JPH0334880A - 印刷文字の検査方法及びその装置 - Google Patents

印刷文字の検査方法及びその装置

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JPH0334880A
JPH0334880A JP1169219A JP16921989A JPH0334880A JP H0334880 A JPH0334880 A JP H0334880A JP 1169219 A JP1169219 A JP 1169219A JP 16921989 A JP16921989 A JP 16921989A JP H0334880 A JPH0334880 A JP H0334880A
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JP1169219A
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Taichi Tsujii
太一 辻井
Minoru Nakano
稔 中野
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INTAADETSUKU KK
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INTAADETSUKU KK
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業1−1の利用分!f〕 本発明は例えは錠剤等小形の印刷物に印刷された文字ま
たはパターン(以下単ζこ文字という)の良舎即ち文字
の一部欠除、かすれあるいは誤印刷による文字の逆転等
を検査する検査方法及びその装置に関する。
〔従来の技術〕
1−記叩刷文字の検査方法としては、例えは第8図(a
、)に示す印刷物Wの印刷文字Pa、PbをCI)カメ
ラにより撮像し、2値化して撮像各部を総ドツト数で検
査する第1の方法がある。
上た他の手段としては同13/I (b )に示す如く
標tt ta像Aa、At:+と撮像Pa、Pbとを重
ね合わせる第2の方法がある。
まに第3のブj法としては同図(C)に示す如く各走査
ラインS毎の総ドツト数を比較する方法かある。
史に、第4の方法としては同図(d)に示す如く、縦横
に升目(ブロック)Rを形成し、各ブロック毎のパター
ンの発生数を検出する方法がある。
〔発明か解決しようとする課題〕
上、記第1の方法では回路が複雑で精度の向−Eを計る
ことは困難である。また第2の方法では図示の如く標準
影像と撮像とが位置ずれを生した場合、印刷文字が良品
であっても不良と判断される欠点がある。また第3の方
法によるときは、同様に縦方向に位置ずれを生した場合
には不良と判断される欠点がある。
史に第4の方法によるときは、回路が複雑になる等の問
題がある。
本発明はかかる点に鑑み、回路構成が容易であり、かつ
標準影像との位置ずれに影響されることなく、確実にか
つ迅速に印刷文字の良否を判定することのできる検査方
法及びその装置を提供することを目的とする。
〔課独を解決するための手段〕
上記目的を達成するための第1の発明は印刷文字数の検
査方法に係り、カメラにより印刷物の文字を撮像し、撮
像した文字信号を2値化し、2値化(M号をりLノック
で分割して矩形波とし、文字間の空間を検出すること(
こより文字数を算出し、標準文字数と比較するようにし
kものである。
また第2の発明は同様に印刷文字数の検査方法に係るも
のであるが、本発明は、外マスク内に印刷された文字の
検査に係り、外マスク内を多分割して小升目を形成し、
2値化により発生した画像間の信号の出ない升目数から
文字間隔を判断し、これから文字数を算出し、標準文字
数をマり断するようにしたものである。
第3の発明は印刷文字の縦横寸法の検査方法に関し、カ
メラにより印刷物の文字を撮像し、撮像した文字18号
を21+i′f化し、2値化信号をクロックで分割して
矩形波とし、文字を表示する縦横の矩形波数から縦横寸
法を計算し、標準寸9 法と比較するようにしたものである。
第4の発明は印刷文字の縦寸法を測定する他の検査方法
に関し、カメラにより外マスク内に印刷された文字を撮
像し、外マスク内を縦横に等分割して小升目を作り、こ
のマスク内で2(1宣化信号が最初に発生した横ライン
から最後に発生した横ライン迄の総ライン数を積算して
文字の縦寸法として標準文字縦寸法と比較するようにし
たものである。
第5の発明は同様に印刷文字の横寸法を測定する他の検
査方法に関し、カメラにより外マスク内に印刷された文
