JPH0269534A - プラスチック成形品の表面改質法 - Google Patents

プラスチック成形品の表面改質法

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JPH0269534A
JPH0269534A JP22043988A JP22043988A JPH0269534A JP H0269534 A JPH0269534 A JP H0269534A JP 22043988 A JP22043988 A JP 22043988A JP 22043988 A JP22043988 A JP 22043988A JP H0269534 A JPH0269534 A JP H0269534A
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Teijin Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的と利用分野] 本発明は、 主として高分子鎖が規則的に配列した結晶性高分子、又
は無定形状態と結晶性状態が混在した半結晶性高分子よ
りなるプラスチック成形品の表面を改質又は変質する新
規な光加工法、 に関するものである。ここで言うプラスチック成形品と
はフィルム、シート、mM、樹脂成形品などを指す(以
下、対象成形品という)。又、目的とする表面の改質又
は変質とは対象成形品の接着性、易滑性、吸湿性、ぬれ
性、吸油性、染色性。
含浸性、光反射性、描画性、導電性などの表面の物理的
及び/又は化学的特性を望ましい水準に変えることを意
味する。
[先行技術と本発明の新規性] ワイ・ノピス等は(Y、 Novis、J、 J。
Pireaux、A、Brezini、E、  Pet
it、and  R。
Caudano、J、Appl、   Phys、  
 Vol  64  、 365(1988) )ポリ
エチレン・テレフタレートに閾値附近(20〜40mJ
/Cd)のArFレーザ光(193tV)を照射すると
、その照射表面のエツチングの状態は非晶質のものと半
結晶性のものでは著しく異なることを認め、紫外線レー
ザによる表面のエツチングは芳香族系の半結晶性高分子
の表面結晶構造を観察するのに迅速で簡便な方法である
としている。然し、そのエツチングの工業的な有用性。
活用策については何等の提案も行っていない。
プラスチックス成形品の表面改質法として工業的に有効
な方法の一つとしては特開昭54−138076がある
。この発明は延伸可能なプラスチック成形品に紫外線を
照射したあと、あるいは照射しつつ延伸を行うことによ
り表面改質を行う方法である。
即ち、紫外線を照射した後に延伸と言うプロセスが組合
されて始めてプラスチック成形品の表面が改質されると
している。
本発明者等は特開昭54−138076で使われている
水銀灯などの放電灯の代りに紫外線レーザを使用した場
合には、 (1)  光照射後に延伸したのでは成形品の表面は余
り改質、変質されない。寧ろ、 (2)  光照射に先立って延伸した成形品を使用しな
い限り表面は改質又は変質され難い。更に、(3)  
成る種の構造を有するプラスチックス成形品は延伸をし
なくても光照射のみでその表面が充分に改質又は変質さ
れる。
と言う予期しなかった新しい知見を得ることが出来た。
[発明の構成コ 本発明は結晶性、半結晶性高分子の成形品に適用可能で
あるが特に好ましい高分子としては、ポリエステル系高
分子(ポリエチレン・テレフタレート(以下PETと略
す)、ポリブチレン・テレフタレート、ポリエチレン−
2,6−ナフタレート(以下PEN−2,6と略す)、
ボリアリレートなど)、ポリアミド系高分子(ナイロン
6、ナイロン66、ナイロン12など)、ポリアラミド
系高分子(ポリ−p−フェニレン・テレフタルアミド、
ポリー信−フエニレン・イソフタルアミドなど)のほか
、芳香族ポリエーテル・エーテルケトン(以下PEEK
と略す)やポリアリレン・サルファイド(ポリフェニレ
ン・サルファイド(以下PPSと略す)など)などであ
る。これらの高分子は特開昭54−138076の如く
光を照射した侵で延伸配向する必要は全くなく、その表
面はレーザ照射のみで充分に改質、変質される。然し、
好ましくはレーザ光を照射する前に予め処理をして結晶
核を潜在的に生成せしめた後で照射を行う方がその効果
が大きい。そのための予備処理法として好ましい方法の
一つは延伸配向法である。この延伸は一軸延伸でも二輪
