JPH0340984A - 摺動部材 - Google Patents
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明はベアリングやメカニカルシール等に使用する、
低摩擦係数で耐摩耗性に優れ、かつ相手材を摩擦しない
ダイヤモンド膜を有する摺動部材に関するものである。
低摩擦係数で耐摩耗性に優れ、かつ相手材を摩擦しない
ダイヤモンド膜を有する摺動部材に関するものである。
(従来技術およびその問題点)
ダイヤモンドはHv8000以上という極めて高い硬度
を有しており、この点に着目して、従来から耐摩耗性向
上のために摺動部材表面にダイヤモンドコーティングを
施すことが試みられている。
を有しており、この点に着目して、従来から耐摩耗性向
上のために摺動部材表面にダイヤモンドコーティングを
施すことが試みられている。
しかし、化学的蒸着法(CVD)等の通常のコーティン
グ方法によってダイヤモンドコーティングを施すとダイ
ヤモンド膜の表面粗さが1μm以上となってしまい、こ
れを研摩して表面を平滑にしようとしても硬いため、0
.5μm以下にすることは極めて難しい。また、摺動面
が平面でない摺動部材では研摩自体が困難である。この
ようにダイヤモンド膜の表面に硬い凸部が存在すると摺
動時の摩擦係数が著しく高くなるとともに、相手材を削
り取るいわゆるアブレッシブ摩耗が激しくなって摺動部
材として使用に耐えなくなる場合があるという問題があ
った。
グ方法によってダイヤモンドコーティングを施すとダイ
ヤモンド膜の表面粗さが1μm以上となってしまい、こ
れを研摩して表面を平滑にしようとしても硬いため、0
.5μm以下にすることは極めて難しい。また、摺動面
が平面でない摺動部材では研摩自体が困難である。この
ようにダイヤモンド膜の表面に硬い凸部が存在すると摺
動時の摩擦係数が著しく高くなるとともに、相手材を削
り取るいわゆるアブレッシブ摩耗が激しくなって摺動部
材として使用に耐えなくなる場合があるという問題があ
った。
(発明の目的)
本発明は上記従来技術の問題点を解決するためになされ
たものであり、ダイヤモンド膜が介在する摺動面の摩擦
係数を低下し、かつ相手材の摩耗を低減することにより
長寿命の摺動部材を提供することにある。
たものであり、ダイヤモンド膜が介在する摺動面の摩擦
係数を低下し、かつ相手材の摩耗を低減することにより
長寿命の摺動部材を提供することにある。
(第1発明の説明)
登旦思拷底
本発明の摺動部材はセラミックス又は金属からなる基材
と、該基材表面に形成した、表面に凹凸を有するダイヤ
モンド膜と、波膜の表面の凹部に埋め込んだ軟質金属と
からなり、該ダイヤモンド膜表面の摩擦係数ならびに高
硬度材の摩耗を低減し得ることを特徴とする。
と、該基材表面に形成した、表面に凹凸を有するダイヤ
モンド膜と、波膜の表面の凹部に埋め込んだ軟質金属と
からなり、該ダイヤモンド膜表面の摩擦係数ならびに高
硬度材の摩耗を低減し得ることを特徴とする。
発註の および効
本発明に係る摺動部材は、相手材である高硬度材と摺動
した際に摩擦係数を低下させ、かつ、高硬度材のアブレ
ッシブ摩耗を著しく低減させることができる。該摺動部
材が、かかる効果を発揮するメカニズムは次のように考
えられる。
した際に摩擦係数を低下させ、かつ、高硬度材のアブレ
ッシブ摩耗を著しく低減させることができる。該摺動部
材が、かかる効果を発揮するメカニズムは次のように考
えられる。
すなわち、該摺動部材と相手材である高硬度材とが摺動
する際にダイヤモンド膜凹部に滞留している軟質金属が
摺動部に供給され、摺動部を薄い膜で覆い、硬いダイヤ
モンド膜と高硬度材との直接接触を防ぎ、かつこの軟質
金属膜は柔らかく剪断力が小さいために摩擦係数を低下
させることができる。また、摺動部に供給された軟質金
属は再び凹部に滞留し、これを繰り返すことにより軟質
金属による低摩擦化の効果が長寿命化するとともにダイ
ヤモンドの硬い凸部による硬質部材のアブレッシブ摩耗
も抑制される。
する際にダイヤモンド膜凹部に滞留している軟質金属が
