JPH0259632A - トルク測定装置 - Google Patents

トルク測定装置

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JPH0259632A
JPH0259632A JP21104288A JP21104288A JPH0259632A JP H0259632 A JPH0259632 A JP H0259632A JP 21104288 A JP21104288 A JP 21104288A JP 21104288 A JP21104288 A JP 21104288A JP H0259632 A JPH0259632 A JP H0259632A
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JP
Japan
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signal
sawtooth wave
output
torque
circuit
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Application number
JP21104288A
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English (en)
Inventor
Daizo Morishita
森下 大造
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Shinko Electric Co Ltd
Original Assignee
Shinko Electric Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH0259632A publication Critical patent/JPH0259632A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この発明は回転する伝達機構の出力トルクをその回転し
ている軸のねじれ角度によって検出するトルク測定装置
に関する。
「従来の技術」 第4図は従来のトルク測定装置の構成例を示すブロック
図であり、この図において、lは被測定物である軸、2
1および2.は軸lのトルク検出用歯車であり、歯車2
1は軸lの入力側に、歯車2゜は軸Iの出力側にそれぞ
れ取り付けられている。
尚、第5図に示すように、歯車22は歯車21に対して
歯幅の2分の1のピッチだけラジアル方向にずらせて取
り付けられている。また、3.および3、は電磁誘導式
のセンサ、4はセンサ3.および3、から出力される信
号を処理してトルク信号を出力する制御器、5はトルク
信号が出力される出力端子である。
このような構成において、袖1のトルクを測定するには
、まず、軸lを回転させる。これにより、歯車21およ
び2.も回転して、歯車21および2゜とセンサ31お
よび3!との間に発生する磁束の変化によってセンサ3
.および3.から1回転当たり歯車2.および2.の歯
数に等しい信号が出力される。この時、軸lの出力側に
負荷が加わっていない場合は、軸lが一定回転しており
、センサ3゜からは第6図(a)に示すような信号S、
が出力され、センサ3.からは第6図(b)の実線に示
すような信号S、が出力される。この場合の信号S1と
信号S、との位相差TIは一定である。一方、軸lの出
力側に負荷が加わっている場合は、軸1は負荷によって
入力側に対して出力側がねじれる。これに応じて歯車2
.は歯車2.に対してねじれる。これにより、センサ3
Iからは第6図(a)に示すような信号S1が出力され
、センサ3.からは第6図(b)の破線に示すような信
号S’tが出力される。この場合の信号S、と信号S°
、との位相差T、は無負荷の場合の位相差T、に比べて
位相差変位Δtだけ大きくなる。この位相差変位Δtは
軸lが負荷によってねじれる角度に比例する。
次に、制御器4はセンサ31および3.から出力される
信号を処理してトルク信号を生成する。この処理方法に
はディジタル式とアナログ式とがある。まず、ディジタ
ル式は第6図(c)に示す基やパルスが位相差変位Δを
以内にカウントされる数(第6図(d)参照)を計測し
てトルク信号を出力端子5から出力する。一方、アナロ
グ式は位相差変位Δtに応じた電圧(第6図(e)の斜
線部分)を発生させ、この電圧をフィルタによって平滑
化して、第6図(e)の2点鎖線に示すような直流電圧
としてl・ルク信号を出力端子5から出力する。
「発明か解決しようとする課題」 ところで、上述の従来のトルク測定装置において、制御
器4には以下のような欠点がある。
まず、ディジタル方式については、歯車2□および2.
