JPH03125341A - 光学ヘッド - Google Patents
光学ヘッドInfo
- Publication number
- JPH03125341A JPH03125341A JP1264228A JP26422889A JPH03125341A JP H03125341 A JPH03125341 A JP H03125341A JP 1264228 A JP1264228 A JP 1264228A JP 26422889 A JP26422889 A JP 26422889A JP H03125341 A JPH03125341 A JP H03125341A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- hologram
- recording medium
- photodetector
- semiconductor laser
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 50
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 38
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims abstract description 31
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 11
- 201000009310 astigmatism Diseases 0.000 abstract description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 5
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 abstract description 4
- 239000010408 film Substances 0.000 description 24
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 18
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 8
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 4
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 3
- 230000002269 spontaneous effect Effects 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 102220240464 rs553587755 Human genes 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、光学的情報記録再生装置に使用される光学ヘ
ッドに関する。
ッドに関する。
[従来の技術]
近年、情報技術の発展に伴い、大容聞記憶装置として光
学的情報記録再生装置が注目されてきた。
学的情報記録再生装置が注目されてきた。
この光学的情報記録再生装置に用いられる光学ヘッドで
は、小型化、薄型化が望まれている。
は、小型化、薄型化が望まれている。
光学ヘッドは、−射的に、記録媒体からの反射光を、レ
ーザ光源から記録媒体に向かう光から分離して光検出器
に向かわせる構成であり、多くの場合、記録媒体に向か
う光と光検出器に向かう光の方向が互いに垂直であるた
め、光学ヘッドは記録媒体平面に対して高さ方向、ある
いは平面的に大きな占有面積を必要とし、光学的情報記
録再生装置において大きなスペースを必要とする。
ーザ光源から記録媒体に向かう光から分離して光検出器
に向かわせる構成であり、多くの場合、記録媒体に向か
う光と光検出器に向かう光の方向が互いに垂直であるた
め、光学ヘッドは記録媒体平面に対して高さ方向、ある
いは平面的に大きな占有面積を必要とし、光学的情報記
録再生装置において大きなスペースを必要とする。
そこで、例えば特開昭63−136334号公報では、
光学ヘッドを小型化するために、この公報の第1図及び
第2図に示されるように、半導体レーザから出射された
光をハーフミラ−で反Q’Jさけることで記録媒体面に
向け、記録媒体からの反射光は再びハーフミラ−を通り
、回折格子構造体の回折格子で反射される際に複数の光
束に分離され、構造体中を反射して構造体の端面に設け
た光検出器で受光されるようにしている。そして、この
光検出器の出力に基づき、情報信号、トラッキングエラ
ー化り、フォーカスエラー(A号を得るようになってい
る。
光学ヘッドを小型化するために、この公報の第1図及び
第2図に示されるように、半導体レーザから出射された
光をハーフミラ−で反Q’Jさけることで記録媒体面に
向け、記録媒体からの反射光は再びハーフミラ−を通り
、回折格子構造体の回折格子で反射される際に複数の光
束に分離され、構造体中を反射して構造体の端面に設け
た光検出器で受光されるようにしている。そして、この
光検出器の出力に基づき、情報信号、トラッキングエラ
ー化り、フォーカスエラー(A号を得るようになってい
る。
[発明が解決しようと覆る課題]
しかしながら、前記公報では、記録媒体に向かう光と光
検出器に向かう光とをハーフミラ−プリズムを用いて分
離しており、そのハーフミラ−面は光路を90°変える
ために光軸に対して457傾けて設定されるため、構成
としては人さくならざるを得ない。また、ハーフミラ−
であるため、記録媒体からの戻り光は、必ず半導体レー
ザに戻り、半導体レーザの出射光は不安定となる。更に
、前記公報に示される光学ヘッドにおいて、仮に、半導