字を撮像し、外マスク内を縦横に等分割して小升目を作
り、このマスク内で2値化信号が最初に発生した縦ライ
ンから最後に発生した縦ライン迄の総ライン数を積算し
て文字の横寸法とし、標準文字横寸法と比較するように
したものである。
第6の発明は印刷文字のパターン、逆立ちの有無を検査
する方法であり、カメラにより印刷物の文字を撮像し、
撮像した文字信号を2値化0 し、2イ1自化信号をクロックで分割してフ」j形波ど
し、 1字を2分割し、各分割ことの総2値化数と標t
1文字2分割のそれぞれの値と比較して判定するよ−)
にしたものである。
第7の発明は同様に印刷文字のパターン、逆立ちの有無
の検査方法であり、撮像の外マスク内を多分割して小升
目を作り、この中に2値化により発生した文字信号を2
分割し、各分割内0) 2 lti化信号合計数をP4
準文字2分割のそれぞれの数値と比較するようむこした
ものである。
第8の発明は印刷文字のパターン、かすれを判定する検
査方法であり、カメラにより印刷物の文字を撮像し・、
撮像した文字18号を1字毎ζこ水平に多分割し・、分
割線毎にスレショルドしl\ルを越えるピーク微分で2
値化し、2値化信号をクロックで分割して矩形波とし、
その波数と標準文字のパターンカウントと比較し判定す
るようにしたちのである。
第9の発明は同様に印刷文字のパターン、かすれを判定
する検査方法であり、撮像の外マス1 り内を多分割して小升目を作り、升目中のピーク微分数
と標準文字のパターンカウントとを比較し判定するよう
にしたものである。
第10の発明は前記印刷文字数を比較検査するための装
置ζこ係り、カメラにより撮像した印刷文字の撮像信号
を2値化し、2値化信号をクロックで分割し矩形波信号
とする波形成型回路を備え、前述の如く文字区画位置か
ら文字数を比較判定するようζこしkものである。
第11の発明は前記印刷文字の縦幅を比較検査するため
の装置に係り、カメラにより撮像した印刷文字の撮像信
号を2値化し、2値化信号をクロックで分割し矩形波信
号とする波形成型回路を備え、撮像のVDライン毎に文
字信号をOR処理する横OR回路並びにOR処理により
発生ずる文字信号を縦方向に!、lI算する縦積算回路
を備え、積算数値を文字縦幅とし、文字縦幅標準値との
比較回路を備えたものである。
第12の発明は前記印刷文字の横幅を比較検査するため
の装置に係り、カメラにより撮像しlま た印刷文字の撮像信号を2値化し、2値化信号をクロッ
クで分割し矩形波18号とする波形成型回路を備え、撮
像の各VDラインの文字信号をOR処理する縦OR回路
並ひ乙こOR処理により発生ずる文字信号を横方向に積
算する横積算回路を備え、積算数値を文字横幅と腰 文
字横幅標準値との比較回路を備えたものである。
第13の発明は前記印刷文字の逆立ちの有無を検査する
ための装置に係り、カメラにより撮像した印刷文字の撮
像信号を2値化し、2値化信号をクロックで分割し矩形
波信号とする波形成型回路を備え、撮像の各V I)ラ
インの文字信号を順次OR処理する縦OR回路と、文字
信号である連続信号数li:2分する半折回路並ひに該
半折回路により区切られた前半及び後半の文字信号をそ
れぞれ集積する半折ドツト集積回路と積算した数値を基
準半折カウント数と比較する半折ドツト比較回路を備え
、2分のl縦文字のドツト 出するようにしたものである。
13 そして第14の発明は印刷文字のパターン、かすれを検
出するための装置に係り、カメラにより撮像した印刷文
字の撮像信号をV I)ライン毎に微分する微分回路と
、微分数値を所要のスレショルドレベルによりカットし
、これを越えるピーク値をクロックtこより分割し矩形
波に変換する波形成型(口)路と、各VDライン毎のピ
ーク値合計数を順次記憶するライン積算回路並ひにこれ
を標準パターンカウントと比較する比較回路とを備え、
上記スレショルドレベルの選定により文字のパターン、
かすれを判定するようにしたものである。
〔作 用〕
印刷文字の個数及び文字の縦横寸法は撮像を21直化信
号とし、これを矩形波とし、この個数の計測により行な
う。また文字の逆立ち(反転)は文字信号数を半折し、
それぞれを標準値と比較することにより行なう。更に文
字のかすれ等の対しては微分値のうち、スレショルドレ
ベルを越えるピーク値のみを計測する。
=14= しかもこれらの良否の判定は矩形波(まkはピーク微分
(IG)の集積(こより行なうようにしたから、標準文
字との位置ずれに影響されろことがない。
〔実施例〕
第1図乃至第7図は本発明の実施例を示す。
イ11シ、測定ずへき測定物\\l及びこれに印刷した
文字(ま前述の第8図(a)示したものとする。し1’
