JPH0298647A - Light reflectance measuring device - Google Patents
Light reflectance measuring deviceInfo
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- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
（ａ）発明の技術分野
この発明は、光部品や光ケーブルの接続部分の反射率を
測定する光反射率測定器についてのものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (a) Technical Field of the Invention The present invention relates to an optical reflectance measuring device for measuring the reflectance of optical components and connecting portions of optical cables.
（ｂ）従来技術と問題点
第８図に従来技術による光フアイバ接続点の反射率測定
Ｉ＃成図を示す。(b) Prior Art and Problems FIG. 8 shows an I# diagram for measuring reflectance at an optical fiber connection point according to the prior art.
第９図では、光ファイバ２３・２４の接続部分２３ｂ−
２４ａでの反射率を６１１定する。In FIG. 9, the connecting portion 23b-
The reflectance at 24a is determined as 611.
従来、光ファイバの接続反射率は端面を決められた形状
、例えば球面とか平面に極力正確に加工された五準光フ
ァイバに測定しようとする光ファイバの端面をコネクタ
を用いて接続し、その接続部分の反射率を測定し、ファ
イバ端面の加工品質を判定している。Conventionally, the connection reflectance of an optical fiber is measured by connecting the end face of the optical fiber to be measured using a connector to a five-quasi optical fiber whose end face has been processed into a predetermined shape, such as a spherical or flat surface, as accurately as possible. The process quality of the fiber end face is determined by measuring the reflectance of the part.
第９図では、光源２１の光出力２１ａを方向性結合器２
２のポート２２ａに入れる。In FIG. 9, the optical output 21a of the light source 21 is connected to the directional coupler 2.
2 into port 22a.
方向性結合器２２は、ポート２２ａからの光ヲポート２
２ｂへ出し、ポート２２ｂからの光をポー）２２ｃへ出
す。The directional coupler 22 connects the optical port 2 from the port 22a.
2b, and the light from port 22b is output to port 22c.
方向性結合器２２のポート２２ｂからの光は光ファイバ
２３に入れる。Light from port 22b of directional coupler 22 enters optical fiber 23.
尤ファイバ２３の中を伝播した光は接続部分２３ｂ・２
４ａでその一部が反射し、逆方向に伝播し、先方向性結
合２２により、ポート２２ｃから、光電力３１２Ｂへ導
かれ、反射光量として測定される。The light propagated through the fiber 23 is connected to the connecting portion 23b/2.
A part of the light is reflected by 4a, propagates in the opposite direction, and is guided to optical power 312B from port 22c by forward coupling 22, and is measured as the amount of reflected light.
なお、接続部分２３ｂ、２４ａを通過した光は光ファイ
バ２４を伝播し、端面２４ｂで黒体等に吸収される。Note that the light that has passed through the connecting portions 23b and 24a propagates through the optical fiber 24 and is absorbed by a black body or the like at the end surface 24b.
また、反射量を反射率で表現するために、接続点に入射
する光量を求め、それとの比率を計算する必要がある。Furthermore, in order to express the amount of reflection in terms of reflectance, it is necessary to determine the amount of light incident on the connection point and calculate the ratio to that amount.
接続点への入射光量を求めるためには、第９図では、全
反射処理をほどこした光ファイバ２５を光ファイバ２４
の代わりに端面２５ｂに接続し、反射光量を光電力計２
６で測定する。In order to determine the amount of light incident on the connection point, in FIG.
Instead, it is connected to the end face 25b, and the amount of reflected light is measured by the optical power meter 2.
Measure at 6.
反射率は光ファイバ２４と２５での反射光量の比率で求
めることができる。The reflectance can be determined by the ratio of the amount of light reflected by the optical fibers 24 and 25.
なお、正確な反射率を求める場合は、接続部分の接続ｍ
失、光ファイバ２５の端面２５ｂの反射率をあらかじめ
測定し、補正３ｔｎをする必要があるが、光コネクタの
反射率測定では、実用的には補正は不要である。In addition, if you want to obtain accurate reflectance, please check the connection m of the connection part.