体レーザの後方光を用いて半導体レーザの出力制御を行
うAPCを採用しようとすれば、記録媒体からの戻り光
を受は記録媒体の情報や複屈折の影響を受けた半導体レ
ーザの後方光であるため、半導体レーザのノイズ(バッ
クトークノイズ)の影響を受【ノ、半導体レー1Fの正
確な出射光量は検出できず、正確な制御ができないとい
う問題点がある。
検出器に向かう光とをハーフミラ−プリズムを用いて分
離しており、そのハーフミラ−面は光路を90°変える
ために光軸に対して457傾けて設定されるため、構成
としては人さくならざるを得ない。また、ハーフミラ−
であるため、記録媒体からの戻り光は、必ず半導体レー
ザに戻り、半導体レーザの出射光は不安定となる。更に
、前記公報に示される光学ヘッドにおいて、仮に、半導
体レーザの後方光を用いて半導体レーザの出力制御を行
うAPCを採用しようとすれば、記録媒体からの戻り光
を受は記録媒体の情報や複屈折の影響を受けた半導体レ
ーザの後方光であるため、半導体レーザのノイズ(バッ
クトークノイズ)の影響を受【ノ、半導体レー1Fの正
確な出射光量は検出できず、正確な制御ができないとい
う問題点がある。
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、45
゛の傾きで配置するハーフミラ−等の光学部月を用いる
ことなく、記録媒体からの戻り光を光源から記録媒体に
向かう光路から分離して、−層小型化の可能な光学ヘッ
ドを提供することを目的としている。
゛の傾きで配置するハーフミラ−等の光学部月を用いる
ことなく、記録媒体からの戻り光を光源から記録媒体に
向かう光路から分離して、−層小型化の可能な光学ヘッ
ドを提供することを目的としている。
[課題を解決するための手段]
本発明の光学ヘッドは、n線幅光光ビームを出射する半
導体レーザと、前記半導体レーザの出射光を記録媒体に
導く光学系と、前記記録媒体からの戻り光が入射され、
入射光束光路に対して出射光束光路を偏向さ往るホログ
ラム素子と、前記ホログラム素子からの出射光束を、前
記半導体レーデからの出)1光束から分離する偏光ビー
ムスプリッタと、前記偏光ビームスプリッタで分離され
た光を受光する光検出器とを備えたものである。
導体レーザと、前記半導体レーザの出射光を記録媒体に
導く光学系と、前記記録媒体からの戻り光が入射され、
入射光束光路に対して出射光束光路を偏向さ往るホログ
ラム素子と、前記ホログラム素子からの出射光束を、前
記半導体レーデからの出)1光束から分離する偏光ビー
ムスプリッタと、前記偏光ビームスプリッタで分離され
た光を受光する光検出器とを備えたものである。
[作用]
本発明では、半導体レーザから出射された光は、光学系
によって記録媒体に導かれ、この記録媒体からの戻り光
は、ボログラム素子に入)jして入射光束光路に対して
出射光束光路が偏向され、偏光ビームスプリッタによっ
て、半導体レーザからの出射光束から分離され、光検出
器で受光される。
によって記録媒体に導かれ、この記録媒体からの戻り光
は、ボログラム素子に入)jして入射光束光路に対して
出射光束光路が偏向され、偏光ビームスプリッタによっ
て、半導体レーザからの出射光束から分離され、光検出
器で受光される。
[実施例]
以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第1図ないし第5図は本発明の第1実施例に係り、第1
図は光学ヘッドの構成を示す説明図、第2図は被覆板上
の各部材の配置を示す説明図、第3図及び第4図は偏光
ホログラムと誘電体多層膜を通過する光束を示す説明図
、第5図は光検出器を示す説明図である。
図は光学ヘッドの構成を示す説明図、第2図は被覆板上
の各部材の配置を示す説明図、第3図及び第4図は偏光
ホログラムと誘電体多層膜を通過する光束を示す説明図
、第5図は光検出器を示す説明図である。
本実施例は、記録再生用記録媒体に対して情報の記録、
再生を行う追記型(DRAW)あるいは再生専用型の光
学ヘッドの例である。
再生を行う追記型(DRAW)あるいは再生専用型の光
学ヘッドの例である。
第1図に示すように、光学ヘッド1は、光源として半導
体レーザ2を備え、この半導体レーザ2と記録媒体3と
の間に、半導体レーザ2側から順に、被覆板4の同一面
上に設けられた誘電体多層膜5及び反射型ホログラム6
と、保護板7に形成された偏光ホログラム8と、174
波長板9と、対物レンズ10とが配設されている。前記
被覆板4や保護板7は、光を透過するためガラス、プラ
スチック等の透明部材よりなる。また、前記半導体レー
ザ2は、前方モニタ用光検出器11.11と同−阜板1
2上に設けられ、この同一基板12は、パッケージ体1
3の底面部に固定されている。
体レーザ2を備え、この半導体レーザ2と記録媒体3と
の間に、半導体レーザ2側から順に、被覆板4の同一面
上に設けられた誘電体多層膜5及び反射型ホログラム6
と、保護板7に形成された偏光ホログラム8と、174
波長板9と、対物レンズ10とが配設されている。前記
被覆板4や保護板7は、光を透過するためガラス、プラ
スチック等の透明部材よりなる。また、前記半導体レー
ザ2は、前方モニタ用光検出器11.11と同−阜板1
2上に設けられ、この同一基板12は、パッケージ体1
3の底面部に固定されている。
第2図に示ずように、前記誘電体多層膜5は、被覆板4
上に、厚みλ/4の誘電体薄膜を屈折率nの大小が交互
になるように多層蒸着して形成され、P偏光(紙面内方
向に振動する直線偏光)のビームを透過し、S偏光(紙
面垂直方向に振動する直線偏光)の光ビームを反射する
偏光ビームスプリッタ膜である。前記反射型ホログラム
6.6は、半導体レーザ2から出射される楕円ビーム1
5の長袖側の誘電体多層膜5の両脇に設けられ、金tS
S膜でコーティングされている。この反射型ボログラム
