JPH03276649A - 電子装置 - Google Patents

電子装置

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Publication number
JPH03276649A
JPH03276649A JP2077334A JP7733490A JPH03276649A JP H03276649 A JPH03276649 A JP H03276649A JP 2077334 A JP2077334 A JP 2077334A JP 7733490 A JP7733490 A JP 7733490A JP H03276649 A JPH03276649 A JP H03276649A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
heat sink
wiring board
groove
bonding material
solder
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2077334A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Fuse
布施 浩
Masahito Numanami
雅仁 沼波
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Renesas Eastern Japan Semiconductor Inc
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Tohbu Semiconductor Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Hitachi Tohbu Semiconductor Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP2077334A priority Critical patent/JPH03276649A/ja
Publication of JPH03276649A publication Critical patent/JPH03276649A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L24/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/2612Auxiliary members for layer connectors, e.g. spacers
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/341Surface mounted components

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Die Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は電子装置、特に、パワートランジスタパワーモ
ジュール、ハイブリ・ント用C等の半導体装置に適用し
て有効な技術に関する。
〔従来の技術〕
パワートランジスタやパワーモジエール等の高出力半導
体装置は、その動作時高い熱を発生するため、安定した
動作を維持するためには、発生した熱をパッケージ外部
に効率良く放散する必要がある。特開昭61−6414
4号公報には、トランジスタモジュールが開示されてい
る。この文献で開示されたトランジスタモジュールは、
放熱板の上面に半田等によって絶縁基板を固定するとと
もに、この絶縁基板上にコレクタ電極、エミッタ電極、
ベース電極が接着されている。これらコレクタ電極、エ
ミッタ電極、ベース電極は、所定個所で上方に折り曲げ
られてそれぞれ上端は外部端子となっている。また、前
記絶縁基板に重なるコレクタ電極上にトランジスタチッ
プが接着されるとともに、このトランジスタチップの上
面の電極バンドと前記エミッタ電極お↓びベース電極は
アルミ線で接続されている。また、前記放熱板の上面側
には、上部が開口した合成樹脂成形品からなる外装容器
が取り付けられている。そして、この外装容器の上部は
ゲル状封止樹脂や硬化封止樹脂で封止されている。前記
コレクタ電極、エミッタ電極、ベース電極の外部端子は
、前記封止体から外部に突出している。
〔発明が解決しようとする課題〕
半導体装置は温度依存性があるため、パワートランジス
タ等のパワー系では、半導体チップで発熱した熱を効率
的にパッケージ外に放熱し、安定した動作をさせる必要
がある。パワー系では、半導体チップでの発熱量が多い
ため、一般に半導体チップは半導体チップよりも面積の
大きい熱伝導性の高い金属板(ヒートシンク)に固定さ
れ、かつこのヒートシンクをセラミック板等からなる配
線基板に固定している。また、このヒートシンクと配線
基板との接合は、熱歪みの抑止のために半田が使用され
ることが多い。
しかし、従来のこの種半導体装置では、放熱性に問題の
あるものが発生する。この点について検討したところ、
以下の事実が本発明者によってあきらかにされた。すな
わち、半導体チップを上面(主面)に固定するヒートシ
ンクは、放熱面積を広くすることから、半導体チップよ
りも充分大きな寸法となっている。このような面積の広
いヒートシンクを配線基板に半田を用いて接合した場合
、配線基板とヒートシンクとの間に存在していた空気が
接合面が広いことから抜は難くなり、半田層の内部に気
泡(ボイド)が発生してしまうことがある。このボイド
は熱抵抗領域として作用するため、半導体装置の安定動
作に支障を来してしまうことがある。
本発明の目的は、半導体チップ等の電子部品を搭載した
第1の支持体と、第2の支持体とを接合する接合材中に
ボイドが発生し難い構造の電子装置を提供することにあ
る。
本発明の他の目的は、信転性の高い電子装置を提供する
ことにある。
本発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴は、
本明細書の記述および添付図面からあきらかになるであ
ろう。
〔課題を解決するための手段〕
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、下記のとおりである。
