JPH0274846A - 粒子測定装置 - Google Patents
粒子測定装置Info
- Publication number
- JPH0274846A JPH0274846A JP63226002A JP22600288A JPH0274846A JP H0274846 A JPH0274846 A JP H0274846A JP 63226002 A JP63226002 A JP 63226002A JP 22600288 A JP22600288 A JP 22600288A JP H0274846 A JPH0274846 A JP H0274846A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- irradiation
- particles
- sample particles
- irradiation means
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000002245 particle Substances 0.000 title claims abstract description 77
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 18
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 18
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 8
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 abstract description 6
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 description 14
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 239000004816 latex Substances 0.000 description 4
- 229920000126 latex Polymers 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 230000002776 aggregation Effects 0.000 description 1
- 238000004220 aggregation Methods 0.000 description 1
- 239000000427 antigen Substances 0.000 description 1
- 102000036639 antigens Human genes 0.000 description 1
- 108091007433 antigens Proteins 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 210000000601 blood cell Anatomy 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000005375 photometry Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Investigating Or Analysing Biological Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は流れる検体粒子に対して光ビームを照射し検体
粒子に関する情報を検出して、粒子測定を行なう粒子測
定装置に関する。
粒子に関する情報を検出して、粒子測定を行なう粒子測
定装置に関する。
[従来の技術]
従来の粒子測定装置、例えばフローサイトメータでは、
1個ずつ高速で流れる細胞等の検体粒子に一方向から光
を照射し、それによって発生する散乱光や蛍光を測光す
ることにより、検体粒子の粒子径や性質に関する情報が
得られ、多数の細胞についてのこれらの情報から検体粒
子を計量的に解析していた。
1個ずつ高速で流れる細胞等の検体粒子に一方向から光
を照射し、それによって発生する散乱光や蛍光を測光す
ることにより、検体粒子の粒子径や性質に関する情報が
得られ、多数の細胞についてのこれらの情報から検体粒
子を計量的に解析していた。
この従来のフローサイトメータにおいて、検体粒子に照
射する光ビームの形状及びサイズを、流れ方向は検体粒
子とほぼ同等かやや大きいサイズに設定し、流れ直交方
向は検体粒子よりも大きなサイズに設定することにより
、検体粒子の流わ位置にずれが生じても均一な強度で光
照射を行なうことができる。またこの他に、流れ方向の
ビームサイズを検体粒子のサイズよりも細くしたスリッ