摺動部に供給され、摺動部を薄い膜で覆い、硬いダイヤ
モンド膜と高硬度材との直接接触を防ぎ、かつこの軟質
金属膜は柔らかく剪断力が小さいために摩擦係数を低下
させることができる。また、摺動部に供給された軟質金
属は再び凹部に滞留し、これを繰り返すことにより軟質
金属による低摩擦化の効果が長寿命化するとともにダイ
ヤモンドの硬い凸部による硬質部材のアブレッシブ摩耗
も抑制される。
このように本発明に係る摺動部材は高硬度材と摺動する
際の摩擦係数を低下させ、摩耗を抑制できるのでベアリ
ング、メカニカルシール等に広く利用することができる
。
際の摩擦係数を低下させ、摩耗を抑制できるのでベアリ
ング、メカニカルシール等に広く利用することができる
。
(第2発明の説明)
本第1発明を具体化した発明(第2発明とする)を説明
する。
する。
本第2発明において、基材とは、その表面にダイヤモン
ド膜がコーティングされるものであるので、通常構造部
材として使われている材料、すなわち、使用条件におい
て、外部応力によって著しく変形しないだけの強度を有
する材料であればよい。
ド膜がコーティングされるものであるので、通常構造部
材として使われている材料、すなわち、使用条件におい
て、外部応力によって著しく変形しないだけの強度を有
する材料であればよい。
セラミックス製基材として酸化物系、窒化物系、炭化物
系セラミックスを使用でき、アルミナ、ムライト、ジル
コニア、窒化珪素、炭化珪素が代表的なものである。こ
れらは単結晶、焼結体あるいは他の構造部材に被覆して
使用することができる。
系セラミックスを使用でき、アルミナ、ムライト、ジル
コニア、窒化珪素、炭化珪素が代表的なものである。こ
れらは単結晶、焼結体あるいは他の構造部材に被覆して
使用することができる。
金属製基材としてMoやWなどの純金属や一般鋼材、ス
テンレスを使用することができ、例えば、5UJ2等の
軸受鋼や5US440C等の高強度ステンレス鋼が代表
的なものである。
テンレスを使用することができ、例えば、5UJ2等の
軸受鋼や5US440C等の高強度ステンレス鋼が代表
的なものである。
ダイヤモンドの強度は800℃を超えると低下し始める
ので、該摺動部材は800℃以下で使用することが望ま
しい。800℃近辺で使用する場合、MoやWなどの高
融点金属や5US3103などの耐熱鋼を基材として使
用することができるが、酸化劣化の可能性がある場合は
セラミックスを基材として用いるのが望ましい。なお、
軟質金属の融点を超える温度で使用することはできない
。
ので、該摺動部材は800℃以下で使用することが望ま
しい。800℃近辺で使用する場合、MoやWなどの高
融点金属や5US3103などの耐熱鋼を基材として使
用することができるが、酸化劣化の可能性がある場合は
セラミックスを基材として用いるのが望ましい。なお、
軟質金属の融点を超える温度で使用することはできない
。
また、ダイヤモンド膜は公知の成膜方法である熱フイラ
メント法、アークプラズマ法、DCプラズマ法、高周波
プラズマ法、マイクロ波プラズマ法、燃焼炎法、スパッ
ター法、イオンブレーティング法等によって形成したも
ので、ビッカース硬さがHv8000以上のものをいう
。
メント法、アークプラズマ法、DCプラズマ法、高周波
プラズマ法、マイクロ波プラズマ法、燃焼炎法、スパッ
ター法、イオンブレーティング法等によって形成したも
ので、ビッカース硬さがHv8000以上のものをいう
。
ダイヤモンド膜の厚さは、0,5〜100μm程度が好
ましい。膜の厚さが0.5μm未満だとダイヤモンド膜
中の凹部やダイヤモンド粒子間の空隙が少なく、軟質金
属の保持が困難となり、軟質金属による低摩擦化の効果
が得られにくい。
ましい。膜の厚さが0.5μm未満だとダイヤモンド膜
中の凹部やダイヤモンド粒子間の空隙が少なく、軟質金
属の保持が困難となり、軟質金属による低摩擦化の効果
が得られにくい。
また、100μm以上の厚さにしても顕著な低摩擦・低
摩耗の効果が現れるわけではなく、成膜時間が長いとと
もにダイヤモンド膜や基材に歪みが入りやすく有効的で
