JPH03222483A - 赤外線検出素子 - Google Patents

赤外線検出素子

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JPH03222483A
JPH03222483A JP2018724A JP1872490A JPH03222483A JP H03222483 A JPH03222483 A JP H03222483A JP 2018724 A JP2018724 A JP 2018724A JP 1872490 A JP1872490 A JP 1872490A JP H03222483 A JPH03222483 A JP H03222483A
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JP
Japan
Prior art keywords
wiring
photoconductive
cells
individual
film
Prior art date
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Pending
Application number
JP2018724A
Other languages
English (en)
Inventor
Akinaga Yamamoto
晃永 山本
Masao Nakayama
雅夫 中山
Takeru Tsujimura
辻村 長
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hamamatsu Photonics KK
Original Assignee
Hamamatsu Photonics KK
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Publication date
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Priority to JP2018724A priority Critical patent/JPH03222483A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光導電型の赤外線検出素子に関するもので、特
に光導電セルをマトリクス状あるいはアレイ状に集積し
た素子に使用される。
〔従来の技術〕
Pb S、Pb Seなどの光導電セルを用いた赤外線
検出素子が知られている。第5図は4X4のマトリクス
構成とした従来例を示す。図示の通り、基板1上には4
X4−16個の光導電セル2が配置され、各光導電セル
2の一方側には共通電極3が設けられると共に、他方側
には個別電極4が設けられる。共通電極3は共通配線5
に接続され、個別電極4は個別配線6に接続され、これ
らを介して光導電セル2にバイアスが印加される。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、従来のようにして光導電セルをマトリク
ス状あるいはアレイ状に配設すると、光導電セルの数が
多くなるにつれて共通配線5および個別配線6の占める
範囲が大きくなる。例えば、第5図の例では個別配線6
が光導電セル2の間から外部に出されるために、上下の
方向で光導電セル2の相互間に広い不感エリアが現れる
。このため、検出素子としての開口率が大きく低下する
欠点があった。
一方、第5図に示すような構成をとるときには、光導電
材料を基板の全面に被着した後にセルごとにこれを分離
し、この上から電極および配線を形成するか、または基
板上に電極および配線を形成した後、この上に光導電材
料を被着してセルごとに分離するか、いずれか一方の手
法を採る必要がある。しかし、前者の手法では微細な配
線パターンの形成が難しく、後者の手法ではイオンエツ
チングの様な方法でセルを分離できない(化学的エツチ
ングが必要になる)ので、光導電特性の劣化は避けられ
ない。
本発明は上記のような欠点を解決することを目的として
いる。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の赤外線検出素子は、少なくとも上面が絶縁性に
された基板と、この基板の上面に敷設された配線層と、
この配線層の上に形成された絶縁層と、この絶縁層の上
にマトリクス状もしくはアレイ状に配置された複数の光
導電セルとを備え、複数の光導電セルがそれぞれ有する
一対の電極のうち、少なくとも一方の電極は絶縁層に形
成された開口を介して配線層に接続されていることを特
徴とする。ここで、半導体基板の上面に絶縁膜を被着し
て基板を構成し、当該半導体基板に光導電セルの出力信
号を処理する回路を形成してもよい。
また、光導電セルがそれぞれ有する一対の電極のうちの
一方は、複数の光導電セル間で共通接続し、配線層の少
なくとも一部は、絶縁層を介して光導電セルの下側に敷
設してもよい。
〔作用〕
本発明の構成によれば、配線層と光導電セルが絶縁層に
よって分離される。このため、光導電セルの下に配線を
敷いて開口率を向上させ得る。
〔実施例〕
以下、添付図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第1図は実施例の構成を示し、同図(a)は平面図、同
図(b)はA−A線断面図である。シリコン基板10の
上面にはS iO2膜11が形成され、S s O2膜
11の上には個別配線12、共通配線13が敷設されて
いる。ここで、個別配線12は光導電セル2の一方の端
部下側で個別コンタクトパッド14をなすように成形さ
れ、共通配線13は光導電セル2の他方の端部下側で共
通コンタクトバッド15をなすように成形されている。
なお、個別配線12、共通配線13、個別コンタクトパ
ッド14および共通コンタクトバッド15は、共にアル
ミニウム等で一体形成されている。
個別コンタクトバッド14および共通コンタクトバッド
15の上側には、個別電極16および共通電極17が例
えば金により形成され、この個別電極16および共通電
極17の上面を除いて、個別配線12、共通配線13、
個別コンタクトバッド14および共通コンタクトバッド
15は5102膜18に埋め込まれる。そして、個別電
極16および共通電極17にオーミック接触するように
光導電セル2が設けられ、その上に保護膜19が被着さ
れる。
上記の実施例では、個別配線12および共通配線13を
S 102膜18によって光導電セル2から分離し、か
つ個別配線12および共通配線13を光導電セル2の下
側に敷設している。このため、個別配線12および共通
