JPH03122281A - Cvd装置 - Google Patents
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- JPH03122281A JPH03122281A JP26139489A JP26139489A JPH03122281A JP H03122281 A JPH03122281 A JP H03122281A JP 26139489 A JP26139489 A JP 26139489A JP 26139489 A JP26139489 A JP 26139489A JP H03122281 A JPH03122281 A JP H03122281A
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Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
なくとも2種類のCVD用ガスを反応室のガス吹出し口
まで別々に導入し、ガス吹出し口の下流で複数種類のガ
スを混合・反応させ、基板上に膜厚等につき均一性の高
い薄膜を形成するようにしたCVD装置に関する。
の微細化や、三次元化が進んでいる。このような半導体
素子の製造においては、段差や起伏の大きいパターン上
に平坦性のある薄膜を形成し、これらの段差及び起伏を
平坦化することが重要となり、そのためいかにして平坦
性の良好な薄膜を形成するかが問題となる。このような
観点から層間絶縁膜としての二酸化ケイ素5in2の平
坦化をどのようなプロセスを用いて行うかについては現
在種々の方法が考えられている。将来非常に有望視され
ている技術に、原料としてテトラ・エトキシ会オルソ・
シリケート(以下、TE01と略して記す)を用いたC
VD法がある。このCVD法の中にも種々のものがあり
、例えばプラズマCVD法、熱CVD法、オゾンO1を
用いたCVD法などがある。この中でオゾン03とTE
01によるCVD法は、より低温(〜400℃)で成膜
可能であるため、下地のAI薄膜の特性を劣化させない
と共に段差等の被膜形状が良好であるという理由から他
の方法に比較して優れている。この方法では、圧力領域
として従来100Tortから大気圧の範囲で成膜が行
われており、成膜速度としては最大3000人/min
程度が得られている。
iO□膜を形成する従来装置の構成例を第10図乃至1
2図に基づいて説明する。
は反応室であり、反応室1内には基板2を取付は且つ基
板2の温度を調整するためヒータ3a等を含む温度調整
機構を備えた基板ホルダ3が設置されている。反応室1
はバルブ4を介して真空ポンプ5に接続されており、反
応室1の室内は真空ポンプ4で排気され、所要の真空状
態に設定される。反応ガスのTE01は常温では液体7
であり、バブラー容器6内に収容される。このように設
けられたTEO57は、アルゴン(A r)ボンベ8か
ら供給されるアルゴンガスによってバブリングされ、反
応室1に導入される。アルゴンボンベ8から供給される
アルゴンガスの流量はマスフローコントローラ9によっ
て制御される。他の反応ガスのオゾンO1は、酸素(0
2)ボンベ10内の酸素をオゾナイザ11に供給し、そ
こで無声放電を生じさせることにより発生させる。ここ
で発生するオゾンO5は、酸素02との混合ガスで、オ
ゾン0.は3〜10%が含まれている。
御され、バブラー容器6と反応室1を接続する配管13
に供給される。この場所で、オゾン0、は気化したTE
01と混合される。混合された2種類のガスは配管13
を通して反応室1に導入され、反応室1の導入口部に設
けられたガス拡散板14で更に混合され且つ整流され、
その後対向する基板2に供給されて基板2の上にSiO
□膜を形成する。この従来装置の特徴はオゾンO3ガス
とTEOSガスを反応室1の導入口手前の配管13の箇
所で混合している点である。
種類のガスを別々に反応室1に導入して基板2の表面に
供給する装置である。基本的構成は第10図で示した構
成と同じであるので、第10図に示した構成要素と同一
の要素には同一の符号を付している。構成上具なる点は
、オゾナイザ11で発生せしめたオゾン03と酸素02
の混合ガスを、配管13に供給して反応室1の手前でT
EOSガスと混合させるのではなく、配管17を経由し
て反応室1の基板2の前面空間に配設された多数の小孔