ない。
摩耗の効果が現れるわけではなく、成膜時間が長いとと
もにダイヤモンド膜や基材に歪みが入りやすく有効的で
ない。
ダイヤモンド膜の表面粗さは0.5〜IOμmが好まし
い。表面粗さが0.5μm未満であると軟質金属の滞留
が困難となり、低摩擦の寿命が短くなる。また、表面粗
さが10μmを超えても軟質金属の摺動面への供給効果
及び、滞留効果がより改善されるわけではなく、相手材
のアブレッシブ摩耗の可能性が高まり好ましくない。ま
た、ダイヤモンド膜の表面粗さは成膜速度の速い方法や
原料、条件によっては大きくなる傾向があるが、通常の
合成条件では表面粗さは0.5〜10μmにある。
い。表面粗さが0.5μm未満であると軟質金属の滞留
が困難となり、低摩擦の寿命が短くなる。また、表面粗
さが10μmを超えても軟質金属の摺動面への供給効果
及び、滞留効果がより改善されるわけではなく、相手材
のアブレッシブ摩耗の可能性が高まり好ましくない。ま
た、ダイヤモンド膜の表面粗さは成膜速度の速い方法や
原料、条件によっては大きくなる傾向があるが、通常の
合成条件では表面粗さは0.5〜10μmにある。
また、表面粗さは膜厚によっても変化し、一般に膜厚が
薄くなると表面粗さは小さくなり、膜厚が0、5μm程
度の場合、その表面粗さは0.3〜0.5μmである。
薄くなると表面粗さは小さくなり、膜厚が0、5μm程
度の場合、その表面粗さは0.3〜0.5μmである。
一般に膜厚が薄くなると表面粗さは小さくなり、膜厚が
0.5μm程度の場合、その表面粗さは0.3〜0.5
μmである。
0.5μm程度の場合、その表面粗さは0.3〜0.5
μmである。
一般にCVDによってコーティングしたダイヤモンド膜
の表面粗さは1〜2μm程度であるが、水素や酸素など
のガスないしは王水等の酸化性の溶液によるエツチング
を行い剣山状の針状ダイヤモンド集合体としてもかまわ
ない。また、ダイヤモンド膜は連続膜でなくてもよく、
さらには粒子間の間隔が狭ければダイヤモンド独立粒子
が基材上に分散していてもよい。
の表面粗さは1〜2μm程度であるが、水素や酸素など
のガスないしは王水等の酸化性の溶液によるエツチング
を行い剣山状の針状ダイヤモンド集合体としてもかまわ
ない。また、ダイヤモンド膜は連続膜でなくてもよく、
さらには粒子間の間隔が狭ければダイヤモンド独立粒子
が基材上に分散していてもよい。
ダイヤモンドを剣山状にした場合の冬山の間隔及び、ダ
イヤモンドの独立粒子を基材上に分散させた場合の粒子
間の間隔は、ダイヤモンド析出前の基材の前処理方法及
び条件、ダイヤモンド析出時の圧力、ガス組成、時間等
の反応条件及び、析出したダイヤモンドのエツチング条
件をコントロールすることによりOから任意に変化させ
られるが、1μmからlOμm程度が好ましい。1μm
未満だと摺動部と軟質金属の接触面積が小さくなり軟質
金属の摺動面への供給が乏しくなる。また、l0μm以
上だと軟質金属の滞留効果が低下するとともに、ダイヤ
モンド凸部の接触応力が大きくなりダイヤモンドが剥離
する可能性が出てくる。
イヤモンドの独立粒子を基材上に分散させた場合の粒子
間の間隔は、ダイヤモンド析出前の基材の前処理方法及
び条件、ダイヤモンド析出時の圧力、ガス組成、時間等
の反応条件及び、析出したダイヤモンドのエツチング条
件をコントロールすることによりOから任意に変化させ
られるが、1μmからlOμm程度が好ましい。1μm
未満だと摺動部と軟質金属の接触面積が小さくなり軟質
金属の摺動面への供給が乏しくなる。また、l0μm以
上だと軟質金属の滞留効果が低下するとともに、ダイヤ
モンド凸部の接触応力が大きくなりダイヤモンドが剥離
する可能性が出てくる。
成膜は各方法に適した条件で行なわれる。原料ガスの種
類、流量は各方法により異なるが、基板温度は500〜
1200°Cが望ましい。原料ガスの組成によって膜の
結晶性や組織の制御が可能であり、一般に原料ガス中の
炭素濃度が高いと結晶性は低下する。通常のCVD法で
はメタン−水素系原料ガスを用いるとメタン濃度が10
