JPH0337157A - 積層セラミックコンデンサ - Google Patents
積層セラミックコンデンサInfo
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- JPH0337157A JPH0337157A JP1170601A JP17060189A JPH0337157A JP H0337157 A JPH0337157 A JP H0337157A JP 1170601 A JP1170601 A JP 1170601A JP 17060189 A JP17060189 A JP 17060189A JP H0337157 A JPH0337157 A JP H0337157A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はチタンジルコン酸バリウムBa(Ti1−XZ
r x ) Ozを主体とした複合酸化物に、ネオジ
ウム化合物、酸化亜鉛(ZnO)及びマンガン化合物を
添加して得られる高誘電率系磁器組成物に関するもので
ある。
r x ) Ozを主体とした複合酸化物に、ネオジ
ウム化合物、酸化亜鉛(ZnO)及びマンガン化合物を
添加して得られる高誘電率系磁器組成物に関するもので
ある。
高誘電率系磁器組成物は、積層セラミックコンデンサ等
の材料として使用される。具体的には、積層セラミック
コンデンサは、対向内部電極が形成された高誘電率系i
器組成物生シートを所定容量になるように複数枚積層し
て、さらに焼成して構成されている。
の材料として使用される。具体的には、積層セラミック
コンデンサは、対向内部電極が形成された高誘電率系i
器組成物生シートを所定容量になるように複数枚積層し
て、さらに焼成して構成されている。
このような、積層セラミックコンデンサに使用される高
誘電率系磁器組成物は、比誘電率が10000以上と高
いこと及び低温焼成が可能なことが重要と威ってくる。
誘電率系磁器組成物は、比誘電率が10000以上と高
いこと及び低温焼成が可能なことが重要と威ってくる。
即ち、比誘電率が10000以上にすることにより、対
向内部電極間の高誘電率系磁器組成物生シートの厚みや
対向面積の極小化が可能となり、積層セラミックコンデ
ンサの小型化が遠戚できる。
向内部電極間の高誘電率系磁器組成物生シートの厚みや
対向面積の極小化が可能となり、積層セラミックコンデ
ンサの小型化が遠戚できる。
また、低温焼成が可能なことにより、対向内部電極の材
料の選択幅が増え、例えば高価なPdl00%の材料か
ら安価なPd−Agの使用が可能となる。
料の選択幅が増え、例えば高価なPdl00%の材料か
ら安価なPd−Agの使用が可能となる。
従来、チタン酸バリウム(BaTi03)を主体とした
高誘電率系磁器組成物として、チタン酸バリウムに所定
量のスズ酸バリウム(BaSn03)、チタン酸カルシ
ウム(CaTi 03 ) 、酸化コバルト(CoO)
及び酸化マンガン(MnO2)などを添加した高誘電率
系磁器組成物が知られていた(特開昭58−20980
6号公報)。
高誘電率系磁器組成物として、チタン酸バリウムに所定
量のスズ酸バリウム(BaSn03)、チタン酸カルシ
ウム(CaTi 03 ) 、酸化コバルト(CoO)
及び酸化マンガン(MnO2)などを添加した高誘電率
系磁器組成物が知られていた(特開昭58−20980
6号公報)。
上述の高誘電率系磁器組成物によれば、比誘電率が10
000以上となる。
000以上となる。
また、チタン酸バリウム(BaTiO:+ ) 、ジル
コン酸カルシウム(CaZrO3)に所定量のチタン酸
鉛(PbTiO3)、ゲルマン酸鉛(PbsGe30□
)及びチタン酸ビスマス(BiTi 2ot )を添
加した高誘電率系磁器組成物が知られていた(特開昭5
9−25104号公II)。
コン酸カルシウム(CaZrO3)に所定量のチタン酸
鉛(PbTiO3)、ゲルマン酸鉛(PbsGe30□
)及びチタン酸ビスマス(BiTi 2ot )を添
加した高誘電率系磁器組成物が知られていた(特開昭5
9−25104号公II)。
上述の高誘電率系磁器組成物によれば、焼成温度が12
00℃以下とすることができる。
00℃以下とすることができる。
しかし、上述のチタン酸バリウム(BaTiO3)に所
定量のスズ酸バリウム(B a S n O:l )、
チタン酸カルシウム(CaTiO3)、酸化コバルト(
Co O)及び酸化マンガン(Mn Oz )などを添
加した高誘電率系磁器組成物(特開昭58−20980
6号に相当)は、比誘電率が10000以上と大変に高
いものの、焼成温度が1300℃前後であり、積層セラ