6.6は、第2図において一点鎖線で示すように、前記
楕円ビーム15の短軸側に回折を生じる。そして、半導
体レーザ2から出射される発散するP偏光の楕円ビーム
15は、その長軸側の一部が反射型ホログラム6.6で
反q・19回折されて、収束しながら前方モニタ用光検
出器11゜11で受光されるようになっている。尚、第
2図には、半導体レーザ2と前方モニタ用光検出器11
.11の位置も示している。また、長袖側両端を反射型
ホログラム6.6でカットされた光ビームは、短軸と長
袖が略同じ長さ、寸なわら略円形となり、また、P偏光
であるため、誘電体多層膜5を透過する。
上に、厚みλ/4の誘電体薄膜を屈折率nの大小が交互
になるように多層蒸着して形成され、P偏光(紙面内方
向に振動する直線偏光)のビームを透過し、S偏光(紙
面垂直方向に振動する直線偏光)の光ビームを反射する
偏光ビームスプリッタ膜である。前記反射型ホログラム
6.6は、半導体レーザ2から出射される楕円ビーム1
5の長袖側の誘電体多層膜5の両脇に設けられ、金tS
S膜でコーティングされている。この反射型ボログラム
6.6は、第2図において一点鎖線で示すように、前記
楕円ビーム15の短軸側に回折を生じる。そして、半導
体レーザ2から出射される発散するP偏光の楕円ビーム
15は、その長軸側の一部が反射型ホログラム6.6で
反q・19回折されて、収束しながら前方モニタ用光検
出器11゜11で受光されるようになっている。尚、第
2図には、半導体レーザ2と前方モニタ用光検出器11
.11の位置も示している。また、長袖側両端を反射型
ホログラム6.6でカットされた光ビームは、短軸と長
袖が略同じ長さ、寸なわら略円形となり、また、P偏光
であるため、誘電体多層膜5を透過する。
また、前記偏光ホログラム8は、P偏光光ビームに対し
てはそのまま透過し、S偏光光ビームに対しては回折す
る偏光特性を右する。この回折の方向は、第1図の水平
方向である。更に、偏光ホログラム8は、S偏光に対し
て非点収差を生じる性質を有する。
てはそのまま透過し、S偏光光ビームに対しては回折す
る偏光特性を右する。この回折の方向は、第1図の水平
方向である。更に、偏光ホログラム8は、S偏光に対し
て非点収差を生じる性質を有する。
前記誘電体多層膜5及び反射型ホログラム6を設(プた
被覆板4は、誘電体多層II!35と偏光ホログラム8
が微小間隔を隔てて設置されるように、保護板7の裏面
に接着固定されている。尚、接着部は、反射型ホログラ
ム6の外側部分である。前記保護板7は、半導体レーザ
2.前方モニタ用光検出器11.被覆板4.誘電体多層
膜51反反射型ボログラム、偏光ホ[1グラム8を密封
するように、パッケージ体13の上側の開口部に固着さ
れている。
被覆板4は、誘電体多層II!35と偏光ホログラム8
が微小間隔を隔てて設置されるように、保護板7の裏面
に接着固定されている。尚、接着部は、反射型ホログラ
ム6の外側部分である。前記保護板7は、半導体レーザ
2.前方モニタ用光検出器11.被覆板4.誘電体多層
膜51反反射型ボログラム、偏光ホ[1グラム8を密封
するように、パッケージ体13の上側の開口部に固着さ
れている。
第1図に示すように、前記保護板7の側端面には、光検
出器16が設けられている。この光検出器16の受光信
号により、情報信号、)を−カスエラー信号、トラッキ
ングエラー信号を得るようになっている。
出器16が設けられている。この光検出器16の受光信
号により、情報信号、)を−カスエラー信号、トラッキ
ングエラー信号を得るようになっている。
前記保護板7とパッケージ体13により密封された部分
と光検出器16を含む部分とで1パツケージが形成され
ている。このパッケージ外にある1/4波長板つと対物
レンズ10は、前記パッケージとは別に交換可能である
。また、前記対物レンズ10は、図示しないアクチコエ
ータにより2次元方向に移動可能に支持されている。そ
して、前記光検出器16で得られるエラー信号に基づい
て、・図示しない制御回路、駆動回路を介して面記アク
チュエータにより対物レンズ10を2次元方向に振らせ
て制御可能となっている。
と光検出器16を含む部分とで1パツケージが形成され
ている。このパッケージ外にある1/4波長板つと対物
レンズ10は、前記パッケージとは別に交換可能である
。また、前記対物レンズ10は、図示しないアクチコエ
ータにより2次元方向に移動可能に支持されている。そ
して、前記光検出器16で得られるエラー信号に基づい
て、・図示しない制御回路、駆動回路を介して面記アク
チュエータにより対物レンズ10を2次元方向に振らせ
て制御可能となっている。
次に、本実施例の作用について説明する。
半導体レーザ2から出射された発散するP偏光の楕円ビ
ーム15は、被覆板4を透過し、その長軸側の一部が反
射型ボログラム6.6で反射1回折されて、収束しなが
ら前方モニタ用光検出器11.11で受光される。長袖
側両端を反射型ボログラム6.6でカットされた光ビー
ムは、略円形となり、P偏光であるため誘電体多層膜5
を透過する。この光は、P偏光であるため、偏光ホログ
ラム8をそのまま通過し、1/4波長板9で円偏光にな
り、対物レンズ10で収束され、記録媒体3に照射され
る。この記録媒体3で反射した光は、対物レンズ10を
通り、1/4波長板9を通ってS偏光になる。S偏光に
なった戻り光は、偏光ホログラム8で回折され、S偏光
であるために誘電体多層膜5で全反射されて、再び、偏
光ホログラム8に入射し、回折される。
ーム15は、被覆板4を透過し、その長軸側の一部が反
射型ボログラム6.6で反射1回折されて、収束しなが
ら前方モニタ用光検出器11.11で受光される。長袖
側両端を反射型ボログラム6.6でカットされた光ビー
ムは、略円形となり、P偏光であるため誘電体多層膜5
