JPH03133183A - 発光ダイオードアレイの試験装置 - Google Patents
発光ダイオードアレイの試験装置Info
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- JPH03133183A JPH03133183A JP1272307A JP27230789A JPH03133183A JP H03133183 A JPH03133183 A JP H03133183A JP 1272307 A JP1272307 A JP 1272307A JP 27230789 A JP27230789 A JP 27230789A JP H03133183 A JPH03133183 A JP H03133183A
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- optical fiber
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Landscapes
- Led Devices (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
本発明は英数字表示器等に用いられる細かいセグメント
を有する発光ダイオードアレイの試験装置に関し、 発光色毎の発光レベル試験の高速化が可能な発光ダイオ
ードアレイの試験装置の提供を目的とし、発光ダイオー
ドアレイを予め定めた表示パターンで発光制御する試験
制御部と、前記発光ダイオードアレイの各発光ダイオー
ドに対して光ファイバの一方の端面をそれぞれｌ：１で
対向自在に位置決め可能な光ファイバ結合部と、前記各
光ファイバの他方の端面毎に複数の色別受光素子を暗箱
内で対向配置し、前記他方の端面から出力される光を発
光色毎に予め定めた閾値の範囲内の光レベルを検出する
光検出部と、前記光検出部の出力と前記試験制御部の制
御出力とを比較照合して良否を判定する良否判定部とを
備えて構成する。
を有する発光ダイオードアレイの試験装置に関し、 発光色毎の発光レベル試験の高速化が可能な発光ダイオ
ードアレイの試験装置の提供を目的とし、発光ダイオー
ドアレイを予め定めた表示パターンで発光制御する試験
制御部と、前記発光ダイオードアレイの各発光ダイオー
ドに対して光ファイバの一方の端面をそれぞれｌ：１で
対向自在に位置決め可能な光ファイバ結合部と、前記各
光ファイバの他方の端面毎に複数の色別受光素子を暗箱
内で対向配置し、前記他方の端面から出力される光を発
光色毎に予め定めた閾値の範囲内の光レベルを検出する
光検出部と、前記光検出部の出力と前記試験制御部の制
御出力とを比較照合して良否を判定する良否判定部とを
備えて構成する。
本発明は英数字表示器等に用いられる発光ダイオード（
Ｌｉｇｈｔ Ｅｍｉｔｔｉｎｇ Ｄｉｏｄｅ ｉ以下Ｌ
ＥＤと略称する）アレイの試験装置に関する。
Ｌｉｇｈｔ Ｅｍｉｔｔｉｎｇ Ｄｉｏｄｅ ｉ以下Ｌ
ＥＤと略称する）アレイの試験装置に関する。
従来の技術として特開昭６１−２３９６８０号公報「発
光ダイオードアレイの試験方法」が知られている。
光ダイオードアレイの試験方法」が知られている。
この試験方法はＬＥＤアレイを構成するそれぞれのＬＥ
Ｄに対応する画電極のパッド間にプルーブ（触針）を介
して電圧を印加し、電流を流して発光させ、発光した光
を光ファイバを通して測定器に導き、発光特性を測定す
る方法であって、前記ＬＥＤアレイをプルーブに対して
移動機構によって自動的に移動させる方法を採用したり
、前記測定器を分光光度計で構成することを特徴とし、
ＬＥＤアレイを構成するＬＥＤ毎の発光強度のみならず
発光波長も測定できるようにしている。
Ｄに対応する画電極のパッド間にプルーブ（触針）を介
して電圧を印加し、電流を流して発光させ、発光した光
を光ファイバを通して測定器に導き、発光特性を測定す
る方法であって、前記ＬＥＤアレイをプルーブに対して
移動機構によって自動的に移動させる方法を採用したり
、前記測定器を分光光度計で構成することを特徴とし、