を有する環状パイプ15に別途に導入し、多数の小孔の
それぞれから矢印16に示されるように基板2に混合ガ
スを吹き付けるように構成した点である。TEOSガス
の方は、第10図に示した装置の場合と同様にアルゴン
ガスでバブリングし配管13及びガス拡散板14を経由
して基板2に供給するように構成されている。
2の従来装置と同様に2種類のガスを別々に反応室1内
に導入して基板2に供給するように構成されている。こ
の従来装置は文献rDENKIKAGAKU 、 56
. No、7 (1988) P527Jに記載されて
いるものであり、この文献にはO9〜TEO8による常
圧CVDの実験結果が示されている。第12図において
、20は基板ホルダ3に取付けられた基板2の前面空間
に配設されたガス吹出し部であり、このガス吹出し部2
0は、複数の分散板20aを有する分散ヘッドとして構
成されている。
の溝21が形成され、TEOSガスのための配管と、オ
ゾンO1と酸素02の混合ガスのための配管は、前記溝
21の底部に交互に接続されている。この構成のため、
2つのガスは基板2の前面で混合され、基板ホルダ3内
の温度調整機構で加熱された基板2上に5in2が堆積
する。生成反応ガスと未反応ガスはガス吹出し部20の
周囲に設けられた排気管22を介して反応室外に排気さ
れる。
おいて2種類のガスを混合するようにしたため基板2に
おける膜質の均一性という観点からは優れており、膜厚
及び膜質に関し均一性の良好な薄膜を容易に得ることが
できる。しかしながら、その反面オゾンO7とTE01
の系では両者を混合しただけでミスト状の反応物が気相
中で発生し、そのために成膜効率が低下し且つパーティ
クルが発生するという欠点がある。
ることな(反応室1に別々に導入する構成を採用してい
るので、第1の従来装置に比較してオゾンO5とTE0
1の気相中での反応を軽減することができる。しかしな
がら、その反面基板2の上で均一性の優れた薄膜を得る
ためにはオゾン03の吹出しを特に均一に行わなければ
ならず、第2の従来技術でこれを実現するには環状パイ
プ15の小孔をどのように配置するかということに依存
するので、かなり困難であるという欠点を有する。
様に気相中におけるオゾン03とTE01との反応を減
少させることができる。しかしながら、その反面膜質等
の均一性という観点では十分良好な膜質を得ることがで
きず、そのため図中矢印23の方向に基板2及び基板ホ
ルダ3を往復運動させて膜質の均一性を確保するように
構成しなければならず、構成が複雑となるという不具合
を有する。
ては、気相中の反応を低減しミスト状反応物を少なくす
る目的で、少なくとも2種類の原料ガスを反応室1に別
々に導入するように構成すると、膜厚及び膜質の均一性
という面で十分に良好な薄膜を形成することができない
という問題が存在した。
なくとも2種類の原料ガスを反応室に別々に導入するよ
うに構成しても、基板の上において膜厚及び膜質の均一
性が極めて良好な薄膜を形成でき、且つ簡素な構造を有
したガス吹出し機構部を備えたCVD装置を提供するこ
とにある。
空間が真空に保たれる反応室と、この反応室に設置され
表面に薄膜が作製される基体と、この基体を保持し且つ
基体の温度を調整する温度調整装置を備える基体ホルダ
と、少なくとも2種類の原料ガスのそれぞれを前記反応
室に導入するために設けられた複数の原料導入装置とを
備えるCVD装置において、基体の前面空間に配設され
且つ基体に対面する原料ガス吹出し面を有するガス吹出
し機構部を備え、このガス吹出し機構部が、複数の原料
ガス導入装置のそれぞれから導入される原料ガスを受け
入れる相互に分離された別々の部屋を有し、原料ガス吹
出し面に前記各部屋に通じる各原料ガス専用の吹出し孔
が複数形成されるように構成される。
、導入される原料ガスは2種類であるとし、ガス吹出し
機構部の原料ガス吹出し面に第1の吹出し孔と第2の吹
出し孔とが同心的に形成されることを特徴とする。
、少なくとも1種類の原料ガスについてそのガス供給配
管をガス吹出し機構部の対応する部屋まで延設し、当該
延設部分を螺旋状に形成し且つ延設部分の壁に原料ガス
を放出する複数の孔を形成したことを特徴とする。
、前記ガス吹出し機構部に温度調整装置を備えることを
特徴とする。
の構造により基板のほぼ手前の位置まで複数の原料ガス