の歯数、軸lのねじれ角度、軸1の最大回転数およびこ
の装置の測定分解能等によって決定される基草パルスの
周波数が10MHz以」二になるとディジタル処理か困
難になるという問題があった。
また、アナログ方式については、軸lのねじれ角度が小
さく、かつ歯車2.および2.の歯数が少ない装置の測
定では、位相差変位Δtが小さいため、それに応じた電
圧も小さい。従って、この電圧をフィルタによって平滑
化し、トルク信号として出力するとこの信号の電圧がさ
らに小さくなる。
そのため、トルク信号のS/Nが悪く、周囲の環境や用
いられている電子部品の特性変化の影響を受けやすく、
この装置の分解能および測定精度が低下するという欠点
があった。
この発明は上述した事情に鑑みてなされたもので、軸の
ねじれ角度が小さく、かつ、軸に取り付けられている歯
車の歯数が少なくて軸の1回転当たりに得られる軸のね
じれ角情報の少ない高速回転するシステムの場合でも、
高い分解能および精度でトルク信号を検出することがで
き、しかも、被測定物の回転が変動する場合でも正確な
トルク信号を検出することができるトルク測定装置を提
供することを目的としている。
「課題を解決するための手段」 この発明は、被測定物から電磁誘導によって、同一周波
数であって、位相の異なる第1および第2の信号を取り
出す第1および第2のセンサと、第1の信号の立ち上が
りによってトリガされて逐次立ち上がり、かつ、第1の
信号の立ち下がりによってリセットされてもとのレベル
に戻るノコギリ波を発生するノコギリ波発生回路と、ノ
コギリ波を第2の信号の立ち上がりによってサンプルボ
ールドするサンプルホールド回路と、ノコギリ波の掃引
角度を第1の信号の周波数に応じて制御する掃引角度制
御回路とを具備することを特徴としている。
「作用」 この発明によれば、まず、第1および第2のセンサを用
いて被測定物より電磁誘導によって、同一周波数であっ
て、位相の異なる第1および第2の信号を取り出す。次
に、ノコギリ波発生回路を用いて第1の信号の立ち上が
りによってトリガされて逐次立ち上がり、かつ、第1の
信号の立ち下がりによってリセットされてもとのレベル
に戻るノコギリ波を発生させる。そして、サンプルホー
ルド回路を用いてこのノコギリ波を第2の信号の立ち上
がりによってサンプルホールドする。また、掃引角度制
御回路を用いてノコギリ波の掃引角度を第1の信号の周
波数に応じて制御する。
「実施例」 以下、図面を参照してこの発明の一実施例について説明
する。第1図はこの発明の一実施例によるトルク測定装
置の構成を示すブロック図であり、この図において、第
4図の各部に対応する部分には同一の符号を付し、その
説明を省略する。第1図に示すトルク測定装置において
は、制御器4は以下に示す各回路によって構成されてい
る。6゜および6.はセンサ3Iおよび3.から出力さ
れる信号を矩形波に波形整形する波形整形回路、7は波
形整形回路6.の出力信号の立ち上がりからトリガパル
スを生成するトリガパルス生成回路、8は波形整形回路
6Iの出力信号の立ち下がりからリセットパルスを生成
するリセットパルス生成回路、9はトリガパルスによっ
てトリガされて逐次立ち上がり、リセットパルスによっ
てリセットされても゛とのレベルに戻るノコギリ波を発
生するノコギリ波発生回路であり、このノコギリ波の掃
引角度は掃引角度制御回路10によって制御される。
掃引角度制御回路IOにおいて、11は軸lの出力側に
負荷が加わっていない場合に、ノコギリ波の掃引角度を
制御する信号を出力する制御信号発生回路、12は波形
整形回路61の出力信号の周波数を電圧に変換するF/
vコンバータ、13は制御信号発生回路11およびF/
VコンバータI2の出力信号が入力される加算器である
。また、14は波形整形回路6.の出力信号の立ち上が
りからサンプリングパルスを生成するサンプリングパル
ス生成回路、15はノコギリ波発生回路9の出力信号を
サンプリングパルスによってサンプリングするサンプリ
ングスイッチ、16はサンプリングスイッチ15により
サンプリングされた電圧を保持する保持コンデンサ、1
7は保持コンデンサ16の電圧を所定のレベルまで増幅
する増幅器である。
このような構成において、袖1のトルクを測定するには
、まず、軸lに負荷を加えない状態で軸lを回転させる
。これにより、歯車2Iおよび2!ら回転して、歯車2
Iおよび2.とセンサ3.および3.との間に発生する