を透過する。この光は、P偏光であるため、偏光ホログ
ラム8をそのまま通過し、1/4波長板9で円偏光にな
り、対物レンズ10で収束され、記録媒体3に照射され
る。この記録媒体3で反射した光は、対物レンズ10を
通り、1/4波長板9を通ってS偏光になる。S偏光に
なった戻り光は、偏光ホログラム8で回折され、S偏光
であるために誘電体多層膜5で全反射されて、再び、偏
光ホログラム8に入射し、回折される。
この様子を、第3図及び第4図を用いて更に詳しく説明
する。分り易いように、第3図では、反射すべき誘電体
多層膜5は透過で示し、再度入射する偏光ホログラム8
を別に描いて示している。
する。分り易いように、第3図では、反射すべき誘電体
多層膜5は透過で示し、再度入射する偏光ホログラム8
を別に描いて示している。
また、偏光ホログラム8と誘電体多層F35との間隔は
aで示している。保護板7を通り、偏光ボ[1グラム8
に入fJJする光は、第3図で上から入射りる光である
。この光は、偏光ホログラム8に入射することで角度θ
1で回折し±1次光が生じる。
aで示している。保護板7を通り、偏光ボ[1グラム8
に入fJJする光は、第3図で上から入射りる光である
。この光は、偏光ホログラム8に入射することで角度θ
1で回折し±1次光が生じる。
この±1次光は角度θ1で誘電体多層膜5に入)lし、
S偏光であるため角度θ1で反射するが、第3図ではそ
のまま通過するように描いて反対の光路を示している。
S偏光であるため角度θ1で反射するが、第3図ではそ
のまま通過するように描いて反対の光路を示している。
角度θ1で回折され、斜めに入射するため誘電体多層膜
5を経た光は、入射光路から外れる。この光は、偏光ホ
ログラム8に角度01で入射して、更に角度θ2で回折
される。従って、第3図に示すように、2回の回折で合
計4木の光001.002.011.0121.:分か
れる。コ(Dうら、012で示す光を用いて信号を得る
。012で示す光は、第4図に示すように、保護板7の
上面で全反射し、保護板7の内部を通り、光検出器16
に入射覆る。すなわら、角度(θ1+θ2)が保護板7
において全反01するように設定されている。
5を経た光は、入射光路から外れる。この光は、偏光ホ
ログラム8に角度01で入射して、更に角度θ2で回折
される。従って、第3図に示すように、2回の回折で合
計4木の光001.002.011.0121.:分か
れる。コ(Dうら、012で示す光を用いて信号を得る
。012で示す光は、第4図に示すように、保護板7の
上面で全反射し、保護板7の内部を通り、光検出器16
に入射覆る。すなわら、角度(θ1+θ2)が保護板7
において全反01するように設定されている。
前記光検出器16は、第5図に示すように、4分割素子
で構成され、偏光ホログラム8で生じさせた非点収差に
よりフォーカスエラー検出を、プッシュプル法によりト
ラッキングエラーを検出づるようになっている。すなわ
ち、各分割素子の出力をA、B、C,Dとすると、フォ
ーカスエラー信号Fは、対角素子の和をとった後、2つ
の和の差を求めることにより、 F=(△十〇)−(B+D) として求められる。また、トラッキングエラー信号Tは
、左右の素子の差により、 T= (A+−B)−(C+D) として求められる。尚、トラック方向は、第1図におい
て左右方向であり、第5図は光検出器16に入i、)j
′?lる光を右側から見た図になっている。また、分割
素子の全和出力により情報信号を得る。
で構成され、偏光ホログラム8で生じさせた非点収差に
よりフォーカスエラー検出を、プッシュプル法によりト
ラッキングエラーを検出づるようになっている。すなわ
ち、各分割素子の出力をA、B、C,Dとすると、フォ
ーカスエラー信号Fは、対角素子の和をとった後、2つ
の和の差を求めることにより、 F=(△十〇)−(B+D) として求められる。また、トラッキングエラー信号Tは
、左右の素子の差により、 T= (A+−B)−(C+D) として求められる。尚、トラック方向は、第1図におい
て左右方向であり、第5図は光検出器16に入i、)j
′?lる光を右側から見た図になっている。また、分割
素子の全和出力により情報信号を得る。
このように本実施例によれば、偏光ホログラム8と誘電
体多層膜5とにより、45°の傾ぎで配置するハーフミ
ラ−等の光学部材を用いることなく、記録媒体3からの
戻り光を半導体レーザ2から記録媒体3に向かう光路か
ら分離するようにしたので、光学ヘッド1を一層小型化
することができる。
体多層膜5とにより、45°の傾ぎで配置するハーフミ
ラ−等の光学部材を用いることなく、記録媒体3からの
戻り光を半導体レーザ2から記録媒体3に向かう光路か
ら分離するようにしたので、光学ヘッド1を一層小型化
することができる。
また、光学ヘッド1の光学系の大部分をパッケージ構成
にしであるため、光学部品及び光検出器が塵埃によって
影響されず、結合効率([対物レンズの出射光重/半導
体レーザの出射光量]または[光検出器の受光■/対物
レンズの出射光量])の低下を防ぐことができる。
にしであるため、光学部品及び光検出器が塵埃によって
影響されず、結合効率([対物レンズの出射光重/半導
体レーザの出射光量]または[光検出器の受光■/対物
レンズの出射光量])の低下を防ぐことができる。
更に、半導体レーザ2の前方光をモニタするようにした
ので、半尋体し−1.F2のバックトークノイズの影響
を受けずに、レーザ光ff1APcが可能である。
ので、半尋体し−1.F2のバックトークノイズの影響
を受けずに、レーザ光ff1APcが可能である。
また、反射型ホログラム8によりAPC用の光を得ずに
、半導体レーザ2の後方光を用いてAPCを行っても、
ハーフミラ−を使用していないので、半導体レーザへの
戻り光はなく、バックトークノイズの影響は受けない。
、半導体レーザ2の後方光を用いてAPCを行っても、
