JPH0342720Y2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0342720Y2
JPH0342720Y2 JP4008487U JP4008487U JPH0342720Y2 JP H0342720 Y2 JPH0342720 Y2 JP H0342720Y2 JP 4008487 U JP4008487 U JP 4008487U JP 4008487 U JP4008487 U JP 4008487U JP H0342720 Y2 JPH0342720 Y2 JP H0342720Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
component
circuit board
printed circuit
lower jig
jig
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP4008487U
Other languages
English (en)
Other versions
JPS63149600U (ja
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP4008487U priority Critical patent/JPH0342720Y2/ja
Publication of JPS63149600U publication Critical patent/JPS63149600U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH0342720Y2 publication Critical patent/JPH0342720Y2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案はプリント基板への部品挿入が正常か否
かを検査する装置に関する。
〔従来の技術〕
例えば、抵抗等の部品を自動挿入機を用いてプ
リント基板に実装する工程では、部品挿入後にそ
の部品のリードがプリント基板に確実に挿入され
たか否かを検査する必要がある。
そこで、従来では第7図に示すような部品挿入
検査装置を使用している。
これは、プリント基板1の部品挿入孔位置に対
応して多数の端子2を突設した検査用の治具3を
図示しない自動挿入機で部品4を挿入したプリン
ト基板1を搬送するコンベアレール5下方側に配
置し、プリント基板1が治具3上方に来たときそ
の上方に配置したプレス装置6の押し棒7でプリ
ント基板1を治具3側に押圧し、部品4のリード
4aを端子2に第8図に示すように接触させるよ
うになつている。各端子2は当該端子2を上方に
付勢するスプリング2Aを介して上下動可能にな
つており、ハーネス8を介してマイクロコンピュ
ータ内蔵の検査部9に接続されている。
そして、検査部9が検査箇所を指定すると指定
さた一対の端子2間の導通状態が測定され一対の
端子2が部品4のリード4aを介して導通してい
ればOK判定を行う。この操作は順次連続して自
動的に行なわれる。
〔考案が解決しようとする問題点〕
ところが、従来の検査装置では、第8図に示す
正常な部品挿入状態と第9図に示す肩上がりの異
常な部品挿入状態とを区別することができなかつ
た。即ち、第9図の場合でもリード4aがプリン
ト基板1の部品挿入孔1aを介して下方に突出し
端子2に接触していればOK判定をおこなつてし
まうという不具合がある。
そして、このような肩上がり状態のものは半田
付け工程までの間に抜け落ち易く欠品になること
が多いという問題がある。
本考案は上記の実情に鑑みてなされたもので、
従来チエツクできなかつた肩あがりのような異常
な部品挿入状態も確実にチエツクできる部品挿入
検査装置を提供することを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕 このため本考案は、部品のリードを挿入するプ
リント基板の挿入孔位置に対応して突設され検査
時にリードに接触する端子群を有しプリント基板
下方に配置される下側治具と、該下側治具と同じ
に配設され端子群が検査時に部品挿入状態が正常
時にはリードに接触せず異常時にはリードに接触
するようプリント基板を挟んで下側治具と対面配
置された上側治具と、前記下側治具の各挿入部品
に対応るす各一対の端子間の電気的接続状態およ
び上・下側治具間の互いに対応する端子間の電気
的接続状態に基づいて部品挿入状態の正・否を判
定する判定手段とを備えて構成した。
〔作用〕
上記の構成によれば、従来と同様に下側治具の
端子群にプリント基板下側に突出する部品のリー
ドを接触させて検査を行なう。この際に、部品が
正常に挿入されていれば上側治具の端子にはリー
ドは非接触となり、肩上がりのような異常な挿入
状態にあればリードが上側治具にも接触して上側
治具と下側治具の対応する端子間が部品のリード
を介して短絡状態となり、正常な挿入状態と区別
することができるようになる。
〔実施例〕 以下本考案の一実施例を説明する。
第1図において、コンベアレール5途中のレー
ル5下方側に下側治具11が配置され、該下側治
具11に対面してレール5の上方に上側治具12
がプレス装置6の押し棒7を貫通させて配置され
ている。
前記下側治具11は従来の治具3と同じ構成の
ものでプリント基板1の部品挿入孔1a位置に対
応して上下動可能に上方に突設される端子11A
を多数有し、ハーネス8を介して検査部13に接
続されている。
一方、上側治具12は、下側治具11の端子1
1Aと対応する位置に上下動可能に下方に突設さ
れ端子11Aと同構造の端子12Aを有し、これ
らはリード線14を介して直列に接続され該リー
ド線14は検査部13に接続されている。また、
上側治具12には、第2図示のように押し棒7が
貫通する貫通孔12Bが形成される。そして、該
貫通孔12Bを貫通させた押し棒7の所定位置、
即ち検査時に押し棒7でプリント基板1を押圧し
たとき端子12A先端が正常な部品挿入状態で部
品4のリード4aに接触しない位置に、第3図示
のリング部材15とネジ16からなるストツパに
よつて固定する。
次に第4図に示す検査部13の制御フローに従
つて検査動作を説明する。
プリント基板1が下側治具11上方に到達する
と、プレス装置6が下降して押し棒7によつてプ
リント基板1を下側治具11の端子11A先端に
押し付ける。この際、上側治具12も押し棒7と
一体に下降する。
この状態において、検査部13による検査が開
始される。
まず、ステツプ(図中Sで示し以下同様とす
る)1では、検査箇所の指定が行なわれる。
ステツプ2では、指定された検査箇所に対応す
る一対の端子11A間の導通状態の測定が行なわ
れる。
ステツプ3では、前記測定結果に基づいて下側
治具11端子間が部品4のリード4aを介して導
通しているか否かを判定する。導通していればス
テツプ4に進み、非導通であれば、部品4の挿入
状態が不良であるとしてステツプ6でNG判定す
る。
ステツプ4に進んだ場合には、ここで上側治具
12の端子12Aと下側治具11の端子11Aが
短絡しているか否かの判定を行う。この場合、第
5図のように部品4が正常に挿入されていれば、
上側治具12の一対の端子12Aはそのリード4
aには接触しないのでステツプ4の判定はNOと
なりステツプ5でOK判定が行なわれる。一方、
第6図のように部品4が肩上がり状態であれば、
上側治具12の一方の端子12Aがリード4aと
接触し、リード4aを介して下側治具11の対応
する端子11Aと短絡してステツプ4の判定が
YESとなりステツプ6でNG判定が行なわれる。
このようにして、検査個所を連続的に指定して
部品挿入状態の検査が行なわれ、その検査結果が
次々に表示される。
従つて、従来装置でチエツクできなかつた肩上
がりのような挿入不良を検出することができ、部
品欠落等による欠品を防止することができるよう
になる。
〔考案の効果〕
以上述べたように本考案によれば、肩上がりの
ような部品の挿入不良を確実にチエツクでき欠品
の発生を防止できる。またプリント基板の組立て
ラインにおいて目視工程を省くことができ作業者
の作業条件を向上できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例の構成図、第2図は
同上実施例の上側治具を示す図、第3図は上側治
具の固定構造を示す図、第4図は検査工程のフロ
ーチヤート、第5図は正常時の部品と端子の状態
を示す図、第6図は異常時の部品と端子の状態を
示す図、第7図は従来例を示す図、第8図は従来
の正常時における部品と端子の状態を示す図、第
9図は従来の異常時における部品と端子の状態を
示す図である。 1……プリント基板、1a……部品挿入、4…
…部品、4a……リード、11……下側治具、1
1A……端子(下側治具側)、12……上側治具、
12A……端子(上側治具側)、13……検査部、
15……リング部材、16……ネジ。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. プリント基板への部品挿入状態の正・否を検査
    する部品挿入検査装置において、部品のリードを
    挿入するプリント基板の挿入孔位置に対応して突
    設され検査時にリードに接触する端子群を有しプ
    リント基板下方に配置される下側治具と、該下側
    治具と同じに配置された端子群が検査時に部品挿
    入状態が正常時にはリードに接触せず異常時には
    リードに接触するようプリント基板を挟んで下側
    治具と対面配置された上側治具と、前記下側治具
    の各挿入部品に対応する各一対の端子間の電気的
    接続状態及び上・下側治具間の互いに対応する端
    子間の電気的接続状態に基づいて部品挿入状態の
    正・否を判定する判定手段とを備えたことを特徴
    とする部品挿入検査装置。
JP4008487U 1987-03-20 1987-03-20 Expired JPH0342720Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4008487U JPH0342720Y2 (ja) 1987-03-20 1987-03-20