ト形状のビームを照射することにより、検体粒子のより
詳細な情報を検出するスリットスキャン方式も用いられ
ている。また最近では抗体で感作したラテックス粒子に
被検試料を加え、抗原抗体反応によってラテックス粒子
の凝集が起こり、このラテックス凝集体の大きさをフロ
ーサイトメータな使って検出することにより、被検試料
中の特定抗原を判別する使い方もなされてきた。
射する光ビームの形状及びサイズを、流れ方向は検体粒
子とほぼ同等かやや大きいサイズに設定し、流れ直交方
向は検体粒子よりも大きなサイズに設定することにより
、検体粒子の流わ位置にずれが生じても均一な強度で光
照射を行なうことができる。またこの他に、流れ方向の
ビームサイズを検体粒子のサイズよりも細くしたスリッ
ト形状のビームを照射することにより、検体粒子のより
詳細な情報を検出するスリットスキャン方式も用いられ
ている。また最近では抗体で感作したラテックス粒子に
被検試料を加え、抗原抗体反応によってラテックス粒子
の凝集が起こり、このラテックス凝集体の大きさをフロ
ーサイトメータな使って検出することにより、被検試料
中の特定抗原を判別する使い方もなされてきた。
またフローサイトメータとは別に、検体粒子の画像情報
による粒子測定は、光学顕微鏡や電子顕微鏡等の装置を
用いて行なうことが一般になされている。特に最近は静
止した細胞を微小レーザスポットで2次元的に走査する
ことにより、コントラストの高い細胞の内部構造を反映
する画像を得る装置も用いられるようになってぎた。本
願出願人は先に出願した、特願昭63−100572に
て前記フローサイトメータと走査型顕微鏡の両者の機能
を兼ね備えた機能を持つ粒子測定装置を提案した。
による粒子測定は、光学顕微鏡や電子顕微鏡等の装置を
用いて行なうことが一般になされている。特に最近は静
止した細胞を微小レーザスポットで2次元的に走査する
ことにより、コントラストの高い細胞の内部構造を反映
する画像を得る装置も用いられるようになってぎた。本
願出願人は先に出願した、特願昭63−100572に
て前記フローサイトメータと走査型顕微鏡の両者の機能
を兼ね備えた機能を持つ粒子測定装置を提案した。
[発明が解決しようとしている問題点コしかしながら、
特願昭63−100572の装置や、フローサイトメー
タ では、各々の検体粒子につ
いて1方向からの情報しか取り出すことができず、検体
粒子の立体的な把握ができなかった。
特願昭63−100572の装置や、フローサイトメー
タ では、各々の検体粒子につ
いて1方向からの情報しか取り出すことができず、検体
粒子の立体的な把握ができなかった。
本発明は各々の検体粒子について複数方向からの情報が
得られ、精度の高い解析が可能な粒子測定装置の提供を
目的とする。
得られ、精度の高い解析が可能な粒子測定装置の提供を
目的とする。
[問題を解決するための手段]
上述した問題点を解決するため、被検部に検体粒子を通
過させる手段と、前記被検部において検体粒子の通過方
向と交差する方向から光ビームを照射する第1の照射手
段と、検体粒子の通過方向と交差し前記第1の照射手段
の照射方向とは異なる方向から光ビームを照射する第2
の照射手段と、前記被検部からの光を前記第1、第2の
照射手段に対してそれぞれ測光する測光手段を備える。
過させる手段と、前記被検部において検体粒子の通過方
向と交差する方向から光ビームを照射する第1の照射手
段と、検体粒子の通過方向と交差し前記第1の照射手段
の照射方向とは異なる方向から光ビームを照射する第2
の照射手段と、前記被検部からの光を前記第1、第2の
照射手段に対してそれぞれ測光する測光手段を備える。
[実施例]
以下、本発明の粒子測定装置の実施例を図面を用いて詳
細に説明する。
細に説明する。
第1図は本発明の実施例の構成図、第2図はレーザビー
ム照射方向から見たフローセル部の側面図である。検体
粒子を光照射するための第1の光照射手段として、レー
ザ光源1から発射されたレーザ光は、光路中に設けられ
た光偏向器2によって、検体粒子の流れと直交する平面
内で高速に偏向走査される。なおレーザ光源1からの直
進方向にはストッパ3が設けられ、0次光がカットされ
る。光偏向器2で偏向されたレーザ光は、対物レンズ4
にてフローセル5内の流通部6の被検部にテレセントリ
ックに結像される。ここで結像スポットのサイズは検体
粒子サイズよりも小さいものとする。
ム照射方向から見たフローセル部の側面図である。検体
粒子を光照射するための第1の光照射手段として、レー
ザ光源1から発射されたレーザ光は、光路中に設けられ
た光偏向器2によって、検体粒子の流れと直交する平面
内で高速に偏向走査される。なおレーザ光源1からの直
進方向にはストッパ3が設けられ、0次光がカットされ
る。光偏向器2で偏向されたレーザ光は、対物レンズ4
にてフローセル5内の流通部6の被検部にテレセントリ
ックに結像される。ここで結像スポットのサイズは検体