4JQは外マスクである。
上記III定物Wの文字Pa、Pbの測定に先立って標
準品の印刷文字Aa、Abの測定記憶作業を行かうもの
で、標準文字測定記憶回路を第4IンIにノJくず。
先ず標準品をCCDカメラIにより撮影し、色しヘル1
′す’;p) [1!回路2により地色レヘル(一般(
こ1′1色)測定と印刷色測定とを71ない、それぞれ
許容幅を段定−する。その要領を第5図に示す。
(r3しSは走査ラインであり、縦軸は色濃度を示し、
Aは叩刷邑濃度、Bは地色濃度、また±a。
±1)(よそれぞれ許容差をン]〈ず。図中QOは外マ
5 スフ、AOは文字のそれぞれの色濃度を示す。
なお、許容差±a、±1〕は色レベルに対するスレシヨ
ルドレベルとする。上記色しヘルは色レノペル記憶1(
J」路3に記憶される。
次に外マスクQの縦横寸法を外マスク検出回路4により
測定する。第6図は外マスクQ内に印刷文字Pa、Pb
の一例として「5R」が印刷されているものとし、これ
を走査記憶する例を示す。]すし図の右端の数字VNは
走査線番号を示す。即ち外マスクQの縦寸法は第2走査
線と第1;3走査線間とする。
この縦寸法を測定し、記憶1するに当たっては撮像信号
のスレシミ1ルトレヘル±a内の信号に対し21ig化
し、クロックで分割し、矩形波Valv l+とする。
この間の走査ライン数を読み取り、これを縦寸法とする
次に横寸法の測定に当たっては、撮像信号中のスレシヨ
ルドレベル±a内の信号を2値化しクロックで分割し、
V I)ライン上に矩形波ha。
b bを得る。両組形波間のクロック信号数な積6− 算し、横幅寸法とする。そしてこれら縦]]法、横幅寸
法を外マスク基県口路5に記憶させる。
以F外マスクQ内のみを処理する。 (外マスクは手動
で設定してもよい) 次に文字数の読み取り(′1業を行なう。
iff記外マスクの横寸法読み取り作業(こおいて最初
のV IlラインーLの信号t+ aから後に最初に出
た信匂をスタートとし、外マスク内の各VDラインの信
号を21直化し、り「コックで分別し、矩形波とし、4
′、下のV +)ラインを鞘として順次OR処理する。
このOR処理ζこよる信号か連続発生中は1文字とする
信号が切れた所を1ントボイントとじ、次の(4号が出
る。−1:ての区間を文字開−とし、これを文字区画1
11定回路6により判定し、その中間適所を文字区両点
1+ cとする。
外マスク0の横幅内全長に亘ってこれを行ない、文字数
読取回路7において、 (区画点数十1)を文字数とし
、これを文字数記憶回路8に記憶させる。
7 次に文字の横幅を検出する。この場合は、文字1文字毎
ζこ行なう。
前記文字数の読み取り作業における文字信号に対するO
R処理し連続発生ずる信号(第6図にお(Iる11d)
を集積する。閉制におけろ横文字幅「6」はその合計数
値である。この計算は各文字横幅検索回路9において行
ない、許容幅を加えて文字横幅記憶回路10に印加記憶
させる。
次に文字の縦幅な検出する。この場合も文字1字毎に行
なう。
撮像した文字信号を2値化しクロックで分割し矩形波と
し、VDライン毎に発生18号をOR処理する。このO
R処理した矩形波を第6図においてVCで示す。この信
号VCを集積して縦幅とする。閉制における縦文字幅「
8」はその合計数値−Cある。この計算は各文字wc幅
検索回路11において行ない、許容幅を加えて文字縦幅
記憶回路12に印加記憶させる。
次に十文字カウントを行なう。これは前記文字の横幅が
標準文字と合致していても活字が逆立ちして取り付+j
られた場合く第7図e)かある。これを検出するための
一字を折半して半文字づつ計算する。
11)1ち、文字幅は上記の如< 111明しており、
各文字毎にその半折演算点I′Ieを計算し設定する。
次いて半文字毎に各V I)ラインの発生信号(上述の
矩形波13号)tlfをそれぞれ積算し、ついで全ライ
ンを加算し・、その合計を半折カウント数とする。第6
図において文字Paの半折カウント数はr14J、  
rl;3J。また文字pbのそれはrlsJ、  rl
6」となる。これは半折パルス数積算回路13において
行ない、許容幅を付加し・て半折カウント数記憶回路1
4に印加記憶させる。
次(こ各文字毎に微分ビークイハ号を検出する。
これは印刷文字のパターン、かすれを判定するためのも
ので、撮像した外マスク内の文字信号を微分し、通有の
スレショルドレベルな設定し、これよを)突出したピー
ク値を矩形波に変換する。
=19− (第6図b z 、  I+ 11 )。そして各VD
ライン毎に記憶し、発生1110に′ifiへる。回倒
ては文字P aに対しては、2. 2. 2. 2. 