が混合されることなく導入され、基板に対して吹出すま
では気相中の反応を抑制することができ、更にガス吹出
し面において各原料ガスの吹出し孔を適切な配置で多数
設けるようにしたため、基板に形成される薄膜の膜厚及
び膜質の均一性を高めることができる。
の吹出し口が同心状に形成されているため、基板の手前
では複数の原料ガスが良好に混合され、膜厚等の均一性
を向上させる。
管を螺旋状に形成し、且つ原料ガスの放出孔を分散させ
て多数形成することにより、基板に対して偏ることなく
原料ガスが与えられるようにしている。これにより更に
薄膜の膜厚等の均一性を向上せしめる。
。
て、第10図で説明した従来技術によるCVD装置と同
一の要素には同一の符号を付している。第1図において
、反応室1の中には基板2を取付は且つ基板2の温度の
状態を調整するヒータ3aを含む温度調整機構を備えた
基板ホルダ3がその上方位置に配設されている。反応室
1にはバルブ4を介して真空ポンプ5が設けられ、この
真空ポンプ5によって反応室1内は排気され真空状態に
なる。6は液体状態のTEO87を収容するバブラー容
器であり、TEO87はアルゴン(Ar)ボンベ8から
供給され且つマスフローコントローラ(MFC)9によ
ってその流量を制御されるアルゴンガスによってバブリ
ングされ、ガス状態にて配管13を通じて反応室1に導
入される。他の反応ガスであるオゾンO1は、酸素(0
2)ボンベ10の酸素をオゾナイザ11に供給し、ここ
で無声放電により発生させ、酸素との混合ガスとして生
じさせる。混合ガスはマスフローコントローラ(MFC
)12でその流量を制御され、その後、反応室1内のガ
ス吹出し機構部30に導入される。本発明によるCVD
装置の場合には、TEOSガスと混合ガス(オゾン0.
と酸素02)は別々の原料ガス供給配管によって反応室
1内に設置されたガス吹出し機構部30における相互に
分離された部屋に導入される。このガス吹出し機構部3
0は反応室1内において基板2の前面空間に配設されて
いる。
成について説明する。第2図はガス吹出し機構部30を
拡大して示す図である。ガス吹出し機構部30は、底部
31aと段付き穴31bを有する第1の円筒形ブロック
31と、円筒形ブロック31の段付き穴31bの段付き
部に配設される拡散板32と、基板2の前面空間に臨む
複数のパイプ33aを有するガス吹出しパイプ部33と
、第1の円筒形ブロック31における基板2側の端面に
配設されるほぼ同径の第2の円筒形ブロック34と、こ
の円筒形ブロック34の基板2側の端面に配設される拡
散板35とから構成される。拡散板35は、基板2に対
面する位置にあり、導入されたすべての原料ガスがこの
外面位置から放出されるので、ガス吹出し機構部30に
おいて原料ガス吹出し面として機能する。
構部30における円筒形ブロック31の底部31aに接
続され、第1の円筒形ブロック31と拡散板32とガス
吹出しパイプ部33はTEOSガス導入部を構成する。
導入部を構成する。拡散板35は複数の孔35aを有し
ているが、この孔の径は前記ガス吹出しパイプ部33の
各パイプ33aの外径よりも大きく形成されており、且
つパイプ33aの先端が拡散板35の孔35aの中に位
置するように同心的に構成されている。ガス吹出し機構
部30の上面部の一部を斜視図で示すと第3図のように
なる。第3図において、35は混合ガス導入部の拡散板
であり、拡散板35には複数の孔35aが形成されてい
ると共に、この孔35aに対し同心的にガス吹出しパイ
プ部33の各パイプ33aが配置されている。孔35a
の内壁面とパイプ33aとの間には隙間36が形成され
る。孔35aは例えば円孔として形成され、これに対応
してパイプ33aの吹出し口も円形となっている。ただ
し、吹出し口の形状は円形に限定されない。
円筒形ブロック31の底部31aに形成されたガス吹出
し機構部30の第1の導入口37を通ってガス吹出し機
構部30の部屋R1に導入され、拡散板32とガス吹出
しパイプ部33の各パイプ33aにより整流された後に
基板2に対し吹出される。一方、オゾン0.を含む混合
ガスは第2の円筒形ブロック34に設けられたガス吹出
し機構部30の第2の導入口38を通してガス吹出し機
構部30の部屋R2に導入され、拡散板35の孔35a
の内壁とパイプ33aとの間に形成された隙間36から
吹出され、基板2に対し供給される。このような構成に