延伸でもよい。二輪延伸の場合、逐次二軸でも同時二輪
でもそのいづれでもよい。
軸延伸の場合の好ましい延伸倍率はPETで2〜5倍で
ある。また、二軸延伸配向の場合、PETで好適な面積
延伸倍率は5〜20倍である。延伸温度はPETの場合
、80〜160℃の範囲で行われ、延伸後に 120〜
240℃で通常熱処理される。照射には熱処理したもの
を使用しても良い。又、光照射をした後で熱処理しても
差支えなく、場合によっては熱処理をしないものをその
まま使用することも出来る。延伸以外の予備処理法とし
ては対象成形品を少くとも結晶化温度近く迄加熱し熱処
理することで結晶核を潜在的に生成することも出来る。
又、適当な溶媒中に対象成形品を浸漬することで結晶核
を生成することも可能である。例えば非晶性PEN−2
,6フイルムの場合には溶媒としてジオキサンを使用し
、50℃で10分間浸漬処理すれば結晶核を生成するこ
とが出来る。
本発明でいう紫外線レーザ光とは150〜38Or+m
の波長を有するものでありXe F、N2 。
Xe On、Kr F、△r F、F2等のレーザのほ
か銅蒸気レーザ、YAGレーザなどの高調波変換器や色
素レーザなどから発生するレーザ光を用いることが出来
る。レーザ光の照射方法には特に限定はない。照射は空
気中、不活性ガス中、加圧下又は真空中のいづれで実施
しても良い。照射に当っての温度は常温から 100℃
の範囲が好ましい。
照射条件として大切なのは照射フルエンスである。
フルエンスハ通常0.1mJ/d/パルス〜6J/Cd
/パルスの範囲が好ましいが照射される対象成形品並び
に改質、変質の目的により種々異なったものとなる。高
いフルエンスを使用したい場合には凸レンズを用いて所
定のフルエンスが照射面で得られるように光源とレンズ
、レンズと照射試料との距離を各々適切に調節すればよ
い。反対により低いフルエンスで照射を行いたい場合に
は凸レンズの代りに凹レンズを使用すれば低フルエンス
での照射を行うことが出来る。
レーザ光照射に先立って本発明の対象成形品の中に予め
光増感剤(例えばベンゾフェノン)を添加しても良く、
又任意の高分子とブレンドしてからレーザ光を照射して
も何ら差支えない。
実施例に於いて照射に使用した紫外パルスエキシマ・レ
ーザはラムダ・フィシツク社VEM02001  M 
S Cである。使用したガス媒体はArF(193nm
 >、 Kr F (248nm )、 Xe Cf(
308nm) 、 Xe F (351nm )である
が、照射に用いるポリマーの紫外部の吸収が短波長側に
片寄っている場合(例えばナイロンなど)には主として
ArFなどの短波長レーザで照射することが好ましい。
又、目的とする改質・変質によっても使用する波長、照
射条件等を変更することも必要である。例えば反射率を
変える場合には変質(黒化)による方法と、白化(失透
)による方法とがあるが前者の場合には照射にはパルス
当りのフルエンスを低目にし、その代りに照q4パルス
数を増やすことの方が反射率が低い、即ち良い結果が得
られることが多い。これに反し、白化(失透)により反
射率を変化させる場合にはパルス当りのフルエンスを高
目にして照射した方が一般により好ましい結果が得られ
る。
以下実施例を示して本発明の詳細な説明を行うが本発明
の請求範囲はこれらの実施例により何等の制限を受ける
ものではない。
尚、実施例中に示した特性値の測定法は下記の通りであ
る。
(1)表面反射率 島津製作所製自記分光光度計UV−300に積分球付属
装置を取り付け、レーザ照射前の試料の反射率を100
%として、レーザ照射後の反射率を評価した。
(2)表面粗さ T aylor−Hobson社製表面形状測定装置T
a1ysurf型を用い、J I S  B 0601
−1976に準じて粗さを測定し、粗さの極大値と極小
値の差で評価した。
(3)  易滑性 A S T M −D l894 3法に従って測定し
静摩擦係数で示した。
第−表 xecuレーザによる表面改質実施例−1Xe
Cρレーザによる表面改質(白化−黒化) ガス媒体としてXe0文(発成波長308nm )を使
用し、繰返し周波数が11−12.フルエンスは75m
J/d/パルス、パルス幅は半値全幅で20nsの条件
で試料を直接照射した。照射はショツト数を100パル
ス迄照射し表面の変色状態(白化−黒化)を肉眼で観察
した。又、100パルス照射した時の試料の表面反射率
を測定した。観察並びに反射率の測定結果を次表に示し
た。照射に使用した試料はPEN−2,6以外は市販の