ミックコンデンサとして使用すると、対向内部電極に高
価なパラジウム(Pd)を使用しなくてはならず、積層
セラミックコンデンサの小型化は可能であっても、コス
トダウンに限界があるという問題点があった。
定量のスズ酸バリウム(B a S n O:l )、
チタン酸カルシウム(CaTiO3)、酸化コバルト(
Co O)及び酸化マンガン(Mn Oz )などを添
加した高誘電率系磁器組成物(特開昭58−20980
6号に相当)は、比誘電率が10000以上と大変に高
いものの、焼成温度が1300℃前後であり、積層セラ
ミックコンデンサとして使用すると、対向内部電極に高
価なパラジウム(Pd)を使用しなくてはならず、積層
セラミックコンデンサの小型化は可能であっても、コス
トダウンに限界があるという問題点があった。
また、上述のチタン酸バリウム(BaTi03)、ジル
コン酸カルシウム(CaZrO,)に所定量のチタン酸
鉛(PbTiO3)、ゲルマン酸鉛(P bs G e
x Ot+ )及びチタン酸ビスマス(B i T i
207 )を添加した高誘電率系磁器組成物(特開
昭59−25104号に相当)は、焼成温度が1200
℃以下とすることができるため、対向内部電極に安価な
銀−パラジウム(Ag−Pd :Ag/Pd=70/3
0〜60/40)を使用することができるももの、比誘
電率が10000未満となるため、小型・大容量の積層
セラミックコンデンサの遠戚が困難であった。
コン酸カルシウム(CaZrO,)に所定量のチタン酸
鉛(PbTiO3)、ゲルマン酸鉛(P bs G e
x Ot+ )及びチタン酸ビスマス(B i T i
207 )を添加した高誘電率系磁器組成物(特開
昭59−25104号に相当)は、焼成温度が1200
℃以下とすることができるため、対向内部電極に安価な
銀−パラジウム(Ag−Pd :Ag/Pd=70/3
0〜60/40)を使用することができるももの、比誘
電率が10000未満となるため、小型・大容量の積層
セラミックコンデンサの遠戚が困難であった。
本発明は上述の問題点に鑑みて案出されたものであり、
具体的には、高い比誘電率が得られ、且つ焼成温度が比
較的に低い高誘電率系磁器組成物を提供することにある
。
具体的には、高い比誘電率が得られ、且つ焼成温度が比
較的に低い高誘電率系磁器組成物を提供することにある
。
上述の課題を解決するために本発明は複合酸化物をBa
(Ti+−x Zr、)03と表した時、01≦x≦
0.16であり、 さらに、B a (T 11−X Z r x ) 0
3が100重量部に対して、 ネオジウム化合物が0.8〜1.8゜87%(Nd20
3に換算して)、 ZnOが0.8〜2.0ouy%、 マンガン化合物が0.1〜0.5゜uT%(Mn02に
換算して)を含有して威る高誘電率系磁器組成物である
。
(Ti+−x Zr、)03と表した時、01≦x≦
0.16であり、 さらに、B a (T 11−X Z r x ) 0
3が100重量部に対して、 ネオジウム化合物が0.8〜1.8゜87%(Nd20
3に換算して)、 ZnOが0.8〜2.0ouy%、 マンガン化合物が0.1〜0.5゜uT%(Mn02に
換算して)を含有して威る高誘電率系磁器組成物である
。
以上のように本発明によれば、高純度(99゜0%以上
)複合酸化物チタンジルコン酸バリウムをBa (Ti
、、ZrX)03と表した時、0゜1≦x≦0.16で
ある。
)複合酸化物チタンジルコン酸バリウムをBa (Ti
、、ZrX)03と表した時、0゜1≦x≦0.16で
ある。
XがO−1未満又は1.6を越える場合には、25℃で
の比誘電率が8000〜6500程度しか得られず、小
型・大容量の積層セラ、ミックコンデンサが遠戚できな
い。
の比誘電率が8000〜6500程度しか得られず、小
型・大容量の積層セラ、ミックコンデンサが遠戚できな
い。
所定量添加するネオジウム化合物、例えばNdZ 03
は、高誘電率系磁器組成物の焼結性を向上させ、比誘電
率を上げるものであり、添加量が0.8゜。7%(Nd
Z 03に換算して)未満では比誘電率が低下してしま
い、また、1.8゜。7%(NazO3に換算して)を
越えると、密度、焼成温度及び絶縁抵抗特性ともに低下
してしまう。
は、高誘電率系磁器組成物の焼結性を向上させ、比誘電
率を上げるものであり、添加量が0.8゜。7%(Nd
Z 03に換算して)未満では比誘電率が低下してしま
い、また、1.8゜。7%(NazO3に換算して)を
越えると、密度、焼成温度及び絶縁抵抗特性ともに低下
してしまう。
所定量添加する酸化亜鉛(ZnO)は、高誘電率系磁器
組成物の焼成温度を調整するものであり、znOが0.