おいて、第1の円筒形ブロック31の内部に形成された
部屋R1と第2の円筒形ブロック34の内部に形成され
た部屋R2とはガス吹出しパイプ部33の底壁部で完全
に分離され、相互にシールされているので、TEOSガ
スと混合ガスはガス吹出し機構部30の図中拡散板35
の上面から吹出すまでの間に混合されることはない。
た例について説明する。
室1を排気し、所要の真空状態にする。
整機構により発熱させ、基板ホルダ3の上に配設された
基板2を350〜400℃の温度に加熱する。その後、
図示しない恒温槽の如き加熱装置により約65℃の温度
に加熱されたバブラー容器6に対しアルゴンガスをアル
ゴンボンベ8から約100 c c/minの流量で供
給し、バブリングを開始する。このバブリングによりT
E01の気化が促進され、ガス状態のTE01が配管1
3、導入口37、拡散板32を通ってガス吹出しパイプ
部33の各パイプ33aから基板2の前面空間に吹出さ
れる。一方、オゾナイザ11において発生したオゾン濃
度が約4体積パーセントであるオゾンと酸素の混合ガス
はマスフローコントローラ12の作用により約1000
c c/winの流量で配管17を経由してガス吹出
し機構部30の第2の導入口38に導入され、拡散板3
5とパイプ33aとの隙間36から基板2の前面空間に
吹出される。以上により基板2の前面空間でガス吹出し
機構部30の上面部から吹出したTEOSガスと混合ガ
スとが混合され、その結果基板2の上には約2000人
/ m i nの速度でSiO2の膜が堆積する。成膜
中、バルブ4の開度を変化させることにより反応室1内
の圧力を約50Torrに保つようにした。
、ガス吹出し機構部30の径を1.60mm。
、隙間36の隙間幅を0.1mmとした。ここで、隙間
36の寸法を大きくしすぎると、整流効果が薄れるので
あまり大きくすることはできない。
例えば正方格子状に配列されている。
吹出し口の周囲に同心的に設けるようにしたが、その代
わりに周囲以外の別の場所に設けるようにし、ガス吹出
し機構部30の上面においてガスが均一に分布されるよ
うにすることもできる。また、前記第1の実施例では一
箇所のみに設けていた第2の導入口38を円筒径ブロッ
ク34の周囲に等間隔に複数形成することも可能である
。
構部30のみを拡大して示した第2図と同様の図である
。その他の構成は第1図に示した構成と同じであるので
、その説明を省略する。この実施例においても、TEO
Sガスの導入部の構成は同じであり、配管13、円筒形
ブロック31、導入口37、拡散板32、ガス吹出しパ
イプ部33によってTEOSガスは導入される。本実施
例の特徴はオゾンと酸素の混合ガスの導入機構にある。
給用配管17の先部をガス吹出し用の多数のパイプ33
aの間をぬって巻設された螺旋状の配管40として形成
したことにある。この配管40の形状及び配設状態を第
5図に示す。この実施例による巻き方によれば、例えば
周囲から内側に中心に向かって螺旋状に巻いていき、中
心に達したら次には中心から周囲に戻るように巻いてい
る。また第4図に示すように、この配管40には例えば
約20膿の間隔でガス吹出し用の小孔40aが下壁に形
成されている。そのため混合ガスは、配管40の小孔4
0aと、ガス吹出しパイプ部33と拡散板35との間に
形成された隙間36とによって2段階で整流される。混
合ガスの吹出し状態を第4図において矢印41によって
示す。
、且つ吹出し用の配管40を螺旋状に配設するようにし
たため、混合ガスの吹出しの均一性を向上させることが
でき、その結果膜質等の均一性を更に向上させることが
できた。
CVD装置を用いて、前記の第1実施例における場合と
同一の条件によって5in2膜を形成した実験結果を示
し、基板2とガス吹出し機構部30の上面との距離(横
軸)と、成膜速度(縦軸)との関係を示すグラフである
。このグラフには2つの特性A、 Bが示されている
。十印で示された特性Aは第10図で示された従来装置
に基づく特性である。Q印で示された特性Bは第2実施
例のCVD装置で得られたデータである。特性A、Bは
いずれも基板2とガス吹出し機構部30の上面との距離
を増していくと、成膜速度は大きくなり、最大値を示し
た後減少する。しかしながら、特性AとBでは最大値に
差があり、本発明によるCVD装置の最大値の方が従来