ハーフミラ−を使用していないので、半導体レーザへの
戻り光はなく、バックトークノイズの影響は受けない。
尚、本実施例では、偏光ホログラム8により4分割され
た光ビームの1つを使用づるため光Dロスが生じるが、
戻り光に対する光強度のロスを少なくづるために偏光ボ
ログラム8の格子溝のピッチまたは溝の深さと形状によ
り10%程度、+1次の光ビームを増加することb可能
である。
た光ビームの1つを使用づるため光Dロスが生じるが、
戻り光に対する光強度のロスを少なくづるために偏光ボ
ログラム8の格子溝のピッチまたは溝の深さと形状によ
り10%程度、+1次の光ビームを増加することb可能
である。
また、ここでは、偏光ホログラム8に、S偏光に対して
非点収差を生じ、る作用を持たせたが、第1図において
一定鎖線で示すように、保護板7を入射光ビームに対し
θ° (例えば1o°〜2o°)傾()て非点収差を生
じさせてフォーカスエラー検出覆ることも可能である。
非点収差を生じ、る作用を持たせたが、第1図において
一定鎖線で示すように、保護板7を入射光ビームに対し
θ° (例えば1o°〜2o°)傾()て非点収差を生
じさせてフォーカスエラー検出覆ることも可能である。
また、本実施例では、反射型ホログラム6は、被覆板4
に対して、誘電体多層膜5と同じ面に設番ノだが、裏面
に設けても良い。
に対して、誘電体多層膜5と同じ面に設番ノだが、裏面
に設けても良い。
また、誘電体多層膜5と偏光ホログラム8は、距離aを
隔てで配置しているが、回折角の設定等によっては密接
して設けることも可能である。
隔てで配置しているが、回折角の設定等によっては密接
して設けることも可能である。
第6図は本発明の第2実施例の型部を示す説明図である
。
。
第1実施例では、被覆板4に偏光ビームスプリッタて゛
ある誘電体多層膜5と反射型ホログラム6を設【プ、保
護板7に偏光ホログラム8を設けて、両者を接合した。
ある誘電体多層膜5と反射型ホログラム6を設【プ、保
護板7に偏光ホログラム8を設けて、両者を接合した。
本実施例では、これらに代り、偏光ビームスプリッタ作
用を持つ結晶20の一面に偏光ホログラム8を設け、他
面に反射型ホログラム6を設け、これを、偏光ホログラ
ム8を保護板7側にして、保護板7に取りイ」けている
。
用を持つ結晶20の一面に偏光ホログラム8を設け、他
面に反射型ホログラム6を設け、これを、偏光ホログラ
ム8を保護板7側にして、保護板7に取りイ」けている
。
その他の構成1作用及び効果は第1実施例と同様である
。
。
第7図は本発明の第3実施例における光検出器を示す説
明図である。
明図である。
本実施例は、フーコ法によるフォーカスエラー検出を行
う例である。
う例である。
本実施例では、トラック方向は第1図の紙面重訂方向で
ある。また、偏光ホログラム8に、S偏光のみ第1図の
紙面垂直方向に光ビームを2分割する作用を持たせてい
る。紙面水平方向に関しては第1実施例と同様である。
ある。また、偏光ホログラム8に、S偏光のみ第1図の
紙面垂直方向に光ビームを2分割する作用を持たせてい
る。紙面水平方向に関しては第1実施例と同様である。
偏光ホログラム8で2分割された光の各々は、第7図(
a>及び(b)に示すような2つの4分割光検出器16
a、16bにより受光される。図に示づ゛ように、光検
出器16aの各領域の出力をA−D、光検出器16bの
各領域の出力をE−HとJると、フォーカスエラー信@
F及びトラッキングエラー信号Tは、それぞれ、次の式
で求められる。
a>及び(b)に示すような2つの4分割光検出器16
a、16bにより受光される。図に示づ゛ように、光検
出器16aの各領域の出力をA−D、光検出器16bの
各領域の出力をE−HとJると、フォーカスエラー信@
F及びトラッキングエラー信号Tは、それぞれ、次の式
で求められる。
F= (A+B十H+G)−(D+C十E+F)T−(
A+D+E十H)−(B+C十F→−G)その他の構成
1作用及び効果は第1実施例と同様である。
A+D+E十H)−(B+C十F→−G)その他の構成
1作用及び効果は第1実施例と同様である。
第8図は本発明の第4実施例における光検出器を示す説
明図である。
明図である。
本実施例も、フーコ法によるフォーカスエラー検出を行
う例である。
う例である。
本実施例では、トラック方向は第1図の左右方向である
。また、偏光ボログラム8は、戻り光すなわらS偏光に
対して、第1図の紙面垂直方向に光ビームを2分割し、
2分割された一方のビームを更に紙面水平方向に分割す
る。この1/4に分割された2つのビームによりフォー
カスエラー信号を検出づる。また、1/4に分割された
ビームの収束位置を変えることによって、第1実施例の
回折さVて偏光ホログラム8に入射する光路と出射する
光路を変えるということと同等の効果を持たせている。
。また、偏光ボログラム8は、戻り光すなわらS偏光に
対して、第1図の紙面垂直方向に光ビームを2分割し、
2分割された一方のビームを更に紙面水平方向に分割す
る。この1/4に分割された2つのビームによりフォー
カスエラー信号を検出づる。また、1/4に分割された
ビームの収束位置を変えることによって、第1実施例の
回折さVて偏光ホログラム8に入射する光路と出射する
光路を変えるということと同等の効果を持たせている。
偏光ホログラム8で2分割された一方のビームは、第8
図(a)に示す光検出器16aで受光され、1/4に分
割された2つのビームは、第8図(b)に示寸よう縦方
向に4分割された光検出器16bにより受光される。図
に承りように、光検出器16aの出力をA、光検出器1
6bの各領域の出力をB−Eとすると、フォーカスエラ
ー信号F及びトラッキングエラー信号Tは、それぞれ、
次の式で求められる。
図(a)に示す光検出器16aで受光され、1/4に分
