JPH032852Y2 - - Google Patents
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- JPH032852Y2 JPH032852Y2 JP15851186U JP15851186U JPH032852Y2 JP H032852 Y2 JPH032852 Y2 JP H032852Y2 JP 15851186 U JP15851186 U JP 15851186U JP 15851186 U JP15851186 U JP 15851186U JP H032852 Y2 JPH032852 Y2 JP H032852Y2
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は、探傷センサを備えたセンサホルダー
を被検査材表面に対し一定距離に保ち追従させる
非接触型探傷装置に関する。[Detailed Description of the Invention] The present invention relates to a non-contact flaw detection device in which a sensor holder equipped with a flaw detection sensor is kept at a constant distance from and follows the surface of a material to be inspected.
非破壊検査において、疵の検出能はその探傷セ
ンサと被検査材との相対的位置あるいはそれらの
間の距離に関係し、この距離が小さくなると検出
能が上がり逆に距離が大きくなると検出能が下が
る。被検査材の疵の探傷中、探傷センサと被検査
材との間の距離が変動するようなことがある場
合、それに応じて疵の検出能が変動して疵の大き
さ及び深さに比例した信号を得ることができず、
その結果適正な探傷が不可能となる。 In non-destructive testing, the ability to detect flaws is related to the relative position of the flaw detection sensor and the material to be inspected, or the distance between them; as this distance becomes smaller, the detection ability increases, and conversely, as the distance increases, the detection ability decreases. Go down. During flaw detection on the inspected material, if the distance between the flaw detection sensor and the inspected material changes, the flaw detection ability will change accordingly and be proportional to the size and depth of the flaw. I can't get the signal that I wanted,
As a result, proper flaw detection becomes impossible.
従来、自動磁気探傷装置においては、探傷セン
サを装着した検出器ホルダーと被検査材との間に
シユーを介在させることによつて探傷センサと被
検査材との間の距離を一定に保つている。このシ
ユーを介在させる方法では、探傷中シユーは被検
査材の表面に接触しつつ移動するために摩耗して
厚みが減少し、それによつて上記距離が短くな
り、同一探傷感度で探傷を行なうことができない
欠点がある。即ち、探傷センサの探傷感度は感度
設定時の感度に比べ上昇して検出しなくてもよい
浅い疵まで検出してしまう。また、このシユーの
摩耗はビレツト等の表面状況の悪い被検査材の探
傷においては特に著しく、シユーの交換により運
転コストが上昇するとともに稼動率が低下する。
更に、シユーを介した探傷センサの追従は被検査
材の表面状況により衝撃、ビビリ等の外乱を受け
る欠点もある。 Conventionally, in automatic magnetic flaw detection equipment, the distance between the flaw detection sensor and the material to be inspected is kept constant by interposing a shoe between the detector holder on which the flaw detection sensor is attached and the material to be inspected. . In this method of using a shoe, the shoe moves while contacting the surface of the material to be inspected during flaw detection, so it wears down and its thickness decreases, thereby shortening the above distance and allowing flaw detection to be performed with the same flaw detection sensitivity. There is a drawback that it cannot be done. That is, the flaw detection sensitivity of the flaw detection sensor increases compared to the sensitivity at the time of sensitivity setting, and even shallow flaws that do not need to be detected are detected. In addition, the wear of the shoe is particularly noticeable when inspecting materials with poor surface conditions such as billets, and replacement of the shoe increases operating costs and lowers the operating rate.
Furthermore, tracking by the flaw detection sensor via the shoe has the disadvantage that it is subject to disturbances such as shock and chatter depending on the surface condition of the material to be inspected.