ＬＥＤアレイを構成するＬＥＤ毎の発光強度のみならず
発光波長も測定できるようにしている。
前述の測定方法によれば、移動機構としてステージコン
トローラを用い、ステップモーフによりＬＥＤの素子毎
に測定を行うため、英数字表示器等のようにマトリック
ス状にＬＥＤを配置したしＥＤアレイの試験は、直交す
る二方向に移動可能なステージコントローラを使用する
必要があり、また被測定ＬＥＤアレイの素子数に比例し
た試験時間が必要となる欠点があり、また被測定ＬＥＤ
アレイをステージコントローラにセットしたり、暗箱を
用いる煩わしさが問題となる。
トローラを用い、ステップモーフによりＬＥＤの素子毎
に測定を行うため、英数字表示器等のようにマトリック
ス状にＬＥＤを配置したしＥＤアレイの試験は、直交す
る二方向に移動可能なステージコントローラを使用する
必要があり、また被測定ＬＥＤアレイの素子数に比例し
た試験時間が必要となる欠点があり、また被測定ＬＥＤ
アレイをステージコントローラにセットしたり、暗箱を
用いる煩わしさが問題となる。
英数字表示器等のようなＬＥＤアレイの試験は、発光色
別の発光レベルが規格値を満足しておれば良品と判定さ
れる。
別の発光レベルが規格値を満足しておれば良品と判定さ
れる。
本発明は上記従来の欠点に鑑みてなされたもので、発光
色毎の発光レベル試験の高速化が可能なＬＥＤアレイの
試験装置の提供を目的とする。
色毎の発光レベル試験の高速化が可能なＬＥＤアレイの
試験装置の提供を目的とする。
第１図は本発明の構成を示すブロック図、第２図は本発
明の詳細な説明図である。ＬＥＤアレイ２を予め定めた
表示パターンで発光制御する試験制御部３と、前記ＬＥ
Ｄアレイ２を構成する各ＬＥＤ２−１〜２−ｎに対して
光ファイバ４−１〜４−ｎの一方の端面をそれぞれ１：
１で対向自在に位置決め可能な光ファイバ結合部５と、
前記各光ファイバ４−１〜４−ｎの他方の端面毎に複数
の色別受光素子Ｐ１〜Ｐｍを暗箱Ｂ１〜Ｂｎ内で対向配
置し、前記他方の端面から出力される光を発光色毎に予
め定めた閾値の範囲内の光レベルを検出する光検出部６
と、前記光検出部６の出力と前記試験制御部３の出力と
を比較照合して良否を判定する良否判定部７とを備えて
構成する。
明の詳細な説明図である。ＬＥＤアレイ２を予め定めた
表示パターンで発光制御する試験制御部３と、前記ＬＥ
Ｄアレイ２を構成する各ＬＥＤ２−１〜２−ｎに対して
光ファイバ４−１〜４−ｎの一方の端面をそれぞれ１：
１で対向自在に位置決め可能な光ファイバ結合部５と、
前記各光ファイバ４−１〜４−ｎの他方の端面毎に複数
の色別受光素子Ｐ１〜Ｐｍを暗箱Ｂ１〜Ｂｎ内で対向配
置し、前記他方の端面から出力される光を発光色毎に予
め定めた閾値の範囲内の光レベルを検出する光検出部６
と、前記光検出部６の出力と前記試験制御部３の出力と
を比較照合して良否を判定する良否判定部７とを備えて
構成する。
プリント板ユニット１に実装されたＬＥＤアレイ２は試
験制御部３に接続されており、予め定めた表示パターン
に発光制御される。ＬＥＤアレイ２の表示面は光ファイ
バ結合部５によって各ＬＥＤ２−１〜２−ｎと各光ファ
イバ４−１〜４−ｎとが１：１に対向位置決めされてい
るからＬＥＤの発光部分はすべて対向している光ファイ
バによって光検出部６に導かれる。光検出部６は光ファ
イバ接続部６−１と電圧比較部６−２とからなり、光フ
ァイバ接続部６−１では各光ファイバの端部毎に暗箱Ｂ
１〜Ｂｎ内で対向配置された複数の色別受光素子Ｐ１〜
Ｐｍが受光した発光色の光レベルに対応して光電変換さ
れた電圧信号を出力する。電圧比較部６−２では前記電
圧信号を予め定められた閾値が印加された電圧比較器＾
１〜Ａｍにそれぞれ入力し、その入力された電圧信号が
閾値より大なるときにのみ検知信号を出力する。良否判
定部７は試験制御１１部３が発光制御した制御信号と光
検出部６が出力した結果信号とを比較照合して一致すれ
ば良、−敗しなければ不良の表示を行う。これにより各
ＬＥＤの素子毎の色別発光レベル試験を短時間で行うこ
とができる。
験制御部３に接続されており、予め定めた表示パターン
に発光制御される。ＬＥＤアレイ２の表示面は光ファイ
バ結合部５によって各ＬＥＤ２−１〜２−ｎと各光ファ
イバ４−１〜４−ｎとが１：１に対向位置決めされてい
るからＬＥＤの発光部分はすべて対向している光ファイ
バによって光検出部６に導かれる。光検出部６は光ファ
イバ接続部６−１と電圧比較部６−２とからなり、光フ
ァイバ接続部６−１では各光ファイバの端部毎に暗箱Ｂ
１〜Ｂｎ内で対向配置された複数の色別受光素子Ｐ１〜
Ｐｍが受光した発光色の光レベルに対応して光電変換さ
れた電圧信号を出力する。電圧比較部６−２では前記電
圧信号を予め定められた閾値が印加された電圧比較器＾
１〜Ａｍにそれぞれ入力し、その入力された電圧信号が
閾値より大なるときにのみ検知信号を出力する。良否判
定部７は試験制御１１部３が発光制御した制御信号と光
検出部６が出力した結果信号とを比較照合して一致すれ
ば良、−敗しなければ不良の表示を行う。これにより各
ＬＥＤの素子毎の色別発光レベル試験を短時間で行うこ
とができる。
〔実施例〕
以下本発明の実施例を図面によって詳述する。
なお、構成、動作の説明を理解し易くするために企図を
通じて同一部分には同一符号を付してその重複説明を省
略する。
通じて同一部分には同一符号を付してその重複説明を省
略する。
第１図は本発明の構成を示すブロック図、第２図は本発
明の要部詳細図を示し、以下第２図を参照しながら第１
図の説明を行う。
明の要部詳細図を示し、以下第２図を参照しながら第１
図の説明を行う。
両図において、■はプリント板ユニット、１ａはプリン
ト板ユニット１の端部に装着されたコネクタ、２はプリ
ント板ユニット１に実装されたＬＥＤアレイ （例えば
ＬＥＤ素子をマトリックス状に配置した英数字表示器）
でこれを発光制御するための試験制御部３とはコネクタ
１ａを介して接続されている。４は複数の・光ファイバ
４−１〜４−ｎ（ｎは光ファイバの本数）にて構成され
た光ファイバの束を示す。５は光ファイバ結合部であっ
てプリント板ユニットｌに実装されたＬＥＤアレイ２の
突出部の外形に着脱自在に嵌合するコネクタ状のハウジ
ング５−１と、そのハウジング５−１内に各光ファイバ
４−１〜４−ｎの一方の端部をそれぞれＬＥＤアレイ２
の各ＬＥＤ素子の発光端面に１：１に対向位置決めの上
、樹脂５−２でモールド固定された構造になっている。
ト板ユニット１の端部に装着されたコネクタ、２はプリ
ント板ユニット１に実装されたＬＥＤアレイ （例えば
ＬＥＤ素子をマトリックス状に配置した英数字表示器）
でこれを発光制御するための試験制御部３とはコネクタ
１ａを介して接続されている。４は複数の・光ファイバ
４−１〜４−ｎ（ｎは光ファイバの本数）にて構成され
た光ファイバの束を示す。５は光ファイバ結合部であっ
てプリント板ユニットｌに実装されたＬＥＤアレイ２の
突出部の外形に着脱自在に嵌合するコネクタ状のハウジ
ング５−１と、そのハウジング５−１内に各光ファイバ
４−１〜４−ｎの一方の端部をそれぞれＬＥＤアレイ２
の各ＬＥＤ素子の発光端面に１：１に対向位置決めの上
、樹脂５−２でモールド固定された構造になっている。
各ＬＥＤ素子の発光端面ば英数字表示器の場合はその面
積が約１平方ｍｍであり、各光ファイバの端部の直径は
０．１ ｍｍ程度であるから容易に対向配置ができ、ま
た対向距離も１ｍｍ以内に接近させることも可能である
から、この対向部分は暗室状に保持可能であり、外部か
らの光は遮断できる。従って各ＬＥＤ素子の発光部分は
対向する光ファイバによって確実に次段に導くことがで
きる。
積が約１平方ｍｍであり、各光ファイバの端部の直径は
０．１ ｍｍ程度であるから容易に対向配置ができ、ま
た対向距離も１ｍｍ以内に接近させることも可能である
から、この対向部分は暗室状に保持可能であり、外部か
らの光は遮断できる。従って各ＬＥＤ素子の発光部分は
対向する光ファイバによって確実に次段に導くことがで
きる。
６は光検出部であって、光ファイバ接続部６〜１と電圧
比較部６−２とからなり、光ファイバ接続部６−１は前
記各光ファイバの他方の端面毎に設けた暗箱Ｂ１〜Ｂｎ
内で複数の色別受光素子Ｐ１〜Ｐｍ （ｍは色の種類数
）を前記光ファイバの他方の端面に対向配置した複数の
ブロックで構成されている。色別受光素子Ｐ１〜Ｐｍは
それぞれ色別の光学フィルタを介在させた受光素子で構
成してもよい。このように各光ファイバの他方の端面毎
に複数の色別受光素子を対向配置することにより回路規
模に制限がなくなり、例えば三原色毎に受光素子を用意
でき、色の判定が可能となる。
比較部６−２とからなり、光ファイバ接続部６−１は前
記各光ファイバの他方の端面毎に設けた暗箱Ｂ１〜Ｂｎ
内で複数の色別受光素子Ｐ１〜Ｐｍ （ｍは色の種類数
）を前記光ファイバの他方の端面に対向配置した複数の
ブロックで構成されている。色別受光素子Ｐ１〜Ｐｍは
それぞれ色別の光学フィルタを介在させた受光素子で構
成してもよい。このように各光ファイバの他方の端面毎
に複数の色別受光素子を対向配置することにより回路規
模に制限がなくなり、例えば三原色毎に受光素子を用意
でき、色の判定が可能となる。
各色別受光素子Ｐ１〜Ｐｍの一方の端子には共通の電圧
が印加され、他方の端子にはそれぞれ抵抗Ｒが接地間に
接続され、各色別受光素子の受光量に対応して光電変換
された電圧信号を抵抗Ｒの両端に出力する。電圧比較部
６−２は前記色別受光素子Ｐ１〜Ｐ＋ｎの出力にそれぞ
れ対応する電圧比較器Ａ１〜Ａｍを備え、各電圧比較器
Ａ１〜Ａｍの一方の入力端子には予め設定された閾値ｖ
１〜Ｖｍがそれぞれ印加され、他方の入力端子にはそれ
ぞれ前記色別受光素子Ｐ１〜Ｐｍ毎の出力が印加されて
いる。各電圧比較器Ａ１〜Ａｍは、それぞれ前記電圧信
号が閾値より大なる場合に検知信号を出力する。閾値に
上限、下限の範囲を設ける場合には上限設定用の電圧比
較器をそれぞれ各電圧比較器Ａ１〜Ａｍに直列に設ける
ことにより判定可能となる。
が印加され、他方の端子にはそれぞれ抵抗Ｒが接地間に
接続され、各色別受光素子の受光量に対応して光電変換
された電圧信号を抵抗Ｒの両端に出力する。電圧比較部
６−２は前記色別受光素子Ｐ１〜Ｐ＋ｎの出力にそれぞ
れ対応する電圧比較器Ａ１〜Ａｍを備え、各電圧比較器
Ａ１〜Ａｍの一方の入力端子には予め設定された閾値ｖ
１〜Ｖｍがそれぞれ印加され、他方の入力端子にはそれ
ぞれ前記色別受光素子Ｐ１〜Ｐｍ毎の出力が印加されて
いる。各電圧比較器Ａ１〜Ａｍは、それぞれ前記電圧信
号が閾値より大なる場合に検知信号を出力する。閾値に
上限、下限の範囲を設ける場合には上限設定用の電圧比
較器をそれぞれ各電圧比較器Ａ１〜Ａｍに直列に設ける
ことにより判定可能となる。
７は良否判定部であって、試験制御部３が発光制御した
制御信号と光検出部６が出力した結果信号とを比較照合
して一致すれば良、−敗しなげれば不良の表示を行う。
制御信号と光検出部６が出力した結果信号とを比較照合
して一致すれば良、−敗しなげれば不良の表示を行う。
これにより不良の表示が出力された場合にはＬＥＤアレ
イの不良ＬＥＤ素子の位置検出も容易であり、かつ試験
制御部３が発光制御する表示パターン毎に即時にその良
否判定結果を得ることができるから試験の高速化が実現
する。
イの不良ＬＥＤ素子の位置検出も容易であり、かつ試験
制御部３が発光制御する表示パターン毎に即時にその良
否判定結果を得ることができるから試験の高速化が実現
する。
以上の説明から明らかなように本発明によれば、微細な
発光部分を有するＬＥＤアレイの電気的な試験判定が可
能となり、試験品質の向上と試験時間の短縮化に効果が
ある。
発光部分を有するＬＥＤアレイの電気的な試験判定が可
能となり、試験品質の向上と試験時間の短縮化に効果が
ある。
第１図は本発明の構成を示すブロック図、第２図は本発
明の詳細な説明図を示す。 両図において、２は発光ダイオードアレイ （ＬＥＤア
レイ）、２−１〜２−ｎは発光ダイオード（ＬＥＤ）、
３は試験制御部、４−１〜４−ｎは光ファイバ、５は光
ファイバ結合部、 良否判定部、８１〜Ｂｎは暗箱、 子をそれぞれ示す。 ６は光検出部、７は Ｐ１〜Ｐｍは色別受光素
明の詳細な説明図を示す。 両図において、２は発光ダイオードアレイ （ＬＥＤア
レイ）、２−１〜２−ｎは発光ダイオード（ＬＥＤ）、
３は試験制御部、４−１〜４−ｎは光ファイバ、５は光
ファイバ結合部、 良否判定部、８１〜Ｂｎは暗箱、 子をそれぞれ示す。 ６は光検出部、７は Ｐ１〜Ｐｍは色別受光素
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 発光ダイオードアレイ（２）を予め定めた表示パター
ンで発光制御する試験制御部（３）と、 前記発光ダイオードアレイを構成する各発光ダイオード
（２−１〜２−ｎ）に対して光ファイバ（４−１〜４−
ｎ）の一方の端面をそれぞれ１：１で対向自在に位置決
め可能な光ファイバ結合部（５）と、 前記各光ファイバの他方の端面毎に複数の色別受光素子
（Ｐ１〜Ｐｍ）を暗箱（Ｂ１〜Ｂｎ）内で対向配置し、
前記他方の端面から出力される光を発光色毎に予め定め
た閾値の範囲内の光レベルを検出する光検出部（６）と
、 前記光検出部（６）の出力と前記試験制御部（３）の制
御出力とを比較照合して良否を判定する良否判定部（７
）とを備えてなることを特徴とする発光ダイオードアレ
イの試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1272307A JPH03133183A (ja) | 1989-10-18 | 1989-10-18 | 発光ダイオードアレイの試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1272307A JPH03133183A (ja) | 1989-10-18 | 1989-10-18 | 発光ダイオードアレイの試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03133183A true JPH03133183A (ja) | 1991-06-06 |
Family
ID=17512056
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1272307A Pending JPH03133183A (ja) | 1989-10-18 | 1989-10-18 | 発光ダイオードアレイの試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03133183A (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0537023A (ja) * | 1991-07-31 | 1993-02-12 | Atom Kk | 発光ダイオードの駆動装置 |
| WO2002039414A2 (en) | 2000-11-13 | 2002-05-16 | Test Coach Corporation | Method and apparatus for verifying a color of an led in a printed circuit board |
| US7023554B2 (en) | 2003-11-14 | 2006-04-04 | Test Coach Corporation | Method and apparatus for determining a color and brightness of an LED in a printed circuit board |
| JP2006098054A (ja) * | 2004-09-28 | 2006-04-13 | Casio Comput Co Ltd | 発光ダイオードの色度判別装置。 |
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-
1989
- 1989-10-18 JP JP1272307A patent/JPH03133183A/ja active Pending
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