粒子サイズよりも小さいものとする。
また、前記走査光の照射方向及び検体粒子の通過方向に
直交する方向からは、第2の光照射手段として、レーザ
光源11、光偏向器12、対物しンズ←噌、及びストッ
パ14が前記第1の照射手段と同様に配置され、被検部
を第1の照射手段とは直交方向からテレセントリックに
走査する。
直交する方向からは、第2の光照射手段として、レーザ
光源11、光偏向器12、対物しンズ←噌、及びストッ
パ14が前記第1の照射手段と同様に配置され、被検部
を第1の照射手段とは直交方向からテレセントリックに
走査する。
ここで前記光偏向器2及び12は、後述の方法にて一方
が被検部を走査している時は他方はブランキングになる
ように制御回路15にて制御される。すなわち、検体粒
子が複数方向から同時にレーザ照射されることなく、あ
る時間にはどちらか一方からのレーザ光しか照射されな
い。
が被検部を走査している時は他方はブランキングになる
ように制御回路15にて制御される。すなわち、検体粒
子が複数方向から同時にレーザ照射されることなく、あ
る時間にはどちらか一方からのレーザ光しか照射されな
い。
フローセル5内の流通部6には例えば血球細胞やラテッ
クス凝集体等の検体粒子がシースフロー方式で第1図の
紙面垂直方向、すなわち第2図の上下方向に1個ずつあ
るいは1塊ずつ順々に流される。よって第2図のように
レーザスポット50が高速に走査される被検部に検体粒
子がさしかかると、検体粒子が流れ横方向に走査される
ことになる。この時、レーザ走査の光学系はテレセント
リックであるため、検体粒子に対してどのスキャン位置
でも同一の方向より照射ビームが入射し均一の走査が行
なわれる。こうしてレーザ光が複数方向から交互に高速
に走査されている流通部λの被検部に検体粒子7が通過
することにより、粒子の通過速度に対して走査速度が十
分大きく設定されているため、検体粒子は被検部通過の
際に各方向から複数回走査され、検体粒子に対して複数
方向から実質上2次元的な走査が行なわれることになる
。
クス凝集体等の検体粒子がシースフロー方式で第1図の
紙面垂直方向、すなわち第2図の上下方向に1個ずつあ
るいは1塊ずつ順々に流される。よって第2図のように
レーザスポット50が高速に走査される被検部に検体粒
子がさしかかると、検体粒子が流れ横方向に走査される
ことになる。この時、レーザ走査の光学系はテレセント
リックであるため、検体粒子に対してどのスキャン位置
でも同一の方向より照射ビームが入射し均一の走査が行
なわれる。こうしてレーザ光が複数方向から交互に高速
に走査されている流通部λの被検部に検体粒子7が通過
することにより、粒子の通過速度に対して走査速度が十
分大きく設定されているため、検体粒子は被検部通過の
際に各方向から複数回走査され、検体粒子に対して複数
方向から実質上2次元的な走査が行なわれることになる
。
検体粒子7に対し、第1の光照射手段によってレーザ光
が走査され、検体粒子7を透過、及び検体粒子7で散乱
した光、あるいは検体粒子から発する蛍光は、フローセ
ル5を挟んで第1の光照射手段と対向する位置に配置さ
れる集光レンズ8にて集光され、光偏向器2と共役位置
に配される絞り9にて透過光のみが通過し、光検出器1
0にて透過光強度が検出される。なお、透過光ではなく
検体粒子の散乱光を検出したい場合は、絞り9の代りに
絞り9の開口と同一の面積のストッパを配することによ
り、透過光をカットして散乱光を検出することが可能で
ある。
が走査され、検体粒子7を透過、及び検体粒子7で散乱
した光、あるいは検体粒子から発する蛍光は、フローセ
ル5を挟んで第1の光照射手段と対向する位置に配置さ
れる集光レンズ8にて集光され、光偏向器2と共役位置
に配される絞り9にて透過光のみが通過し、光検出器1
0にて透過光強度が検出される。なお、透過光ではなく
検体粒子の散乱光を検出したい場合は、絞り9の代りに
絞り9の開口と同一の面積のストッパを配することによ
り、透過光をカットして散乱光を検出することが可能で
ある。
また、フローセル5を挟んで第2の光照射手段と対向す
る位置には集光レンズ16が配置され、集光レンズ16
で集光された被検部からの透過光及び散乱光は、絞り1
7によって透過光のみが選択され、光検出器18にて透
過光強度が検出される。なお、透過光ではなく散乱光を
検出する場合は上記と同様である。前記光検出器10及
び18の出力はそれぞれメモリ13に接続され、時系列
的に別々にメモリ上に蓄えられる。
る位置には集光レンズ16が配置され、集光レンズ16
で集光された被検部からの透過光及び散乱光は、絞り1
7によって透過光のみが選択され、光検出器18にて透
過光強度が検出される。なお、透過光ではなく散乱光を
検出する場合は上記と同様である。前記光検出器10及
び18の出力はそれぞれメモリ13に接続され、時系列
的に別々にメモリ上に蓄えられる。