のものよりも約30%大きくなっている。このような差
が生じるのは、TEOSガスとオゾンガスとの混合によ
る気相反応が本発明による場合にはかなり軽減され、そ
の分成膜速度が増加したからである。また、膜厚の均一
性については、従来装置によるもの及び本発明の装置に
よるもののいずれも4インチウェハにおいて±5%以内
に収まっていた。従って、2種類の原料ガスを別々に導
入する構成を採用する本発明による装置であっても、薄
膜の均一性について良好な結果を得ることができる。
うな変更を加えることが可能である。前記各実施例では
、拡散板32と35をそれぞれ1枚ずつ設けるようにし
たが、第7図に示すように32A、32B、35A、3
5Bと少なくとも2枚以上、複数配設することも可能で
ある。このようにそれぞれの拡散板を増すと、基板2の
上に形成される薄膜の膜厚等の均一性を高めることがで
きる。TEOSガス用の拡散板32A、32Bは2段の
段部を有する円筒形ブロック31の段付き穴31bに平
行に配設されている。また混合ガス用の拡散板35A、
35Bについては、拡散板35Aの配設位置は前記の拡
散板35と同一であるが、吹出し口の位置をパイプ33
aの周囲ではなくパイプ33aのほぼ中間位置となるよ
うに異ならせている。つまり、ガス吹出し機構部30の
上面においてTEOSガスの吹出し口と混合ガスの吹出
し口とは交互に位置を異ならせて配設されている。一方
、拡散板35Bは、円筒形ブロック34の軸方向の寸法
を大きくすることにより、その軸方向のほぼ中間位置に
配設するようにしている。
しパイプ部33の各パイプが挿通しており、この小孔の
内壁とパイプ33aとの隙間から混合ガスが吹出す。従
って、拡散板35Aと35Bとではガス吹出し口の位置
がずれている。このような構成のため、前記混合ガスを
供給する配管17は円筒形ブロック34において拡散板
35Bの下側に接続され、拡散板35Bの下側に第2の
混合ガス用導入口38が設けられることになる。
実施例を示す。第8図に示すように、混合ガス用配管1
7を第2の円筒形ブロック34の壁部に接続するのでは
なく、TEOSガス用配管13の中に挿通させ、ガス吹
出しパイプ部33の底壁部の中央部に直接的に接続する
ように構成したものである。その他の構成は第2図に示
された構成と同じである。この構成によれば第2のガス
導入口38が中央に位置するので、混合ガスの複数の吹
出し口に対して距離的関係から比較的に均一にガスを吹
出させることができる。
機構部30のみを示した第2図と同様な図である。その
他の構成については第1図に示した構成と同じである。
伝導性の良い銅等の金属部材で形成され、更に円筒形ブ
ロック31の内部にはヒータ50が内蔵されている。ヒ
ータ50に電力を供給する電源及びヒータ50の温度を
調整する温度調整機構は第9図中水されていないが、こ
の温度調整機構によるヒータ50の加熱作用により円筒
形ブロック31と拡散板32は約500℃の温度に加熱
される。また、混合ガス用の拡散板51−は所要の厚み
を有し、その厚みの内部には水路52が設けられている
。この拡散板51に設けられた水路52は、供給管53
及び排水管54と接続されており、供給管53によって
矢印55に示すような方向で温水が供給され、配水管5
4によって矢印56の方向に温水が排出される。
持される。また第2の円筒形ブロック34とガス吹出し
パイプ部33はSiO2やセラミック等の熱伝導性の悪
い材質で構成されている。
ば、導入口37から導入されるTEOSガスはそれ自身
の分解温度近くまで加熱され(約600℃)、そのため
次の段階でオゾンガス七反応しやすい状態に変化する。
有しているので、反対に拡散板51に形成した水路52
に流れる温水によって温度を低減するようにし、これに
よりオゾンガスの分解を抑制するようにしている。
た5j02膜は、上記の膜厚等の均一性が向上するとい
う効果に併せ、特に成膜効率が上昇し、成膜速度を大幅
に向上させることができるという効果が生じる。また前
記温水において約90°Cのものを使用することにより
ガス吹出しパイプ部33におけるTEOSガスの結露を
抑制する効果も生じる。
む混合ガスとによるCVDを例にして説明をしてきたが
、本発明によるガス吹出し機構部を有する装置構成は、
これに限定されるものではなく、複数のガスを用いるそ
の他の薄膜作製装置、例えば熱CVD装置、プラズマC