8〜2.00ut%の範囲外では、焼成温度が1200
℃を越え、焼成後の磁器密度が5. 7g/cm”以下
となってしまう。
組成物の焼成温度を調整するものであり、znOが0.
8〜2.00ut%の範囲外では、焼成温度が1200
℃を越え、焼成後の磁器密度が5. 7g/cm”以下
となってしまう。
所定量添加するマンガン化合物、例えばM n 02は
高誘電率系磁器組成物の誘電損失tanδを改善するも
のであり、その添加量が0.1ouy%(M n Oz
に換算して)未満では誘電損失tanδが2%以上とな
り、また0、5゜01%(MnO2に換算して)を越え
ると、絶縁抵抗が大きく低下してしまう。
高誘電率系磁器組成物の誘電損失tanδを改善するも
のであり、その添加量が0.1ouy%(M n Oz
に換算して)未満では誘電損失tanδが2%以上とな
り、また0、5゜01%(MnO2に換算して)を越え
ると、絶縁抵抗が大きく低下してしまう。
これらの相互作用により、高比誘電率10000以上の
高誘電率系磁器組成物が得られるとともに、さらに高誘
電率系磁器組成物として基本的な特性である誘電損失t
anδが1.0%以下、絶縁抵抗(IR)がlX10’
MΩ以上と充分に満足でき、さらに焼成温度が1200
℃以下と工業的にも製造しやすく、且つ対向内部電極に
安価な銀−パラジウム(Ag−Pd :Ag/Pd=7
0/30〜60/40)が使用できる積層セラミックコ
ンデンサなどに使用できる高誘電率系磁器組成物が遠戚
される。
高誘電率系磁器組成物が得られるとともに、さらに高誘
電率系磁器組成物として基本的な特性である誘電損失t
anδが1.0%以下、絶縁抵抗(IR)がlX10’
MΩ以上と充分に満足でき、さらに焼成温度が1200
℃以下と工業的にも製造しやすく、且つ対向内部電極に
安価な銀−パラジウム(Ag−Pd :Ag/Pd=7
0/30〜60/40)が使用できる積層セラミックコ
ンデンサなどに使用できる高誘電率系磁器組成物が遠戚
される。
以下、本発明の実施例を詳細に説明する。
出発材料としてチタン酸バリウム(BaTiOl)と、
ジルコニア(ZrO)からなる複合酸化物、チタンジル
コン酸バリウムをBa(Til−8Zrx)0:t
(0,1≦x≦0.16、平均粒径1μm以下)を主成
分として、Ba (Til−XZrx)O:+を100
重量部に対して、ネオジウム化合物、例えばNdz 0
3 、ZnO及びマンガン化合物、例えばM n Oz
の各粉末を表1に示す比率となるように秤量し、ボール
ミルにて20時時間式粉砕した後、有機系粘結剤を添加
し、しかる後攪拌、ドクターブレード法で厚さ30μm
のテープ状に成型した。このテープを130 mmX
100mmに裁断し、40枚重ね、80℃でホットプレ
スで積層体を作成する。
ジルコニア(ZrO)からなる複合酸化物、チタンジル
コン酸バリウムをBa(Til−8Zrx)0:t
(0,1≦x≦0.16、平均粒径1μm以下)を主成
分として、Ba (Til−XZrx)O:+を100
重量部に対して、ネオジウム化合物、例えばNdz 0
3 、ZnO及びマンガン化合物、例えばM n Oz
の各粉末を表1に示す比率となるように秤量し、ボール
ミルにて20時時間式粉砕した後、有機系粘結剤を添加
し、しかる後攪拌、ドクターブレード法で厚さ30μm
のテープ状に成型した。このテープを130 mmX
100mmに裁断し、40枚重ね、80℃でホットプレ
スで積層体を作成する。
さらにこの積層体の厚さ1mmの板状試料を直径20m
mの円板状に打ち抜き、酸素雰囲気にて1050〜12
00℃で2時間焼成した。さらに両端面に銀ペーストに
よる電極を焼きっけ試料とした。
mの円板状に打ち抜き、酸素雰囲気にて1050〜12
00℃で2時間焼成した。さらに両端面に銀ペーストに
よる電極を焼きっけ試料とした。
このように形成された試料について、比誘電率ε及び誘
電損失tanδを基準温度25℃、周波数1.0kHz
、測定電圧1.OVrmsで測定した。
電損失tanδを基準温度25℃、周波数1.0kHz