2. 2. 4. 2であり、文字P )]にヌ]して
は、2. 4. 4. 2゜4、、 4. 4.、 4
となる。
これをパターン、かすれの認識用とする。これらは文字
微分回路15により微分され、ピーク数1116次記憶
回路16において整列し、パターンカウント17にイン
プットする。
次に第1図に基づいて送り込まれる印刷物Wの印刷検査
要領を説明する。
先ずCCDカメラ20により撮像し、第1比較回路21
において色しl\ル記憶回路3と比較し、印刷色濃度を
検出する。但し第7図(a)は標し$文字Aa、Abの
色濃度を示し、印刷文字Pa、Pbの色濃度が色濃度A
ha内にあるとぎは(四国b)、良品と判断する。但し
これを越える印刷濃度あるいは印刷以外にこれを検知(
第3図(1)したときはイ・良あるいは汚れと判定し排
出する。次に第2比較回路22において0− 色レヘル紀憶回路3の地色と比較し、地色濃度B±1〕
内にあるときは良iムと1′11断する。但し印刷色濃
度か第2図に示す如<A+aに達しないものは色濃度不
足(第7図「)と判断し、また印刷文字以外に地色の上
限を越える濃度の点e(第3閉反ひ第7図(d))を検
知したときは?’5れと判断し、何れも排出する。
上記第1.第2の比較回路において良品と判断されたと
きは、次に波形成型回路23ζこおいて信号を2値化し
、クロックTにより分割し、カ4形波としスト・ンク回
路24において外マスクQの縦横寸法を外マスク基県回
路5と比較し拠金を判定する。この場合の外マスクの縦
横読み取り要領は前記標準品の読み取り要領と同一であ
り、説明を省略する。 (外マスクは手動設定でもよい
) 良品と判断されたときは、次の印刷文字個数の拠金の判
定を行なう。先ず前記矩形波を縦OR回路25により各
VDラインの矩形波信号を[二下の信号を鞘として贈次
OR処理し、前記標1− 準品測定要領にて文字区画を判定回路26により判定し
、この区画数を積算回路27にて積算し、これにより文
字数を計算回路28にて算出する。そして比較回路29
において文字数記憶回路8と比較する。
次に文字の逆立ちを検査するためには上記OR信号が連
続して読み取られたとき、その合計数を半折回路30に
より1/2の点を検出しく第6図he点)、半文字毎に
各VDラインの発生信号数を前記標準品の測定要領と同
様に積算回路31において積算し、比較回路32におい
て十文字@に半折カウント数記憶回路14と比較する。
1文字の比較終了後は文字区画信号Nからの信号により
次の文字を同様に半文字毎に比較回路33により比較す
る。
この場合、第7図(e)に示す如く、第2文字Pbが逆
立ちしているときは、第6図におCjる半折カウント1
8−16が16−18となり、逆立ちを判定することが
できる。
次に印刷文字の横幅の測定に当たっては上記文字数の判
定に際し発せられる文字区画信号Nにより1字毎に分割
し、各文字毎に連続して発せられるO R信号を積算回
路35により積算し、その数値を文字縦幅記憶回路12
と比較回路36において比較する。1文字の比較終了後
は文字区画信号Nの印加により次の文字幅の比較を行な
う。
第7図(g)は第2文字pbが印刷不良て幅gが標準の
幅Gより小となった状態を示す。
次に印刷文字の縦幅の測定に当たっては、前記2値化し
、クロックにより分割して形成された矩形波を横OR回
路40によりVDラインinにOR処理し、かつ文字区
画信号Nにより1字毎に分割し、 】7毎に全ラインを
積算回路41により積算する。そして比較回路42にお
いて文字縦幅記憶回路12と1字毎に比較する。1文字
の比較終了後は文字区画信号Nの印加により次の文字の
高さの比較を行なう。
第7図(f)は第2文字P bの高さが印刷不良て高さ
2が標トv二の高さI5より小となった場合な3 示す。
次に各印刷文字の微分値の測定要領について説明する。
」二記カメラ20により撮像した発生信号を微分回路4
4により微分し、比較回路45において適宜にその幅を
選択したスレシヨルドレベル46と比較し、これから上
下に突出したピーク値を波形成型回路47においてクロ
ックTで分割し矩形波とし、 1字毎に各VDライン毎
に信号数を積算回路48により皿次記憶し、パターンカ
ウント17と比較回路49において比較する。これを各
文字短縁り返して行ない、パターンの良否を判定する。
第7図(l〕)は第2文字P bに切欠部mを生した例
を示す。この場合、切欠部mは明確に、かつ若干の長さ
を有するときは、文字数判定において2字と判断する。