VD装置等に利用することができる。
な効果が生じる。
ス吹出し機構部の構造により、複数の原料ガスをガス吹
出し機構部に分離した状態で別々に導入し、基板の前面
空間に各原料ガスを吹出させ、その時複数の原料ガスが
適切に混合されるように構成したため、気相中のミスト
状の反応物の発生を抑制できると共に、膜厚及び膜質に
つき均一性の良好な薄膜を作製することができる。
に配設されたガス吹出し機構部の吹出し面に形成される
第1の原料ガス吹出し口と第2の原料ガス吹出し口とを
同心状に形成し、これを多数設けるようにしたため、薄
膜の均一性を更に高めることができる。
の配管を更にガス吹出し機構部内部に延設し、且つ螺旋
状の形状に形成し、基板に対し偏ることなく原料ガスを
供給するようにしたため、基板に形成される薄膜の膜厚
等の均一性が更に向上する。
板の個数を増すようにしたため、整流が十分に行われ、
薄膜形成に当り均一性を高める効果が発揮される。
けるようにしたため、各原料ガスの反応状態を最適なも
のとすることができ、成膜効率を高め、成膜速度を向上
させることができる。
図、第2図は第1実施例のガス吹出し機構部の拡大縦断
面図、第3図はガス吹出し機構部の上面の吹出し面を示
す部分斜視図、第4図はガス吹出し機構部の第2実′施
例を示す縦断面図、第5図は配管の形態を示す平面図、
第6図は本発明によるCVD装置と従来のCVD装置の
能力を比較した特性図、第7図と第8図と第9図は本発
明によるガス吹出し機構部の他の実施例を示す縦断面図
、第10図と第11図と第12図は従来のCVD装置を
示す構成図である。 〔符号の説明〕 1・・・・・・反応室 2・・・・・・基板 3・・・・・・基体ホルダ 5・・・・・・真空ポンプ 6・・・・・・バブラー容器 7・・・・・・液体状TEO3 9,12・・−マス70−コントローラ13.17・・
原料ガス供給用配管 30・・・・・ガス吹出し機構部 31 φ ・ ・ ・ 32 ・ Φ ・ ・ 33 ・ ・ ・ ・ 34 φ ・ ・ 番 35 φ ・ ・ ・ 35a ・ ・ ・ 36 ・ ・ ・ ・ 37.38 ・ 40 ・ ・ ・ ・ 40a ・ ・ φ 32A、 32 51 ・ ・ ・ ・ 52 ・ ・ ・ ・ 50 ・ ・ ・ ・ R1,R2・ 会同筒形ブロック ・拡散板 拳ガス吹出しパイプ部 ・円筒形ブロック ・拡散板 ・孔 ・隙間 ・導入口 ・螺旋状の配管 ・小孔 B、35A、35B ・拡散板 ・拡散板 ・水路 ・ヒータ ・部屋 第1図
Claims (5)
- (1)気密構造を有し内部空間が真空に保たれる反応室
と、この反応室に設置され表面に薄膜が作製される基体
と、この基体を保持し且つ基体の温度を調整する温度調
整装置を備える基体ホルダと、少なくとも2種類の原料
ガスのそれぞれを前記反応室に導入するために設けられ
た複数の原料導入装置とを備えるCVD装置において、
前記基体の前面空間に配設され且つ前記基体に対面する
原料ガス吹出し面を有するガス吹出し機構部を備え、こ
のガス吹出し機構部は、複数の前記原料ガス導入装置の
それぞれから導入される原料ガスを受け入れる相互に分
離された別々の部屋を有し、前記原料ガス吹出し面に前
記各部屋に通じる各原料ガス専用の吹出し孔が複数形成
されることを特徴とするCVD装置。 - (2)請求項1記載のCVD装置において、前記ガス吹
出し機構部に2種類の前記原料ガスが導入され、前記ガ
ス吹出し機構部の前記原料ガス吹出し面に第1の吹出し
孔と第2の吹出し孔を同心的に形成したことを特徴とす
るCVD装置。 - (3)請求項1又は2記載のCVD装置において、少な
くとも1種類の前記原料ガスについてそのガス供給配管
を前記ガス吹出し機構部の部屋内部まで延設し、前記ガ
ス供給配管の延設部分を螺旋状に形成し且つその壁にガ
スを放出する複数の孔を形成したことを特徴とするCV
D装置。 - (4)請求項1乃至3のいずれかに記載のCVD装置に
おいて、前記ガス吹出し機構部における各原料ガス専用
の前記部屋は少なくとも1枚の拡散板を備えることを特
徴とするCVD装置。 - (5)請求項1乃至4のいずれかに記載のCVD装置に
おいて、前記ガス吹出し機構部に温度調整装置を備えた
ことを特徴とするCVD装置。
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