JPH0290A - 液晶表示体プローブ装置及び液晶表示体の位置合わせ方法 - Google Patents

液晶表示体プローブ装置及び液晶表示体の位置合わせ方法

Info

Publication number
JPH0290A
JPH0290A JP63245546A JP24554688A JPH0290A JP H0290 A JPH0290 A JP H0290A JP 63245546 A JP63245546 A JP 63245546A JP 24554688 A JP24554688 A JP 24554688A JP H0290 A JPH0290 A JP H0290A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lcd
crystal display
liquid crystal
probe needle
chuck
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP63245546A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0817194B2 (ja
Inventor
Toshiaki Akasaka
赤坂 趣明
Yoshihiko Nakamura
芳彦 中村
Kazuhiko Koshimizu
興水 一彦
Wataru Mochizuki
渉 望月
Toshio Miyazawa
宮沢 俊男
Hiroshi Suzuki
博 鈴木
Tetsuji Watanabe
哲治 渡辺
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Electron Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Electron Ltd filed Critical Tokyo Electron Ltd
Priority to JP63245546A priority Critical patent/JPH0817194B2/ja
Publication of JPH0290A publication Critical patent/JPH0290A/ja
Publication of JPH0817194B2 publication Critical patent/JPH0817194B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Liquid Crystal Display Device Control (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は液晶表示体プローブ装置及び液晶表示体の位置
合わせ方法に関する。
(従来の技術) プローブ装置は、特開昭62−3901号公報、及び特
開昭62−55977号公報等に記載されている。これ
らのプローブ装置は、半導体ウェハに形成された個々の
デバイスパターンの電気的特性を検査するために発達し
た装置である。
近年、テレビ画面用の大型液晶基板(LiquidCr
ystal Display :以下LCDと略記する
。)の需要が増大し、多数の回路を有するLCDを迅速
確実に検査する必要を生じている。このLCDの回路検
査は、ガラス容器内に液晶を注入する前に実施される。
すなわち、電極が形成された1対のガラス基板をスペー
サを介して平行に設けて容器とし、ガラス容器の段階で
回路テストを実施し、テスト完了後にガラス容器内に液
晶を注入する。
このような大型LCDの回路テストのニーズに応えるた
めに、半導体ウェハ用のプローブ装置にヒントを得て、
LCD用のプローブ装置が開発実用化されている。
このようなLSD用プローブ装置においては。
−枚のLCDを支持台上面に設けられた回転自在なメイ
ンチャック上に載置し、その透明電極のそれぞれにプロ
ーブ針(probe)を接触させ、プローブ針を介して
回路に通電し、断線の有無を検査する。このLCDテス
トにおいては、不良デバイスを中間段階で振り落とすこ
と、及びテスト結果を前工程にフィードバックして製品
の歩留り及び信頼性の向上を図ることを目的としている
このようなLCDテストシステムは、基本的にLCDブ
ロービングマシン(以下LCDプローブ装置と称する)
及びテスタの二つの装置で構成されている。両者はメジ
ャリングラインにより接続され、プローブカードのプロ
ーブをLCDの電極にそれぞれ接触させ、テストコント
ロールラインのテスト・スタート指令に対してテストコ
ンプリート信号及びフェイル信号等が検査部及びテスタ
の間で相互にやりとりされるようになっている。
ところで、テストを実施するにあたり、プローブ針のそ
れぞれをLCDの各電極に正確に接触させることが肝要
である。このため、テスト前において、チャック上のL
CDをプローブカードのプローブ針に対して予め正確に
位置合わせしておかなければならない、この場合に、半
導体ウェハ用プローブ装置においては、金属電極(ポン
ディングパッド)が半導体ウェハの各デバイスパターン
に形成されているので、パッドに光を照射し、パッドに
より反射された光を検゛出する。しかしながら、LCD
プローブ装置においては、電極が透明体でできているた
めに、電極を光学的に検出することができない、このた
め、光を反射し得るターゲットをLCDの適所にマーキ
ングし、これに光を照射してLCD位置を検出する。す
なわち、二つのアライメントマークを所定距離りだけ相
互に離隔して付し、これらのマーク位置をそれぞれ検出
する。そして、検出された二つのマーク位置に基づきL
CD電極がプローブ針に重り合うようにLCD位置を補
正する。このようなLCDとプローブ針との位置合わせ
には、アライメント装置が使用される。
従来のLCDブロービングマシンのアライメント装置は
第18図に示すように、LCDのを吸着保持するための
メインチャック(以下、チャックと略記する)■と、こ
のチャック■をXY及びθ方向に移動させるステージ(
図示せず)と、チャック■上のLCD中に光を照射する
ための光源■と、LCD(1)に反射された反射光(4
a)を検出するセンサ■と、を有している。
従来のアライメント装置によりLCD中を位置検出し、
これに基づきLCDのを位置合わせする場合について第
19図を参照しながら説明する。
上記LCD(υの中心がセンサ0の中心(0に位置する
ようにr、 CD (1)をチャック■に載置する。次
いで、第19図(b)に示すように、チャック■を右方
に移動し、LCD中の第1のアライメントマーク■をセ
ンサ■の中心0のところに位置させ、マーク■に光を投
射し、この反射光センサ■で検出する1次いで、チャッ
ク■を右方に移動し、LCD中の第2のアライメントマ
ーク■をセンサ■の中心0のところに位置させ、マーク