%以下が好ましく、剣山状ダイヤモンドの作製には2〜
5%が適している。
類、流量は各方法により異なるが、基板温度は500〜
1200°Cが望ましい。原料ガスの組成によって膜の
結晶性や組織の制御が可能であり、一般に原料ガス中の
炭素濃度が高いと結晶性は低下する。通常のCVD法で
はメタン−水素系原料ガスを用いるとメタン濃度が10
%以下が好ましく、剣山状ダイヤモンドの作製には2〜
5%が適している。
また、イオンブレーティング等のように比較的平坦なダ
イヤモンド膜が形成される場合は、後処理によって膜に
凹凸を形成し、軟質金属を埋め込んで摺動部材として使
用すると摩擦係数の低下等、そのままで使用するよりも
良好な摺動特性を得ることができる。
イヤモンド膜が形成される場合は、後処理によって膜に
凹凸を形成し、軟質金属を埋め込んで摺動部材として使
用すると摩擦係数の低下等、そのままで使用するよりも
良好な摺動特性を得ることができる。
以上は、ダイヤモンドの析出条件を制御し、所望の凹凸
を有するダイヤモンド表面を形成する技術を述べた。他
方、所望の凹凸を有するダイヤモンド表面は以下の方法
によっても形成できる。すなわち、基材表面上の一部に
イオン照射した後、ダイヤモンドを析出させるとイオン
照射部にはダイヤモンドが析出しなくなることを利用し
て、ダイヤモンド膜中に任意の空隙を形成ないしは任意
の間隔でダイヤモンドを析出させることができる。
を有するダイヤモンド表面を形成する技術を述べた。他
方、所望の凹凸を有するダイヤモンド表面は以下の方法
によっても形成できる。すなわち、基材表面上の一部に
イオン照射した後、ダイヤモンドを析出させるとイオン
照射部にはダイヤモンドが析出しなくなることを利用し
て、ダイヤモンド膜中に任意の空隙を形成ないしは任意
の間隔でダイヤモンドを析出させることができる。
また、基材表面上の一部をイオンスパッターした後、ダ
イヤモンドを析出させると、スパッタ一部にはダイヤモ
ンドが析出しなくなることを利用して同様な操作が可能
である。ダイヤモンド膜をマイクロスパッタリングする
とμmオーダーの深さでマイクロエツチングでき、パタ
ーンの刻印ができる。
イヤモンドを析出させると、スパッタ一部にはダイヤモ
ンドが析出しなくなることを利用して同様な操作が可能
である。ダイヤモンド膜をマイクロスパッタリングする
とμmオーダーの深さでマイクロエツチングでき、パタ
ーンの刻印ができる。
また、平坦に研摩後、部分的にイオン照射し非晶質化し
、その後水素によるガスエツチング等で非晶質成分を取
り除くことができ、このイオン照射部位を制御すること
により、所望の凹凸を形成することができる。
、その後水素によるガスエツチング等で非晶質成分を取
り除くことができ、このイオン照射部位を制御すること
により、所望の凹凸を形成することができる。
また、ダイヤモンド膜の代わりにi−カーボン膜(硬質
カーボン膜)を使用することができる。
カーボン膜)を使用することができる。
その場合Hvが5000以上であることが望ましい。H
vが5ooo未満だと摺動の際に変形したり摩耗する場
合がある。
vが5ooo未満だと摺動の際に変形したり摩耗する場
合がある。
次にダイヤモンド膜表面部の凹部に埋め込む軟質金属は
摺動の際に摺動面に供給され、極めて薄い膜を形成し得
るものでなければならず、延性に富んでいなければなら
ない。
摺動の際に摺動面に供給され、極めて薄い膜を形成し得
るものでなければならず、延性に富んでいなければなら
ない。
また、大気中での使用においては摺動中に酸化しにくい
ものが望ましい。酸化すると硬脆化し低摩擦低摩耗化の
効果が得られなくなる場合がある。
ものが望ましい。酸化すると硬脆化し低摩擦低摩耗化の
効果が得られなくなる場合がある。
軟質金属としてはAu、Ag、P t、Cu、In。
Pb、等が使用される。
軟質金属は真空蒸着、電子ビーム蒸着、スパッタリング
、イオンブレーティング、クラスターイオンビーム蒸着
、溶射、メツキ等によりダイヤモンド凹部に埋め込むこ
とができる。また、ダイヤモンド膜と軟質金属をこすり