、測定電圧1.OVrmsで測定した。
また、直流電圧50Vを1分間印加した時の絶縁抵抗(
IR)を測定した。
IR)を測定した。
その結果を表1に示す。尚、便宜上、表中では、チタン
ジルコン酸バリウムB a (T 1I−X Z r、
)0.のXをXで、B a (T 1l−X Z r
x ) 03を100重量部に対して、添加するネオジ
ウム化合物、例えばNd2O3のout重量%をaで、
添加するZnOのout重量%をbで、添加するマンガ
ン化合物、例えばMnO2のout重量%をCで夫々示
す。また試料番号に*印を付したものは本発明の範囲外
である。
ジルコン酸バリウムB a (T 1I−X Z r、
)0.のXをXで、B a (T 1l−X Z r
x ) 03を100重量部に対して、添加するネオジ
ウム化合物、例えばNd2O3のout重量%をaで、
添加するZnOのout重量%をbで、添加するマンガ
ン化合物、例えばMnO2のout重量%をCで夫々示
す。また試料番号に*印を付したものは本発明の範囲外
である。
そして本発明の範囲の評価として、
比誘電率εは10000以上を良品とした。即ち、比誘
電率εが10000未満では、充分な比誘電率が得れず
、これにより積層セラミックコンデンサが大型してしま
う。また、誘電損失janδは1.0%以下を良品とし
た。即ち、誘電損失tanδが1.0%を越えると、誘
電損失tanδが不良となり、チップ化が困難となる。
電率εが10000未満では、充分な比誘電率が得れず
、これにより積層セラミックコンデンサが大型してしま
う。また、誘電損失janδは1.0%以下を良品とし
た。即ち、誘電損失tanδが1.0%を越えると、誘
電損失tanδが不良となり、チップ化が困難となる。
さらに密度は5.7g/cm3以上を良品とした。密度
が5.7g/cm’以下ではこの高誘電率系磁器組成物
を焼成した時に充分に焼成されず、1200℃以下とい
う低温焼成が困難となることが考えられる。
が5.7g/cm’以下ではこの高誘電率系磁器組成物
を焼成した時に充分に焼成されず、1200℃以下とい
う低温焼成が困難となることが考えられる。
さらに、絶縁抵抗(IR)は105MΩ以上を良品とし
た。
た。
(以下、余白)
試料番号1〜5は高誘電率系磁器の母材となる複合酸化
物チタンジルコン酸バリウムBa(Ti1−x Z r
、 ) 03のXを0−1〜0.16まで夫々値を変化
させた。このとき添加するNd2O3、ZnO,及びM
n Ozのout重量%の値a、b、cを夫々166
.1.5及び0.2と固定した。これは後述の夫々の添
加量で本発明の範囲の代表的な値となるものである。
物チタンジルコン酸バリウムBa(Ti1−x Z r
、 ) 03のXを0−1〜0.16まで夫々値を変化
させた。このとき添加するNd2O3、ZnO,及びM
n Ozのout重量%の値a、b、cを夫々166
.1.5及び0.2と固定した。これは後述の夫々の添
加量で本発明の範囲の代表的な値となるものである。
試料番号1 (x=0.1)、試料番号5(x−0,1
6)では、誘電損失tanδ、密度、焼成温度及び絶縁
抵抗IRについては満足できる特性が得られるものの、
積層セラミックコンデンサの小型・大容量に大きく寄与
する比誘電率εが6500となり充分な比誘電率εが得
られない。
6)では、誘電損失tanδ、密度、焼成温度及び絶縁
抵抗IRについては満足できる特性が得られるものの、
積層セラミックコンデンサの小型・大容量に大きく寄与
する比誘電率εが6500となり充分な比誘電率εが得
られない。
試料番号2〜4 (x=0. 11−0− 16)では
、比誘電率εが10500〜14500となり充分な比
誘電率εが得られ、さらに、誘電損失tanδ、密度、
焼成温度(1100℃以下)、絶縁抵抗IRとともに満
足できる特性が得られる。
、比誘電率εが10500〜14500となり充分な比
誘電率εが得られ、さらに、誘電損失tanδ、密度、
焼成温度(1100℃以下)、絶縁抵抗IRとともに満
足できる特性が得られる。
従って、複合酸化物チタンジルコン酸バリウムBa