Although it is necessary to measure the reflectance of the end face 25b of the optical fiber 25 in advance and perform correction 3tn, correction is not practically necessary when measuring the reflectance of an optical connector.
問題点
（７）測定できる反射率の最小値が次の要因によって制
限される。Problem (7) The minimum value of reflectance that can be measured is limited by the following factors.
（γ−目方向性結合ＩＡ卓の方向性性能方向性結合器２
２のボート２２ａからの光が、ポート２２ｃにもれるた
め、反射光量の測定に誤差を与える。(Directional performance of γ-eye directional coupling IA console Directional coupler 2
The light from the second boat 22a leaks into the port 22c, giving an error in measuring the amount of reflected light.
（ｒ−２３光フアイバ２３の入射端面２３ａでの反射光
が、方向性結合器２２に入らないよう工夫されているが
、限界がある。(Efforts have been made to prevent the reflected light from the input end face 23a of the R-23 optical fiber 23 from entering the directional coupler 22, but there is a limit.
また、この目的で端面には反射防止絞などの加工費用が
求められる。Further, for this purpose, processing costs such as anti-reflection apertures are required on the end faces.
ｆｒ−：＋） ＩＩ定対象になっている光ファイバ２４
の端面２４． ｂでの光の吸収を実現するためには、特
別な加工（黒体をつけるなど）が必要ある。また、測定
対象が一般の光部品では、端面２４ｂに相当する部分を
加工することが許されていない場合がある。fr-:+) Optical fiber 24 subject to II
end face 24. In order to achieve light absorption at b, special processing (such as adding a black body) is required. Furthermore, if the object to be measured is a general optical component, processing of a portion corresponding to the end surface 24b may not be permitted.
したがって、−面２４ｂでの反射率以下の測定ができな
い。Therefore, it is not possible to measure the reflectance below the − plane 24b.
（（）光の伝播経路の反射の合計を測定するため、？ｙ
数の反射点があったとき、各々を分けてＭ１定できない
。(() to measure the total reflection of the light propagation path, ?y
When there are several reflection points, M1 cannot be determined separately for each one.
（つ）反射位置に関する測定ができない。(1) It is not possible to measure the reflection position.
（Ｃ）発明の目的 この発明は、次の測定をすることを目的とする。(C) Purpose of the invention The purpose of this invention is to perform the following measurements.
（Ｔ）伝播経路上の測定したい部分からの反射光を測定
系で発生する反射光の影響を受けずに測定する。(T) Measure the reflected light from the part to be measured on the propagation path without being affected by the reflected light generated by the measurement system.
測定系で発生する反射とは、方向性結合器のもれ光、基
準光ファイバ２３の入射端面２３ａの反射光、測定対象
の出力側の端面２４Ｂからの反射光などである。The reflections generated in the measurement system include leakage light from the directional coupler, reflected light from the input end face 23a of the reference optical fiber 23, reflected light from the output end face 24B of the measurement target, and the like.
（イ）反射による微弱なパルス光の測定波形に擬似波形
を最小２乗法で近似する方法により、反射値ｉ！（時間
的値ｉりと反射量（振Ｖａ＞を正確に求める。(b) Reflection value i! (Accurately determine the temporal value i and the amount of reflection (vibration Va).
（ｄ）発明の実施例 次に、この発明による実施例の構成図を第１図に示す。(d) Examples of the invention Next, a block diagram of an embodiment according to the present invention is shown in FIG.
光源１はパルス光源で、半値幅で数１Ｏｐｓのパルス光
を光出力１ａから出す。The light source 1 is a pulsed light source, and emits pulsed light with a half-width of several 1 Ops from an optical output 1a.
また、光源１は波形側定器５のトリガ信号をトリガ出力
端子ｌｂから出す。Further, the light source 1 outputs a trigger signal for the waveform side regulator 5 from the trigger output terminal lb.