(へ)に光を投射し、この反射光をセンサ■で検出する
。マーク(7,8)の検出位置からLCD中の現在位置
を把握すると、XYθステージによりLCD中をチャッ
ク■と共に移動させ、LCDQの電極をプローブ針にX
Y面において互いに重なり合うように位置補正する。L
CDω位置を補正した後に、プローブカードをZ方向に
移動して各プローブ針をLCDQの各電極に接触させ、
電気的特性テストを実行する。
(発明が解決しようとする課題) しかしながら、従来のプローブ装置のアライメント装置
゛においては、LCDQのガラス容器が透明体であるこ
とから、照射光(イ)がガラス容器の表面にて全反射さ
れず、第18図に示すように、照射光に)の一部がLC
DQのガラス板を透過し、これがガラス板の裏面(チャ
ック側の而)にて反射し、反射光(4b)がセンサ■で
検出される。このため、正しい反射光(4a)と正しく
ない反射光(4b)とが同時に検出されてしまい、LC
DQの位置検出精度が低下するので、LCD装置をプロ
ーブ針に対して正確に位置決めすることができない。
また、従来のアライメント装置においては、先ず第1の
マーク■を検出し1次に第2のマーク(8)を検出する
ので、迅速に位置検出することができない。更に、LC
DQ)をチャック■と共に、第1のマーク■から第2の
マーク(8)までの距離だけ移動させるので、LCDQ
の移動用スペースを装置に設ける必要があり、プローブ
装置が大型化するという欠点がある。
また、特開昭58−210633号公報には、複数個の
発光部と受光素子とを被検体の両側に設け、受光素子の
光量差に基づいて被検体を位置合わせする方法が開示さ
れている。
しかしながら、上記の位置合わせ方法では、大型LCD
■の全周縁エツジ位置のデータ取りを行うために多大な
処理時間を必要とする欠点がある。
本発明の目的は、LCD(ト)をプローブ針に対して確
実に位置合わせすることができる液晶表示体プローブ装
置を提供することにある。
この発明のもう一つの目的は、アライメント装置を小型
化することにより、全体としてコンパクトな液晶表示体
プローブ装置を提供することにある。
更に、この発明の目的は1位置合わせ時のデータ取りの
時間を短縮し、短い処理時間で位置合わせを行う液晶表
示***置合わせ方法を提供することにある。
〔発明の構成〕
(課題を解決するための手段) 本発明はプローブ針をLCDの電極に接触させてテスタ
にテスト信号を送る検査部と、識別マークが付されたL
CDをプローブ針に対面するように保持するチャックと
、チャックに保持されたLCDに光を投射する手段と、
LCDにより反射される反射光から識別マークを検出す
る手段と、識別マークの検出信号に基づきLCDとプロ
ーブ針との相対位置を読取り、LCDの電極とプローブ
針との不一致を補正するに必要なLCDの移動量を求め
る位置認識手段と、算出された移動量に基づきチャック
を移動させ、プローブ針がLCDの電極に一致するよう
にLCDをプローブ針に対して位置合わせする手段とを
有し、上記チャックは、LCDを保持するための面が光
を吸収し易く、かつ光を反射し叢い状態に加工されてお
り、上記反射光検出手段は、個別に画像を形成するよう
に構成された複数の画像形成手段を有し、上記位置認識
手段は、それぞれの画像に基づきLCDの電極とプロー
ブ針との不一致を個別に判別する判別手段を有している
(作用効果) 液晶表示体の電極と、プローブ針との位置を認識し、上
記液晶表示体の電極と、上記プローブ針との不一致移動
量を個別に判別する判別手段を設けたので、位置合わせ
するに際し、上記プローブ針に対する上記液晶表示体の
移動量が少なくさせることができ、装置を小型化させる
ことができる。
さらに、上記液晶表示体の位置ずれ量を、液晶表示体の
少なくとも2ケ所で求めるので1位置合わせのデータ取
りの時間を短縮し、短い処理時間で位置合わせを行うこ
とができる。
(第1実施例) 以下、この発明装置及び方法をLCDプローバに用いて
一実施例を図面を参照しながら説明する。
LCDをテストするためのLCDプローバが防振部材を
介して床上に設置されている。LCDプローバの上部に
は、プローブ針を有する検査部が設けられ、この検査部
がメジャリングライン(図示せず)を介してテスタ(図
示せず)に電気的に接続されている。
先ずLCDプローバ0)の主要部は第1図に示すように
、カセットからL CD (10)を抜取り搬送するた
めのローダ部(11)と、LCDプローバ■を稼働させ
る種々の指令情報を操作入力するためのキーボード(9
a)と、L CD (10)をxYO方向に移動するた
めのアライメント装置(12)と、位置合わせされたL
 CD (10)の電極にプローブ針(13)を接触さ
せて検査するための検査部(14)と、必要なときにL
 CD (10)の位置合わせ状態をマニュアル操作に
よりamするためのマイクロスコープ(15)により構
成されている。
プリアライメント族!(12)は、XY面すなわち水面
内でLCDの受取り位置から検査部(14)の中心(1
4a)まで移動するように設けられている。上記アライ
メント装置1i(12)は、L CD (10)を保持
するメインチャック(以下、チャックと略記する)と、
チャックを支持するXYθ−ステージと、XYθ−ステ
ージをそれぞれX方向、Y方向、θ回転させる手段(図
示せず)と、LCDの位置を検出するための手段と、を
有している。
次に、第2図及び第3図を参照しながら、アライメント
装置W(12)のチャック(16)について概略説明す
る。
上記チャック(16)は円筒状をなし、同心円状の複数
の溝(16a)がチャック上面にて開口している。
これらの溝(16a)は真空ポンプ(図示せず)の吸引
側に連通されており、L CD (10)がチャック(
16)の上面に真空吸着されるようになっている。
このチャック(16)は、ステンレス鋼等の金属材料で
つくられており、その上面(すなわちLCDを載置する
載置面)が無電解めっきにより低反射率に加工されてい
る。
上記チャック(16)の熱電解めっき処理は、下記条件
による。
被処理面(チャック上面)をアルミブラスト#100〜
#150でホーニングし、粗さ[RzlO]〜[13u
l(L25m)程度に仕上げる。めっき処理液の化学還
元剤として次亜リン酸塩類、水素化ホウ系化合物又はヒ
ドラジン化合物のいずれを使用してもよい。
このようなめっき処理液に被処理面を浸漬し、通電する
ことなく、温度[906±2″]で約[60]分間処理
する。この結果、被処理面に厚さ[20μ]の[ニッケ
ル]の金属層が形成される。
次に、LCD位置検出装置の概要を第4図を用いて説明
する。
CCDカメラ(17)のファインダが、チャック(16
)の上面と対面するように設けられている。CCDカメ
ラ(17)とチャック(16)との間には半透明(18