配線13を形成するためのスペースが、光導電セル2の
相互間だけではなくなるので、複数の光導電セル2を集
積させることが可能になる。また、シリコン基板10の
上に赤外線検出素子を構成しているので、このシリコン
基板10に信号処理回路を形成できる。具体的には、光
導電セル2に一定バイアスをかけるバイアス回路、光導
電セル2の出力信号をアナログ、ディジタル処理する回
路(増幅回路、A/D変換回路、マルチプレクサ等)を
設けることが可能になる。実施例の工程は、いわゆるシ
リコンウェーハプロセスを適用でき、従って100μm
×100μm程度の光導電セル2を、120〜130μ
mピッチで集積できる。
次に、上記実施例に係る赤外線検出素子の製造工程を、
第2図の素子断面図により説明する。
まず、第2図(a)に示すように、シリコン基板10の
上面にCVD法等により5102膜11を形成し、フォ
トマスク(図示せず)を用いてリフトオフ法でアルミニ
ウム配線をパターン形成し、これを個別配線12、共通
配線13、個別コンタクトバッド14および共通コンタ
クトバッド15とする。なお、配線材にはニッケルなど
を用いてもよい。この工程において、配線形成は平坦な
5IO2膜11の上面に対して行なわれるので、十分な
微細パターンとすることができる。次いで、CVD法等
を用いて全面にS i O2膜18を被着し、上記の配
線材を埋め込む(第2図(b)図示)。
次に、フォトマスク(図示せ−ず)を用いて5102膜
18を選択的にエツチングし、個別コンタクトバッド1
4および共通コンタクトバッド15の上面のみを露出さ
せる(同図(c)図示)。次に、金メツキを施して個別
コンタクトバッド14、共通コンタクトバッド15の上
面に個別電極16および共通電極17を埋め込み、その
上の全面にpb s、pb Seなどの光導電材料を被
着する。
しかる後、この光導電材料膜をエツチングによりセルご
とに分離し、光導電セル2を形成する(同図(d)図示
)。この工程において、光導電材料膜のエツチングは、
個別配線12、共通配線13などが8102膜18に埋
め込まれた状態で行なわれるので、例えばイオンエツチ
ングを用いて光導電セル2ごとに分離することができ、
従って化学的エツチングによって光導電セル2の特性が
劣化することもなくなる。最後に、光導電セル2の活性
化をした後に、全面に保護膜19を被着すると、第1図
の赤外線検出素子が完成する。
次に、上記実施例の変形例を第3図および第4図により
説明する。
シリコン基板10に形成された5IO2膜11上には、
水平方向に延びる複数本の水平配線21が形成され、そ
の上に、一端の下側と他端の上側に水平電極22と垂直
電極23が形成された光導電セル2が設けられる。そし
て、その上には垂直方向に延びる複数本の垂直配線24
が敷設される。
ここで、水平配線21と水平電極22の間、垂直電極2
3と垂直配線24の間は共に電気的に接続され、これら
は図示しない5102膜に埋め込まれている。そして、
上面に保護膜(図示せず)が形成され、変形例の赤外線
検出素子が完成されている。
第4図は上記変形例の全体的回路構成を示している。
図示の通り、水平配線21は走査回路31に接続され、
垂直配線24は読出回路32に接続される。ここで、光
導電セル2は信号電荷をチャージするためのにゴンデン
サ33が並列接続されるが、これはシリコン基板10中
に例えばpnダイオードを形成することで得られる。こ
の変形例によれば、走査回路31によって水平配線21
を1本づつ走査することにより、ライン単位で検出信号
を読出回路32に読み出すことができる。
〔発明の効果〕
以上、説明した通り本発明の構成によれば、配線層と光
導電セルが絶縁膜によって分離される。
このため、光導電セルの下に配線を敷いて開口率を向上
させ得る。また本発明の赤外線検出素子は、全体のサイ
ズを十分に小型化できるので、例えばペルチェ電子冷却
器を付設することにより、更に特性の向上を図ることが
可能になる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例に係る赤外線検出素子の構成図
、第2図は本発明の実施例に係る赤外線検出素子の製造
工程を示す断面図、第3図は実施例の変形例に係る赤外
線検出素子の斜視図、第4図はその回路構成図、第5図
は従来例に係る赤外線検出素子の構成図である。 10・・・シリコン基板、11・・・5102膜、12
・・・個別配線、13・・・共通配線、14・・・個別
コンタクトパッド、15・・・共通コンタクトパッド、
16・・・個別電極、17・・・共通電極、18・・・
5102膜、19・・・保護膜。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、少なくとも上面が絶縁性にされた基板と、この基板
    の上面に敷設された配線層と、この配線層の上に形成さ
    れた絶縁層と、この絶縁層の上にマトリクス状もしくは
    アレイ状に配置された複数の光導電セルとを備え、前記
    複数の光導電セルがそれぞれ有する一対の電極のうち、
    少なくとも一方の電極は前記絶縁層に形成された開口を
    介して前記配線層に接続されていることを特徴とする赤
    外線検出素子。 2、前記基板は半導体基板の上面に絶縁膜を被着して構
    成され、当該半導体基板には前記光導電セルの出力信号
    を処理する回路が形成されている請求項1記載の赤外線
    検出素子。 3、前記光導電セルがそれぞれ有する一対の電極のうち
    の一方は、前記複数の光導電セル間で共通接続されてい
    る請求項1記載の赤外線検出素子。 4、前記配線層の少なくとも一部は、前記絶縁層を介し
    て前記光導電セルの下側に敷設されている請求項1記載
    の赤外線検出素子。
JP2018724A 1990-01-29 1990-01-29 赤外線検出素子 Pending JPH03222483A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10847567B2 (en) 2017-01-12 2020-11-24 Mitsubishi Electric Corporation Infrared sensor device including infrared sensor substrate and signal processing circuit substrate coupled to each other

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