次に第3図及び第4図を用いて、制御回路15における
光偏向器2.12の駆動法について説明する。駆動信号
発生器19では第4図(1)のように、50%デユーテ
ィの矩形波を発生する。この信号は二岐され、一方は鋸
歯状波発生器21に人力され、他方はインバータ20に
よって第4図(4)のように波形が反転され鋸歯状波発
生器22に人力される。実際には第4図(2)、第4図
(5)のU、BLK信号が有効走査範囲を決定する。こ
れら鋸歯状波発生器21.22によって、それぞれ第4
図(3)、第4図(6)のような鋸歯状の波形の信号が
得られ、これらの信号はそれぞれ電圧制御型発才辰器2
3.33、増幅器24.34を経て光偏向器の駆動信号
となり、光偏向器2.12においてトランスデユーサを
駆動して光を偏向して走査する。こうして一方が有効走
査範囲を走査中は、他方はブランキング状態となり、各
方向から見た粒子情報を別々に区別して取り出すことが
できる。
光偏向器2.12の駆動法について説明する。駆動信号
発生器19では第4図(1)のように、50%デユーテ
ィの矩形波を発生する。この信号は二岐され、一方は鋸
歯状波発生器21に人力され、他方はインバータ20に
よって第4図(4)のように波形が反転され鋸歯状波発
生器22に人力される。実際には第4図(2)、第4図
(5)のU、BLK信号が有効走査範囲を決定する。こ
れら鋸歯状波発生器21.22によって、それぞれ第4
図(3)、第4図(6)のような鋸歯状の波形の信号が
得られ、これらの信号はそれぞれ電圧制御型発才辰器2
3.33、増幅器24.34を経て光偏向器の駆動信号
となり、光偏向器2.12においてトランスデユーサを
駆動して光を偏向して走査する。こうして一方が有効走
査範囲を走査中は、他方はブランキング状態となり、各
方向から見た粒子情報を別々に区別して取り出すことが
できる。
以上のようにして、多数の検体粒子に関して蓄えられた
複数方向から見た検体粒子の形態等を表わす情報のデー
タに、画像処理等の処理を施したり、ヒストグラムやサ
イトグラムに表わしたりして、さまざまな粒子解析が可
能であることは一般に良く知られている。この解析結果
はCRT上に表示したり、プリントアウト等の方法によ
って出力される。
複数方向から見た検体粒子の形態等を表わす情報のデー
タに、画像処理等の処理を施したり、ヒストグラムやサ
イトグラムに表わしたりして、さまざまな粒子解析が可
能であることは一般に良く知られている。この解析結果
はCRT上に表示したり、プリントアウト等の方法によ
って出力される。
[第2実施例]
次に本発明の第2の実施例を説明する。第5図はその構
成図、第丸図はレーザビーム照射方向から見たフローセ
ル部の側面図である。それぞれの図において先の実施例
と同一の符号は同一の部材を表わす。
成図、第丸図はレーザビーム照射方向から見たフローセ
ル部の側面図である。それぞれの図において先の実施例
と同一の符号は同一の部材を表わす。
第5図において、第1の光照射手段として、レーザ光源
31から出射されたレーザ光は、メカニカルシャッタや
液晶シャッタ、あるいはチョッパ等の光制限手段32を
通り、複数のシルントリカルレンズから成るレンズユニ
ット33においてスリット形状のビームに成形されて、
フローセルフ内の流通部6の被検部に照射される。この
ビーム形状は第6図の51のように、流れ方向に細く流
れ直交方向に大きい形状である。なおレンズユニット3
3の代りに、スリット形状のアパーチャを用いてビーム
スポットを成形しても良い。また変形例として第7図の
51ような検体粒子サイズよりも大きい楕円型のビーム
スポットの照射も可能であるが、スリット形状のビーム
の方が得られる情報量が多い。
31から出射されたレーザ光は、メカニカルシャッタや
液晶シャッタ、あるいはチョッパ等の光制限手段32を
通り、複数のシルントリカルレンズから成るレンズユニ
ット33においてスリット形状のビームに成形されて、
フローセルフ内の流通部6の被検部に照射される。この
ビーム形状は第6図の51のように、流れ方向に細く流
れ直交方向に大きい形状である。なおレンズユニット3
3の代りに、スリット形状のアパーチャを用いてビーム
スポットを成形しても良い。また変形例として第7図の
51ような検体粒子サイズよりも大きい楕円型のビーム
スポットの照射も可能であるが、スリット形状のビーム
の方が得られる情報量が多い。
また第2の光照射手段として、前記第1の光照射手段と
は直交する方向に、レーザ光源34、光制限手段35、
レンズユニット36が、前記第1の光照射手段と同様に
配される。
は直交する方向に、レーザ光源34、光制限手段35、
レンズユニット36が、前記第1の光照射手段と同様に
配される。
ここで前記第1、第2の光照射手段のレーザ光照射は、
制御回路45によって光制限手段32.35が制御され
、短時間に交互に照射される。
制御回路45によって光制限手段32.35が制御され