(Tit−X Zrx )03のXは、0.1〜O16
が望ましい範囲である。
(Tit−X Zrx )03のXは、0.1〜O16
が望ましい範囲である。
次に、高誘電率系磁器組成物の母材であるチタンジルコ
ン酸バリウムB a (T i l−X Z r x
) 03に添加するネオジウム化合物、例えばNd2
O3のout重量%の値 aについて検討した。試料番
号6〜11は添加するNd2O,のout重量%(a
)を0.7〜1.9まで夫々値を変化させた。このとき
添加するZnO及びMnO2のOut重量%の値す、c
を夫々1.5及び0.3に固定した。
ン酸バリウムB a (T i l−X Z r x
) 03に添加するネオジウム化合物、例えばNd2
O3のout重量%の値 aについて検討した。試料番
号6〜11は添加するNd2O,のout重量%(a
)を0.7〜1.9まで夫々値を変化させた。このとき
添加するZnO及びMnO2のOut重量%の値す、c
を夫々1.5及び0.3に固定した。
試料番号6(α=0.7)では、誘電損失tanδ、密
度、焼成温度及び絶縁抵抗IRについては満足できる特
性が得られるものの、積層セラミックコンデンサの小型
・大容量に大きく寄与する比誘電率εが8000となり
充分な比誘電率εが得られない。
度、焼成温度及び絶縁抵抗IRについては満足できる特
性が得られるものの、積層セラミックコンデンサの小型
・大容量に大きく寄与する比誘電率εが8000となり
充分な比誘電率εが得られない。
試料番号11 (a=1. 9)では、比誘電率εが1
7000となり、密度、焼成温度(1200℃)につい
ては満足できる特性が得られるものの、絶縁抵抗IRが
1〜2桁も低下してしまう。
7000となり、密度、焼成温度(1200℃)につい
ては満足できる特性が得られるものの、絶縁抵抗IRが
1〜2桁も低下してしまう。
試料番号7〜10(a=0.8〜1.8)では比誘電率
εが11000〜17500となり、誘電損失tanδ
、密度、焼成温度(1160’C以下)及び絶縁抵抗I
Rの各特性についても満足できる高誘電率系磁器組成物
が得られる。
εが11000〜17500となり、誘電損失tanδ
、密度、焼成温度(1160’C以下)及び絶縁抵抗I
Rの各特性についても満足できる高誘電率系磁器組成物
が得られる。
従って、チタンジルコン酸バリウムBa(Til−x
Z r x ) 03に添加するネオジウム化合物、例
えばN d z O3は0−8〜1.8out重量%が
望ましい範囲である。
Z r x ) 03に添加するネオジウム化合物、例
えばN d z O3は0−8〜1.8out重量%が
望ましい範囲である。
次に、高誘電率系磁器組成物の母材であるチタンジルコ
ン酸バリウムBa (Til−、Zrx )03に添
加するZnOのout重量%の値すについて検討した。
ン酸バリウムBa (Til−、Zrx )03に添
加するZnOのout重量%の値すについて検討した。
試料番号12〜18は添加するZnOのout重量%(
b )を0.7〜2.1まで夫々値を変化させた。この
とき添加するNd2O。
b )を0.7〜2.1まで夫々値を変化させた。この
とき添加するNd2O。
及びMnO2のout重量%の値a、cを夫々14及び
0.3に固定した。
0.3に固定した。
試料番号12 (b =0. 7)では、誘電損失ta
nδ、密度、焼成温度及び絶縁抵抗IRについては満足
できる特性が得られるものの、積層セラミックコンデン
サの小型・大容量に大きく寄与する比誘電率εが900
0となり、また誘電損失tanδも1%となってしまう
。
nδ、密度、焼成温度及び絶縁抵抗IRについては満足
できる特性が得られるものの、積層セラミックコンデン
サの小型・大容量に大きく寄与する比誘電率εが900
0となり、また誘電損失tanδも1%となってしまう
。
試料番号18 (b =2. 1)では、比誘電率εが
8500に低下してしまい、また密度、焼成温度(12
00℃)についても満足できる特性が得られなかった。
8500に低下してしまい、また密度、焼成温度(12