ただし切欠部mが微小間隔で2文字と判断し兼ねる場合
がある。しかしVDラインに沿って微分するときは、微
小切欠部であっても確実に検知できる。即ちパターンの
微小変化に刻しても確実に検知するものてあ4 る。
〔発明の効果〕
本発明によるときは、カメラで受像した印刷文字の撮像
信号を2値化し、りl′:1ツクで分割して矩形波とし
、これを横方向に読み取り、文字個数の判断、文字の横
幅の測定をするようにしたから、測定を正確ζこ行なう
ことができる。また文字幅を゛1死折し、それぞれを読
み取るようζこしたから、印刷に際し文字が逆立ちした
場合、これを簡単に検出することができる。
また文字の縦幅は上記矩形波を縦方向に読み取り、これ
により測定するよう(、ニジたから、測定を正確に行な
うことができる。
また撮像信号をVDラインに沿って微分し、各V Dラ
イン毎に微分数値を合計し、これを比較するようにした
から、微小パターンの変化、かすれ文字等も判読するこ
とができる。
しかも上記それぞれの測定に当り、標準品との比較に際
し、VDラインに沿い、あるいはこれと直角方向に矩形
波または微分波を集積して5 合計値を標準品の合計値と比較するようにしたから、印
刷の若干の位置ずれに影響されることなく、しかも測定
回路の簡素化を計ることがてき る。
【図面の簡単な説明】 第1図は測定方法のブロック回路図、第2図及び第3図
はそれぞれ異なった印刷文字の色濃度を示す走査線の説
明図、第4図は標準品の測定方法のブロック回路図、第
5図は標準印刷文字の色濃度を示す走査線の説明図、第
6図は上記各ブロック中の各機能の動作説明図、第7図
は印刷文字の良不良の説明図、第8図は従来の印刷文字
の測定要領の説明図である。 20はカメラ、23は波形成型回路、25は縦OR回路
、26は文字区画判定回路、29は文字数比較回路、3
0は半折回路、31は半折ドツト集積回路、32は半折
ドツト比較回路、40は横OR回路、41は縦積算回路
、42は縦幅比較回路、44は微分回路、47は波形成
型回路、4日はライン積算回路、49は比較回6 路、 Tはクロックである。 27− g開平 5 54δδυ(9)

Claims (14)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)カメラにより印刷物の文字を撮像し、撮像した文
    字信号を2値化し、2値化信号をクロックで分割して矩
    形波とし、文字間の空間を検出して文字数を算出し、標
    準文字数と比較し字数の過不足、字かすれを検出するこ
    とを特徴とする印刷文字の検査方法。
  2. (2)カメラにより外マスク内に印刷された文字を撮像
    し、外マスク内を縦横多分割して小升目を作り、この中
    に2値化により画像を発生せしめ、画像と画像間の2値
    化信号の出ない連続した升目数が設定値を越えたとき文
    字間隔とし、この文字間隔数により文字数を算出して標
    準文字数と比較して文字数の過不足、字かすれを検出す
    ることを特徴とする印刷文字の検査方法。
  3. (3)カメラにより印刷物の文字を撮像し、撮像した文
    字信号を2値化し、2値化信号をクロックで分割して矩
    形波とし、文字を表示する縦横の矩形波数から1字毎の
    縦横寸法を計算し、文字縦横標準値と比較することを特
    徴とする印刷文字の検査方法。
  4. (4)カメラにより外マスク内に印刷された文字を撮像
    し、外マスク内を縦横に等分割して小升目を作り、この
    マスク内で2値化信号が最初に発生した横ラインから最
    後に発生した横ライン迄の総ライン数を積算して文字の
    縦寸法とし、文字縦幅標準値と比較することを特徴とす
    る印刷文字の検査方法。
  5. (5)カメラにより外マスク内に印刷された文字を撮像
    し、外マスク内を縦横に等分割して小升目を作り、この
    マスク内で2値化信号が最初に発生した縦ラインから最
    後に発生した縦ライン迄の総ライン数をその文字の横寸
    法とし、文字横幅標準値と比較することを特徴とする印
    刷文字の検査方法。
  6. (6)カメラにより印刷物の文字を撮像し、撮像した文
    字信号を2値化し、2値化信号をクロックで分割して矩
    形波とし、1字を2分割し、各分割ごとの総2値化数と
    標準文字2分割のそれぞれの値と比較し、文字のパター