つけることによっても埋め込み可能である。
、イオンブレーティング、クラスターイオンビーム蒸着
、溶射、メツキ等によりダイヤモンド凹部に埋め込むこ
とができる。また、ダイヤモンド膜と軟質金属をこすり
つけることによっても埋め込み可能である。
軟質金属はダイヤモンド膜の凹部を埋め、凸部と同一平
面を成す程度から凸部上に1μm程度の厚さをもって存
在することが好ましい。軟質金属の量が少なく、同一平
面を成さない場合は軟質金属の摺動面への供給能力が低
下し、低摩擦、低摩耗の効果が得られにくい。また、凸
部上に1μm以上存在しても摺動初期に取り除かれてし
まい、効果的でない。逆に、摺動の際に堀り起こしが生
じ摩擦係数が大きくなる場合がある。
面を成す程度から凸部上に1μm程度の厚さをもって存
在することが好ましい。軟質金属の量が少なく、同一平
面を成さない場合は軟質金属の摺動面への供給能力が低
下し、低摩擦、低摩耗の効果が得られにくい。また、凸
部上に1μm以上存在しても摺動初期に取り除かれてし
まい、効果的でない。逆に、摺動の際に堀り起こしが生
じ摩擦係数が大きくなる場合がある。
本第2発明において、相手材である硬質部材は、SiC
,5isN4やAltos等のセラミックス、WC−C
o等の超硬合金、5UJ2等の軸受鋼等のHv400以
上の比較的硬い材料を用いることができる。これら焼結
体、焼入れ焼もどし材、あるいは他の部材に被覆等して
用いる。極めて硬さが大きなダイヤモンド膜を用いるた
め接触応力が大きくなり、Hvが400より小さいと変
形しやすく、掘り起こしによる摩耗や摩擦係数上昇につ
ながる。
,5isN4やAltos等のセラミックス、WC−C
o等の超硬合金、5UJ2等の軸受鋼等のHv400以
上の比較的硬い材料を用いることができる。これら焼結
体、焼入れ焼もどし材、あるいは他の部材に被覆等して
用いる。極めて硬さが大きなダイヤモンド膜を用いるた
め接触応力が大きくなり、Hvが400より小さいと変
形しやすく、掘り起こしによる摩耗や摩擦係数上昇につ
ながる。
(実施例)
以上本発明の詳細な説明する。
叉施旦土
基材として、寸法が50X50X3+nmの炭化珪素(
SiC)焼結体を用意した。その表面粗さは0、1μm
RZである。該SiC焼結体にダイヤモンド膜を熱フイ
ラメント法(A)ならびにマイクロ波プラズマ法(B)
によってコーティングした。
SiC)焼結体を用意した。その表面粗さは0、1μm
RZである。該SiC焼結体にダイヤモンド膜を熱フイ
ラメント法(A)ならびにマイクロ波プラズマ法(B)
によってコーティングした。
熱フイラメント法の場合は、真空チャンバー内にSiC
焼結体を導入し、基材温度を750℃、反応圧力を50
0Torrとし、メタン、水素からなる混合ガスを、メ
タン1ml/min、水素200m1/minの流量で
チャンバー内に供給し、反応時間を変えて第工表に示す
如く、膜の厚さを10〜308m、表面粗さを1〜5μ
mと変えたダイヤモンド膜をコーティングした。また、
マイクロ波プラズマ法は、剣山状のダイヤモンド膜をコ
ーティングするために行ったもので、まず真空チャンバ
ー内にSiC焼結体基材を装入し、その温度を850°
C1水素で希釈したメタン濃度3%の反応ガスを100
ynl/ m i nの流量でチャンバー内に導入し
、反応圧力40To r rにおいて、反応時間を変え
て、膜の厚さ30μmのダイヤモンド膜をコーティング
した。このダイヤモンド膜に対し、チャンバー内で引続
き、エツチングガスとして酸素を用い、圧力20To
r rでエツチングを行って、ダイヤモンド膜の表面部
を剣山状とした。
焼結体を導入し、基材温度を750℃、反応圧力を50
0Torrとし、メタン、水素からなる混合ガスを、メ
タン1ml/min、水素200m1/minの流量で
チャンバー内に供給し、反応時間を変えて第工表に示す
如く、膜の厚さを10〜308m、表面粗さを1〜5μ
mと変えたダイヤモンド膜をコーティングした。また、
マイクロ波プラズマ法は、剣山状のダイヤモンド膜をコ
ーティングするために行ったもので、まず真空チャンバ
