JPH0271544A - 基板移載装置 - Google Patents

基板移載装置

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JPH0271544A
JPH0271544A JP63223061A JP22306188A JPH0271544A JP H0271544 A JPH0271544 A JP H0271544A JP 63223061 A JP63223061 A JP 63223061A JP 22306188 A JP22306188 A JP 22306188A JP H0271544 A JPH0271544 A JP H0271544A
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wafer
semiconductor wafer
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hand
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Katsuhiko Iwabuchi
勝彦 岩渕
Eiichiro Takanabe
高鍋 英一郎
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Tokyo Electron Sagami Ltd
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Tokyo Electron Sagami Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、基板移載装置に関する。
(従来の技術) 一般に、半導体製造工程では、基板例えば半導体ウェハ
等を熱処理装置等で複数同時処理(バッチ処理)する場
合、耐熱性および化学的安定性に優れ、塵埃発生の少な
い石英から構成された基板保持具、いわゆるウェハボー
トが用いられている。一方、工程間の搬送等には、軽量
で安価な樹脂製の搬送用基板保持具いわゆるウニバカセ
ントが用いられている。
したがって、バッチ処理を行う場合、ウェハカセットと
ウェハボートとの間での半導体ウェハの移し換えを処理
の前後に行う必要がある。このため、例えば特開昭58
−2[1427号公報、実開昭61−33443号公報
、特開昭61−244040号公報等に開示されている
ように、このような移載を自動的に行う移載装置が種々
開発されている。一般に上述のような移載を行う場合、
ウェハカセットとウェハボートとで、半導体ウェハ間の
ピッチを変更する必要があるため、上記従来の基板移載
装置では種々の工夫がなされている。
(発明が解決しようとする課題) しかしながら、例えば熱処理装置における数百度ないし
手数百度の温度環境等により、ウェハボートは僅かなが
ら変形する。このため、このような処理後においては上
述のような基板移載装置による移載の際に、半導体ウェ
ハが例えばウェハボートの不所望部位に接触し、損傷を
受けたり、基板移載装置による半導体ウェハの保持が困
難になる等、基板の円滑な授受が困難になる場合があっ
た。
特に、縦型熱処理装置用のウェハボートを垂直な状態に
保持し、半導体ウェハの鏡面(表面)を下向きにして移
載を行うような場合は、半導体ウェハの吸着面(!に面
)が上側になるため、基板移載装置によって半導体ウェ
ハを上側から押し付けてしまったり、逆に半導体ウェハ
と基板移載装置の吸着部との間に間隔ができて吸着でき
なくなるなど、このような問題が大きな問題となる。
本発明は、かかる従来の事情に対処してなされたもので
、従来に較べて円滑な基板の授受を行うことのできる基
板移載装置を提供しようとするものである。
[発明の構成コ (課題を解決するための手段) すなわち本発明は、基板を保持する基板支持ハンドと、
この基板支持ハンドを駆動して前記基板の移載を行う駆
動機構と、前記基板支持ハンドと前記駆動機構との間に
介在し前記基板に加わる力に応じてこの力を相殺する如
く前記基板支持ハンドを移動可能に保持する保持機構と
を01えたことを特徴とする。
(作 用) 上記構成の本発明の基板移載装置は、基板支持ハンドと
駆動機構との間に介在し基板に加わる力に応じてこの力
を相殺する如く基板支持ハンドを移動可能に保持する保
持機構を備えている。したがって、従来に較べて移載の
際に基板に加わる力を軽減し、基板の円滑な授受を行う
ことができる。
(実施例) 以下本発明の実施例を図面を参照して説明する。
材質例えばセラミックスにより板状に形成された基板支
持ハンド1の先端部には、複数例えば3つの真空チャッ
ク孔2が設けられており、これらの真空チャック孔2は
、基板支持ハンド1内に設けられた真空排気路3を介し
て他端に設けられた真空排気用チューブ接続ポート4に
接続されている。すなわち、基板支持ハンド1は、真空
チャック孔2の部位に基板例えば半導体ウェハ5の裏面
5aのほぼ中央部を吸着保持するよう構成されている。
また、この基板支持ハンド1は、断面はぼコ字状に形成
された支持部6のコ字状部分に挿入される如く設けられ
ており、2本のビン7により、所定距離例えば2III
In上下動自在に保持されている。
また、これらのピン7の間には、基板支持ハンド1と支
持部6との間に介在する如くコイルスプリング8が設け
られている。このコイルスプリング8は、後述するよう
に支持部6および基板支持ハンド1を図示θ「方向に 
180度回転させて、半導体ウェハ5を下向きに保持し
た際に半導体ウェハ5および基板支持ハンド1がフロー
ティング状態(僅かな外力の印加で簡単に上下動する状
態)となるよう半導体ウェハ5および基板支持ハンド1
を支持する。
さらに、支持部6には、エアシリンダ9によって駆動さ
れるカム10によって、基板支持ハンド1を上方向(Z
方向)に押圧し、上述したような基板支持ハンド1の動
作を制限して基板支持ハンド1を支持部6に固定する機
構が設けられている。
そして、第3図に示すように支持部6は、駆動機構11