00℃)についても満足できる特性が得られなかった。
試料番号13〜14(b=0.8〜2.0)では比誘電
率εが12000〜17000となり、誘電損失tan
δ、密度、焼成温度(1150℃以下)及び絶縁抵抗I
Rの各特性についても満足できる高誘電率系磁器組成物
が得られる。
率εが12000〜17000となり、誘電損失tan
δ、密度、焼成温度(1150℃以下)及び絶縁抵抗I
Rの各特性についても満足できる高誘電率系磁器組成物
が得られる。
従って、チタンジルコン酸バリウムBa(Til−x
Z rx ) O:1に添加するZnOは0.8〜20
out重量%が望ましい範囲である。
Z rx ) O:1に添加するZnOは0.8〜20
out重量%が望ましい範囲である。
次に、高誘電率系磁器組成物の母材であるチタンジルコ
ン酸バリウムBa (Tit−x Zrx ) 03
に添加するマンガン化合物、例えばMn0zのout重
量%の値Cについて検討した。試料番号19〜24は添
加するMnO2の○ut重量%(C)をO〜0.6まで
夫々値を変化させた。このとき添加するN d z O
3及びZnOのout重量%の値a、bを夫々1.5及
び1.6に固定した試料番号19(ミニ0)では、比誘
電率ε(15500)、密度、焼成温度(1120℃)
及び絶縁抵抗IRについては満足できる特性が得られる
ものの、誘電損失tanδが2.12%と極めて悪化し
てしまう。
ン酸バリウムBa (Tit−x Zrx ) 03
に添加するマンガン化合物、例えばMn0zのout重
量%の値Cについて検討した。試料番号19〜24は添
加するMnO2の○ut重量%(C)をO〜0.6まで
夫々値を変化させた。このとき添加するN d z O
3及びZnOのout重量%の値a、bを夫々1.5及
び1.6に固定した試料番号19(ミニ0)では、比誘
電率ε(15500)、密度、焼成温度(1120℃)
及び絶縁抵抗IRについては満足できる特性が得られる
ものの、誘電損失tanδが2.12%と極めて悪化し
てしまう。
試料番号24 (c =0.6)では、比誘電率ε(1
4000)、密度、焼成温度(1120℃)についても
満足できるものの、誘電損失tanδが1.50%、絶
縁抵抗IRが103と一桁も低下してしまう。
4000)、密度、焼成温度(1120℃)についても
満足できるものの、誘電損失tanδが1.50%、絶
縁抵抗IRが103と一桁も低下してしまう。
試料番号20〜23(ミニ0.1〜0.5)では比誘電
率εが15000〜16600となり、誘電損失tan
δ、密度、焼成温度(1120℃以下)及び絶縁抵抗I
Rの各特性についても満足できる高誘電率系磁器組成物
が得られる。
率εが15000〜16600となり、誘電損失tan
δ、密度、焼成温度(1120℃以下)及び絶縁抵抗I
Rの各特性についても満足できる高誘電率系磁器組成物
が得られる。
従って、チタンジルコン酸バリウムBa(Ti1−X
Z rx ) 03に添加するM n O2は0.1〜
0.5out重量%が望ましい範囲である。
Z rx ) 03に添加するM n O2は0.1〜
0.5out重量%が望ましい範囲である。
以上のように、複合酸化物Ba (Til−x Zr、
)O,と表シタ時、0.1<x≦0.16でt)す、さ
らに、B a (T 1l−x Z r x ) 03
が1゜0重量部に対して、ネオジウム化合物が0. 8
〜1− 801JT%(NdzOxに換算して)、Zn
O−/J<0.8〜2. 0ou−%、マンガン化合物
がが0.1””0.5゜07%(M n Ozに換算し
て)を含有して威る高誘電率系!W組組成は、比誘電率
ε、誘電損失tanδ、密度、焼成温度(1200”C
以下)及び絶縁抵抗IRの各特性についても満足できる
ものとなる。
)O,と表シタ時、0.1<x≦0.16でt)す、さ
らに、B a (T 1l−x Z r x ) 03
が1゜0重量部に対して、ネオジウム化合物が0. 8
〜1− 801JT%(NdzOxに換算して)、Zn
O−/J<0.8〜2. 0ou−%、マンガン化合物