ー内にSiC焼結体基材を装入し、その温度を850°
C1水素で希釈したメタン濃度3%の反応ガスを100
ynl/ m i nの流量でチャンバー内に導入し
、反応圧力40To r rにおいて、反応時間を変え
て、膜の厚さ30μmのダイヤモンド膜をコーティング
した。このダイヤモンド膜に対し、チャンバー内で引続
き、エツチングガスとして酸素を用い、圧力20To
r rでエツチングを行って、ダイヤモンド膜の表面部
を剣山状とした。
次に、表面部に凹凸を形成したダイヤモンド膜の凹部に
軟質金属を真空蒸着によって埋め込んだ。
軟質金属を真空蒸着によって埋め込んだ。
すなわち、10−’Torrの真空チャンバー内でダイ
ヤモンドコーティング基材を300°Cに加熱しつつA
u、Ag (試料Nα1〜8 )及びCu(試料No、
9.10)を蒸着した。その後、蒸着面を研摩し、ダイ
ヤモンド膜表面部の凸部の上部に0,1μm厚の層が残
るように仕上げ、摺動部材とした。
ヤモンドコーティング基材を300°Cに加熱しつつA
u、Ag (試料Nα1〜8 )及びCu(試料No、
9.10)を蒸着した。その後、蒸着面を研摩し、ダイ
ヤモンド膜表面部の凸部の上部に0,1μm厚の層が残
るように仕上げ、摺動部材とした。
次にこれら摺動部材の性能を評価するために、担手材と
してSiCおよび5isN<焼結体(lOXIOX3m
m、表面粗さRz =0.1 、czm)ならびに超硬
合金(10X10X3mm、表面粗さRz=0.2μm
)を用いて、摩擦摩耗試験を行った。
してSiCおよび5isN<焼結体(lOXIOX3m
m、表面粗さRz =0.1 、czm)ならびに超硬
合金(10X10X3mm、表面粗さRz=0.2μm
)を用いて、摩擦摩耗試験を行った。
各摺動部材をそのダイヤモンド膜面を上向きに試験機に
取り付け、その上に相手材である5isN4等の上部か
ら荷重を加えつつ、5izN4等を一定速度でダイヤモ
ンド膜上を繰り返し摺動させた。試験条件を第2表に示
す。
取り付け、その上に相手材である5isN4等の上部か
ら荷重を加えつつ、5izN4等を一定速度でダイヤモ
ンド膜上を繰り返し摺動させた。試験条件を第2表に示
す。
なお、摩擦係数は、摺動時に発生する接線力をロードセ
ルを用いて測定し、次式によって計算し求めた。
ルを用いて測定し、次式によって計算し求めた。
摩擦係数=接線力/荷重
また、比摩耗量は、試験後の5isN<等の重量減少を
測定し、体積減少に換算し、次式によって求めた。
測定し、体積減少に換算し、次式によって求めた。
比摩耗量=体積減少/荷重×摺動距離
また、比較のために、前記摺動部材と同様、熱フイラメ
ント法およびマイクロ波プラズマ法によってコーティン
グしたダイヤモンド膜表面部の凹部に軟質金属を埋め込
まないSiC焼結体を摺動部材(試料No、C1〜CB
)として前記摺動部材の場合と同一の条件で摩擦摩耗試
験を行った。得られた結果を第1表に併せて示す。
ント法およびマイクロ波プラズマ法によってコーティン
グしたダイヤモンド膜表面部の凹部に軟質金属を埋め込
まないSiC焼結体を摺動部材(試料No、C1〜CB
)として前記摺動部材の場合と同一の条件で摩擦摩耗試
験を行った。得られた結果を第1表に併せて示す。
第1表より軟質金属を用いた本実施例の摺動部材は、軟
質金属を用いない比較部材に比べ、摩擦係数が約1/1
0に減少し、比摩耗量も約17100に減少した。また
、相手材である5isN4等の摺動面を観察すると、本
実施例の摺動部材を用いた場合は、その表面は平滑であ
ったが、比較摺動部材を用いた場合はアブレッシブ摩耗
痕が多数認められた。このように本実施例の摺動部材は
摩擦係数の低減、相手材の摩耗の低減に優れていること
が明らかである。
質金属を用いない比較部材に比べ、摩擦係数が約1/1
0に減少し、比摩耗量も約17100に減少した。また
、相手材である5isN4等の摺動面を観察すると、本
実施例の摺動部材を用いた場合は、その表面は平滑であ
ったが、比較摺動部材を用いた場合はアブレッシブ摩耗
痕が多数認められた。このように本実施例の摺動部材は
