JPH0333042Y2 - - Google Patents

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JPH0333042Y2
JPH0333042Y2 JP1983112119U JP11211983U JPH0333042Y2 JP H0333042 Y2 JPH0333042 Y2 JP H0333042Y2 JP 1983112119 U JP1983112119 U JP 1983112119U JP 11211983 U JP11211983 U JP 11211983U JP H0333042 Y2 JPH0333042 Y2 JP H0333042Y2
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JP
Japan
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electrodes
electrode
insulating
protective film
insulating substrate
Prior art date
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JP1983112119U
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JPS6020110U (ja
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  • Details Of Resistors (AREA)
  • Non-Adjustable Resistors (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 この考案は、チツプ抵抗器に係り、特に、共通
のセラミツク基板等の上に複数の抵抗素子を隣接
配置した所謂多連チツプ抵抗器に関する。
第1図は、従来の多連チツプ抵抗器を示し、第
2図は第1図の−線断面を示す。長方形状に
形成されたセラミツク基板2には、その長手方向
に一定の絶縁間隔を置いてその表面及び側面部に
複数組の電極4A,4Bが形成されているととも
に、各電極4A,4B間には、第2図に示すよう
に、電極4Aに一端、電極4Bに他端が重ねられ
て電気的に接続される抵抗素子6が個別に形成さ
れている。そして、抵抗素子6及び電極4A,4
Bの一部の表面には、合成樹脂等の絶縁材料から
なる保護膜8が被覆されている 次に、第3図は、この種の抵抗器のフエイスボ
ンデイングによるプリント配線板上の実装状態を
示す。即ち、プリント配線板10の表面に形成さ
れた配線導体12A,12Bの間には、チツプ抵
抗器が保護膜8をプリント配線板10側にして半
田14により接続されている。
この種の抵抗器では、コンパクト化を目的とし
ているため、隣接する電極4A,4A間、電極4
B,4B間の間隔は狭く設定されている。このた
め、半田付けした場合には、その間隔内に半田が
入り込み、電極4A,4A間、電極4B,4B間
に半田14によつて短絡が生じ易く、しかも、隣
接する電極4A,4A間、電極4B,4B間の耐
電圧が低い。また、プリント配線板10上に実装
した場合、保護膜8の厚さによつて各電極4A,
4A間、電極4B,4B間の間隙部には、大きな
空間16が形成され、この空間16にフエイスボ
ンデイングの際の処理液、水分等の不純物が侵入
して残留し、これがチツプ抵抗器等の特性を劣化
させる原因になる。
そこで、この考案は、電極間の空間を除くこと
により、耐電圧を向上させるとともに、半田の侵
入による短絡や不純物等の侵入による特性の劣化
を防止したチツプ抵抗器の提供を目的とする。
即ち、この考案のチツプ抵抗器は、絶縁体基板
の表面に対向して配置されるとともに前記絶縁体
基板の側面側に延長された複数の電極と、前記絶
縁体基板の表面上の前記電極間に設置された複数
の抵抗素子と、各抵抗素子とともに前記電極の一
部を選択的に覆つて前記絶縁体基板上に設置さ
れ、前記絶縁体基板の表面側及び側面側に露出さ
せた前記電極の間に絶縁部材として延長し、且
つ、電極面より突出させた保護膜とを備えたもの
である。
以下、この考案を図面に示した実施例を参照し
て詳細に説明する。
第4図は、この考案のチツプ抵抗器の実施例を
示し、第1図に示す抵抗器と同一部分には同一符
号が付してある。
このチツプ抵抗器には、絶縁体基板として例え
ばセラミツク基板2が用いられ、このセラミツク
基板2の表面には、一定の絶縁間隔を置いてその
表面に複数組の電極4A,4Bが対向して配置さ
れており、各電極4A,4Bはセラミツク基板2
の側面側に延長されている。そして、各電極4
A,4B間には、第2図に示すように、電極4A
に一端、電極4Bに他端が重ねられて電気的に接
続される抵抗素子6が個別に形成されている。
また、セラミツク基板2の上面には、各抵抗素
子6とともに各電極4A,4Bの上面の一部を選
択的に覆う保護膜8が設置されている。この保護
膜8は合成樹脂等の絶縁材料によつて形成され、
その一部が電極4A,4A間、電極4B,4B間
のセラミツク基板2の表面及び側面側に延長さ
れ、セラミツク基板2の表面側で絶縁部18A,
18Bが形成されるとともに、セラミツク基板2
の側面側で絶縁部20A,20Bが形成されてい
る。また、保護膜8は、電極4A,4Bより厚く
形成され、電極4A,4A間及び電極4B,4B
間の絶縁部18A,18Bが各抵抗素子6の上面
側の保護膜8と平坦面を成し、しかも、絶縁部2
0A,20Bも電極4A,4Bより厚く形成され
ていることから、絶縁部18A,18B,20
A,20Bは、それぞれ電極4A,4Bの間から
その電極面を越えて厚み方向に突出している。
このように隣接する電極4A,4A間、電極4
B,4B間に保護膜8の一部を選択的に延長させ
て絶縁部18A,18B,20A,20Bを形成
したので、第5図に示すように、プリント配線板
10上に実装した場合、第3図に示すように、隣
接する一方の電極4A,4A間の空間16は絶縁
部18Aで埋まるとともに、隣接する他方の電極