割された2つのビームは、第8図(b)に示寸よう縦方
向に4分割された光検出器16bにより受光される。図
に承りように、光検出器16aの出力をA、光検出器1
6bの各領域の出力をB−Eとすると、フォーカスエラ
ー信号F及びトラッキングエラー信号Tは、それぞれ、
次の式で求められる。
F−(B+E)−(C+D)
T=A−(B+C+D−+−E)
その他の構成2作用及び効果は第1実施例と同様である
。
。
第9図及び第10図は本発明の第5実施例に係り、第9
図は光検出器を示す説明図、第10図は各光検出器に入
射する光の焦点位置を示す説明図である。
図は光検出器を示す説明図、第10図は各光検出器に入
射する光の焦点位置を示す説明図である。
本実施例では、偏光ホログラム8は、第1実浦例におけ
る機能に加えて、S偏光に対しては紙面垂直方向に回折
させ、更に、各回折光の焦点距離を変えるようになって
いる。従って、第1図の紙面垂直方向に第2図に承りよ
うな4ビーム(ただし、各ビームの焦点距離は第2図と
は異なる。)が得られるが、そのうちの2ビーム、例え
ば偏光ホログラム8を2回通過する際に+1次→+1次
で通過するビームと、−1次→−1次で通過するビーム
を用いる。また、第10図に示づように、2つの光検出
器16a、16bを、2つのビームの異なる焦点の中間
に配置している。前記光検出器16a、16bは、第9
図(a)−9(b)に示づように、それぞれ、3分割さ
れ、記録媒体3面でビームが合焦状態にあるとき、中央
部と両側部の光(6)が同じになるように配置され、媒
体面の位置が変ることにより、ビームの焦点が変り、光
検出器16a、16b上でのスポットの大きさが変る。
る機能に加えて、S偏光に対しては紙面垂直方向に回折
させ、更に、各回折光の焦点距離を変えるようになって
いる。従って、第1図の紙面垂直方向に第2図に承りよ
うな4ビーム(ただし、各ビームの焦点距離は第2図と
は異なる。)が得られるが、そのうちの2ビーム、例え
ば偏光ホログラム8を2回通過する際に+1次→+1次
で通過するビームと、−1次→−1次で通過するビーム
を用いる。また、第10図に示づように、2つの光検出
器16a、16bを、2つのビームの異なる焦点の中間
に配置している。前記光検出器16a、16bは、第9
図(a)−9(b)に示づように、それぞれ、3分割さ
れ、記録媒体3面でビームが合焦状態にあるとき、中央
部と両側部の光(6)が同じになるように配置され、媒
体面の位置が変ることにより、ビームの焦点が変り、光
検出器16a、16b上でのスポットの大きさが変る。
このスポットの大きさを検出してフォーカスエラー信号
を得る(スポットサイズ法)。また、I−ラック方向は
第1図の左右方向であり、トラッキングエラー信号は、
プッシュプル法により19る。
を得る(スポットサイズ法)。また、I−ラック方向は
第1図の左右方向であり、トラッキングエラー信号は、
プッシュプル法により19る。
図に示寸ように、光検出器16aの各領域の出力をA−
C1光検出器16bの各領域の出力をD〜Fとりると、
フォーカスエラー(ffi e F及びトラッキングエ
ラー信号Tは、それぞれ、次の式で求められる。
C1光検出器16bの各領域の出力をD〜Fとりると、
フォーカスエラー(ffi e F及びトラッキングエ
ラー信号Tは、それぞれ、次の式で求められる。
F= (A+C+E)−(D+F十B)T=(△トD>
−(C十F) その他の構成1作用及び効果は第1実施例と同様である
。
−(C十F) その他の構成1作用及び効果は第1実施例と同様である
。
尚、本発明は、上記各実施例に限定されず、例えば、各
実施例は全て有限系の光学系で説明したが、光が記録媒
体に向かうに当り、半導体レーザと対物レンズの間にコ
リメータレンズを設けて無限系の光学ヘッドとして用い
てし良い。
実施例は全て有限系の光学系で説明したが、光が記録媒
体に向かうに当り、半導体レーザと対物レンズの間にコ
リメータレンズを設けて無限系の光学ヘッドとして用い
てし良い。
また、偏光ホログラム8で偏向された光は、誘電体多層
膜5で反射した後、再び偏光ホログラム8に入射するよ
うにしているが、回折等による角麿θ1の値によっては
、誘電体多層膜5で反射後の光は、ホログラムを通さな
いようにすることもできる。
膜5で反射した後、再び偏光ホログラム8に入射するよ
うにしているが、回折等による角麿θ1の値によっては
、誘電体多層膜5で反射後の光は、ホログラムを通さな
いようにすることもできる。
また、保護板7で全反射させるとき、θ1やθ2の設定
をしなくても、保護板7に全反射膜を設けても良い。
をしなくても、保護板7に全反射膜を設けても良い。
[発明の効果]
以上説明したように本発明によれば、記録媒体からの戻
り光をホログラム素子によって偏向させ偏光ビームスプ
リッタによって半導体レーザからの出射光束から分[す
るようにしたので、45゜の傾きで配置するハーフミラ
−等の光学部材を用いることなく、記録媒体からの戻り
光を半導体レ−’fから記録媒体に向かう光路から分離
でき、光学ヘッドを一居小型化することができるという
効果がある。
り光をホログラム素子によって偏向させ偏光ビームスプ
リッタによって半導体レーザからの出射光束から分[す
るようにしたので、45゜の傾きで配置するハーフミラ
−等の光学部材を用いることなく、記録媒体からの戻り
光を半導体レ−’fから記録媒体に向かう光路から分離
でき、光学ヘッドを一居小型化することができるという
効果がある。
第1図ないし第5図は本発明の第1実施例に係り、第1
図は光学ヘッドの構成を示J”説明図、第2図は被覆板
上の各部拐の配置を示1説明図、第3図及び第4図は偏
光ホログラムとvgTi体多層膜を通過りる光束を示1
」説明図、第5図は光検出器を示づ゛説明図、第6図は
本発明の第2実施例の要部を示LJ′JA明図、第7図