、短時間に交互に照射される。
よって被検部への検体粒子の通過により、検体粒子が2
方向から交互にスリットスキャンされる。
方向から交互にスリットスキャンされる。
こうして交互に検体粒子に照射されて検体粒子を透過及
び散乱した光、あるいは粒子から発する蛍光は、第1の
光照射手段に関しては集光レンズ40、光検出器41で
受光さね、第2の光照射手段に関しては集光レンズ42
、光検出器43で受光される。なお、透過光、散乱光の
いずれを検出するかは、図示はしていないが、先の実施
例のように光検出器41.43の前に絞りを置くか、ス
トッパを置くかでどちらかを選択することができる。こ
れら光検出器41.43の出力はメモリ44において、
別々に時系列的に記憶され、こうしてメモリ44には複
数方向から見た検体粒子の1次元的な光走査結果が、多
数の検体粒子に関して蓄えられることになり、このデー
タを基にさまざまな粒子解析がなされる。
び散乱した光、あるいは粒子から発する蛍光は、第1の
光照射手段に関しては集光レンズ40、光検出器41で
受光さね、第2の光照射手段に関しては集光レンズ42
、光検出器43で受光される。なお、透過光、散乱光の
いずれを検出するかは、図示はしていないが、先の実施
例のように光検出器41.43の前に絞りを置くか、ス
トッパを置くかでどちらかを選択することができる。こ
れら光検出器41.43の出力はメモリ44において、
別々に時系列的に記憶され、こうしてメモリ44には複
数方向から見た検体粒子の1次元的な光走査結果が、多
数の検体粒子に関して蓄えられることになり、このデー
タを基にさまざまな粒子解析がなされる。
以上説明してきた実施例では、レーザ照射光の光軸前方
に配される光検出手段により前方散乱光又は透過光を検
出したが、他方の光検出手段を側方散乱光の検出に兼用
して、同時に側方散乱光を検出することも可能である。
に配される光検出手段により前方散乱光又は透過光を検
出したが、他方の光検出手段を側方散乱光の検出に兼用
して、同時に側方散乱光を検出することも可能である。
なお側方散乱光を検出するのに、他方の光検出手段を兼
用せずに専用の検出光学系を設けても良いのはもちろん
のことである。さらに光路中、光検出器の前にダイクロ
イックミラーやバリアフィルタからなる検出系を設けて
検体粒子から発する蛍光を検出することも可能である。
用せずに専用の検出光学系を設けても良いのはもちろん
のことである。さらに光路中、光検出器の前にダイクロ
イックミラーやバリアフィルタからなる検出系を設けて
検体粒子から発する蛍光を検出することも可能である。
これにより測定パラメータを増やすことができ、測定精
度の向上につながる。
度の向上につながる。
なお上述の実施例では、ブランキング制御することによ
り、2方向からの照射光が同時に被検粒子に照射されな
いようにして、他方の照射光によるノイズの混入を防い
だが、透過光または面方散乱光のみの検出が目的であれ
ば、ブランキング制御せずに、2方向からの照射光を同
時に照射しても測定精度にはさほど影響は無い。なぜな
らば透過光または前方散乱光の強度に対して、側方散乱
光や蛍光の強度はごく微弱だからである。
り、2方向からの照射光が同時に被検粒子に照射されな
いようにして、他方の照射光によるノイズの混入を防い
だが、透過光または面方散乱光のみの検出が目的であれ
ば、ブランキング制御せずに、2方向からの照射光を同
時に照射しても測定精度にはさほど影響は無い。なぜな
らば透過光または前方散乱光の強度に対して、側方散乱
光や蛍光の強度はごく微弱だからである。
また上述の実施例では、検体粒子を2方向から光照射し
て、2方向からの情報を得たが、これには限定されず、
3方向以上の複数方向から光照射することにより、より
詳細な解析を行なうことも可能である。
て、2方向からの情報を得たが、これには限定されず、
3方向以上の複数方向から光照射することにより、より
詳細な解析を行なうことも可能である。
[発明の効果]
以上本発明によれば、各々の検体粒子について複数方向
からの情報を得ることができ、より精度の高い解析が可
能な粒子測定装置を提供することができる。
からの情報を得ることができ、より精度の高い解析が可
能な粒子測定装置を提供することができる。
第1図は本発明の実施例の構成図、
第2図はフローセル部の側面図、
第3図は光偏向器の駆動方法、
第4図は光偏向器の駆動タイミングチャート、第5図は
第2実施例の構成図、 第6図は第2実施例におけるフローセル部の側面図、 第7図は第2実施例の変形例におけるフローセル部の側
面図、 であり、図中の主な記号は、 1.11.31.34・・・・レーザ光源、2.12・
・・・光偏向器、3、!4・・・・ストッパ、5・・・
・フローセル、6・・・・流通部、7・・・・検体粒子
、9.17・・・・絞り13.44・・・・メモリ、1
5.45・・・・制御回路、19・・・・駆動信号発生