)が配設され、光源(19)による側方からの照射(2
0)を半透明鏡(18)で下方へ反射し、チャック(1
6)上のL CD (10)に光を照射するようになっ
ている。照射光(20)はL CD (10)により反
射され、反射光(20a)がCCDカメラ(17)によ
り検出されるようになっている。
次に、初めの実施例のアライメント装置を第5図を用い
て説明する。
上記アライメント装置の主要部は、検出部としてのCC
Dカメラ(17)と、認識制御部としてのコンピュータ
システム(21)と、により構成されている。CCDカ
メラ(17)は、その中心(17a)を原点として左右
対称に配列された第1の撮像素子(22)及び第2の撮
像素子(23)を内蔵している。これら1対の撮像素子
(22,23)の撮像面は、L CD (10)の表面
と対面している。CCDカメラ(17)の中心(17a
)と、検査部の中心(14a) (第1図参照)とは互
いに一致している。この場合、プリアライメント装置(
図示せず)により、L CD (10)の中心が検査部
の中心(14a)の近傍に位置するように、LCD (
10)がチャック(16)上に予め載置されている。
CCDカメラ(17)の撮像素子(22,23)は、認
識制御部としてのコンピュータシステム(21)の判別
回路(24,25)の入力側にそれぞれ接続され、てい
る。
この判別回路(24)においては、撮像素子(22)か
ら入力された画像信号と所定のスレショルドレベルとを
比較するようになっている。同様に、判別回路(25)
においては、撮像素子(23)から入力された画像信号
と所定のスレーシホールドレベルとを比較するようにな
っている。
判別回路(24,25)の出力側は、CP U (25
)の入力側に接続されている。CP U (25)は、
RAM(26)及びROM (27)を備えている。R
A M (26)には初期設定時のL CD (10)
の基準位置データがメモリされ、メモリされたデータが
CP U (25)により呼出されるようになっている
。また、ROM(27)には各種演算情報が予め記憶さ
れており、記憶されている情報がCP U (25)に
より呼出されるようになっている。CP U (25)
の出力側は、ステージ駆動用ステッピングモータ(28
)及びチャック(16)のLCD真空吸着装置のそれぞ
れのスイッチに接続されている。ステッピングモータ(
28)の駆動軸は、ポールスクリュウ(29a)に連結
されている。ポールスクリュウ(29a)に螺合された
ポールナツト(29b)は、チャック(16)のステー
ジに固定されている。更に、チャック(16)のステー
ジには別の2台のステッピングモータ(図示せず)の駆
動軸がそれぞれ接続されている。これら2台及び上述の
モータ(28)により、チャック(16)のステージが
XYθの二方向にそれぞれ移動するようになっている。
そして、1対の四角形マーク(30,31)が第6図に
示すようにLCDQ)の相隣り合うコーナ一部に形成さ
れている。このマーク(30,31)は、LCD中の外
面に合金を焼付けたものである6マーク(30,31)
は、L CD (10)の透明電極に対して一定の位置
関係にあり、これらマークを基準として電極位置が間接
的に検出されるようになっている。
次に、上記LCDプローバ0によりテストされるべきL
 CD (10)をアライメントする場合について説明
する。
ローダ部(11)でカセットより一枚のL CD (1
0)を取出し、これをプリアライメントした後に検査部
(14)のチャック(16)に受は渡す。LCD(υを
チャック(16)の上面に吸着固定する。XYθ−ステ
ージを移動し、その中心(14a)をアライメント装置
の中心(17a)に一致させる。
次に、第7図乃至第9図を参照しながらLCD(10)
のアライメントについて説明する。
先ず、L CD (10)の第1及び第2のターゲット
マーク(30,31)の初期設定を行な、う。初期設定
されるL CD (10)が載置されたステージを、ア
ライメント装置(12)の中心(17a)位置に停止さ
せる。
この停止位置にて第1撮像素子(22)により第1ター
ゲツトマーク(30)を撮像し、この画像をテレビ両面
に表示する。同様に、第2撮像素子(23)によりL 
CD (to)の第2ターゲツトマーク(31)を撮像
し、この画像をテレビ画面に表示する。第9図に示すよ
うに、第1撮像素子(22)のレンズに設けたクロスマ
ーク(33)と、第1ターゲツトマーク(30)とを初
期合わせすると共に、第2撮像素子(23)のレンズに
設けたクロスマーク(34)と、第2ターゲツトマーク
(31)とを初期合わせる。この場合に、両クロスマー
ク(33,34)の中心間路glLは一定距離に設定さ
れている。このようにして、初期設定における基準位置
データをRA M (26)にメモリする。
次に、実際にテストされるべきL CD (10)が載
置されたステージをアライメント装置1(12)の中心
(17a)の位置まで搬送する。第8図に示すように、
搬送されたままの状態でr= CD (10)の第1タ
ーゲツトマーク(30)を第1撮像索子(22)で撮像
し、同様に第2ターゲツトマーク(31)を第2撮像素
子(23)で撮像する。
次に、初期設定用L CD (10)の第1及び第2の
ターゲットマーク(30,31)の位置と、テスト実施
用L CD (10)の第1及び第2のターゲットマー
ク(30,31)の位置と、の相互関係について説明す
る。
初期設定用LCDの第1及び第2のターゲットマーク(
30,31)の位置に対するテスト実施用LCD (1
0)の第1及び第2のターゲットマーク(30,31)
の位置認識は、マーク判別回路(24,25)の出力を
各番地ことに記憶したR A M (26)に対するア
クセスによって実行できる。
RA M (26)上の第1及び第2ターゲツトマーク
(30,31)の記憶領域内には、第1及び第2ターゲ
ットマーク(30,31)の記憶されている。
これらターゲットマーク(30,31)のL!g識につ
いて、第9図を参照しながら説明する。
画面のマトリックスは、基盤目状の画素で構成されてい
る。第1行目の画素からスタートして最終行目の画素ま
でスキャニングし、第1及び第2ターゲツトマーク(3
0,31)が存在する画素をサーチする。第1及び第2
ターゲツトマーク(30,31)が存在する第n行目r
lJを確認し、その番号を記憶した後に、同様にして「
1」が存在する行番地をサーチする。また、第1列目か
ら最終列までスキャニングし、第1及び第2ターゲツト
マーク(30,31)が存在する第n行目「1」を確認
し、その列番号を記憶した後に、同様にして「1」が存
在する列番地をサーチする。
このようにして、2値化された画像データにより第1及
び第2ターゲツトマーク(30,31)が存在する領域
を認識することができる。すなわち、各行列の「1」が