従来の自動プローブ型渦流探傷装置における探
傷センサ追従法には次の方法がある。即ち、距離
センサでホルダーの高さを常時測定して一定の距
離を保つ非接触追従法である。距離測定用センサ
としては、光学式、電気容量式、等があるが、価
格及び取り扱い面から一般に渦流式が用いられて
いる。この渦流式センサは、距離計測に用いられ
る外、探傷用にも用いることができる。詳しく
は、この非接触追従法において使用される距離測
定用及び探傷用の渦流式センサは、被検査材の表
面に存在する疵に起因した電磁場の乱れを一般に
高周波信号として検出し、そしてこのセンサと被
検査材表面との間の距離変化による電磁場の乱れ
を低周波信号として検出する。これら両方の信号
を含むセンサの出力信号は、ハイパスフイルタと
ローパスフイルタを通される。このハイパスフイ
ルタは、距離変動により生ずるその低周波信号を
カツトして疵に起因する高周波信号のみとし、こ
れを疵信号として出力している。一方、実効上距
離センサとして機能するそのローパスフイルタ部
は、その高周波信号をカツトして低周波信号のみ
を取出し、これを距離信号として出力するように
構成されている。しかしながら、疵信号は、周波
数的に比較的広い範囲に存在しているため、距離
信号と同じ周波数成分を持つことがある。このた
め、ローパスフイルタで疵信号を完全にカツトす
るには、フイルタの遮断周波数を下げて距離信号
も若干カツトする必要がある。逆に、距離信号を
忠実に得ようとすれば、疵信号も若干通過するよ
うな高い周波数にその遮断周波数を設定しなけれ
ばならない。従つて、前者の場合には、距離信号
の内の高い周波数成分がカツトされることにより
その距離信号に時間遅れが生じ、そして後者の場
合には、疵信号の１部を含むため正確な距離信号
が得られず、その結果、いずれの場合にも、変動
するホルダーと被検査材表面との距離を一定に保
つ制御ができないという欠点がある。 The flaw detection sensor tracking method used in conventional automatic probe type eddy current flaw detection equipment includes the following methods. That is, this is a non-contact tracking method that constantly measures the height of the holder using a distance sensor to maintain a constant distance. Distance measuring sensors include optical types, capacitive types, etc., but eddy current types are generally used due to cost and ease of handling. This eddy current sensor can be used not only for distance measurement but also for flaw detection. Specifically, the eddy current sensor used for distance measurement and flaw detection used in this non-contact tracking method generally detects disturbances in the electromagnetic field caused by flaws on the surface of the material to be inspected as a high-frequency signal. Disturbances in the electromagnetic field caused by changes in the distance between the test object and the surface of the material to be inspected are detected as low-frequency signals. The sensor output signal, including both of these signals, is passed through a high-pass filter and a low-pass filter. This high-pass filter cuts out the low frequency signal caused by the distance fluctuation, leaving only the high frequency signal caused by the flaw, and outputs this as the flaw signal. On the other hand, the low-pass filter section, which effectively functions as a distance sensor, is configured to cut out the high frequency signal, extract only the low frequency signal, and output it as a distance signal. However, since the flaw signal exists in a relatively wide frequency range, it may have the same frequency components as the distance signal. Therefore, in order to completely cut out the flaw signal with a low-pass filter, it is necessary to lower the cutoff frequency of the filter and also cut out the distance signal to some extent. Conversely, if a distance signal is to be obtained faithfully, the cutoff frequency must be set to a high frequency that allows some flaw signals to pass through. Therefore, in the former case, the high frequency components of the distance signal are cut out, causing a time delay in the distance signal, and in the latter case, the distance signal contains a part of the flaw signal, so the accurate distance cannot be determined. No signal is obtained, and as a result, in either case, there is a drawback that the distance between the changing holder and the surface of the material to be inspected cannot be controlled to be kept constant.
従つて、本考案の目的は、距離センサが被検査
材表面の疵に起因する信号を捕らえても、探傷セ
ンサと被検査材との間の距離を一定に保持して正
確な探傷ができるようにする非接触型探傷装置を
提供することである。 Therefore, the purpose of the present invention is to maintain a constant distance between the flaw detection sensor and the material to be inspected even if the distance sensor captures a signal due to a flaw on the surface of the material to be inspected, so that accurate flaw detection can be performed. The purpose of the present invention is to provide a non-contact flaw detection device.
以下、本考案を図面を参照して説明する。 Hereinafter, the present invention will be explained with reference to the drawings.
第１図には本考案の非接触型探傷装置の好適実
施例を示す。本装置は、検出ヘツド固定板２、セ
ンサホルダー支持板６、及びセンサホルダー１０
を含み、検出ヘツド固定板２の両端に設けられた
検出ヘツド追従用ローラー４（一つのみ図示）が
被検査材である鋼管１と接触する状態でシリンダ
ロツド（図示せず）から吊り下げられている。第
１図では簡単にするため本探傷装置の左半分は省
略しているが、図示している右半分と同様の構成
を備えている。 FIG. 1 shows a preferred embodiment of the non-contact flaw detection device of the present invention. This device consists of a detection head fixing plate 2, a sensor holder support plate 6, and a sensor holder 10.