すなわち、本発明の半導体装置は、セラミック配線基板
(第2の支持体)の主面に半田を介して固定されたヒー
トシンク(第1の支持体)上に半導体チップが固定され
た構造となっているが、前記ヒートシンクの配線基板に
対する接合面には、接合面の中央部近傍から周縁に亘っ
て四方向にそれぞれ延在しかつ周縁に向かうに連れて徐
々に溝底が深くなる気体抜き用の溝が設けられている。
〔作用〕
上記した手段によれば、本発明の半導体装置にあっては
、配線基板の上面に半田を介して接合されるヒートシン
クの接合面に、気体抜き用の溝が設けられていることか
ら、半田でヒートシンクを配線基板に固定する際、配線
基板とヒートシンクとの間に存在する気体は天井が外側
に向かって徐々に高くなる気体抜き用の溝に沿って移動
し易くなることから、半田層中にボイドが発生し難くな
る。
〔実施例] 以下図面を参照して本発明の一実施例について説明する
第1図は本発明の要部である半導体チップの搭載状態を
示す模式的断面図、第2図は同しくヒートシンクの底面
を示す斜視図、第3図は本発明の電子部品の外観を示す
斜視図、第4図は同じく電子部品の分解斜視図である。
この実施例では、パワーモジュールに本発明を摘要した
例について説明する。パワーモジュール1は、第3図に
示されるように、外観的には、熱伝導性の良好な金属板
からなるヘッダ2と、このヘッダ2の主面を被うパッケ
ージ3と、このパッケージ3の一側の切欠部6からそれ
ぞれ平行に延在する4本のり一部4とからなっている。
また、前記へラダ2の両端は前記パッケージ3から突出
し、その先端部分には切り込んだ取付溝5が設けられて
いる。この取付溝5は、パワーモジュール1を実装する
際利用される。
前記へラダ2は、第4図の分解斜視図で示されるように
、両端に取付溝5を有する細長い矩形体となっている。
このヘッダ2は放熱性を考慮して熱伝導率の高い金属、
たとえば銅板で形成されているとともに、図示はしない
が表面にニッケルメッキ等が施されている。このような
ヘッダ2の主面(上面)には、ヘッダ2よりもわずかに
幅が狭くかつ長さが短い配線基板(第2の支持体)7が
、第1図に示されるように、半田等の接合材9を介して
固定されている。この配線基板7は、たとえばセラミッ
ク板で形成され、所望部分に導体層および導体が設けら
れ、所望の回路構成を有するようになっている。そして
、この配線基板7の主面側には、図示しない抵抗やコン
デンサー等の受動部品(電子部品)やパワートランジス
タチップ等の能動部品である半導体チップが搭載される
。また、この配線基板7の一例の図示しないバンドには
り一部4の内端が機械的かつ電気的に接続される。
この実施例では、配線層や受動部品等は図中省略し、半
導体チップ10のみを示すが、半導体チップ10は直接
配線基板7の主面に固定されずに、第4図に示されるよ
うに、熱伝導率の高い銅等からなるヒートシンク(第1
の支持体)11を介して固定される。すなわち、前記配
線基板7の主面の所定領域には、第1図に示されるよう
に、導体層からなるヒートシンク固定パッド15が設け
られ、これらヒートシンク固定パッド15上に、半田か
らなる接合材16を介してヒートシンク11が固定され
る。このヒートシンク11上には、半田からなる接合材
17を介してパワートランジスタチップ等からなる半導
体チップ10が固定される。前記半導体チップ10は、
シリコン基板19からなり、主面の一部にベース領域2
0を有し、かつこのベース領域20の一部表層部にエミ
・ツタ領域21を有する構造となっている。前記シリコ
ン基板19はコレクタとなり、前記接合材17゜ヒート
シンク11.接合材16およびヒートシンク固定パッド
15を介して、配線基板7上の所望の導体層に電気的に
繋がる。また、前記ベース領域20およびエミッタ領域
21は、図示しないワイヤを介して配線基板7の所望導
体層に電気的に接続される。
ところで、これが本発明の特徴の一つであるが、半導体
チップlOを支持する第1の支持体となるヒートシンク
11の下面、すなわち第2の支持体となる配線基板7に
対面する接合面25には、第2図に示されるように、気
体抜き用の溝26が設けられている。この溝26は、前
記接合面25の中央を除き、その近傍から4方向に延在
し、その先端を四角形の各辺の略中夫に臨ませている。
これら溝26は、たとえば、プレスによって形成され、
接合面25の中央部近傍に位置する内端27からヒート
シンク11の端の外端28に向かうにつれて溝底が徐々
に深くなるテーパ面となっている。また、溝26の内端
27では、接合面25と溝26との境は、折り曲がり状
態となり、空気が溜まり易くなる段差は生じないように
形成されている。なお、ヒートシンク11を構成する銅
に比較して半田の熱伝導率は小さい、このため、前記ヒ
ートシンク11の中央部分にも溝を設けると、この溝の
部分にも半田が入り込み、この部分の半田が熱抵抗とし
て作用する。したがって、前記半導体チップ10がパワ
ー系である場合は、第2図に示されるように、前記接合
面25の中央部分には、気体抜き用の溝26は設けない
のが望ましい。
また、この第1の支持体11の表面には半田の漏れ性を
高めるため、錫、銀、ニッケル等のメンキが施されてい
る。
このようなヒートシンク11を用いることにより、第2
の支持体である配vA基板7の主面に第1の支持体であ
るヒートシンク11を半田からなる接合材16を介して
接合する際、配線基板7とヒートシンク11との間に存
在する気体(空気)にとっては、前記溝26によって構
成される空間が気体抜き用の路となる。また、前記路の
天井は前記溝26の溝底で形成されるため、気体抜き用
の路の天井は外方に向かうにつれて徐々に高くなるため
、配線基板7のヒートシンク固定バッド15とヒートシ
ンク11間に存在する空気は、この路を通って外部に排
出される。この結果、配線基板7とヒートシンク11を
接合する接合材16内には気泡(ボイド)が発生し難く
なり、熱抵抗の低減が達成できる。
このような実施例による本発明によれば、つぎのような
効果が得られる。
(1)本発明の半導体装置は、半導体チップを支持する
ヒートシンクの配線基板に対面する接合面に、気体抜き
用の溝が設けられていることから、配線基板上に半田を
介してヒートシンクを固定する際、配線基板とヒートシ
ンク間に存在する空気はこの気体抜き用の溝が空気抜は