は本発明の第3実施例にJハノる光検出器を示ジ説明図
、第8図は本発明の第4実施例におりる光検出器を示す
説明図、第9図及び第10図4.L本発明の第5実施例
に係り、第9図は光検出器を示づ゛説明図、第10図は
各光検出器に入射する光の焦点位置を示V説明図である
。 1・・・光・アヘッド 2・・・半導体レー1F3
・・・記録媒体 5・・・誘電体多層膜8・・・
偏光ホログラム 1G・・・光検出器第1図 第3図 第2図 第5図 第6図 第7図 手続ネ甫正書(自発) 1、事件の表示 平成1年特許願第264228号 2、発明の名称 光学ヘッド 3、補正をする者 小作との関係 特11出願人 代表者 第8図 第10図 1、明細書中東7ページの第1行目ないし第2行目の「
・・・第2図において、−点鎖線で示すように、11η
記楕円ビーム15の短軸側に・・・」を「・・・第2図
において前記楕円ビーム15の長軸側に・・・」に訂正
しまず。 2、明細e!1中第13ページの第16行口の「・・・
可能Cある。」を「・・・可能である。半導体レーザ(
よ二1ヒーレントのため保護板7の平行平面にJ、る干
渉により出力変動が発生Jるが、前述のように保護板7
を傾けることにより、この出力変動が除去さ゛れるど其
に、1′導体レーザの非点隔差も補正されるという効果
がある。」に訂正します。 3、明細書中東14ページの第17行口の「・・・)−
−,1法・・・」を「・・・3分割法・・・」に口止し
まず。 4、明細ノ】中東15ページの第゛17行目の「・・・
ツー]法・・・」を「・・・3分割法・・・」に5丁正
します。 手続術I正書(自発) 平成3年 1、事件の表示 平成1年特許願第264228号 2、発明の名称 光学ヘッド 第2図 3、補正をする者 事件との関係
図は光学ヘッドの構成を示J”説明図、第2図は被覆板
上の各部拐の配置を示1説明図、第3図及び第4図は偏
光ホログラムとvgTi体多層膜を通過りる光束を示1
」説明図、第5図は光検出器を示づ゛説明図、第6図は
本発明の第2実施例の要部を示LJ′JA明図、第7図
は本発明の第3実施例にJハノる光検出器を示ジ説明図
、第8図は本発明の第4実施例におりる光検出器を示す
説明図、第9図及び第10図4.L本発明の第5実施例
に係り、第9図は光検出器を示づ゛説明図、第10図は
各光検出器に入射する光の焦点位置を示V説明図である
。 1・・・光・アヘッド 2・・・半導体レー1F3
・・・記録媒体 5・・・誘電体多層膜8・・・
偏光ホログラム 1G・・・光検出器第1図 第3図 第2図 第5図 第6図 第7図 手続ネ甫正書(自発) 1、事件の表示 平成1年特許願第264228号 2、発明の名称 光学ヘッド 3、補正をする者 小作との関係 特11出願人 代表者 第8図 第10図 1、明細書中東7ページの第1行目ないし第2行目の「
・・・第2図において、−点鎖線で示すように、11η
記楕円ビーム15の短軸側に・・・」を「・・・第2図
において前記楕円ビーム15の長軸側に・・・」に訂正
しまず。 2、明細e!1中第13ページの第16行口の「・・・
可能Cある。」を「・・・可能である。半導体レーザ(
よ二1ヒーレントのため保護板7の平行平面にJ、る干
渉により出力変動が発生Jるが、前述のように保護板7
を傾けることにより、この出力変動が除去さ゛れるど其
に、1′導体レーザの非点隔差も補正されるという効果
がある。」に訂正します。 3、明細書中東14ページの第17行口の「・・・)−
−,1法・・・」を「・・・3分割法・・・」に口止し
まず。 4、明細ノ】中東15ページの第゛17行目の「・・・
ツー]法・・・」を「・・・3分割法・・・」に5丁正
します。 手続術I正書(自発) 平成3年 1、事件の表示 平成1年特許願第264228号 2、発明の名称 光学ヘッド 第2図 3、補正をする者 事件との関係
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 直線偏光光ビームを出射する半導体レーザと、前記半導
体レーザの出射光を記録媒体に導く光学系と、 前記記録媒体からの戻り光が入射され、入射光束光路に
対して出射光束光路を偏向させるホログラム素子と、 前記ホログラム素子からの出射光束を、前記半導体レー
ザからの出射光束から分離する偏光ビームスプリッタと
、 前記偏光ビームスプリッタで分離された光を受光する光
検出器と を備えたことを特徴とする光学ヘッド。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1264228A JPH03125341A (ja) | 1989-10-09 | 1989-10-09 | 光学ヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1264228A JPH03125341A (ja) | 1989-10-09 | 1989-10-09 | 光学ヘッド |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03125341A true JPH03125341A (ja) | 1991-05-28 |
Family
ID=17400274
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1264228A Pending JPH03125341A (ja) | 1989-10-09 | 1989-10-09 | 光学ヘッド |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03125341A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0765408A (ja) * | 1993-08-30 | 1995-03-10 | Nec Corp | 光ヘッド装置 |
