JPH0348181A - プリント基板の分割導通検査方法 - Google Patents
プリント基板の分割導通検査方法Info
- Publication number
- JPH0348181A JPH0348181A JP1182694A JP18269489A JPH0348181A JP H0348181 A JPH0348181 A JP H0348181A JP 1182694 A JP1182694 A JP 1182694A JP 18269489 A JP18269489 A JP 18269489A JP H0348181 A JPH0348181 A JP H0348181A
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- JP
- Japan
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- inspection
- continuity
- circuit board
- printed circuit
- divided
- Prior art date
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- Pending
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 31
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 29
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims description 5
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/0266—Marks, test patterns or identification means
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/11—Printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はプリント基板の導通検査方法に係シ。
特に導通検査機の検査範囲よシ大きいプリント基板の分
割導通検査法に関する。
割導通検査法に関する。
導通検査機の検査範囲より大きいプリント基板の導通検
査では、従来プリント基板内の各ネット全てを導通検査
できるように複数個に分割し、複数回導通検査を行って
いた。このため、検査が複雑でしかも検査時間を多大に
要した。なお、この種の分割導通検査を目的としたもの
はないが、検査用のスルーホールなどをあらかじめ設け
ているもＯＫは例えば特開昭６１−５７８６４号が挙げ
られる。
査では、従来プリント基板内の各ネット全てを導通検査
できるように複数個に分割し、複数回導通検査を行って
いた。このため、検査が複雑でしかも検査時間を多大に
要した。なお、この種の分割導通検査を目的としたもの
はないが、検査用のスルーホールなどをあらかじめ設け
ているもＯＫは例えば特開昭６１−５７８６４号が挙げ
られる。
上記従来技術は、導通検査機の検査範囲より大きいプリ
ント基板の導通検査時に、全ネットが検査できるように
分割し表ければならず、さらにネットの配置によっては
分割数が増加するため検査工数が多大にかかるという問
題があった。
ント基板の導通検査時に、全ネットが検査できるように
分割し表ければならず、さらにネットの配置によっては
分割数が増加するため検査工数が多大にかかるという問
題があった。
本発明の目的は、導通検査機の検査範囲より大きいプリ
ント基板の導通検査時間を低減することにある。
ント基板の導通検査時間を低減することにある。
上記目的は、導通検査機の検査範囲よシ大きいプリント
基板において、プリントパターン設計段階から分割検査
用のスルーホールを設けることにより、達成される。
基板において、プリントパターン設計段階から分割検査
用のスルーホールを設けることにより、達成される。
導通検査機の検査範囲よシ大きいプリント基板に、プリ
ントパターン設計段階で一方の分割領域と他方の分割領
域Ｋまたがるパターン配線の途中に、しかもそれぞれの
分割領域に含まれる位置に検査用のスルーホールを設け
る。そして、導通検査時に導通検査機で検査用スルーホ
ールを含む一方の分割領域を検査する。つぎに、同一の
検査用スルーホールを含む他方の分割領域を検査する。
ントパターン設計段階で一方の分割領域と他方の分割領
域Ｋまたがるパターン配線の途中に、しかもそれぞれの
分割領域に含まれる位置に検査用のスルーホールを設け
る。そして、導通検査時に導通検査機で検査用スルーホ
ールを含む一方の分割領域を検査する。つぎに、同一の
検査用スルーホールを含む他方の分割領域を検査する。
これによ）、二重の分割検査で、一方の分割領域と他方
の分割領域にまたがるパターン配線の導通検査が、検査
用スルーホールを介して可能となるため、分割数が低減
され、導通検査時間を短縮できる。
の分割領域にまたがるパターン配線の導通検査が、検査
用スルーホールを介して可能となるため、分割数が低減
され、導通検査時間を短縮できる。
以下、本発明をＭ１図〜第５図を用いて説明する。
第１図は本発明に係るプリント基板の一方の分割領域の
導通検査方法の模式図、第２図は他方の分割領域の導通
検査方法の模式図、第３図は第１図、第２図？合成した
模式図である。
導通検査方法の模式図、第２図は他方の分割領域の導通
検査方法の模式図、第３図は第１図、第２図？合成した
模式図である。
本発明のプリント基板の分割導通検査方法は、第１図に
