
デイスクの光反射率変化に影響されず、常に安
定、正確なフオーカス或いはトラツキングサーボ
系を備える光学記録再生装置を実現できる。
デイスクの光反射率変化に影響されず、常に安
定、正確なフオーカス或いはトラツキングサーボ
系を備える光学記録再生装置を実現できる。
図は本考案装置の一実施例の要部ブロツク図を
示す。 ３……対物レンズ、４……デイスク、６……デ
イテクタ、６ａ，６ｂ，６ｃ，６ｄ……光電変換
素子、９，１０……駆動回路、Sa，Sb，Sc，Sd
……電気信号、１１〜１４……加算器、１５，１
６……差動アンプ、２１，２２……加算器、２４
……割算器、Sfe，Ste……制御信号、Sd……差
信号、St……和信号。
示す。 ３……対物レンズ、４……デイスク、６……デ
イテクタ、６ａ，６ｂ，６ｃ，６ｄ……光電変換
素子、９，１０……駆動回路、Sa，Sb，Sc，Sd
……電気信号、１１〜１４……加算器、１５，１
６……差動アンプ、２１，２２……加算器、２４
……割算器、Sfe，Ste……制御信号、Sd……差
信号、St……和信号。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 デイスクへの入射光のフオーカス或いはトラツ
キング状態を制御するフオーカス或いはトラツキ
ングサーボ回路を備える光学記録再生装置におい
て、 前記デイスクからの透過或いは反射光を分割受
光してその対応する電気信号の差信号である第１
の電気信号を得る手段と、 前記電気信号の和信号から全受光量に対応する
第２の電気信号を得る手段と、 前記第２の電気信号で基準電圧を除算した除算
信号を得る手段と、 前記第１の電気信号と前記除算信号を乗算して
乗算信号を得る手段とからなり、 前記乗算信号を前記フオーカス或いはトラツキ
ングサーボ回路への制御信号とすることを特徴と
する光学記録再生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14058784U JPH034976Y2 (ja) | 1984-09-17 | 1984-09-17 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14058784U JPH034976Y2 (ja) | 1984-09-17 | 1984-09-17 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6155218U JPS6155218U (ja) | 1986-04-14 |
| JPH034976Y2 true JPH034976Y2 (ja) | 1991-02-08 |
Family
ID=30698942
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14058784U Expired JPH034976Y2 (ja) | 1984-09-17 | 1984-09-17 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH034976Y2 (ja) |
-
1984
- 1984-09-17 JP JP14058784U patent/JPH034976Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6155218U (ja) | 1986-04-14 |
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