のθr軸軸動動部12接続されており、このθr軸軸動
動部12より図示矢印θr力方向駆動される。また、θ
r軸軸動動部12、r軸駆動部13上に設けられており
このr軸駆動部13によって図示矢印r軸方向に駆動さ
れる。そして、このr軸駆動部13は、Z−θ軸駆動部
14上に設けられており、この2−θ軸駆動部14によ
り図示矢印2およびθ方向に駆動される。
上記構成のこの実施例の基板移載装置20は、例えば第
4図および第5図示すように縦型熱処理装置に配置され
る。
すなわち、この縦型熱処理装置において、筐体31は、
例えばクリーンルームの境界に沿って水平方向に接続し
て設けられた3つの筐体31a、31b、31cから構
成されている。これらの筐体31a〜31cのうち、両
側に設けられた筐体318131C内には、それぞれ例
えば石英等から円筒状に構成された反応管およびその周
囲を囲繞する如く設けられた抵抗加熱し−タ、均熱管、
断熱材等から構成された2つの反応炉本体32a、32
bがほぼ垂直に配設されている。また、これらの反応炉
本体32a、32bの下部には、上下動可能に構成され
、反応炉本体32a、32b内に、ウェハボート33a
、33bに載置された多数の半導体ウェハ5を、ロード
・アンロードする機(Mとしてボートエレベータ35a
、35bがそれぞれ設けられている。
また、上記筒体31a〜31cのうち中央に設けられた
国体31bには、複数例えば4つのウエハカセッ・ト3
6a〜36dを載置可能に構成されたウェハカセット収
容部37が設けられている。
そして、この2体31b内には、ウェハカセット36a
〜36dから上記ウェハボート33a、33bに半導体
ウェハ5を移載する基板移載装置20およびウェハボー
ト33a、33bを搬送してボートエレベータ35a、
35b上に載置する搬送機構38が設けられている。な
お、基板移載装置20は、搬送機構38とともに水平方
向に移動し、各ウェハカセット36.1〜36dの部位
に停止可能に構成されている。
上記構成の縦型熱処理装置では、予め例えばウェハカセ
ット36aに反応炉本体32a用の処理用ウェハ、ウェ
ハカセット36bに反応炉本体32a用のダミーウェハ
を収容し、カセット36dに反応炉本体32b用の処理
用ウェハ、ウェハカセット36cに反応炉本体32b用
のダミーウェハを収容しておく。そして、基板移載装置
20によって、これらのウェハカセット36a〜36d
から搬送機構38に保持されたウェハボート33a、3
3bに一枚ずつ移載し、搬送機構38によってウェハボ
ー)33a、33bをボートニレベタ35a135b上
に載置し、ボートエレベータ35a、35bにより反応
炉本体32a、32b内にロードして半導体ウェハ5の
処理、例えばシリコンエピタキシャル成長を行う。なお
、ウェハボート33a、33bの上部および下部には、
数枚例えば3枚程度ずつダミーウェハ1を配置し、これ
らの間に処理用ウェハを複数例えば25枚配置するが、
連続して処理を行う場合は、ダミーウェハはウェハボー
)33a、33bに載置したままとし、処理用ウェハの
みロード・アンロードする。
また、この時、半導体ウェハ5の表面5bを上向きにし
てウェハボート・33a、33bに移載する場合は、基
板移載装置20のエアシリンダ9を作動させ、前述のよ
うにして基板支持ハンド1を固定した状態で移載を行う
。また、半導体ウエノ\5の表面5bを下向きにしてウ
ェハボート33a133bに移載する場合は、エアシリ
ンダ9を不作動とし、前述のように基板支持ハンド1お
よび半導体ウェハ5をフローティング状態として移載を
行う。したがって、フローティング状態での基板支持ハ
ンド1の上下方向の移動により、半導体ウェハ5を上か
らウェハボー)33a、33bに押し付け、損傷を与え
ることを防止することができる。また、半導体ウェハ5
と基板支持ハンド1とを非押圧状態に接触させることが
できるので、基板支持ハンド1によるウェハボート33
a、33bからの吸着保持も半導体ウェハ5に損傷を与
えることなく容易に行うことができる。
なお、上記説明の縦型熱処理装置では、−台の基板移載
装置20および搬送機構38を2つの反応炉本体32a
、32bで共用することにより、装置の製造コストの低
減および、装置の設置面積の縮小化を図ることができる
が、基板移載装置20は、通常の縦型熱処理装置等あら
ゆる基板処理装置とともに使用することができることは
もちろんである。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明の基板移載装置によれば、
従来に較べて円滑な基板の授受を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図は本発明の一実施例の基板移載装置
の要部を示す図、第3図は本発明の一実施例の基板移載
装置の全体構成を示す図、第4図および第5図は本発明
の一実施例の基板移載装置を配置した縦型熱処理装置の
構成を示す図である。 1・・・・・・基板支持ハンド、2・・・・・・真空チ
ャック孔、3・・・・・・真空排気路、4・・・・・・
真空排気用チューブ接続ポート、5・・・・・・半導体
ウェハ、6・・・・・・支持部、7・・・・・・ビン、
8・・・・・・コイルスプリング、9・・・・・・エア
シリンダ、10・・・・・・カム。 出願人      チル相模株式会社

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基板を保持する基板支持ハンドと、この基板支持
    ハンドを駆動して前記基板の移載を行う駆動機構と、前
    記基板支持ハンドと前記駆動機構との間に介在し前記基
    板に加わる力に応じてこの力を相殺する如く前記基板支
    持ハンドを移動可能に保持する保持機構とを備えたこと
    を特徴とする基板移載装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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