US5495461A (en) * | 1991-08-22 | 1996-02-27 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical pickup head apparatus |
EP0805528A2 (en) * | 1996-04-29 | 1997-11-05 | Motorola, Inc. | Reflection power monitoring system for vertical cavity surface emitting lasers |
US7218591B2 (en) | 2002-04-17 | 2007-05-15 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical pickup apparatus |
WO2008072628A1 (ja) | 2006-12-12 | 2008-06-19 | Sony Corporation | 無線処理システム、無線処理方法及び無線電子機器 |
-
1989
- 1989-10-09 JP JP1264228A patent/JPH03125341A/ja active Pending
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5495461A (en) * | 1991-08-22 | 1996-02-27 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical pickup head apparatus |
US5594713A (en) * | 1991-08-22 | 1997-01-14 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical pickup head apparatus |
JPH0765408A (ja) * | 1993-08-30 | 1995-03-10 | Nec Corp | 光ヘッド装置 |
EP0805528A2 (en) * | 1996-04-29 | 1997-11-05 | Motorola, Inc. | Reflection power monitoring system for vertical cavity surface emitting lasers |
EP0805528A3 (en) * | 1996-04-29 | 1998-04-29 | Motorola, Inc. | Reflection power monitoring system for vertical cavity surface emitting lasers |
US7218591B2 (en) | 2002-04-17 | 2007-05-15 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical pickup apparatus |
WO2008072628A1 (ja) | 2006-12-12 | 2008-06-19 | Sony Corporation | 無線処理システム、無線処理方法及び無線電子機器 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP1001413B1 (en) | Optical pickup and optical device | |
JP2002175642A (ja) | 光出力モジュール及びこれを採用した互換型光ピックアップ装置 | |
TWI254295B (en) | Optical pickup | |
US20050111516A1 (en) | Optical pickup apparatus | |
JP2000030288A (ja) | 光ピックアップ素子 | |
JPH03125341A (ja) | 光学ヘッド | |
JPH07121899A (ja) | 光ピックアップ装置 | |
EP1840891A2 (en) | Optical pickup device and optical information recording/reproducing device | |
JPS6352342A (ja) | 光ピツクアツプ | |
JP4170264B2 (ja) | 光ピックアップ装置及び光情報記録再生装置 | |
JP2002288870A (ja) | 光ピックアップ | |
JP2000311375A (ja) | プリズム及び光ピックアップ装置 | |
JPH02162541A (ja) | 光学式信号再生装置及びそれに用いる光学部品 | |
JP2001110082A (ja) | 光学ピックアップ及び光ディスク装置 | |
JP2002304761A (ja) | 光ピックアップ装置 | |
JPS58196631A (ja) | 情報記録再生装置 | |
JP2912305B2 (ja) | 光ピックアップ | |
JP2501097B2 (ja) | 光ヘッド装置 | |
WO2004032126A1 (en) | Optical scanning device with two three-spot gratings | |
JP2003123305A (ja) | 光ヘッド装置 | |
JP2002163831A (ja) | 半導体レーザ装置および光ピックアップ装置 | |
JPS6168741A (ja) | 光ビ−ム合成装置 | |
JPH0120498B2 (ja) | ||
JPH11232685A (ja) | ビーム整形素子およびそれを用いた光ピックアップ | |
JPH02146134A (ja) | 光情報記録再生装置 |