示すように、プリントパターン設計段階で一方の分割領
域と他方の分割領域の両領域におよぶパターン配線９上
で１）、さらに両領域に含まれる位置に検査用のスルー
ホール４を有する構成としているプリント基板１の一方
の分割領域をまず検査する。このとき、スルーホール２
、検査・用スルーホール４間は導通検査機の検査ピン６
゜７によシ検査される。
示すように、プリントパターン設計段階で一方の分割領
域と他方の分割領域の両領域におよぶパターン配線９上
で１）、さらに両領域に含まれる位置に検査用のスルー
ホール４を有する構成としているプリント基板１の一方
の分割領域をまず検査する。このとき、スルーホール２
、検査・用スルーホール４間は導通検査機の検査ピン６
゜７によシ検査される。
つぎに、＃Ｉ２図に示すようＫ、プリント基板１の他方
の分割領域を検査する。このとき、パターン配ａ９上の
スルーホールＳ、検査用スルーホール４間は導通検査機
の検査ピン８，７によ）検査さｎる。
の分割領域を検査する。このとき、パターン配ａ９上の
スルーホールＳ、検査用スルーホール４間は導通検査機
の検査ピン８，７によ）検査さｎる。
これらの動作を合成すると、第３図に示すように、検査
用スルーホール４を介して二重の分割検査に！ｆｉスル
ーホール２、スルーホール３間の導通検査が可能となる
。
用スルーホール４を介して二重の分割検査に！ｆｉスル
ーホール２、スルーホール３間の導通検査が可能となる
。
本実施例によれば、スルーホール２、スルーホール３間
の領域を余分に検査する必要がなくなるため、検査時間
短縮の効果がある。
の領域を余分に検査する必要がなくなるため、検査時間
短縮の効果がある。
本発明によれば、導通検査機の検査範囲よ）大きいプリ
ント基板の分割導通検−ｉにおいて、分割数を低減でき
るため、検査時間の短縮が可能となる。
ント基板の分割導通検−ｉにおいて、分割数を低減でき
るため、検査時間の短縮が可能となる。
第１図は本発明の一実施例のプリント基板の一方の分割
領域の導通検査方法の説明図、第２図はプリント基板の
他方の分割領域の導通検査方法の説明図、第３図は第１
図、第２図を合成した説明図である。 １・・・プリント基板、２．３・・・スルーホール、４
・・・検査用スルーホール、５・・・導通検査機の検査
範囲、６．７．８・・・検査ピン、９・・・パターン配
線。
領域の導通検査方法の説明図、第２図はプリント基板の
他方の分割領域の導通検査方法の説明図、第３図は第１
図、第２図を合成した説明図である。 １・・・プリント基板、２．３・・・スルーホール、４
・・・検査用スルーホール、５・・・導通検査機の検査
範囲、６．７．８・・・検査ピン、９・・・パターン配
線。
Claims (1)
- １、導通検査機の検査範囲より大きいプリント基板であ
り、分割して導通検査をおこなう場合に一方の分割した
領域と他方の分割した領域にまたがるパターン配線があ
るプリント基板の導通検査法として、一方の分割した領
域と他方の分割した領域にまたがるパターン配線の途中
であり、しかも各分割領域に含まれる一つの検査用スル
ーホールを設け、検査ピンを当てて検査することを特徴
とするプリント基板の分割導通検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1182694A JPH0348181A (ja) | 1989-07-17 | 1989-07-17 | プリント基板の分割導通検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1182694A JPH0348181A (ja) | 1989-07-17 | 1989-07-17 | プリント基板の分割導通検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0348181A true JPH0348181A (ja) | 1991-03-01 |
Family
ID=16122802
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1182694A Pending JPH0348181A (ja) | 1989-07-17 | 1989-07-17 | プリント基板の分割導通検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0348181A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008546991A (ja) * | 2005-06-17 | 2008-12-25 | アーテーゲー ルーテル ウント メルツァー ゲーエムベーハー | フィンガーテスターを用いて、コンポーネント化されていない大型印刷回路基板を検査する方法 |
-
1989
- 1989-07-17 JP JP1182694A patent/JPH0348181A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008546991A (ja) * | 2005-06-17 | 2008-12-25 | アーテーゲー ルーテル ウント メルツァー ゲーエムベーハー | フィンガーテスターを用いて、コンポーネント化されていない大型印刷回路基板を検査する方法 |
| KR101035244B1 (ko) * | 2005-06-17 | 2011-05-18 | 에이티지 루터 엔드 맬저 게엠바하 | 핑거 테스터를 이용하여, 컴퍼넌트화되어 있지 않은 대형 인쇄 회로 기판을 검사하는 방법 |
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