The detection head tracking rollers 4 (only one shown) provided at both ends of the detection head fixing plate 2 are suspended from a cylinder rod (not shown) in contact with the steel pipe 1 that is the material to be inspected. There is. Although the left half of the present flaw detection device is omitted in FIG. 1 for simplicity, it has the same configuration as the right half shown.
検出ヘツド固定板２に固定されているセンサホ
ルダー支持板６はその端部の電磁石支持部８上に
電磁石３４と永久磁石３２とを支持している。更
に、センサホルダー支持板６には追従ガイド用ベ
アリング２４及び２６を夫々備えたロツド２０及
び２２が取り付けられる。これらロツド２０及び
２２に取り付けられたベアリング２４及び２６
は、センサホルダー１０に設けられた追従ガイド
用溝１４と適合し、そしてセンサホルダー１０の
反対側にも設けられたロツドのベアリング（図示
せず）と共にセンサホルダー１０を上下に移動可
能なように保持する。このように保持されるセン
サホルダー１０は、鋼管１の表面と対向する下部
に複数の探傷センサ１６と距離センサ１８とを備
えている。一方、センサホルダー１０の上部付近
から突出した永久磁石支持部は永久磁石３２と対
向するように永久磁石３０を支持する。その際、
永久磁石３０と３２とは同種の極が対向するよう
に配置される。 A sensor holder support plate 6 fixed to the detection head fixing plate 2 supports an electromagnet 34 and a permanent magnet 32 on an electromagnet support part 8 at its end. Furthermore, rods 20 and 22 are attached to the sensor holder support plate 6, and are provided with follow-up guide bearings 24 and 26, respectively. Bearings 24 and 26 attached to these rods 20 and 22
is compatible with the follow-up guide groove 14 provided on the sensor holder 10, and allows the sensor holder 10 to be moved up and down together with a rod bearing (not shown) provided on the opposite side of the sensor holder 10. Hold. The sensor holder 10 held in this manner is equipped with a plurality of flaw detection sensors 16 and a distance sensor 18 at a lower portion facing the surface of the steel pipe 1. On the other hand, a permanent magnet support portion protruding from near the top of the sensor holder 10 supports the permanent magnet 30 so as to face the permanent magnet 32. that time,
Permanent magnets 30 and 32 are arranged so that the same kind of poles face each other.
次に、探傷センサ１６と距離センサ１８とにつ
いて説明する。探傷センサ１６は、探傷感度が被
検査材との距離に応じて変化するという特性を持
つたものであり、これは、例えば通常の磁気セン
サまたは渦流式センサで構成できる。詳しくは、
この探傷用磁気センサは、被検査材を磁化し、そ
して被検査材表面に垂直な磁場のみに反応する感
磁性素子をセンサとして使用するものである。一
方、探傷用渦流式センサは、被検査材表面に電磁
場を形成するコイルを使用し、そしてこの電磁場
の変化を検出する素子をセンサとして使用する構
造のものであり、そして被検査材表面との距離に
反応して生ずる低い周波数帯域の信号をカツトす
る一方疵に反応して生ずる比較的高い周波数帯域
の信号を通すハイパスフイルタを備えている。次
に、距離センサ１８は、正確な距離信号を得るた
め、被検査材との距離並びにその被検査材表面の
疵の双方に反応する特性を有するものである。例
えば、この距離センサ１８は、渦流式センサを用
い、これに忠実な距離信号を発生させるため、高
周波帯域の疵信号の内では比較的低い周波数の一
部の信号をも通過させる周波数帯域を有するロー
パスフイルタを設けて構成できる。 Next, the flaw detection sensor 16 and distance sensor 18 will be explained. The flaw detection sensor 16 has a characteristic that the flaw detection sensitivity changes depending on the distance to the material to be inspected, and can be configured by, for example, a normal magnetic sensor or an eddy current sensor. For more information,
This magnetic sensor for flaw detection magnetizes a material to be inspected and uses as a sensor a magnetically sensitive element that responds only to a magnetic field perpendicular to the surface of the material to be inspected. On the other hand, an eddy current sensor for flaw detection uses a coil that forms an electromagnetic field on the surface of the material to be inspected, and an element that detects changes in this electromagnetic field as a sensor. It is equipped with a high-pass filter that cuts out signals in a low frequency band that occur in response to distance, while passing signals in a relatively high frequency band that occurs in response to flaws. Next, in order to obtain an accurate distance signal, the distance sensor 18 has a characteristic that it responds to both the distance to the material to be inspected and flaws on the surface of the material to be inspected. For example, the distance sensor 18 uses an eddy current sensor, and in order to generate a distance signal faithful to the eddy current sensor, it has a frequency band that allows even some relatively low frequency signals to pass among the flaw signals in the high frequency band. It can be configured by providing a low-pass filter.