器、21.22・・・・鋸歯状波発生器、23.33・
・・・電圧制御型発振器、24.34・・・・増幅器、
32.35・・・・光制限手段。 第2因 住6 千3図 第4団
第2実施例の構成図、 第6図は第2実施例におけるフローセル部の側面図、 第7図は第2実施例の変形例におけるフローセル部の側
面図、 であり、図中の主な記号は、 1.11.31.34・・・・レーザ光源、2.12・
・・・光偏向器、3、!4・・・・ストッパ、5・・・
・フローセル、6・・・・流通部、7・・・・検体粒子
、9.17・・・・絞り13.44・・・・メモリ、1
5.45・・・・制御回路、19・・・・駆動信号発生
器、21.22・・・・鋸歯状波発生器、23.33・
・・・電圧制御型発振器、24.34・・・・増幅器、
32.35・・・・光制限手段。 第2因 住6 千3図 第4団
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、被検部に検体粒子を通過させる手段と、前記被検部
において検体粒子の通過方向と交差する方向から照射光
を照射する第1の照射手段と、検体粒子の通過方向と交
差し前記第1の照射手段の照射方向とは異なる方向から
照射光を被検部に照射する第2の照射手段と、前記被検
部からの光を前記第1、第2の照射手段に対してそれぞ
れ測光する測光手段を備えることを特徴とする粒子測定
装置。 2、前記第1、第2の照射手段の一方が照射中は他方は
ブランキングとなるように制御する制御手段を有する請
求項1記載の粒子測定装置。 3、前記照射手段は光偏向器を含む光学系で光ビームを
偏向して、被検部を検体粒子の通過方向と交差する方向
に走査する請求項1記載の粒子測定装置。 4、前記照射手段は検体粒子の通過方向と交差する方向
に扁平の光ビームを照射する請求項1記載の粒子測定装
置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63226002A JPH0621859B2 (ja) | 1988-09-09 | 1988-09-09 | 粒子測定装置 |
US07/402,358 US4999513A (en) | 1988-09-09 | 1989-09-05 | Particle measuring apparatus |
FR8911791A FR2636429B1 (fr) | 1988-09-09 | 1989-09-08 | Appareil de mesure de particules |
DE3930027A DE3930027C2 (de) | 1988-09-09 | 1989-09-08 | Teilchenmeßgerät |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63226002A JPH0621859B2 (ja) | 1988-09-09 | 1988-09-09 | 粒子測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0274846A true JPH0274846A (ja) | 1990-03-14 |
JPH0621859B2 JPH0621859B2 (ja) | 1994-03-23 |
Family
ID=16838250
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63226002A Expired - Lifetime JPH0621859B2 (ja) | 1988-09-09 | 1988-09-09 | 粒子測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0621859B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0498145A (ja) * | 1990-08-16 | 1992-03-30 | Sigma Tec:Kk | 流体中の微粒子計数装置 |
JP2013502590A (ja) * | 2009-08-20 | 2013-01-24 | バイオ−ラド ラボラトリーズ インコーポレイテッド | 細胞断面の高速画像化 |
JP2013526714A (ja) * | 2010-05-18 | 2013-06-24 | パルテック ゲーエムベーハー | 分散系の粒子の光学特性を測定するための構成 |
WO2017187490A1 (ja) * | 2016-04-26 | 2017-11-02 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 分析装置 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5084285A (ja) * | 1973-11-26 | 1975-07-08 | ||