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4008487U JPH0342720Y2 (ja) 1987-03-20 1987-03-20

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63149600U JPS63149600U (ja) 1988-10-03
JPH0342720Y2 true JPH0342720Y2 (ja) 1991-09-06

Family

ID=30853851

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4008487U Expired JPH0342720Y2 (ja) 1987-03-20 1987-03-20

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0342720Y2 (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPS63149600U (ja) 1988-10-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5198756A (en) Test fixture wiring integrity verification device
US4225819A (en) Circuit board contact contamination probe
US5909124A (en) Apparatus and method for testing a circuit board
CN1083577C (zh) 处理器接触检测装置和测试集成电路装置的方法
JP4571076B2 (ja) 半導体装置の検査装置
JP5064294B2 (ja) 端子検査治具及び端子検査方法
JPH0342720Y2 (ja)
KR20110124638A (ko) 4 단자 방식의 인쇄회로기판 검사방법
JPH05322971A (ja) Ic検査装置
JPH07104026A (ja) 実装部品の半田付け不良検出方法
JPH02118470A (ja) バーンイン装置
KR200182200Y1 (ko) 자동 부품 측정 장비용 테스트 핀
JPH0354312B2 (ja)
JPH04315068A (ja) プリント回路板の検査装置
JP4863786B2 (ja) 接触試験装置および接触試験方法
JP2577525Y2 (ja) ショート・オープン検査装置
JPH0595030A (ja) 自動検査装置
JP2591453B2 (ja) バーンインボード検査装置およびバーンインボード検査方法
JP6733199B2 (ja) 検査装置、検査方法及び検査プログラム
KR0176519B1 (ko) Qep, ic의 검사 장치 및 검사 방법
JPH0287082A (ja) プローブピン接触不良判断機能を有するインサーキットテスタ
JPH04355378A (ja) コンタクトプローブ接触確認法
JPH06294815A (ja) 実装部品の検査方法
JPH0634707A (ja) デバイスの測定方法
JPH10153635A (ja) エレベータ制御回路基板の試験装置