以上の如き構成を有する本探傷装置は、検査し
たい鋼管１の表面に検出ヘツド固定板２の両端の
ローラー４を接触させ、そして鋼管１を回転させ
て探傷センサ１６に鋼管１の全表面を走査させ
る。検査中、ローラー４は常に鋼管１の表面と接
触しているが、探傷センサ１６を有するセンサホ
ルダー１０は、永久磁石３０と、永久磁石３２及
び電磁石３４との反発力により鋼管表面から一定
距離浮上して非接触状態にある。この鋼管表面と
センサホルダー１０との距離は、第２図に示す制
御回路が電磁石３４を付勢して永久磁石３０と、
永久磁石３２及び電磁石３４との反発力の大きさ
を調節することにより制御される。 This flaw detection apparatus having the above-mentioned configuration brings the rollers 4 at both ends of the detection head fixing plate 2 into contact with the surface of the steel pipe 1 to be inspected, rotates the steel pipe 1, and causes the flaw detection sensor 16 to scan the entire surface of the steel pipe 1. let During the inspection, the roller 4 is always in contact with the surface of the steel pipe 1, but the sensor holder 10 having the flaw detection sensor 16 floats a certain distance from the surface of the steel pipe due to the repulsive force between the permanent magnet 30, the permanent magnet 32, and the electromagnet 34. and is in a non-contact state. The distance between the steel pipe surface and the sensor holder 10 is determined by the control circuit shown in FIG.
It is controlled by adjusting the magnitude of the repulsive force between the permanent magnet 32 and the electromagnet 34.
次に第２図を参照して制御回路を説明する。セ
ンサホルダー１０の下部に取り付けられた距離セ
ンサ１８はセンサホルダー１０と鋼管表面との間
の距離に応答する信号を利得可変差動増幅器４４
の正入力に与える。利得可変差動増幅器４４の負
入力には電圧源及び可変抵抗により所定の基準電
位が与えられる。従つて、差動増幅器４４はこれ
ら二つの入力の差に相当する出力を発生し、これ
をサンプル・ホールド回路４６を介して増幅器４
２に与える。この増幅器４２はその差出力を増幅
して電磁石３４のコイルに送り、それによつて電
磁石３４を磁化する。 Next, the control circuit will be explained with reference to FIG. A distance sensor 18 mounted at the bottom of the sensor holder 10 transmits a signal responsive to the distance between the sensor holder 10 and the steel pipe surface to a variable gain differential amplifier 44.
Give it to the positive input of . A predetermined reference potential is applied to the negative input of the variable gain differential amplifier 44 by a voltage source and a variable resistor. Therefore, the differential amplifier 44 generates an output corresponding to the difference between these two inputs, which is sent to the amplifier 4 via the sample and hold circuit 46.
Give to 2. The amplifier 42 amplifies the differential output and sends it to the coil of the electromagnet 34, thereby magnetizing the electromagnet 34.
制御回路は、更に、探傷センサ１６からの信号
を受けそして出力がサンプル・ホールド回路４６
に接続された単安定回路４８を備えている。この
単安定回路４８とサンプル・ホールド回路４６の
目的は、距離センサが鋼管１の表面との距離を検
出している最中に疵も検出する場合、その疵検出
によつて発生する誤つた距離信号を排除すること
である。単安定回路４８は、探傷センサ１６から
の信号を受けると、所定の時間信号を発生するよ
う動作する。そして、サンプル・ホールド回路４
６は、その単安定回路４８から信号を受けていな
い時は、差動増幅器４４の出力をそのまま増幅器
４２に通し、そして単安定回路４６から信号を受
けるときは、その信号受信開始時の差動増幅器４
４の出力をサンプルして単安定回路の信号が持続
する間ホールドし、これによつてサンプル・ホー
ルド出力を増幅器４２に与える。単安定回路４８
の出力時間幅は、疵の大きさ、深さ等に応じて変
化する探傷センサ１６からの出力信号の時間幅を
含むよう、従来の例から上記出力時間幅を設定し
ており、単安定回路４８が動作中、距離センサか
らの信号の変化が増幅器４２及び電磁石３４に伝
わらないようにサンプル・ホールド回路のホール
ド時間を決めている。 The control circuit further receives a signal from the flaw detection sensor 16 and outputs a sample and hold circuit 46.