摩擦係数の低減、相手材の摩耗の低減に優れていること
が明らかである。
実施型l
実施例1と同様、熱フイラメント法によって、厚さ30
μm1表面粗さが1μmと3μmのダイヤモンド膜をコ
ーティングしたSiC焼結体基材に、真空蒸着により、
軟質金属であるAuをダイヤモンド膜凹部に埋め込み、
摺動部材(試料N0.1112)とし、また、比較材と
して、軟質金属を用いないもの(試料N(LC9、Cl
0)を得、相手材をSiC焼結体とし、実施−4411
で用いたと同様の摩擦摩耗試験機を用いて雰囲気を真空
中(lX 10−’To r r)とした以外は、実施
例1と同一試験条件で摩擦摩耗試験を行った。その結果
を第3表に示す。本実施例の摺動部材は、真空下におい
ても、摩擦係数の低減、相手材の摩耗の低減に優れてい
ることがわかる。
μm1表面粗さが1μmと3μmのダイヤモンド膜をコ
ーティングしたSiC焼結体基材に、真空蒸着により、
軟質金属であるAuをダイヤモンド膜凹部に埋め込み、
摺動部材(試料N0.1112)とし、また、比較材と
して、軟質金属を用いないもの(試料N(LC9、Cl
0)を得、相手材をSiC焼結体とし、実施−4411
で用いたと同様の摩擦摩耗試験機を用いて雰囲気を真空
中(lX 10−’To r r)とした以外は、実施
例1と同一試験条件で摩擦摩耗試験を行った。その結果
を第3表に示す。本実施例の摺動部材は、真空下におい
ても、摩擦係数の低減、相手材の摩耗の低減に優れてい
ることがわかる。
なお、基材あるいは硬質部材として軸受鋼等の硬質金属
を用いた場合も、摩擦係数の低減等に優れた効果がある
ことが確かめられた。
を用いた場合も、摩擦係数の低減等に優れた効果がある
ことが確かめられた。
Claims (1)
- セラミックス又は金属からなる基材と、該基材表面に形
成した、表面に凹凸を有するダイヤモンド膜と、該膜の
表面の凹部に埋め込んだ軟質金属とからなり、該ダイヤ
モンド膜表面の摩擦係数ならびに高硬度材の摩耗を低減
し得る摺動部材。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1176279A JP2620976B2 (ja) | 1989-07-07 | 1989-07-07 | 摺動部材 |
US07/549,111 US5108813A (en) | 1989-07-07 | 1990-07-06 | Sliding member |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1176279A JP2620976B2 (ja) | 1989-07-07 | 1989-07-07 | 摺動部材 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0340984A true JPH0340984A (ja) | 1991-02-21 |
JP2620976B2 JP2620976B2 (ja) | 1997-06-18 |
Family
ID=16010804
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1176279A Expired - Lifetime JP2620976B2 (ja) | 1989-07-07 | 1989-07-07 | 摺動部材 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5108813A (ja) |
JP (1) | JP2620976B2 (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001172766A (ja) * | 1999-12-16 | 2001-06-26 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 被覆摺動部材 |
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