ものを入手してテストに使用した。
上表から予め延伸配向してから照射したサンプルの方が
照射により変質を受は易いことが明らかに判る。
PEEKとPPSについて第−表と同一の照射サンプル
を使用して900nm〜600nmでの反射率を測定し
た。次表にその結果を示した。
第二人 XeCρレーザによる表面変質−フェニレン・
イソフタルアミドフィルム(MPIと略す)以外は全て
市販品を入手して実験に使用した。
第二人 KrFレーザによる表面改質−1上表の如く照
射によりいづれの試料も長波長よりも短波長での反射率
が小さくなる。然し、波長に対する反射率の変化は一様
に変化しているので以下の実施例では700rvに於け
る反射率の値を代表値として表示することに留めた。
実施例−2KrFレーザによる表面改質(白化−黒化) ガス媒体をKr F (発振波長248n■)に変えて
実施例−1と同様なテストを行った。繰返し周波数はI
H2,パルス幅は半値全幅で20nS、照射ショツト数
は100パルスでテストした。照射に使用した試料は面
積倍率10倍に二輪延伸したポリ−m表面が黒化するか
白化失透するかはフルエンスにより異なる。PETを例
にとると35mJ/d/パルスでは未延伸、二輪延伸の
いづれの試料も黒化するが延伸配向したサンプルの方が
反射率は低い。然し80m J / ai /パルスに
フルエンスを上げると二輪延伸PETの照射試料の表面
は白化し失透する。この失透した照射面を光学顕微鏡で
観察すると表面が凹凸の状態になって居り乱反射のため
失透したように見えることが判った。然し、黒化するか
白化失透するかはフルエンスのみに依存せず高分子の種
類によっても異なる。例えばPPSでは8077LJ/
cd/パルスでも白化(失透)現象は観察されていない
試料表面が白化失透すると表面反射率は急速に上る。然
し、極めて微細な凹凸が照射表面に生成しているので艶
消し効果は充分に認められ、鉛筆による描画性も発現し
ている。又、コンデンサー絶縁油などの含浸性も向上し
ていることは明らかである。更に照射、未照射個所の染
料の染着性の差を利用して光線透過率や表面反射率等の
照射個所の光学的特性の差を未照射個所に対して際立た
せることも又可能である。
参考のために電極間距離を10履として、簡易表面抵抗
測定器にて照射により表面が黒化した試料の表面抵抗を
測定した。結果を数表に示した。
第四表 KrFレーザによる表面変質−2いづれの試料
も照射によりその表面抵抗が著しく低下していることが
判った。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第5図で使用した試料はいずれも同条件で延伸
配向(面積倍率10倍)したPEN−2,6フイルムで
ある。 第1図は二輪延伸されたPEN−2,6フイルムの表面
を走査型電子顕微鏡で観察した写真である。 第2図〜第5図の写真は二輪延伸PEN−2,6フイル
ムを数表の如き条件で紫外パルスレーザ光を照射した後
のフィルムの表面を観察した写真である。 撮影条件は、いづれも 倍 率   x 2000 (但し、図4のみxloo
o)角  度         45゜ 加  速  電  圧     5KV金スパツタコー
テイング    100人である。 尚、照射はいずれも繰返し周波数は1H2,パルス幅は
半値全幅で20nsで実施した。又高フルエンスでの照
射には凸レンズ(焦点距離100m+、又は170as
+)を用いて所定のフルエンスを得るようにした。 第2〜5図より延伸配向条件(予備処理)が定であって
も使用するレーザ、照射条件を変えることにより広範囲
に表面の粗さを変更出来ることが判る。 付表 紫外パルスレーザ照射条件 特許出願人 通商産業省工業技術院長 帝人油化株式会社 \ζ=

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 主として結晶性又は半結晶性高分子よりなるプラスチッ
    クス成形品を予め処理して結晶核を潜在的に生成せしめ
    た後に、380nm以下の波長を含む紫外線レーザ光を
    照射し、当該プラスチックス成形品の表面を改質又は変
    質することを特徴とするプラスチックの光加工法。
JP63220439A 1987-12-11 1988-09-05 プラスチック成形品の表面改質法 Expired - Lifetime JP2574009B2 (ja)

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