パルス光は、方向性結合器２のボー）２ａがらボー）２
ｂへ通過し、光ファイバ３へ入れ１反射率を測定しよう
とする接続部分３ｂ、４ａを通って、光ファイバ４を伝
播し、出射端面４ｂがら空間へ放射される。The pulsed light is transmitted from the baud) 2a of the directional coupler 2 to the baud) 2
b, enters the optical fiber 3, passes through the connecting portions 3b and 4a whose reflectance is to be measured, propagates through the optical fiber 4, and is emitted into space from the output end face 4b.
一方、光ファイバ３の入射端面３ａｎ接ｋＪｅ部分３ｂ
、４ａおよび光ファイバ４の出射端面４ｂから、それぞ
れ反射光が発生し、光源１がらの光２は逆方向に伝播し
、方向性結合′ａ２のボー）２ｂからボー）２ｃへ進み
、波形側定器５に入る。On the other hand, the input end surface 3an of the optical fiber 3 and the contact portion 3b
, 4a and the output end face 4b of the optical fiber 4, reflected light is generated, and the light 2 from the light source 1 propagates in the opposite direction and proceeds from baud) 2b to baud) 2c of the directional coupling 'a2, and the waveform side Enter the meter 5.
波形側定器５は、入射した光信号をホトダイオード等を
用いて、電気信号に変換してサンプリング方式のオンロ
スコープで測定する方式のものの他、光オシロスコープ
などがある。The waveform side measuring device 5 may be one that converts an incident optical signal into an electrical signal using a photodiode or the like and measures it with a sampling type onroscope, or an optical oscilloscope.
端子５ｂはトリが入力端子である。The terminal 5b is an input terminal.
第２図は第１図の波形図であり、第２図アは光源１から
出る波形を示し、第２イは方向性器２を１って、波形側
定器５に入る反射光の波形を示す。FIG. 2 is a waveform diagram of FIG. 1, and FIG. 2A shows the waveform emitted from the light source 1, and FIG. show.
Ｍ形イのパルス５１は、光ファイバ３の入射端而３ａか
らの反射光で、波形アからの時間ＴＯは光源１からの光
が％ １ａ→２ａ→２ｂ−ｅ３ ａ→２ｂ→２Ｃ→５ａ
まで伝播に要した時間に相当する。The M-shaped pulse 51 is reflected light from the input end 3a of the optical fiber 3, and the time TO from waveform A is as follows: 1a→2a→2b-e3 a→2b→2C→5a
This corresponds to the time required for propagation.
そして、接続部３ｂｓ４ａからの反射光は、波形５１か
ら光ファイバ３を光が往復するに要する時間Ｔ１経過し
た後に波形５２として測定される。Then, the reflected light from the connecting portion 3bs4a is measured as a waveform 52 after the time T1 required for the light to travel back and forth through the optical fiber 3 from the waveform 51 has elapsed.
さらに光ファイバ４を光が往復する時間Ｔ２を経過する
と出射端面４ｂで光ファイバ４と空間の屈折率の違いに
よって、発生する反射光が波形５３として測定される。Furthermore, after the time T2 for the light to travel back and forth through the optical fiber 4, reflected light generated at the output end face 4b is measured as a waveform 53 due to the difference in refractive index between the optical fiber 4 and the space.
また、反射率を計算するための入射光量の測定は従来技
術で説明したように、一端７ｂに全反射処理をほどこし
た光ファイバ７を光フアイバ４０代わりに接続すること
により、入射光量に相当した振幅をもった光波形を波形
５３として測定できる。In addition, as explained in the prior art, the amount of incident light for calculating the reflectance is measured by connecting the optical fiber 7, which has been subjected to total internal reflection at one end 7b, instead of the optical fiber 40, to measure the amount of incident light equivalent to the amount of incident light. An optical waveform with amplitude can be measured as a waveform 53.
なお、光ファイバ４と光ファイバ７の長さが異なる場合
は波形の位置は変化する。Note that when the lengths of the optical fibers 4 and 7 are different, the position of the waveform changes.
実際の測定では、光ファイバ４の出射端面４ｂには、吸
収体付きの光ファイバを接続し、過大な反射光が波形測
定器５に入ることによる飽和現象をさけるが、吸収体か
ら反射が測定値に影響を与えることはない。In actual measurements, an optical fiber with an absorber is connected to the output end face 4b of the optical fiber 4 to avoid saturation caused by excessive reflected light entering the waveform measuring device 5, but the reflection from the absorber is measured. It does not affect the value.