がが0.1””0.5゜07%(M n Ozに換算し
て)を含有して威る高誘電率系!W組組成は、比誘電率
ε、誘電損失tanδ、密度、焼成温度(1200”C
以下)及び絶縁抵抗IRの各特性についても満足できる
ものとなる。
続いて、上述の範囲を確認するために、複合酸化物B
a (T I I−x Z r x ) 03の添加す
るNdzO:+、ZnQ及びMnO2のout重量%の
値α、b、cが全て範囲外となる組成について特性をま
とめた。
a (T I I−x Z r x ) 03の添加す
るNdzO:+、ZnQ及びMnO2のout重量%の
値α、b、cが全て範囲外となる組成について特性をま
とめた。
試料番号25は、a、b、cの値が全て範囲に満たない
、即ちO−7,0,7,0の時である。
、即ちO−7,0,7,0の時である。
この場合比誘電率εが6500、誘電損失tanδが2
.4%、焼成温度が1220℃と或ってしまい、さらに
絶縁抵抗IR,密度までも評価範囲外となってしまい、
積層セラミックコンデンサに実用不可能な高誘電率系磁
器となってしまう。
.4%、焼成温度が1220℃と或ってしまい、さらに
絶縁抵抗IR,密度までも評価範囲外となってしまい、
積層セラミックコンデンサに実用不可能な高誘電率系磁
器となってしまう。
試料番号26は、α、b、cの値が全て範囲を越える、
すなわち1.9.2.1.0.6の時である。この場合
も比誘電率εが9000、焼成温度が1220℃と威っ
てしまい、絶縁抵抗IR。
すなわち1.9.2.1.0.6の時である。この場合
も比誘電率εが9000、焼成温度が1220℃と威っ
てしまい、絶縁抵抗IR。
密度までも評価範囲外となってしまい、積層セラミック
コンデンサとして実用不可能に近い高誘電率系磁器とな
ってしまう。
コンデンサとして実用不可能に近い高誘電率系磁器とな
ってしまう。
最後に、チタンジルコン酸バリウムBa(TII−x
Z rx ) O3の平均粒径について検討した。
Z rx ) O3の平均粒径について検討した。
本発明者は特にBa (’ri、−,ZrX)O−1の
平均粒径によって焼成温度が大きく変動することを知見
した。
平均粒径によって焼成温度が大きく変動することを知見
した。
試料番号27〜32は、高誘電率系磁器組成物の母材で
あるチタンジルコン酸バリウムBa(Tt l−x Z
r x ) 03の平均粒径を0.1〜1.0μmの
範囲で変化させた。このときX 、4% b、Cの値を
夫々0.13.1.5.1. 5及び0゜2に固定した
。
あるチタンジルコン酸バリウムBa(Tt l−x Z
r x ) 03の平均粒径を0.1〜1.0μmの
範囲で変化させた。このときX 、4% b、Cの値を
夫々0.13.1.5.1. 5及び0゜2に固定した
。
平均粒径が1.0μ−以上の試料番号32においてのみ
、焼成温度(1250℃)と成ってしまう。 試料番号
27〜31の平均粒径0. 1〜09μmについては、
比誘電率εが12000〜17500となり、誘電損失
tanδ、密度、焼成温度(1190℃以下〉及び絶縁
抵抗IRの各特性についても満足できる高誘電率系磁器
組成物が得られた。
、焼成温度(1250℃)と成ってしまう。 試料番号
27〜31の平均粒径0. 1〜09μmについては、
比誘電率εが12000〜17500となり、誘電損失
tanδ、密度、焼成温度(1190℃以下〉及び絶縁
抵抗IRの各特性についても満足できる高誘電率系磁器
組成物が得られた。
以上のように、チタンジルコン酸バリウムBa(TII
−x ZrX)03と表した時、0− 1≦x≦0.1
6であり、 さらに、Ba (’ri、−X Zrx )03.1
00重量部に対して、 ネオジウム化合物が0.8〜1.8゜u7%(Nd20
3に換算して)、 ZnOが0.8〜2.0ouy%、 マンガン化合物がo、 i 〜0.501.、%(M
nO2に換算して)を含有したため、比誘電率εが10
000以上の高誘電率系磁器組成物が遠戚される。さら
に、誘電損失tanδが1.0%以下で、密度が5.