存在する番地より第1ターゲツトマークのコーナー(3
5) (ポイント。)及び第2ターゲツトマークのコー
ナー(36) (ポイントP)をそれぞれ認識すること
ができる。
第1及び第2のクロスマーク(33,34)と、第1及
び第2ターゲツトマークのコーナー(35,36)の位
置が既知であれば、xY力方向びθ方向の位置ズレ量を
それぞれ計算により求めることができる。
次に、第8図及び第9図を参照しながら、θ方向のズレ
を修正するに必要な補正量を算出する方法について説明
する。
先ず、前提条件として、コーナー(35,36)を結ぶ
線分OPの長さは、ROM (27)に予め記憶させて
おいた設定値となっている。また、クロスマーク(33
,34)を結ぶ線分STの長さLは、一定である60方
向のズレが存在すると、線分OPと、線分STとが互い
に交差する。従って、下記0式によりθ方向の補正量t
を求めることができる。
t =tan−”((yz  yz)/ L)  ・=
  (1)次に、X−Y成分の補正量を求める方法につ
いて説明する。
回転中心の座標を(xnt y、) 、クロスマーク位
置を(xc+ yc)とし、回転後の(Xll yx)
の座標を(X、′e yt’)とすると、下記0式及び
■式が成立する。
θ=tan−1[((yz −ya)/(xt −xo
)) −t ]・・・■γ=J(x、−x。)2十bl
  yo)”      −(3この場合に、θは同転
ズレ角度、γは回転中心からクロスマークまでの距離を
それぞれ表わす。
また、下記(至)式及び0式が成立する。
lx’  X6=γsinθ    −K)’1’  
)’lI=γcosθ    ・・・ ■ゆえに、クロ
スマーク位置(ス。* yc)及び座標(Xx’t Y
1’)の相互間のズレ量X1.Y□は、それぞれ下記0
式及び0式により求められる。
x、=1.’   !(=γsinθ十に、−xc  
 −GVt =yt’   Yc= Ycos O+y
o−y。   −■上記ズレ量X1. Ylの分だけス
テージをXY力方向移動し、ガラス容器2をプローブ針
に対して位置合わせし、その後、ガラス容器2の電極の
それぞれにプローブ針を接触させ、回路テストを実施す
る。
上記実施例によれば、L CD (10)の2箇所のマ
ークをほぼ同時に検出することができるので、プローブ
針とのアライメント所要時間を大幅に短縮することがで
きる。
また、上記実施例によれば、 LC:D(10)を定位
置からほとんど移動させることなく位置合わせすること
ができるので、チャック(16)及びステージ周囲のス
ペースを小さくすることができ、装置を全体として小型
化することができる。
また、上記実施例によれば、透明ガラス製のLCD (
10)が載置されるチャック(16)上面を低反射率に
加工しているので、LCD(10)を透過した光のほと
んどがチャック面に吸収され、ターゲットマーク(30
,31)を正確に検出することができる。
このため、L CD (10)の電極とプローブ針との
位置合わせ精度をc±5]Im以内の範囲にすることが
できる。この場合に、無電解メツキによりメインチャッ
ク上面に[ニラケルコを被覆したが、これに限られるこ
となく、[クロム]又は[フッ素]を被覆してもチャッ
ク上面を低反射率にすることができ、ターゲットマーク
を高精度に検出することができる。
更に、上記実施例では、光源1例えば、蛍光灯を常に点
灯した状態で、L CD (10)を位置合わせしたが
、L CD (10)をチャック(16)上に載置した
後に点灯してもよい。この場合に、L CD  (10
)の電極にプローブ針を接触させたときのみに蛍光灯が
自動点灯するようにして、更に効率良く点灯させること
ができる。この自動点灯システムにおいては、例えば、
L CD (10)の電極にプローブ針を接触させてか
ら3秒間経過後に蛍光灯が点灯するようにすることが望
ましい。
次に、第10図を参照しながら、別のLCD位置検出方
法について説明する。
この変形列においては、先ずL CD (10)のエツ
ジ(10a)を位置検出し、これに基づきL CD (
10)の位置をXYθ方向に粗調整する。次いで、LC
D (10)のターゲットマーク(30,31) を位
置検出し、このマーク(30,31)とエツジ(10a
)との相対位置に基づいてL CD (10)の位置を
補正する。
上記変形例によれば、L CD (10)のエツジ(1
0a)とターゲットマーク(30,31)との誤差Mの
誤差を±50tImの範囲内に納めることができた。
因みに1通常のL CD (10)、例えば、液晶テレ
ビ用LCD又はデジタルウォッチ用LCDの場合に、そ
の位置合わせ精度を±54の範囲内に納めることができ
、アライメント所要時間を約10〜15秒に短縮するこ
とができた。
(第2実施例) 他の実施例のLCDプローバのプリアライメント装置に
ついて第11図を参照して説明する。上記実施例及びこ
の実施例が互いに共通する部分については説明を省略す
る。上記プリアライメント装置(37)の主要部は、反
射形センサ(38)、サブチャックθ回転駆動部(39
)、CP U (40)、位置決め部(41)からなる
。センサ(38)は、プローバのサブチャック(41)
上に載置されたL CD (10)に対面するように設
けられている。センサ(38)は、光をLCD (10
)に投射する発光部と、LCD(10)からの発射光を
受け、光−電気変換する受光素子と、を有している。
センサ(38)は、CP U (40)の入力側に接続
され、検出光をデジタル信号化してCP U (40)
に入力するようになっている。CP U (40)の出
力側は、サブチャックθ回転駆動部(39)及び位置決
め部(42)にそれぞれ接続されている。
サブチャックθ回転駆動部(39)の駆動軸は、サブチ
ャック(41)の基部に接続されており、サブチャック
(41)が軸廻りにθ回転するようになっている。
位置決め部(42)は、サブチャックZ軸駆動部(42
a)、ピンセット駆動部(42b)、Yllll駆動部
(42c)を有している。駆動部(42b)の出力側は
、サブチャック(39)の基部に接続されており、サブ
チャック(41)がZ軸昇降するようになっている。ま
た、駆動部(42b)の出力側は、ピンセットの取出し
板(43)の走行車輪(44)の軸に接続されており、
ステージ板(45)がX軸移動するようになっている。
サブチャック(41)及び取出し板(43)は、ステー
ジ板(45)上に載置されている。このステージ(45
)は、位置決め部(42)の駆動部(42c)の出力側
に接続されており、ステージ板(45)全体がY軸方向
に移動するようににっている。
次に、センサ(38)の構成について第12図乃至第1
6図を用いて説明する。
先ず、第12図に示すようにローダ部(11)のホーム
ポジション(46)にL CD (10) 1枚ずつ搬