このように、測定したい部分からの反射光と他の部分か
らの反射光とを区別して測定することができる。In this way, the reflected light from the part to be measured and the reflected light from other parts can be distinguished and measured.
反射部分の分離能力は、光１１１から出るパルス光の時
間幅と波形測定器の立ち上がり、立ち下がり時間で決ま
る。The separation ability of the reflective portion is determined by the time width of the pulsed light emitted from the light 111 and the rise and fall times of the waveform measuring device.
例えば、反射部分の間隔で約１ ｃｍを分離しようとす
れば、波形測定器５で測定される波形間隔は１ ｃｍを
光が往復するに要する時間に相当する約１００ｐｓとな
り、少なくとも、光源１からのパルス光の時間幅は５０
ｐｓ以下が求められる。For example, if we try to separate the reflective parts by approximately 1 cm, the waveform interval measured by the waveform measuring device 5 will be approximately 100 ps, which corresponds to the time required for light to travel 1 cm back and forth, and at least The time width of the pulsed light is 50
ps or less is required.
第３図は、光源ｌの実施例回路図を示す。FIG. 3 shows an exemplary circuit diagram of the light source I. FIG.
光パルスの周期を決める発振器１１の出力を増幅器１２
を通して、ステップリカバリダイオードにより、短パル
スを発生するＣＯＭＢジェネレータ１３を駆動し、レー
ザダイオード１４を発光させることにより、３０〜８０
ＰＳのパルス光を発生できる。The output of the oscillator 11, which determines the period of the optical pulse, is transmitted to the amplifier 12.
The step recovery diode drives the COMB generator 13 that generates short pulses, causing the laser diode 14 to emit light.
Can generate PS pulsed light.
しかし、多くの場合、測定しようとする反射率は１／１
０００以下を対象にする場合が多く、反射光の強度は極
めてａｉ＄ｉである。However, in many cases, the reflectance to be measured is 1/1
000 or less, and the intensity of the reflected light is extremely ai$i.
このため、波形測定器５でＭ１定される反射光の波形は
波形測定器５の入力部が発生する雑音の影響を受け、そ
の時間的位置や、振幅を正確に測定するためには、波形
測定器５の平均化機能を使ってランダムｔ１Ｍを軽減し
ている。Therefore, the waveform of the reflected light determined by M1 in the waveform measuring device 5 is affected by the noise generated by the input section of the waveform measuring device 5, and in order to accurately measure its temporal position and amplitude, the waveform The averaging function of the measuring device 5 is used to reduce random t1M.
しかし、平均化の回数は測定時間との関係で実用上の限
界がある。However, there is a practical limit to the number of times of averaging due to the measurement time.
測定時間２０秒で反射率的３／１０００、変動１０％が
一例である。For example, the measurement time is 20 seconds, the reflectance is 3/1000, and the fluctuation is 10%.
この場合、反射光の波形のほぼ中央の１点のデータから
振幅を測定しているため、そのｉｌｌ後の波形データは
活用されていない。In this case, since the amplitude is measured from data at one point approximately in the center of the waveform of the reflected light, the waveform data after illumination is not utilized.
この発明では、波形全体のデータを使うて、最小２乗法
により、擬似波形の定数を求め、その値から反射率や反
射位置を求める方式をとっている。In this invention, a method is adopted in which constants of the pseudo waveform are determined by the least squares method using data of the entire waveform, and the reflectance and reflection position are determined from the constants.
擬似波形としては、光源１が出すパルス光の波形に近い
もので、最小２乗法の計算処理時間に問題のないものが
望ましい。The pseudo waveform is preferably one that is close to the waveform of the pulsed light emitted by the light source 1 and that does not cause problems in the calculation processing time of the least squares method.
実施例では擬似波形として、ガウス関数を適用している
。In the embodiment, a Gaussian function is applied as the pseudo waveform.