The monostable circuit 48 is connected to the monostable circuit 48. The purpose of the monostable circuit 48 and the sample/hold circuit 46 is to prevent erroneous distances caused by detecting flaws when the distance sensor detects flaws while detecting the distance to the surface of the steel pipe 1. The goal is to eliminate the signal. When the monostable circuit 48 receives a signal from the flaw detection sensor 16, it operates to generate a predetermined time signal. And sample and hold circuit 4
6 passes the output of the differential amplifier 44 as it is to the amplifier 42 when it is not receiving a signal from the monostable circuit 48, and when receiving a signal from the monostable circuit 46, it passes the output of the differential amplifier 44 as it is to the amplifier 42, and when it receives a signal from the monostable circuit 46, it passes the output of the differential amplifier 44 directly to the amplifier 42, and when it receives a signal from the monostable circuit 46, it outputs the amplifier 4
4 is sampled and held for the duration of the monostable signal, thereby providing a sample and hold output to amplifier 42. monostable circuit 48
The output time width is set from the conventional example so as to include the time width of the output signal from the flaw detection sensor 16, which changes depending on the size and depth of the flaw. The hold time of the sample-and-hold circuit is determined so that changes in the signal from the distance sensor are not transmitted to the amplifier 42 and the electromagnet 34 while the sensor 48 is in operation.
次に、この制御回路の動作について説明する。
まず始めに、探傷センサ１６が疵を検出していな
い通常の状態では、電磁石３４は付勢されず、永
久磁石３０と３２との反発力によつてのみセンサ
ホルダー１０を浮上させる。このとき、差動増幅
器４４の負入力に設定される基準電位は、距離セ
ンサ１８から差動増幅器４４の正入力に加えられ
る信号との差が零である。一方、鋼管１とセンサ
ホルダー１０との距離が通常状態における基準距
離と比べ短かくなる場合、距離センサ１８の出力
は差動増幅器４４の負入力に設定された基準電位
よりも大きくなつて差動増幅器４４は正の出力を
発生する。この正の出力は増幅器４２により増幅
されて永久磁石３０と永久磁石３２との反発力を
増大させる方向に電磁石を磁化し、それによりセ
ンサホルダー１０をセンサホルダー支持板６に対
し更に浮上させてセンサホルダー１０と鋼管表面
との間の距離を通常状態における基準距離に修正
する。逆に、鋼管１とセンサホルダー１０との距
離が基準距離よりも長くなる場合、距離センサ１
８の出力は基準電位よりも小さくなつて差動増幅
器４４は負の出力を発生する。この負の出力は同
じく増幅器４２により増幅されて永久磁石３０と
永久磁石３２との反発力を減少させる方向に電磁
石を磁化し、その結果センサホルダー１０をセン
サホルダー支持板６に対し沈下させてセンサホル
ダー１０と鋼管表面との間の距離を短かくして基
準距離に修正する。 Next, the operation of this control circuit will be explained.
First, in a normal state in which the flaw detection sensor 16 does not detect a flaw, the electromagnet 34 is not energized and the sensor holder 10 is levitated only by the repulsive force between the permanent magnets 30 and 32. At this time, the difference between the reference potential set to the negative input of the differential amplifier 44 and the signal applied from the distance sensor 18 to the positive input of the differential amplifier 44 is zero. On the other hand, when the distance between the steel pipe 1 and the sensor holder 10 becomes shorter than the reference distance in the normal state, the output of the distance sensor 18 becomes larger than the reference potential set to the negative input of the differential amplifier 44, and the differential Amplifier 44 produces a positive output. This positive output is amplified by the amplifier 42 and magnetizes the electromagnet in a direction that increases the repulsive force between the permanent magnets 30 and 32, thereby causing the sensor holder 10 to further levitate relative to the sensor holder support plate 6 and sensor The distance between the holder 10 and the steel pipe surface is corrected to the reference distance in the normal state. Conversely, if the distance between the steel pipe 1 and the sensor holder 10 is longer than the reference distance, the distance sensor 1
The output of 8 becomes smaller than the reference potential, and the differential amplifier 44 generates a negative output. This negative output is also amplified by the amplifier 42 and magnetizes the electromagnet in a direction that reduces the repulsive force between the permanent magnets 30 and 32. As a result, the sensor holder 10 sinks relative to the sensor holder support plate 6, and the sensor The distance between the holder 10 and the surface of the steel pipe is shortened and corrected to the reference distance.