送されるようになっている。このL CD (10)の
表面に対向するようにセンサ(38)が部材に固定され
ている。
更に、ホームポジション(46)のL CD (10)
は、アーム(47)により検査部(14)のチャック(
16)に搬送されるようになっている。また、検査後の
LCD(10)は、アーム(47)によりカセット(l
lb)に戻されるようになっている。
上記センサ(38)は1発光部(38b)及び受光素子
(38c)を有しており、光をL CD (10)に反
射させて位置検出するものである。
例えば第13図に示すようにL CD (10)の中心
から、外辺の端部までの距離をり、、とじて、LCD(
10)の中心からセンサ(38)の位置までの距離をり
とすると、Ll>L、の位置にセンサ(38)が設けら
れている。従って、L CD (10)を右方向及び左
方向に回転すると、L CD (10)の周縁のエツジ
部が上記反射形センサ(38)の発光部(38b)から
照射している光量をエツジ部で反射させて受光素子(3
8c)に入射し、反射形センサ(38a)がエツジ部に
対する回転角値を検出させることができる。
上記反射形センサ(38a)が第12図(c)に示すよ
うに、ホームポジション位置(46)からし、距離離れ
て、Y軸上に一ケ所設けているように構成されている。
この反射形センサ(38a)をホームポジション位置(
46)からL1距離ずつ離れて、Y軸上に左右対称に各
−ケ所設ける構成にしても良い。
この場合、2つのセンサ(38)を直列に設けた場合は
、回転時の所要時間が一ケ所設けたセンサ方式より短縮
される。
即ち、ホームポジション位置(46)に搬送されたL 
CD (10)が取出し板(48)上に載置されている
θ回転駆動部(39)が、ZM駆動部(42a)により
上昇されるように設けられている。駆動部(39)が上
昇すると、サブチャック(4I)によりL CD (1
0)が取出し板(74)から持ち上げられるようになっ
ている。
θ回転駆動部(39)は、L CD (10)を吸着固
定する頂面を有した軸(49)がベアリング(50)に
軸着され、このベアリング(50)を囲むようにベアリ
ングハウジングが設けられている。このベアリング(5
0)は水平な板台(51)に立設固定されている。
サブチャック(41)の軸(49)にはタイミングベル
ト用のプーリ(52)が設けられており、このプーリ(
52)にタイミングベルト(53)がパルスモータ(5
4)軸と張架されている。
従って、CP U (40)の駆動信号に基づいてサブ
チャック(41)を所定の回転位置まで回転されるよう
になっている。
上記CP U (40)は、L CD (10)を左右
方向の回転角値からL CD (10)の位置ずれ量を
算出、例えば第16図に示すように、ホームポジション
位置(46)でα6傾斜した状態でサブチャック(41
)に吸着固定されているL CD (10)を右回転し
て、反射形センサ(38)に上記L CD (10)の
周縁のエツジ部へと交差した点を求める。この点から角
度θ1を算出する。
つぎに左回転させて同様に上記L CD (10)の周
縁のエツジ部Bと交差した点を求める。この点から角度
θ2°を算出する。
上記の角度を(θ、°+02″)を求め、この半角の直
線と交差する点Cとサブチャック(41)の中心(Xa
 * yo )とを結んだ直線が、Y軸線になるように
位置決め手段が駆動するように駆動指令信号を発するよ
うに構成されている。
同様にして、一方向に整列したL CD (10)の中
心を求めるために、第16図(d)で示すように、LC
D (10)をY軸方向に移動させて、 D(X3# 
Y3)の位置を求め、つぎにこのL CD (10)を
90″回転させてE(XttYt)、F(X4w y4
)及びG (Xz e Yz )を求める。それぞれの
距離g1. g、、 a3. g、、 x、を求める。
′1!+′12+サブチ″′り径がL CD (10)
の中心位置ある。
中心位置が求まると、LCD(10)の中心位置にサブ
チャックの中心位置が重なるように、駆動部(42b、
42c)にCP U (40)から駆動指令が発せられ
る。
この場合に、L CD (10)の回転駆動をX軸Y軸
駆動と同時に行っても良い。この方が位置合わせ時間が
より短縮される。
第 図に示すようにθ回転駆動部(39)のサブチャッ
ク(41)がベアリングハウジングを介して板台(51
)に固定されている。取出し板(48)上のLCD(1
0)はサブチャック(41)の頂面(41a)に固定し
である。
Z軸駆動部(42a)のベース板(55)に平行に一ヒ
下動する如く、ソレノイド(56)が設けられている。
さらに、ソレノイド(56)の近傍にガイド部材(57
)が平行に設けられ、ソレノイド(56)の上下動の際
に生じる回転を防ぐように構成されている。
サブチャック(41)を上昇させると、取出し板(48
)からサブチャック(41)の頂面(41a)にLCD
(10)が授受され、サブチャック(41)を回転させ
ることが可能な状態になる。
また、サブチャック(41)を降下させると、LCD 
(10)が取出し板(48)に授受され、この取出し板
(48)がX軸方向に移動されるようになる。
さらに、上記サブチャック(41)の頂面(41a)に
はL CD (10)を吸着固定させる吸着(図示せず
)が設けられ、CP U (40)の指令に基づ<ON
、OFF操作により吸着がコントロールされる。
ここで、ソレノイド(56)が作用して、板台(55)
を上下動する際のガイド部材(57)が、ソレノイド(
56)とピストン(58)と平行に設けられている。
ベース板(55)には、ピンセット駆動部(42b)が
水平方向にX軸方向に摺動可能に設けられている。
また同様にして、このベース板(55)の端部には上述
した駆動部(39)が、固定支持されている。駆動部(
39)のピストン(58)の先端には、板台(51)が
上記ベース板(55)と平行に垂下するように設けられ
ており、上記ピストン(58)の上下動に従って上記板
台(55)が平行に上下動するように構成されている。
さらに、上記板台(51)の端部には、θ回転駆動部(
39)が垂直に固定支持され、サブチャック(41)を
パルスモータ(59)で開店されるよう構成されている
従って、上記サブチャック(41)は駆動部(42a)
によってL CD (10)を上昇させることにより、
LCD (10)を回転自在に回転させることができる
ように構成されている。
第14図に示すように、上記ピンセット駆動部(42b
)はX軸方向に移動可能に構成されている。
上記ピンセット駆動部(42b)は、取出し板(48)
、ガイド部材(59)、タイミングベルト(60)及び
パルスモータ(61)から構成されている。
上記取出し板(48)は、ガイド部材(59)で水平方
向に摺動する如く設けられている。