なお、パルス光の波形と擬似波形とに多少の差はあって
も、入射光と反射光の波形が、同一の擬似波形によって
評価されるため、波形差による誤差は打ｔ１１される。Note that even if there is some difference between the waveform of the pulsed light and the pseudo-waveform, the waveforms of the incident light and the reflected light are evaluated using the same pseudo-waveform, so the error due to the waveform difference is eliminated t11.
これらの計算処理によって、得られる測定値の変動ｍは
、波形上の１点のデータを使う方式と、波形全体量か約
１／Ｈになることが知られている。It is known that the variation m of the measured value obtained by these calculation processes is approximately 1/H of the entire waveform amount compared to the method using data at one point on the waveform.
第１図の実施例では、この最小２乗法による演算処理を
ＣＰＵシステム６．８Ａ−８０で行う。In the embodiment shown in FIG. 1, the arithmetic processing using the method of least squares is performed by the CPU system 6.8A-80.
６はＣＰＬＪでＩ １０ｖ４御部θＡを制御し、波形測
定器５からの波形データを取り込み、メモリ計６Ｂに記
憶する。Reference numeral 6 controls the I10v4 control unit θA with the CPLJ, takes in waveform data from the waveform measuring device 5, and stores it in the memory total 6B.
また、演算処理のプログラムはメモリ６Ｃに格納されて
おり、この内容をＣＰＵθが読み取り演算を実行し、結
果を入出力表示部θＤに表示する。Further, a calculation processing program is stored in the memory 6C, and the CPU θ reads the contents and executes the calculation, and displays the results on the input/output display section θD.
演算処理プログラムのフローチャートを第４図に示す。A flowchart of the arithmetic processing program is shown in FIG.
なお、距離の計算は、各々反射光波形に対する擬似波形
の中心時間値の差を伝播距離に換算し、その１／２が距
離となる。Note that the distance is calculated by converting the difference in center time value of the pseudo waveform with respect to each reflected light waveform into a propagation distance, and 1/2 of the difference becomes the distance.
また、基準は任意の反射光の間で求めることができる。Also, the reference can be determined between arbitrary reflected lights.
次に最小２乗法による擬似波形の中心時間値と振幅の計
算方法を説明する。Next, a method of calculating the center time value and amplitude of a pseudo waveform using the least squares method will be explained.
第５図は擬似波形として使用するガウス関数波形を示す
。FIG. 5 shows a Gaussian function waveform used as a pseudo waveform.
Ｐｏは版幅、Ｃｏは中心時間値、ａは標準偏差である。Po is the plate width, Co is the central time value, and a is the standard deviation.
この波形は■式で表される。This waveform is expressed by the formula (■).
Ｐ（ｔ） ＝ Ｐｏ ａｘｐ ［−二り手ヱー］・・・
・・・・・・■２ぜ
■式は、指数関数であるため、最小２乗線形テーラ敵分
補正方法が適当である。P(t) = Po axp [-two hands]...
Since the equation (2) is an exponential function, the least squares linear Taylor correction method is appropriate.
■式を変形し、
Ｐ （ｔ ） ＝ Ｐ ｏ ａｘｐ（−壬） ＊ ｅｘ
ｐ（−９Ｊ−）＠ ｅｘｐ（妻を］
ＣＯ＝ ｐ６ ｅｘｐ（−嘉）
””−？ｅ
Ｃ２＝÷
とおくと、
Ｐ （ｔ ） ＝ Ｃｏｅｂｔ”＋ｔ、（・・・町・・
・・・・・・・・・・・・ ・・・・・・・・・■と表
すことができる。■Transform the formula, P (t) = P o axp(-壬) * ex
p(-9J-) @ exp(wife) CO= p6 exp(-ka) ""-?e C2=÷ Then, P(t) = Coebt"+t, (...town...
・・・・・・・・・・・・ ・・・・・・・・・■
次に第６図は、反射光波形の測定波形を示す。Next, FIG. 6 shows the measured waveform of the reflected light waveform.
Ｅは、振幅、【は時間を示し、全体でＮ個のデータで構
成されている。E represents amplitude, [ represents time, and is composed of N pieces of data in total.