第３図に電磁石３４のコイルに流す通電電流
と、センサホルダー支持板６に対するセンサホル
ダー１０の浮上距離との関係を示す。ただし、浮
上距離の原点は通常状態での永久磁石３０，３２
のみの反発力による浮上距離に対応する。図示の
如く、通電電流と浮上距離の関係はリニアな関係
にあり、従つてセンサホルダー１０と鋼管１の表
面との距離とを比較的広い範囲で精密に調整する
ことが可能である。 FIG. 3 shows the relationship between the current flowing through the coil of the electromagnet 34 and the flying distance of the sensor holder 10 with respect to the sensor holder support plate 6. However, the origin of the levitation distance is the permanent magnets 30 and 32 in the normal state.
Corresponds to the levitation distance due to the repulsive force of the As shown in the figure, the relationship between the applied current and the flying distance is linear, and therefore the distance between the sensor holder 10 and the surface of the steel pipe 1 can be precisely adjusted over a relatively wide range.
次に、探傷センサ１６が疵を検出する場合の第
２図の制御回路の動作について説明する。探傷セ
ンサ１６とこれに隣接した距離センサ１８が共に
同じ疵に反応する場合、第４図のＡ及びＢの信号
を発生する。探傷センサ１６の出力信号Ｂは単安
定回路４８に入力され、その出力信号Ｂの立ち上
がり時に単安定回路４８をトリガする。単安定回
路４８はトリガされた後所定の時間持続する信号
Ｃをサンプル・ホールド回路４６に与える。この
サンプル・ホールド回路４６は、常時差動増幅器
４４から距離センサ１８の出力信号Ａと設定基準
電位との差に比例した信号を受けている。単安定
回路４８の出力信号Ｃを受ける場合、その信号Ｃ
の立ち上がり時にサンプル・ホールド回路４６は
差動増幅器の出力をサンプルし、そしてサンプル
した値を信号Ｃのパルスが持続する間ホールドし
て信号Ｄを出力する。この信号Ｄは先に述べた通
常状態と同様に増幅器４２で増幅されて電磁石３
４に送られる。以上のようにして、この制御回路
は疵を検出した距離センサ１８の発生する誤つた
距離信号を除去することができる。 Next, the operation of the control circuit shown in FIG. 2 when the flaw detection sensor 16 detects a flaw will be described. If the flaw detection sensor 16 and the adjacent distance sensor 18 both respond to the same flaw, they will generate signals A and B in FIG. The output signal B of the flaw detection sensor 16 is input to the monostable circuit 48, and the monostable circuit 48 is triggered when the output signal B rises. Monostable circuit 48 provides a signal C to sample and hold circuit 46 that persists for a predetermined time after being triggered. This sample-and-hold circuit 46 constantly receives a signal proportional to the difference between the output signal A of the distance sensor 18 and the set reference potential from the differential amplifier 44. When receiving the output signal C of the monostable circuit 48, the signal C
The sample-and-hold circuit 46 samples the output of the differential amplifier at the rising edge of the signal C, holds the sampled value for the duration of the pulse of the signal C, and outputs the signal D. This signal D is amplified by the amplifier 42 in the same way as in the normal state described above, and is then amplified by the electromagnet 3
Sent to 4. As described above, this control circuit can eliminate the erroneous distance signal generated by the distance sensor 18 that has detected a flaw.
以上に説明した本考案の非接触型探傷装置によ
れば、距離センサが疵に反応するような状態にお
いても、正確な非接触追従を行うことができ、そ
の結果一定の探傷感度での探傷が可能になる。 According to the non-contact flaw detection device of the present invention described above, accurate non-contact tracking can be performed even in situations where the distance sensor reacts to flaws, and as a result, flaw detection can be performed with a constant flaw detection sensitivity. It becomes possible.