例えば、L CD (10)を吸着固定したW60ms
+XL250nn X t 2.6++nアルミ板材の
取出し板(48)の下側後端部にW15wm X L3
0mm X H30mアルミブ・ロック部材(62)を
固定支持されている。
このアルミブロック部材(62)には、ガイド部材(5
9)を摺動する如く二ケ所の穴が横設方向に穿設されて
いる。この穿設された穴にガイド部材(54)が挿通さ
れ、このガイド部材(59)の両端部は支持部材(63
)が、ピンセット駆動部(42b)のベース板(55)
に立設されて支持されている。
そして、上記取出し板(48)の先端部(55)にはサ
ブチャック(41)が昇降する領域に中空部(64)を
設け、上記サブチャック(41)の昇降をさまたげない
構成になっている。
さらに、上記取出し板(48)の先端部(48a)のL
CD (10)受渡し位置にはL CD (10)を吸
着する吸着孔が設けられており、この吸着孔は図示しな
い外部のバキュームソレノイドに連結されCPU(40
)の指令に基づきON 、 OFF可能に設けられてい
る。
また、上記取出し板(48)の後端部には突設部が設け
られ、この突設部にタイミングベルトが固定支持され、
このタイミングベルトが直線方向に移動するに従って従
属的に移動される如く設けられている。このタイミング
ベルトはプーリに張架するように配置し、ガイド部材(
57)と平行に設けられている。
上記プーリにはパルスモータ(61)が連動されており
、CP U (40)の指令に基づいてパルスモータ(
59)を回転させタイミングベルトを移動させている。
第15図に示すように、Y軸駆動部(42c)は、カセ
ット(ttb)の載置部(64)上の並列されたカセッ
ト(llb)の列方向(Y軸方向)に沿って後述する移
動体(65)が移動可能に設けられている。
また第14図に戻って説明する。先ず、ローダ部(11
)の底面に敷設された二本のレール(66a、b)は載
置部(64)に沿って互いに平行に固定支持されている
。このレール(66a、b)の側面にタイミングベルト
(67)がプーリ(68)に張架されている。
このプーリ(68)の−ケ所にパルスモータ(69)が
連動されており、このパルスモータ(69)をCPU(
40)の指令に基づいて移動可能に配置されている。
に示すように移動体(65)がタイミングベルト(67
)に固定支持されている。パルスモータ(69)が回転
されるとタイミングベルト(62)を載置部(64)に
沿ってY軸方向に移動するようになる。
なお、円柱軸(69)が、移動体(65)の上部に、そ
の軸が垂直になるように取付けられている。
円柱軸(69)の頂面(69a)は水平に設けられてお
り、この頂面(69a)にベース板(55)が水平に積
重ねるように固定支持されている。
ここで上記円柱軸(69)は−軸の上下動方向に移動す
る構造が組込まれている。この上下動機構は、カセット
(llb)からL CD (10)を取出す際に上下動
させるものである。
上述した各機構部材はすべてCP U (40)の駆動
指令信号に従って駆動されるので、L CD (10)
をどのような位置にも移動させることが可能に構成され
ている。
次に第2実施例の作用について第17図を参照しながら
説明する。
キーボード(9a)から操作入力された情報に基づいて
、ローダ部(11)のY軸駆動部(42c)が作用して
、カセット(llb)からL CD (10)を取出し
てホームポジション位置(46)まで搬送する。この場
合。
取出されたL CD (10)をホームポジション位置
(46)に搬送した後に、サブチャック(41)の頂面
(41a)に吸着固定する(ステップ70)。
次に、予め記憶されたプログラムに従ってサブチャック
θ回転駆動部(39)のパルスモータによりL CD 
(10)を吸着固定したサブチャック(41)を左回転
する。
第16図に示すように、LCD(10)の周縁のエツジ
が反射形センサ(38)に交差した位IWAを記憶する
。また同様にして、L CD (10)を予め記憶され
たプログラムに従って右側に回転させる。そして第16
図(c)に示すようにL CD (10)の周縁のエツ
ジがセンサ(38)に交差した位5iBを記憶する。こ
のようにして、左回転及び右回転することによりエツジ
二点間の角度を求める(ステップ71)。
ここでL CD (10)が記憶する信号はデジタル信
号であるため反射されない場合を“H”と定め。
反射を感知した場合を“K”と決めること、により、L
 CD (10)の−辺のエツジ位置を検出し、逆回転
するようにプログラムされている。
つぎに、CP U (40)により上記のA点及びB点
からの情報に基づいて角度合わせの演算が行なわれる。
この回転角値の演算方法は、第161iii1(a)に
示すように、θ、+02が全角度であり、この全角度の
半角とのずれ角度α6を導く。CP U (40)の指
令によりサブチャック(41)をα8だけ回転させ、L
CD (10)の回転ずれを修正する(ステップ72)
このようにしてL CD (10)の周直線端部方向を
一定方向に位置合せさせることができる。この状態テ、
ツぎに、LCD(10)(7)中心(xl、 yz)を
求めるために先ず、第16図(d)に示すように予め記
憶されたプログラムに従って、Y@駆動部(42c)の
パルスモータ(rji1示せず)を回転し、矢印で示す
ように移動させると、L CD (10)を吸着固定し
たサブチャック(41)全体がY軸方向に移動し、反射
形のセンサ(38)によって、L CD (10)の四
辺中の一辺を横切るようにエツジと直交して交差し、D
(x3t ya)点を検出する。
次いで、サブチャック(41)を90°回転させる。
同様にしてE(XxpYt)、F CX4e y4)及
びG(x2゜yt)の位置を検出する。このようにして
L CD (10)の4点のデータ取を行う(ステップ
73)。
二二で90’回転されるのは、予め記憶されたプ0グラ
ムによって自動的に一回転される。このようにしてホー
ムポジション位fi (3g)から図の0点までの距離
及びE、F、0点までの距離を求める。
予め記憶されたホームポジション位置(38)に基づき
LCD(10)(7)中心位置(xo −YO)とサブ
チャック’)(4I)の位置(X(1* Ya )との
ずれ量を演算する。
上記ずれ量が所定の範囲内にあるか否かを確認する(ス
テップ74)。
ずれ量が所定の範囲を越える場合は、LCD(10)の
センタ位置を再度補正する(ステップ75)。
ずれ量が所定の範囲内にある場合は、LCD(10)を
再び左回転及び右回転してエツジ2点間の角度を求める
(ステップ76)6 次に、サブチャック(41)をα°だけ回転させ、L 
CD (10)の回転ずれを修正する(ステップ77)
第16図(e)に示すように最終的にホームポジション