Ｎ個のデータを０式に適用して、正規化方程式を作ると
０式になる。Applying N pieces of data to Equation 0 to create a normalization equation results in Equation 0.
■
ここに、δＣｋ（δＣＯ１δＣ１，δＣ２）は、パラメ
ータＣ１ｌ （Ｃｏ、ＣＩ 、Ｃ２）を得るために必要
な初期値に対する変化量であり、
６Ｃｋ ＝Ｃｋ −Ｃビ・・・・・・・・・・・・ ・
・・ ・・・・・・・・・ ■である。■Here, δCk (δCO1δC1, δC2) is the amount of change from the initial value required to obtain the parameter C1l (Co, CI, C2), and 6Ck = Ck - Cbi...・・・ ・
・・・・・・・・・・・・■.
Ｒ１は、ｔＩにおける関数値と測定値の誤差である。R1 is the error between the function value and the measured value at tI.
初期値Ｃ１は、第６図から容易に求めることができ、０
式の方程式より、求めたδＣｋを加算することにより、
新たに更新されたＣｋを求めることができる。The initial value C1 can be easily obtained from FIG.
By adding the calculated δCk from the equation of Eq.
A newly updated Ck can be obtained.
０式より、
Ｃ１ｋ＝Ｃ： ＋δＣｋ
ｃ１１＝ｃｉ ＋δＣｋ
Ｃｋ＝Ｃ，＋δＣｋ
補正増加分δＣｋが極めて小さくなった時点で、０式の
方程式の反復計算を中止し、
ＣＯ（ＣｂｌＣｒ、Ｃ２）を求める。From Equation 0, C1k=C: +δCk c11=ci +δCk Ck=C, +δCk When the correction increment δCk becomes extremely small, the iterative calculation of the equation of Equation 0 is stopped and CO(CblCr, C2) is obtained.
とのＣｂ、ＣＩ、Ｃ２より、■式のパラメータが ａ
＝ｆｆｉ 、 ｔｏ＝ｃ２ａ”Ｐ ｏ ＝ Ｃｏ ／
ａｒｐ（−７％’ｒ ）と求まる。From Cb, CI, and C2, the parameters of formula ■ are a
=ffi, to=c2a”P o = Co/
It is found as arp(-7%'r).
第７図は測定波形と最小２乗線形テーラ微分補正法によ
って、近似したがウス１５４数波形の関係を）ＩＣＬ
／二ものである。Figure 7 shows the relationship between the measured waveform and the least squares linear Taylor differential correction method (ICL).
/ There are two things.
次に、第１図により測定した伝送路長データと反射率測
定データを第８図に示す。Next, FIG. 8 shows the transmission path length data and reflectance measurement data measured in FIG. 1.
ｔｅ１発明の効果 この発明によれば、次のような効果がある。Effects of te1 invention According to this invention, there are the following effects.
（７）測定系の系で発生する反射光によって、測定限界
が決まらないことかる、安価な光学部品が使える。(7) Cheap optical components can be used since the measurement limits are not determined by reflected light generated in the measurement system.
（イ）光スイフチなどのように、入射側、出射側とも光
コネクタをもった光部品について、出射側に簡易な吸収
体をもった光ファイバを接続することにより、彼測定物
を加］ニすることなしに測定できる。(b) For optical components that have optical connectors on both the input side and the output side, such as an optical switch, by connecting an optical fiber with a simple absorber on the output side, the object to be measured can be modified. It can be measured without having to do anything.
（つ）最小２乗法により、擬似波形に近似するため、波
形測定器で発生する雑音の影響かや４減されるため、波
形測定器での平均化回数が少な（てすみ、測定時間が短
縮できる。(1) Since the least squares method approximates the pseudo waveform, the influence of noise generated by the waveform measuring device is reduced by 4, so the number of times of averaging with the waveform measuring device is reduced. can.
第１図はこの発明による実施例の構成図、第２図は第１
図の光源１の出力波形と波形測定器５に入る反射光の波
形を示す図、第３図は光源ｌの実施例回路図、第４図は
演算処理プログラムのフローチャート、第５図は疑似波
形として使用するガウス関数波形図、第６図は反射光波
形の測定波形図、第７図は反射光波形と補正増加分の関
係説明図、７８図は第１図により測定した伝送路長デー
タと反射率ｄ定データを示す図、Ｍ９図は従来技術によ
る光フアイバ接続点の反射率量定構成図である。
１・・・・・・光源、２・・・・・・方向性結合器、３
・・・・・・光ファイバ、４・・・・・・光ファイバ、
５・・・・・・波形測定ム、８・・・・・・ＣＰＵシス
テム、６ａ・・・・・・Ｉ１０制御部、６ｂ・・・・・
・メモリ、８ｃ・・・・・・メモリ、８ｄ・・・・・・
入出力表示部、７・・・・・・光ファイバ。
代理人 弁理士 小 俣 欽 司
第
図
第
図
第
ｔ。
第
第
図
図
図
第
図FIG. 1 is a configuration diagram of an embodiment according to the present invention, and FIG.
A diagram showing the output waveform of the light source 1 and the waveform of the reflected light entering the waveform measuring device 5, FIG. 3 is an example circuit diagram of the light source I, FIG. 4 is a flowchart of the arithmetic processing program, and FIG. 5 is a pseudo waveform. Figure 6 is a diagram of the measured waveform of the reflected light waveform, Figure 7 is an explanatory diagram of the relationship between the reflected light waveform and the correction increment, and Figure 78 is the transmission path length data measured using Figure 1. FIG. M9, which is a diagram showing reflectance d-constant data, is a configuration diagram for determining reflectance at an optical fiber connection point according to the prior art. 1... Light source, 2... Directional coupler, 3
......optical fiber, 4......optical fiber,
5...Waveform measurement unit, 8...CPU system, 6a...I10 control unit, 6b...
・Memory, 8c...Memory, 8d...
Input/output display section, 7... Optical fiber. Agent Patent Attorney Kin Tsukasa Komata Figure t. Figure Figure Figure Figure
Claims (1)
定物（４）からの反射光を取り出す方向性結合器（２）
と、 方向性結合器（２）の出力を入力とする波形測定器（５
）とを備え、 擬似波形の関数として、最小２乗法により、擬似波形の
中心時間値と擬似波形の中心振幅を求めることを特徴と
する光反射率測定器。[Claims] 1. Directional coupling in which pulsed light for measurement (1) and light from a light source (1) are input, and reflected light from a reference optical fiber (3) and an object to be measured (4) is extracted. Vessel (2)
and a waveform measuring device (5) whose input is the output of the directional coupler (2).
), a light reflectance measuring instrument characterized in that, as a function of the pseudo waveform, a center time value of the pseudo waveform and a center amplitude of the pseudo waveform are determined by the method of least squares.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25068188A JPH0298647A (en) | 1988-10-04 | 1988-10-04 | Light reflectance measuring device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25068188A JPH0298647A (en) | 1988-10-04 | 1988-10-04 | Light reflectance measuring device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0298647A true JPH0298647A (en) | 1990-04-11 |
Family
ID=17211462
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25068188A Pending JPH0298647A (en) | 1988-10-04 | 1988-10-04 | Light reflectance measuring device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0298647A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0798415A (en) * | 1993-04-08 | 1995-04-11 | Koninkl Ptt Nederland Nv | Optical circuit of measuring system for measuring reflection sensitivity of light transmitting system |
| FR2720162A1 (en) * | 1993-05-21 | 1995-11-24 | Tektronix Inc | Characterising event in waveform of acquired digital data where event has known shape |
-
1988
- 1988-10-04 JP JP25068188A patent/JPH0298647A/en active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0798415A (en) * | 1993-04-08 | 1995-04-11 | Koninkl Ptt Nederland Nv | Optical circuit of measuring system for measuring reflection sensitivity of light transmitting system |
| FR2720162A1 (en) * | 1993-05-21 | 1995-11-24 | Tektronix Inc | Characterising event in waveform of acquired digital data where event has known shape |
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