JPS60237345A (ja) * | 1984-05-01 | 1985-11-26 | オーソ・ダイアグノステイツク・システムズ・インコーポレイテツド | 粒子の分析方法および装置 |
JPS62293143A (ja) * | 1986-06-12 | 1987-12-19 | Rion Co Ltd | 微粒子測定装置 |
-
1988
- 1988-09-09 JP JP63226002A patent/JPH0621859B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5084285A (ja) * | 1973-11-26 | 1975-07-08 | ||
JPS60237345A (ja) * | 1984-05-01 | 1985-11-26 | オーソ・ダイアグノステイツク・システムズ・インコーポレイテツド | 粒子の分析方法および装置 |
JPS62293143A (ja) * | 1986-06-12 | 1987-12-19 | Rion Co Ltd | 微粒子測定装置 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0498145A (ja) * | 1990-08-16 | 1992-03-30 | Sigma Tec:Kk | 流体中の微粒子計数装置 |
JP2013502590A (ja) * | 2009-08-20 | 2013-01-24 | バイオ−ラド ラボラトリーズ インコーポレイテッド | 細胞断面の高速画像化 |
US8610085B2 (en) | 2009-08-20 | 2013-12-17 | Bio-Rad Laboratories, Inc. | High-speed cellular cross sectional imaging |
JP2013526714A (ja) * | 2010-05-18 | 2013-06-24 | パルテック ゲーエムベーハー | 分散系の粒子の光学特性を測定するための構成 |
WO2017187490A1 (ja) * | 2016-04-26 | 2017-11-02 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 分析装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0621859B2 (ja) | 1994-03-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3145487B2 (ja) | 粒子分析装置 | |
US5644388A (en) | Imaging flow cytometer nearly simultaneously capturing a plurality of images | |
JP3090679B2 (ja) | 生物標本の複数の光学的特性を測定する方法および装置 | |
JP3290786B2 (ja) | 粒子分析装置 | |
JP3187129B2 (ja) | 粒子分析装置 | |
JP3299817B2 (ja) | イメージングフローサイトメータ | |
JPH04270963A (ja) | フローイメージサイトメータ | |
JPH06186155A (ja) | 粒子分析装置 | |
JPH05346392A (ja) | イメージングフローサイトメータ | |
JPH0734012B2 (ja) | フローイメージサイトメータ | |
JPH07270307A (ja) | 走査型コンフォーカル顕微鏡 | |
JPH06186156A (ja) | 粒子分析装置 | |
JPH08320285A (ja) | 粒子分析装置 | |
JP3102925B2 (ja) | 粒子分析装置 | |
JPH02105041A (ja) | 粒子測定装置 | |
JP2826449B2 (ja) | フロー式粒子画像解析方法およびフロー式粒子画像解析装置 | |
JP2006317261A (ja) | 走査型サイトメータの画像処理方法及び装置 | |
JPH0274846A (ja) | 粒子測定装置 | |
JP2003017536A (ja) | パターン検査方法及び検査装置 | |
JP2001194303A (ja) | 蛍光分子拡散運動解析装置 | |
JPH07294414A (ja) | 粒子画像解析方法及び装置 | |
JPH01270644A (ja) | 粒子解析装置 | |
JPH0783817A (ja) | フロー式粒子画像解析方法およびフロー式粒子画像解析装置 | |
JP4040777B2 (ja) | 異物検査装置 | |
JP3392550B2 (ja) | 荷電粒子線の偏向角測定方法及び荷電粒子線装置 |