4B,4B間に生じていた空間16が絶縁部18
Bによつて埋まることになる。このため、電極4
A,4A間、電極4B,4B間の耐電圧を高くで
きるとともに、半田14の侵入による短絡を防止
でき、従来、空間部に生じていたフエイスボンデ
イングの処理液、水分、その他の不純物の侵入及
び残留が無くなるため、特性劣化が防止でき、安
定した電気的特性を長期に亘つて維持できる。
また、セラミツク基板2の側面側の一方の電極
4A,4A間には保護膜8の延長によつて絶縁部
20Aが設置され、また、他方の電極4B,4B
間には保護膜8の延長によつて絶縁部20Bが設
置され、しかも、各絶縁部20A,20Bは、各
電極4A,4Bの電極面より突出しているので、
絶縁部18A,18Bと相俟つて、隣接した電極
4A,4A間、電極4B,4B間の耐電圧を向上
させることができるとともに、半田による短絡が
防止できる。
そして、各絶縁部18A,18B,20A,2
0Bは、抵抗素子6の上面に設置される保護膜8
の延長によつて形成できるので、抵抗素子6の保
護とともに、各電極4A,4A間、電極4B,4
B間の絶縁を特別な工程を要することなく、同一
工程で処理できる。
なお、絶縁部18A,18B,20A,20B
は、保護膜8とは別の絶縁部材で形成し、保護膜
8を延長させた形態としてもよく、同様の効果が
期待できる。
以上説明したように、この考案によれば、次の
ような効果が得られる。
(a) 抵抗素子とともに電極の表面の一部を選択的
に覆う保護膜を絶縁体基板の表面及び側面側に
露出する電極の間に絶縁部材として延長し、か
つ、電極面より突出させたので、従来、電極間
に生じていた空間が絶縁部材によつて除くこと
ができ、電極間の耐電圧を高めることができる
とともに、半田による短絡や不純物の侵入が防
止されるため、信頼性の向上とともに安定した
電気的な特性を維持できる。
(b) また、電極間の絶縁部材は保護膜を延長して
形成したので、保護膜の形成と同時に電極間の
絶縁を行うことができ、特別な処理工程を要し
ないので、電極間の耐電圧が高くかつ信頼性の
高いチツプ抵抗器を安価に製造できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は多連チツプ抵抗器を示す斜視図、第2
図は第1図に示した多連チツプ抵抗器の−線
断面図、第3図は第1図に示した多連チツプ抵抗
器の実装状態を示す斜視図、第4図はこの考案の
チツプ抵抗器の実施例を示す斜視図である。第5
図は第4図に示したチツプ抵抗器の実装状態を示
す斜視図である。 2……セラミツク基板(絶縁体基板)、4A,
4B……電極、6……抵抗素子、8……保護膜、
18A,18B,20A,20B……絶縁部(絶
縁部材)。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 絶縁体基板の表面に対向して配置されるととも
    に前記絶縁体基板の側面側に延長された複数の電
    極と、 前記絶縁体基板の表面上の前記電極間に設置さ
    れた複数の抵抗素子と、 各抵抗素子とともに前記電極の一部を選択的に
    覆つて前記絶縁体基板上に設置され、前記絶縁体
    基板の表面側及び側面側に露出させた前記電極の
    間に絶縁部材として延長し、且つ、電極面より突
    出させた保護膜とを備えたことを特徴とするチツ
    プ抵抗器。
JP11211983U 1983-07-18 1983-07-18 チツプ抵抗器 Granted JPS6020110U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11211983U JPS6020110U (ja) 1983-07-18 1983-07-18 チツプ抵抗器

Applications Claiming Priority (1)

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JP11211983U JPS6020110U (ja) 1983-07-18 1983-07-18 チツプ抵抗器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6020110U JPS6020110U (ja) 1985-02-12
JPH0333042Y2 true JPH0333042Y2 (ja) 1991-07-12

Family

ID=30260039

Family Applications (1)

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JP11211983U Granted JPS6020110U (ja) 1983-07-18 1983-07-18 チツプ抵抗器

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JP (1) JPS6020110U (ja)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5820559B2 (ja) * 1977-01-17 1983-04-23 株式会社椿本チエイン 誘導電動機の速度制御装置

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5820559U (ja) * 1981-07-31 1983-02-08 松下電工株式会社 実装用電子部品

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5820559B2 (ja) * 1977-01-17 1983-04-23 株式会社椿本チエイン 誘導電動機の速度制御装置

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Publication number Publication date
JPS6020110U (ja) 1985-02-12

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