第１図は、本考案の非接触型探傷装置の一部省
いた図。第２図は、第１図の好適実施例の制御回
路を示す。第３図は、電磁石の通電電流と浮上距
離との関係を示すグラフ。第４図は、第２図の制
御回路の各部における信号を示す。
符号の説明、１……鋼管、２……検出ヘツド固
定板、４……ローラー、６……センサホルダー支
持板、１０……センサホルダー、１４……追従ガ
イド用溝、１６……探傷センサ、１８……距離セ
ンサ、２０，２２……ロツド、２４，２６……ベ
アリング、３０，３２……永久磁石、３４……電
磁石、４２……増幅器、４６……サンプル・ホー
ルド回路、４８……単安定回路。
FIG. 1 is a partially omitted diagram of the non-contact flaw detection device of the present invention. FIG. 2 shows the control circuit of the preferred embodiment of FIG. FIG. 3 is a graph showing the relationship between electromagnet current and levitation distance. FIG. 4 shows signals in each part of the control circuit of FIG. 2. Explanation of symbols, 1...Steel pipe, 2...Detection head fixing plate, 4...Roller, 6...Sensor holder support plate, 10...Sensor holder, 14...Following guide groove, 16...Flaw detection sensor, 18... Distance sensor, 20, 22... Rod, 24, 26... Bearing, 30, 32... Permanent magnet, 34... Electromagnet, 42... Amplifier, 46... Sample/hold circuit, 48... Single stable circuit.
Claims (1)
を有しており、疵に反応して生じる信号を通過
させるためのハイパスフイルタを具えた前記被
検査材の疵を検出するための探傷センサ、 (ロ) 前記被検査材との距離を検出するための距離
センサであつて、上記ハイパスフイルタの通過
帯域と一部重なる通過帯域を有するローパスフ
イルタを具えた距離センサ、 (ハ) 前記探傷センサと前記距離センサとを前記被
検査材の表面上に可変支持する支持手段、 (ニ) 前記距離センサからの信号に応答して前記距
離が一定となるように前記支持手段を制御する
信号を発生する制御手段であつて、該制御手段
は、前記探傷センサからの疵検出を表わす信号
によりトリガされて所定の期間信号を発生する
単安定回路と、該単安定回路からの信号と前記
距離センサからの信号を受けるように接続され
ていて前記単安定回路からの前記信号に応答し
て前記距離信号をサンプルし前記所定の期間中
ホールドするサンプル・ホールド回路と、を含
み、これによつて前記所定の期間中前記制御信
号の変動を抑制するよう構成された非接触型探
傷装置。[Scope of Claim for Utility Model Registration] (a) The inspected object has a flaw detection sensitivity that changes depending on the distance from the inspected material, and is equipped with a high-pass filter for passing a signal generated in response to a flaw. a flaw detection sensor for detecting flaws in a material; (b) a distance sensor for detecting a distance to the material to be inspected, comprising a low-pass filter having a passband that partially overlaps with the passband of the high-pass filter; (c) supporting means for variably supporting the flaw detection sensor and the distance sensor on the surface of the inspected material; (d) supporting means for variably supporting the flaw detection sensor and the distance sensor on the surface of the inspected material; control means for generating a signal for controlling the support means, the control means comprising a monostable circuit for generating a signal for a predetermined period of time triggered by a signal representative of flaw detection from the flaw detection sensor; a sample-and-hold circuit connected to receive a signal from the stabilizing circuit and a signal from the distance sensor, and sampling the distance signal in response to the signal from the monostable circuit and holding it for the predetermined period; , and is configured to thereby suppress fluctuations in the control signal during the predetermined period.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15851186U JPH032852Y2 (en) | 1986-10-16 | 1986-10-16 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15851186U JPH032852Y2 (en) | 1986-10-16 | 1986-10-16 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6275462U JPS6275462U (en) | 1987-05-14 |
| JPH032852Y2 true JPH032852Y2 (en) | 1991-01-25 |
Family
ID=31082069
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15851186U Expired JPH032852Y2 (en) | 1986-10-16 | 1986-10-16 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH032852Y2 (en) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5010944B2 (en) * | 2007-02-28 | 2012-08-29 | 株式会社東芝 | Ultrasonic flaw detector |
| JP6102450B2 (en) * | 2013-04-16 | 2017-03-29 | ミツミ電機株式会社 | Motor driver device and control method thereof |
| JP7042865B2 (en) * | 2020-04-07 | 2022-03-28 | 電子磁気工業株式会社 | Eddy current flaw detection inspection method and eddy current flaw detection inspection equipment |
-
1986
- 1986-10-16 JP JP15851186U patent/JPH032852Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6275462U (en) | 1987-05-14 |
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