路となるため、より一層抜は易くなり、配線基板を接合
する接合材内にボイドが発生し難くなるという効果が得
られる。
(2)上記(1)により、本発明の半導体装置は、半導
体チップを支持するヒートシンクと、このヒートシンク
を支持する配線基板との間の接合材内にボイドが存在し
ないため、熱抵抗が低くなり、半導体装1は安定して動
作するという効果が得られる。
(3)本発明の半導体装置は、半導体チップを支持する
ヒートシンクの配線基板に対面する接合面にテーパ状の
気体抜き用の溝が設けられているが、これらの溝は部分
的であることから、前記ヒートシンクと配線基板を接合
材で接合する際、両者は相互に平坦面を介して対峙する
ため、ヒートシンクが傾斜して固定されるようなことが
抑止できるという効果が得られる。
(4)上記(1)〜(3)により、本発明によれば、半
田接合部分に気泡のない熱特性の安定した半導体装置を
提供することができるという相乗効果が得られる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は上記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない、たとえば、前記実施例で
は、ヒートシンクの接合面に4方向にそれぞれ空気抜き
用の溝を設けたが、さらに多くあるいは少なく設けても
前記実施例同様な効果が得られる。また、空気抜き用の
溝の形状も前記実施例に限定されるものではなく他の形
状でも良い。
以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野であるパワーモジュールに
適用した場合について説明したが、それに限定されるも
のではなく、単体の半導体装置あるいは半導体チップ以
外の電子部品を固定した第1の支持体を半田を介して第
2の支持体に固定させる電子装置にも通用できる。
本発明は少なくとも比較的広い面積を有する物品(第1
の支持体)を、他の物品(第2の支持体)にボイドを発
生させることなく接合させる技術には適用できる。
〔発明の効果〕
本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、下記のとおりであ
る。
本発明の電子装置は、半導体デツプを搭載するヒートシ
ンクの接合面に気体抜き用の溝を設け、配線基板上に接
合材を介してヒートシンクを固定する際、前記気体抜き
用の溝を利用して配線基板とヒートシンク間にボイドが
発生し難くしであることから、放熱特性の良好な信転性
の高い半導体装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の要部である半導体チップの搭載状態を
示す模式的断面図、 第2図は同じくヒートシンクの底面を示す斜視図、 第3図は本発明の電子部品の外観を示す斜視図、第4図
は同じく電子部品の分解斜視図である。 1・・・パワーモジュール、2・・・ヘッダ、3・・・
バ。 ケージ、4・・・リード、5・・・取付溝、6・・・切
欠部、7・・・配線基板(第2の支持体)、9・・・接
合材、10・・・半導体チップ、11・・・ヒートシン
ク(第1の支持体)、15・・・ヒートシンク固定パッ
ド、1617・・・接合材、19・・・シリコン基板、
20・・・ベース領域、21・・・エミッタ領域、25
・・・接合面、26・・・気体抜き用の溝、27・・・
内端、28・・・外端。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、主面に第1の支持体を接合材を介して固定した第2
    の支持体と、前記第1の支持体の主面に固定された電子
    部品とを有する電子装置であって、前記第2の支持体に
    対面する第1の支持体の接合面には少なくとも一端が周
    縁に到達する溝が設けられていることを特徴とする電子
    装置。 2、前記溝は前記接合面の中央部近傍から周縁に亘って
    少なくとも1本設けられかつ溝底は周縁に向かうに連れ
    て徐々に深くなっていることを特徴とする特許請求の範
    囲第1項記載の電子装置。 3、前記電子部品は半導体チップとなるとともに、この
    半導体チップは熱伝導性の良いヒートシンクの上面に固
    定され、かつ前記ヒートシンクの下面の溝を有する接合
    面は配線基板に半田を介して固定されていることを特徴
    とする特許請求の範囲第1項記載の電子装置。
JP2077334A 1990-03-26 1990-03-26 電子装置 Pending JPH03276649A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2077334A JPH03276649A (ja) 1990-03-26 1990-03-26 電子装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2077334A JPH03276649A (ja) 1990-03-26 1990-03-26 電子装置

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Publication Number Publication Date
JPH03276649A true JPH03276649A (ja) 1991-12-06

Family

ID=13631028

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JP2077334A Pending JPH03276649A (ja) 1990-03-26 1990-03-26 電子装置

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JP (1) JPH03276649A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015050366A (ja) * 2013-09-03 2015-03-16 ウシオ電機株式会社 半導体レーザ装置
JP2017063185A (ja) * 2015-09-25 2017-03-30 富士電機株式会社 放熱構造及び半導体装置、並びに放熱構造の製造方法

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