(46)の位rll (Xa t yo )とL CD
 (10)の中心(XO。
YO)が一致するように移動させる。ステップ77まで
L CD (10)のプリアラインを終了する。その後
プリアラインされたL CD (10)を回転アーム(
47)でチャック(16)に授受させる。そして、LC
D(10)の電極にプローブ針を接触させ、所定の回路
テストを実施する。
上記第2の実施例によれば、LCDのプリアライン所要
時間を大幅に短縮することができる。
更に、センサ寿命が大幅に延長される。
この発明に係るLCD用ブロービングマシンの奏する効
果について、更に説明する。
この発明に係るLCD用ブロービングマシンによれば、
2箇所のアライメントマークを別個同時に検出するので
、LCDを迅速に位置合わせすることができる。このた
め1種々のテストプログラムに迅速に対処することがで
きる。また、LCDをほとんど定位置にて位置合わせす
るので、従来の装置に比べてチャック周囲のスペースが
小さくなり、装置を小型化することができる。
更に、チャックのLCD載置面を低反射率にしているの
で、LCDを透過した光が載置面から実質的に反射しな
くなる。このため、アライメントマークを高精度に検出
することができ、LCDをプローブ針に対して正確に位
置合わせすることができる。
また、LCDのエツジを検出して位置合わせする場合は
、エツジ位置検出データを得るに要する時間を大幅に短
縮することができるので、大型LCDを迅速に位置合わ
せすることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明装置をLCDプローパに用いた一実施例
を説明するための全体説明図、第2図は第1図のLCD
プローバのメインチャックを説明するための断面説明図
、第3図は第1図のLCDプローバのメインチャックに
LCDを載せて上方から見て示す平面図、第4図は第1
図のLCDプローバのLCDに光を照射した状態を説明
する説明図、第5図は第1図の位置合わせ装置を説明す
るためのブロック説明図、第6図、第7図、第8図は第
1図の位置合わせ装置のアライメントマークの検出原理
を説明するための説明図、第9図は第1図の位置合わせ
におけるCODカメラのクロスマーク及びLCDのアラ
イメントマークの位置関係を示す模式説明図、第10図
は第1図の他のアライメント方法について説明するため
のLCDの説明図、第11図は本発明装置をLCDプロ
ーバに用いた他の一実施例を説明するための位置合わせ
装置説明図、第12図は第11図のLCDプローバにお
ける位置合わせ装置の配置説明図、第13図は第11図
のLCDプローバのピンセット構造を説明するための説
明図、第14図は第11図のピンセットを搬送する搬送
構造を説明するための搬送部説明図、第15図は第11
図の搬送部を用いた傾斜説明図、第16図は第11図の
位置合わせ装置の検出原理を説明するための説明図、第
17図は第11図の位置合わせ装置の動作を説明するた
めのフローチャート説明図。 第18図、第19図は従来のLCDプローバに用いてい
た位置合わせ装置を説明するための説明図である。 9、LCDブローバ 11、ローダ部 13、プローブ針 142、検査部の中心 9a、キーボード  10゜ 12、アライメント装置 14、検査部 CD

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)プローブ針を液晶表示体の電極に接触させて検査
    する検査部と、 上記液晶表示体をプローブ針に対面するように保持する
    支持台と、 この支持台に保持された液晶表示体に光を投射する手段
    と、 この液晶表示体により反射された光を検出する手段と、 識別マークの検出信号に基づき液晶表示体とプローブ針
    との相対位置を認識し、上記液晶表示体の電極と上記プ
    ローブ針との不一致を補正するに必要な液晶表示体の移
    動量を求める位置認識手段と、算出された移動量に基づ
    き上記支持台を移動させ、上記プローブ針が液晶表示体
    の電極に一致するように液晶表示体プローブ針に対して
    位置合わせする手段と、 上記反射光検出手段は、個別に画像を形成するように構
    成された複数の画像形成手段を有し、上記位置認識手段
    は、それぞれの画像に基づき液晶表示体の電極とプロー
    ブ針との不一致を個別に判別する判別手段を具備したこ
    とを特徴とする液晶表示体プローブ装置。
  2. (2)上記液晶表示体を、支持台上に載置し、この支持
    台上に設けられた液晶表示体の位置認識用第1基準点と
    撮像系のマークとの位置ずれ量を少なくとも二点につい
    て求め、この位置ずれ量が零になる如く修正することを
    特徴とする液晶表示体プローブ方法。
JP63245546A 1987-09-29 1988-09-29 液晶表示体プローブ装置及び液晶表示体の位置合わせ方法 Expired - Lifetime JPH0817194B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63245546A JPH0817194B2 (ja) 1987-09-29 1988-09-29 液晶表示体プローブ装置及び液晶表示体の位置合わせ方法

Applications Claiming Priority (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62-148927 1987-09-29
JP14892787 1987-09-29
JP62-319781 1987-12-16
JP31978187 1987-12-16
JP63-77048 1988-03-30
JP7704888 1988-03-30
JP63245546A JPH0817194B2 (ja) 1987-09-29 1988-09-29 液晶表示体プローブ装置及び液晶表示体の位置合わせ方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0290A true JPH0290A (ja) 1990-01-05
JPH0817194B2 JPH0817194B2 (ja) 1996-02-21

Family

ID=27465997

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63245546A Expired - Lifetime JPH0817194B2 (ja) 1987-09-29 1988-09-29 液晶表示体プローブ装置及び液晶表示体の位置合わせ方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0817194B2 (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03270040A (ja) * 1990-03-19 1991-12-02 Tokyo Electron Ltd 検査装置