7 g/cm” 、絶縁抵抗が10’MΩ以上であり、
1200℃以下の焼成温度で完全に焼結できる高誘電率
系磁器組成物となる。
−x ZrX)03と表した時、0− 1≦x≦0.1
6であり、 さらに、Ba (’ri、−X Zrx )03.1
00重量部に対して、 ネオジウム化合物が0.8〜1.8゜u7%(Nd20
3に換算して)、 ZnOが0.8〜2.0ouy%、 マンガン化合物がo、 i 〜0.501.、%(M
nO2に換算して)を含有したため、比誘電率εが10
000以上の高誘電率系磁器組成物が遠戚される。さら
に、誘電損失tanδが1.0%以下で、密度が5.
7 g/cm” 、絶縁抵抗が10’MΩ以上であり、
1200℃以下の焼成温度で完全に焼結できる高誘電率
系磁器組成物となる。
これにより、例えばチップコンデンサに上述の高誘電率
系磁器組成物を使用した場合、小型大容量のコンデンサ
が遠戚でき、焼成温度が1200℃以下とすることがで
き、さらに積層された生シート間に内部電極として安価
な銀−パラジウム(Ag−Pd :Ag/Pd=70/
30〜60/40)を使用することができ、安価な積層
セラミックコンデンサの高誘電率系磁器組成物となる。
系磁器組成物を使用した場合、小型大容量のコンデンサ
が遠戚でき、焼成温度が1200℃以下とすることがで
き、さらに積層された生シート間に内部電極として安価
な銀−パラジウム(Ag−Pd :Ag/Pd=70/
30〜60/40)を使用することができ、安価な積層
セラミックコンデンサの高誘電率系磁器組成物となる。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 複合酸化物をBa(Ti_1_−_xZr_x)O_
3と表した時、 0.1≦x≦0.16であり、 さらに、Ba(Ti_1_−_xZr_x)O_3が1
00重量部に対して、 ネオジウム化合物が0.8〜1.8_o_u_r%(N
d_2O_3に換算して)、 ZnOが0.8〜2.0_o_u_r%、 マンガン化合物が0.1〜0.5_o_u_r%(Mn
O_2に換算して)を含有して成る高誘電率系磁器組成
物。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1170601A JP2821768B2 (ja) | 1989-06-30 | 1989-06-30 | 積層セラミックコンデンサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1170601A JP2821768B2 (ja) | 1989-06-30 | 1989-06-30 | 積層セラミックコンデンサ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0337157A true JPH0337157A (ja) | 1991-02-18 |
JP2821768B2 JP2821768B2 (ja) | 1998-11-05 |
Family
ID=15907874
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1170601A Expired - Fee Related JP2821768B2 (ja) | 1989-06-30 | 1989-06-30 | 積層セラミックコンデンサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2821768B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003004436A1 (de) * | 2001-07-06 | 2003-01-16 | Epcos Ag | Keramikmaterial, keramisches vielschichtbauelement und verfahren zur herstellung des bauelements |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2015115878A1 (ko) | 2014-02-03 | 2015-08-06 | 주식회사 엘지화학 | 고정전용량의 콘덴서용 권회형 적층체 및 이를 이용한 적층 권회형 콘덴서 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02123614A (ja) * | 1988-11-02 | 1990-05-11 | Tdk Corp | 高誘電率系磁器組成物 |
-
1989
- 1989-06-30 JP JP1170601A patent/JP2821768B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02123614A (ja) * | 1988-11-02 | 1990-05-11 | Tdk Corp | 高誘電率系磁器組成物 |
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---|---|---|---|---|
WO2003004436A1 (de) * | 2001-07-06 | 2003-01-16 | Epcos Ag | Keramikmaterial, keramisches vielschichtbauelement und verfahren zur herstellung des bauelements |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2821768B2 (ja) | 1998-11-05 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |