JPH03129500A - プローブ・チップ - Google Patents
プローブ・チップInfo
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- JPH03129500A JPH03129500A JP26370190A JP26370190A JPH03129500A JP H03129500 A JPH03129500 A JP H03129500A JP 26370190 A JP26370190 A JP 26370190A JP 26370190 A JP26370190 A JP 26370190A JP H03129500 A JPH03129500 A JP H03129500A
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- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims abstract description 27
- 239000002184 metal Substances 0.000 abstract description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 4
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
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- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000013024 troubleshooting Methods 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、電気信号測定用のプローブ・チップ、特に、
プローブ・チップを複数の引き出し導体即ちリードを有
する集積回路パッケージのリードに接続するように構成
された受動プローブと共に使用する回転(ねじり)ロッ
ク式プローブ・チップに関する。
プローブ・チップを複数の引き出し導体即ちリードを有
する集積回路パッケージのリードに接続するように構成
された受動プローブと共に使用する回転(ねじり)ロッ
ク式プローブ・チップに関する。
[従来の技術及び発明が解決しようとする課題〕電気装
置を試験及びトラブルシュートする際に、集積回路の様
な回路板上の種々の部品のリードの他に、回路上の多く
の個所に電気的に接触することが必要となる。通常、集
積回路は、平行する対向側部から延びる近接して離間さ
れたリードを有するリード付パッケージに収容される。
置を試験及びトラブルシュートする際に、集積回路の様
な回路板上の種々の部品のリードの他に、回路上の多く
の個所に電気的に接触することが必要となる。通常、集
積回路は、平行する対向側部から延びる近接して離間さ
れたリードを有するリード付パッケージに収容される。
バーケージ当たりのリードの本数が増加する程、また、
集積回路の大きさが小さくなる程、リードの間隔は狭く
なり、例えば、2.54mm (loomi 1)より
も狭くなる。小型の電流プローブ・チップは、操作者が
部品のリードに対してプローブを保持するか、又は十分
に露出された金属を使用する必要がある。露出した金属
を使用する場合、同時に2本のリードに接触するという
無視できない危険性、即ち、あるリードを他のリードに
電気的に短絡させて、部品を損傷するおそれがある。
集積回路の大きさが小さくなる程、リードの間隔は狭く
なり、例えば、2.54mm (loomi 1)より
も狭くなる。小型の電流プローブ・チップは、操作者が
部品のリードに対してプローブを保持するか、又は十分
に露出された金属を使用する必要がある。露出した金属
を使用する場合、同時に2本のリードに接触するという
無視できない危険性、即ち、あるリードを他のリードに
電気的に短絡させて、部品を損傷するおそれがある。
従来のプローブ・チップの例として、堅い又は柔軟性の
ある絶縁性管の内部に導電体を有するグラバ・チップが
ある。導電体はその端部に、集積回路のリードを掴むた
めのかぎ部を有し、ばねにより偏倚されて絶縁性管内に
引っ込んでいる。このかぎ部は、押圧されて導電体で外
に出るときに開き、押圧力が解除され、ばねの偏倚力が
導電体を絶縁性管内に押し戻す時に、部品のリードを囲
んで閉じる。しかし、この構造では、プローブ・チップ
をリードに接続する手段は得られるが、露出した金属部
を有するので、プローブ・チップを所望のリードに接続
しようとするときに、隣接するリード同士を短絡するお
それがある。また、間隔が1.27mm (50rnj
1)以下になると5 グラバ・チップは非常に使いづ
らくなる。
ある絶縁性管の内部に導電体を有するグラバ・チップが
ある。導電体はその端部に、集積回路のリードを掴むた
めのかぎ部を有し、ばねにより偏倚されて絶縁性管内に
引っ込んでいる。このかぎ部は、押圧されて導電体で外
に出るときに開き、押圧力が解除され、ばねの偏倚力が
導電体を絶縁性管内に押し戻す時に、部品のリードを囲
んで閉じる。しかし、この構造では、プローブ・チップ
をリードに接続する手段は得られるが、露出した金属部
を有するので、プローブ・チップを所望のリードに接続
しようとするときに、隣接するリード同士を短絡するお
それがある。また、間隔が1.27mm (50rnj
1)以下になると5 グラバ・チップは非常に使いづ
らくなる。
したがって、本発明は、隣接するリードを短絡するおそ
れがなく、集積パッケージの1本のリードに接触するよ
うに接続でき、1.27mm (50mil)以下の狭
いリード間隔でも使用可能なプローブ・チップを提供す
ることにある。
れがなく、集積パッケージの1本のリードに接触するよ
うに接続でき、1.27mm (50mil)以下の狭
いリード間隔でも使用可能なプローブ・チップを提供す
ることにある。
[課題を解決するための手段及び作用]本発明によれば
、所望のリードを隣接するリードに短絡するおそれがな
く、リード付集積回路パッケージの所望のリードに接続
できる回転ロック式プローブ・チップを得ることができ
る。導電体は、絶縁材料から成る薄く可撓性のストラン
ド(菅)内にはめ込まれ、又は、平板状可撓性材料の一
方又は両方の側面に被着される。絶縁性材料は、はめ込
まれた導電体を露出させ、及び/又は集積回路パッケー
ジの隣接するリード間でプローブ・チップを固定する手
段となる働きをする凹部を有する。プローブ・チップを
、集積パッケージのリード間に挿入し、1/4同転する
と、凹部は隣りのリードに係合し、導電体は所望のリー
ドに接触する。
、所望のリードを隣接するリードに短絡するおそれがな
く、リード付集積回路パッケージの所望のリードに接続
できる回転ロック式プローブ・チップを得ることができ
る。導電体は、絶縁材料から成る薄く可撓性のストラン
ド(菅)内にはめ込まれ、又は、平板状可撓性材料の一
方又は両方の側面に被着される。絶縁性材料は、はめ込
まれた導電体を露出させ、及び/又は集積回路パッケー
ジの隣接するリード間でプローブ・チップを固定する手
段となる働きをする凹部を有する。プローブ・チップを
、集積パッケージのリード間に挿入し、1/4同転する
と、凹部は隣りのリードに係合し、導電体は所望のリー
ドに接触する。
本発明のプローブ・チップは、電気素子のリードと係合
可能な少なくとも1つの凹部を有する絶縁性本体と、絶
縁性本体内に収容され、凹部において上記絶縁性本体か
ら露出する導電体とを有することを特徴とする。
可能な少なくとも1つの凹部を有する絶縁性本体と、絶
縁性本体内に収容され、凹部において上記絶縁性本体か
ら露出する導電体とを有することを特徴とする。
[実施例]
第1図〜第4図は、本発明の回転ロック式プローブ・チ
ップ(10)の第1実施例を示す、プローブ・チップ(
10)は、プラスチック材料の様な絶縁材料の可撓性本
体(12)を有し、この可撓性本体(12)内には導電
体〈14)がはめ込まれる。可撓性本体(12)は、そ
の対向する側面に少なくとも1個の凹部を有し、一方の
凹部内で導電体(14)は露出される。図示する様に、
プローブ・チップ(10)の使用寿命を延ばすために、
2つで1組にグループ化された複数の組が設けられてい
る。各対のノツチ(18)の組は、プローブ・チップ(
10)の一部を切り取る個所を決める切り取り用凹部で
ある。したがって、接触用凹部の(16)内の導電体(
14)がすり減ったとき、プローブ・チップ(10)は
切り取り用凹部で切り取られ、他の接触凹部の組が、露
出した導電体の新しい部分と共に使用される。ノブ(2
0)は、止めネジの様な適当な手段により可撓性本体(
12)に取り付けられる。リード付集積回路パッケージ
のリード間にプローブ・チップを挿入するときに、操作
者はノブ(20)を操作して、プローブ・チップ(10
)を掴むことができる。
ップ(10)の第1実施例を示す、プローブ・チップ(
10)は、プラスチック材料の様な絶縁材料の可撓性本
体(12)を有し、この可撓性本体(12)内には導電
体〈14)がはめ込まれる。可撓性本体(12)は、そ
の対向する側面に少なくとも1個の凹部を有し、一方の
凹部内で導電体(14)は露出される。図示する様に、
プローブ・チップ(10)の使用寿命を延ばすために、
2つで1組にグループ化された複数の組が設けられてい
る。各対のノツチ(18)の組は、プローブ・チップ(
10)の一部を切り取る個所を決める切り取り用凹部で
ある。したがって、接触用凹部の(16)内の導電体(
14)がすり減ったとき、プローブ・チップ(10)は
切り取り用凹部で切り取られ、他の接触凹部の組が、露
出した導電体の新しい部分と共に使用される。ノブ(2
0)は、止めネジの様な適当な手段により可撓性本体(
12)に取り付けられる。リード付集積回路パッケージ
のリード間にプローブ・チップを挿入するときに、操作
者はノブ(20)を操作して、プローブ・チップ(10
)を掴むことができる。
操作において、第5図に示す様に、プローブ・チップ(
lO)は、Aで示す様にパッケージのり−ド間に挿入さ
れ、位置決めされる。2個の隣接するリードに同時に接
触できる露出した金属はないので、隣接するリードを不
注意に短絡させるおそれはない0次に、操作者はノブ(
20)を使用して、B又はCで示す様に、時計回り方向
又は反時計回り方向のいずれかに、プローブ・チップ(
10)を1/4同転させると、ある凹部(16)の導電
体(14)のn山部分が所望のリードに接触し、対向す
る凹部が隣りのリードと係合するようにする。可撓性本
体の材料の弾力は、はめ込まれた導電体(14)をリー
ドに対して確実に保持し、プローブ・チップ(I O)
を所定位置に固定する。
lO)は、Aで示す様にパッケージのり−ド間に挿入さ
れ、位置決めされる。2個の隣接するリードに同時に接
触できる露出した金属はないので、隣接するリードを不
注意に短絡させるおそれはない0次に、操作者はノブ(
20)を使用して、B又はCで示す様に、時計回り方向
又は反時計回り方向のいずれかに、プローブ・チップ(
10)を1/4同転させると、ある凹部(16)の導電
体(14)のn山部分が所望のリードに接触し、対向す
る凹部が隣りのリードと係合するようにする。可撓性本
体の材料の弾力は、はめ込まれた導電体(14)をリー
ドに対して確実に保持し、プローブ・チップ(I O)
を所定位置に固定する。
1つのプローブ・チップ(10)上で異なるリード間隔
に適応するために、可撓性本体(12)を太さが徐々に
変化する形状、即ちテーパ状に形成し、特定のリード間
隔に対し適当な大きさの1組の凹部を露出するためにプ
ローブ・チップ(10)を切り取るようにしてもよい。
に適応するために、可撓性本体(12)を太さが徐々に
変化する形状、即ちテーパ状に形成し、特定のリード間
隔に対し適当な大きさの1組の凹部を露出するためにプ
ローブ・チップ(10)を切り取るようにしてもよい。
第6図及び第7図は、回転式ロック式プローブ・チップ
の他の実施例を示す。リード間隔が、例えば、1.27
mm以下で非常に狭く、可撓性本体(12)内への導
電体のはめ込みが困難である場合、平板状可撓性本体(
30)は、適当な手段により一方又は両方の平面に被着
された導電体(32)、及び可撓性本体の対向する側部
上の凹部(16″)を有する。プローブ・チップ(10
’)は、導電側がリードの1つに面する状態で、部品の
リード(24)間に挿入される。プローブ・チップ(1
0’)は、1/4回転され、導電体(32は凹部(16
’)内で所望のリード(24)に接触し、両方の凹部は
隣接するリードに係合し、プローブ・チップを所定位置
に固定する。平板状可撓性本体(30)と一体化した翼
部(34)は、プローブ・チップ(10”)にトルクを
与えるための力に関連するレバーとして(至)く、プロ
ーブ・チップ(10’)がリード間に挿入され、翼部(
34)が回路基板(26)と接触して変形されると、ト
ルク力が操作者又は翼部(34)に対する可撓性による
弾力により与えられる0両側に導電体(32)が被着さ
れた場合、プローブ・チップは隣接するリード間を短絡
させることなく、両方のリードと電気的に接触できる。
の他の実施例を示す。リード間隔が、例えば、1.27
mm以下で非常に狭く、可撓性本体(12)内への導
電体のはめ込みが困難である場合、平板状可撓性本体(
30)は、適当な手段により一方又は両方の平面に被着
された導電体(32)、及び可撓性本体の対向する側部
上の凹部(16″)を有する。プローブ・チップ(10
’)は、導電側がリードの1つに面する状態で、部品の
リード(24)間に挿入される。プローブ・チップ(1
0’)は、1/4回転され、導電体(32は凹部(16
’)内で所望のリード(24)に接触し、両方の凹部は
隣接するリードに係合し、プローブ・チップを所定位置
に固定する。平板状可撓性本体(30)と一体化した翼
部(34)は、プローブ・チップ(10”)にトルクを
与えるための力に関連するレバーとして(至)く、プロ
ーブ・チップ(10’)がリード間に挿入され、翼部(
34)が回路基板(26)と接触して変形されると、ト
ルク力が操作者又は翼部(34)に対する可撓性による
弾力により与えられる0両側に導電体(32)が被着さ
れた場合、プローブ・チップは隣接するリード間を短絡
させることなく、両方のリードと電気的に接触できる。
他の方法として、第6図で点線で示す様に、凹部(16
’)以外で、導電体が平板状可撓性本体の全幅に広がら
ないように、導電体(32)を被着してもよい、凹部(
16’)間の幅は、集積回路(22)のリードの間隔に
応じて決められる。第8図に示す様に、複数のプローブ
・チップ(10″)は、1対のトルク・バー(36)に
回転可能に取り付けられることにより連動し、数個のリ
ードに個々に同時に接触できる。
’)以外で、導電体が平板状可撓性本体の全幅に広がら
ないように、導電体(32)を被着してもよい、凹部(
16’)間の幅は、集積回路(22)のリードの間隔に
応じて決められる。第8図に示す様に、複数のプローブ
・チップ(10″)は、1対のトルク・バー(36)に
回転可能に取り付けられることにより連動し、数個のリ
ードに個々に同時に接触できる。
[発明の効果コ
本発明のプローブ・チップは、可撓性本体の内部にはめ
込まれ、又は可撓性本体の少なくとも一方の側に被着さ
れた導電体を有し、可撓性本体は導電体を露出させ、リ
ードと係合する凹部を有する。可撓性本体は、リード間
に挿入され、回転され、凹部は隣接するリードに係合し
、プローブ。
込まれ、又は可撓性本体の少なくとも一方の側に被着さ
れた導電体を有し、可撓性本体は導電体を露出させ、リ
ードと係合する凹部を有する。可撓性本体は、リード間
に挿入され、回転され、凹部は隣接するリードに係合し
、プローブ。
チップは所望のリードのみに電気的に接触する状態で固
定することができる。
定することができる。
第1図は本発明のプローブ・チップの一実施例の平面図
、第2図は第1図のプローブ・チップの側面図、第3図
は第1図の線3−3に沿った断面図、第4図は第1図の
プローブ・チップの一部の拡大平面図、第5図は第1図
のプローブ・チップの操作を示す部分的断面図、第6図
は本発明のプローブ・チップの他の実施例の斜視図、第
7図は第6図のプローブ・チップの操作を示す部分的断
面図、第8図は第6図のプローブ・チップを複数個連動
させる動作を示す平面図である。 図中において、 (12)は絶縁性本体、 (14)は
導電体である。
、第2図は第1図のプローブ・チップの側面図、第3図
は第1図の線3−3に沿った断面図、第4図は第1図の
プローブ・チップの一部の拡大平面図、第5図は第1図
のプローブ・チップの操作を示す部分的断面図、第6図
は本発明のプローブ・チップの他の実施例の斜視図、第
7図は第6図のプローブ・チップの操作を示す部分的断
面図、第8図は第6図のプローブ・チップを複数個連動
させる動作を示す平面図である。 図中において、 (12)は絶縁性本体、 (14)は
導電体である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 電気素子のリードと係合可能な少なくとも1つの凹部を
有する絶縁性本体と、 該絶縁性本体内に収容され、上記凹部において上記絶縁
性本体から露出する導電体と を有することを特徴とするプローブ・チップ。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US41679289A | 1989-10-02 | 1989-10-02 | |
US416792 | 1989-10-02 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03129500A true JPH03129500A (ja) | 1991-06-03 |
JP2597228B2 JP2597228B2 (ja) | 1997-04-02 |
Family
ID=23651319
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2263701A Expired - Fee Related JP2597228B2 (ja) | 1989-10-02 | 1990-10-01 | プローブ・チップ |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2597228B2 (ja) |
DE (1) | DE4028948A1 (ja) |
GB (1) | GB2236630A (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5701086A (en) * | 1993-10-26 | 1997-12-23 | Hewlett-Packard Company | Connecting test equipment to adjacent legs of an IC or the like by interdigitating conductive wedges with the legs |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58172874U (ja) * | 1982-05-13 | 1983-11-18 | 日立電子株式会社 | プロ−ブ用ピンチヤ−チツプ |
JPS63159768U (ja) * | 1987-04-08 | 1988-10-19 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1209554A (en) * | 1968-04-17 | 1970-10-21 | Associated Semiconductor Mft | Improvements in electrical component test apparatus |
US3646579A (en) * | 1969-05-02 | 1972-02-29 | Data Display Syst | Logic circuit probe with screw thread adjustment and interchangeable circuitry to match circuit being monitored |
BE756745A (fr) * | 1969-10-01 | 1971-03-01 | Asea Ab | Dispositif d'essai d'installations de protection a relais et d'equipement automatique |
US4281888A (en) * | 1979-09-07 | 1981-08-04 | Western Electric Company, Inc. | Apparatus for testing leads of fuse holders |
DE8505357U1 (de) * | 1985-02-25 | 1986-06-26 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Prüfklammer zum elektrischen Kontaktieren von Leitungen |
DE3607734A1 (de) * | 1986-03-08 | 1987-09-10 | Hirschmann Electric | Pruefklemme |
EP0256541A3 (de) * | 1986-08-19 | 1990-03-14 | Feinmetall Gesellschaft mit beschrÀ¤nkter Haftung | Kontaktiervorrichtung |
DE3832410C2 (de) * | 1987-10-09 | 1994-07-28 | Feinmetall Gmbh | Kontaktvorrichtung |
-
1990
- 1990-08-23 GB GB9018525A patent/GB2236630A/en not_active Withdrawn
- 1990-09-12 DE DE19904028948 patent/DE4028948A1/de active Granted
- 1990-10-01 JP JP2263701A patent/JP2597228B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58172874U (ja) * | 1982-05-13 | 1983-11-18 | 日立電子株式会社 | プロ−ブ用ピンチヤ−チツプ |
JPS63159768U (ja) * | 1987-04-08 | 1988-10-19 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB9018525D0 (en) | 1990-10-10 |
DE4028948C2 (ja) | 1992-01-09 |
DE4028948A1 (de) | 1991-04-18 |
GB2236630A (en) | 1991-04-10 |
JP2597228B2 (ja) | 1997-04-02 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
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