US6137300A (en) * 1997-08-22 2000-10-24 Nec Corporation Test probe device for a display panel and test probe positioning method
KR100390183B1 (ko) * 2001-04-26 2003-07-04 박태욱 Fpd 검사장치의 티칭방법
CN100390374C (zh) * 2001-04-16 2008-05-28 株式会社小松制作所 半盾构挖掘机
JP2010121969A (ja) * 2008-11-17 2010-06-03 Micronics Japan Co Ltd 被検査基板のアライメント装置
WO2015029998A1 (ja) * 2013-08-29 2015-03-05 住友化学株式会社 フィルム貼合装置、光学表示デバイスの生産システム及び光学表示デバイスの生産方法
CN115394224A (zh) * 2022-09-20 2022-11-25 江西科华电子有限公司 一种液晶显示模组的电路检测装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59129187U (ja) * 1983-02-21 1984-08-30 スタンレー電気株式会社 電極端子面接続装置
JPS60213040A (ja) * 1984-04-09 1985-10-25 Hitachi Ltd ウエ−ハプロ−バ装置
JPS642096A (en) * 1987-06-25 1989-01-06 Toshiba Corp Positioning device for liquid crystal display panel

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59129187U (ja) * 1983-02-21 1984-08-30 スタンレー電気株式会社 電極端子面接続装置
JPS60213040A (ja) * 1984-04-09 1985-10-25 Hitachi Ltd ウエ−ハプロ−バ装置
JPS642096A (en) * 1987-06-25 1989-01-06 Toshiba Corp Positioning device for liquid crystal display panel

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03270040A (ja) * 1990-03-19 1991-12-02 Tokyo Electron Ltd 検査装置
US6137300A (en) * 1997-08-22 2000-10-24 Nec Corporation Test probe device for a display panel and test probe positioning method
CN100390374C (zh) * 2001-04-16 2008-05-28 株式会社小松制作所 半盾构挖掘机
KR100390183B1 (ko) * 2001-04-26 2003-07-04 박태욱 Fpd 검사장치의 티칭방법
JP2010121969A (ja) * 2008-11-17 2010-06-03 Micronics Japan Co Ltd 被検査基板のアライメント装置
WO2015029998A1 (ja) * 2013-08-29 2015-03-05 住友化学株式会社 フィルム貼合装置、光学表示デバイスの生産システム及び光学表示デバイスの生産方法
CN115394224A (zh) * 2022-09-20 2022-11-25 江西科华电子有限公司 一种液晶显示模组的电路检测装置
CN115394224B (zh) * 2022-09-20 2023-06-02 江西科华电子有限公司 一种液晶显示模组的电路检测装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0817194B2 (ja) 1996-02-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100272190B1 (ko) 피검사체의 검사장치
US5742173A (en) Method and apparatus for probe testing substrate
KR100260116B1 (ko) 프로우브 장치
KR100248569B1 (ko) 프로우브장치
KR100657105B1 (ko) 프로브 방법 및 장치
KR100283856B1 (ko) 프로우브장치 및 프로우브카드
US7724007B2 (en) Probe apparatus and probing method
JP3423979B2 (ja) プローブ方法及びプローブ装置
EP1617468A1 (en) Probe apparatus with optical length-measuring unit and probe testing method
US5416592A (en) Probe apparatus for measuring electrical characteristics of objects
US5825500A (en) Unit for transferring to-be-inspected object to inspection position
JPH0290A (ja) 液晶表示体プローブ装置及び液晶表示体の位置合わせ方法
JP3173676B2 (ja) プローブ装置
JPH09138256A (ja) 被検査基板のアライメント方法
JP2002057196A (ja) プローブ方法及びプローブ装置
JP3248136B1 (ja) プローブ方法及びプローブ装置
JPH08327658A (ja) 基板検査装置
KR20000044563A (ko) 웨이퍼의 중심정렬장치 및 방법
JPH0384945A (ja) 位置合せ方法およびそれを用いた検査装置
JPH0194631A (ja) ウエハプローバ
JP3202577B2 (ja) プローブ方法
JPH04280445A (ja) プロービング装置、プロービング方法およびプローブカード
KR960009583B1 (ko) 어라이먼트 기능을 갖는 액정표시체의 프로우브장치 및 액정표시체의 위치맞춤방법
JPH0536767A (ja) プローブ装置
JPH01282829A (ja) ウエハプローバ