    ン、逆立ちの有無を検出することを特徴とする印刷文字
    の検査方法。
  7. (7)カメラにより外マスク内に印刷された文字を撮像
    し、外マスク内を縦横に等分割して小升目を作り、この
    中に2値化により画像を発生せしめると共に、発生した
    文字を2分割し、各分割マスク内に発生した2値化信号
    の合計数と標準文字2分割値とをそれぞれ比較して文字
    のパターン、逆立ちの有無を検出することを特徴とする
    印刷文字の検査方法。
  8. (8)カメラにより印刷物の文字を撮像し、撮像した文
    字信号を1字毎に水平に多分割し、分割線毎に表われる
    微分信号のうち所要のスレシヨルドレベルを越えるピー
    ク信号を2値化し、2値化信号をクロックで矩形波とし
    、この波数のパターンと標準文字のパターンカウントと
    比較し、文字のパターン、かすれを判定することを特徴
    とする印刷文字の検査方法。
  9. (9)カメラにより外マスク内に印刷された文字を撮像
    し、外マスク内を縦横に等分割して小升目を作り、この
    中に発生する文字信号を微分すると共に、微分値のうち
    所要のスレシヨルドレベルを越えるピーク発生回数パタ
    ーンと標準文字のパターンカウントと比較し、文字のパ
    ターン、かすれを判定することを特徴とする印刷文字の
    検査方法。
  10. (10)カメラにより撮像した印刷文字の撮像信号を2
    値化し、2値化信号をクロックで分割し矩形波信号とす
    る波形成型回路を備え、文字に対する信号が連続発生す
    る間は一文字とし、文字信号が一定(クロック)時間欠
    除したとき文字区画位置と判断する文字区画判定回路と
    この区画位置から文字数を判断し標準文字数と比較する
    文字数比較回路を備えたことを特徴とする印刷文字の検
    査装置。
  11. (11)カメラにより撮像した印刷文字の撮像信号を2
    値化し、2値化信号をクロックで分割し矩形波信号とす
    る波形成型回路を備え、撮像のVDライン毎に文字に対
    する信号をOR処理する横OR回路並びにOR処理によ
    り発生する文字毎の全ラインの信号を積算する縦積算回
    路並びに積算した信号合計値を文字縦幅とし、文字縦幅
    標準値との縦幅比較回路を具備したことを特徴とする印
    刷文字の検査装置。
  12. (12)カメラにより撮像した印刷文字の撮像信号を2
    値化し、2値化信号をクロックで分割し矩形波信号とす
    る波形成型回路を備え、撮像の各VDラインの文字信号
    を順次OR処理する縦OR回路と、該OR処理により得
    られる文字毎の信号を横方向に集積する横積算回路並び
    に積算した信号合計値を文字横幅とし、文字横幅標準値
    との比較回路を具備したことを特徴とする印刷文字の検
    査装置。
  13. (13)カメラにより撮像した印刷文字の撮像信号を2
    値化し、2値化信号をクロックで分割し矩形波信号とす
    る波形成型回路を備え、撮像の各VDラインの文字信号
    を順次OR処理する縦OR回路と、文字信号である連続
    信号数を2分する半折回路並びに該半折回路により区切
    られた前半及び後半の文字信号をそれぞれ集積する半折
    ドット集積回路と積算した数値を基準半折カウント数と
    比較する半折ドット比較回路を備え、2分の1縦文字の
    ドット数の比較により文字の逆立ちの有無を検出するこ
    とを特徴とする印刷文字の検査装置。
  14. (14)カメラにより撮像した印刷文字の撮像信号をV
    Dライン毎に微分する微分回路と、微分数値を所要のス
    レシヨルドレベルによりカットし、これを越えるピーク
    値をクロックにより分割し矩形波に変換する波形成型回
    路と、各VDライン毎のピーク値合計数を順次記憶する
    パターン記憶回路並びにこれを標準パターンカウントと
    比較する比較回路とを備え、上記スレシヨルドレベルの
    選定により文字のパターン、かすれを判定することを特
    徴とする印刷文字の検査装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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