磁束の変化によってセンサ31からは第2図(a)に示
すような信号S、が出力され、センサ3.からは第2図
(b)の実線に示すような信号S2が出力される。この
場合の信号Slと信号S2との位相差T1は一定である
次に、制御器4はセンサ3.および3.から出力される
信号を処理してトルク信号を生成する。まず、波形整形
回路6Iは信号S、を波形整形して第2図(c)に示す
波形の信号を出力する。また、波形整形回路6.は信号
S2を波形整形して第2図(d)に示す波形の信号を出
力する。次いで、トリガパルス生成回路7は波形整形回
路6.の出力信号の立ち上がりからトリガパルスを生成
し、リセットパルス生成回路8は波形整形回路6Iの出
力信号の立ち下がりからリセットパルスを生成する。
方、サンプリングパルス生成回路14は波形整形回路6
.の出力信号の立ち上がりからサンプリングパルスを生
成する。これにより、ノコギリ波発生回路9はトリガパ
ルスによってトリガされてノコギリ波を制御器4の電源
電圧のフルスケールをマイナスからプラスに向って掃引
を開始して、リセットパルスによってその掃引を停止し
て電源電圧のフルスケールのマイナスにリセットされる
サンプリングスイッチ15はノコギリ波発生回路9の出
力信号をサンプリングパルスによってサンプリングして
、保持コンデンサ16がサンプリングスイッチ15によ
りサンプリングされた電圧を保持する。そして、増幅器
17は保持コンデンサ16の電圧を所定のレベルまで増
幅して出力端子5からトルク信号として出力する。
この時、制御信号発生回路IIを操作して、トルク信号
が0■になるように調整する。即ち、ノコギリ波発生回
路9の出力信号のサンプリングポイントSp+がOVに
なるようにノコギリ波の掃引角度を制御する信号を出力
させる。これにより、第2図(「)に示すように、掃引
角度制御回路10がノコギリ波発生回路9の出力信号の
サンプリングポイント5l)lがOVになるようにノコ
ギリ波の掃引角度を制御する。
次に、軸lの出力側に負荷を加えた状態で軸lを回転さ
せる。これにより、軸1は負荷によって入力側に対して
出力側がねじれる。これに応じて歯車2.は歯車2.に
対してねじれながら回転して、歯車21および2.とセ
ンサ3.および3.との間に発生する磁束の変化によっ
てセンサ31からは第2図(a)に示すような信号S1
が出力され、センサ3、からは第2図(b)の破線に示
すような信号S′が出力される。この場合の信号S、と
信号S’2との位相差T、は無負荷の場合の位相差T、
に比べて位相差変位Δtたけ大きくなる。この位相差変
位Δtは軸■が負荷によってねじれる角度に比例する。
次に、制御器4はセンサ3.および3.から出力される
信号を処理してトルク信号を生成する。まず、波形整形
回路6.は信号S、を波形整形して第2図(c)に示す
波形の信号を出力する。また、波形整形回路6.は信号
S’tを波形整形して第2図(e)に示す波形の信号を
出力する。次いで、トリガパルス生成回路7は波形整形
回路6.の出力信号の立ち上がりからトリガパルスを生
成し、リセットパルス生成回路8は波形整形回路6.の
出力信号の立ち下がりからリセットパルスを生成する。
一方、サンプリングパルス生成回路14は波形整形回路
6.の出力信号の立ち上がりからサンプリングパルスを
生成する。これにより、ノコギリ波発生回路9はトリガ
パルスによってトリガされてノコギリ波を制御器4の電
源電圧のフルスケールをマイナスからプラスに向って掃
引を開始して、リセットパルスによってその掃引を停止
して電源電圧のフルスケールのマイナスにリセットされ
る。
サンプリングスイッチ15はノコギリ波発生回路9の出
力信号をサンプリングパルスによってサンプリングして
、保持コンデンサ16かサンプリングスイッチ15によ
りサンプリングされた電圧を保持する。そして、増幅器
17は保持コンデンサi6の電圧を所定のレベルまで増
幅して出力端子5からトルク信号として出力する。
この時のサンプリングポイントSptは、第2図(f)
に示すように、無負荷時に比べてプラス側に移動する。
ところで、センサ3.および3.から出力される信号の
周波数は軸lの回転数によって変化するので、これに応
じて無負荷時の信号slと信号S、との位相差T1も変
化する。従って、ノコギリ波発生回路9において発生さ
れるノコギリ波の掃引角度ら軸lの回転数に応じて制御
する必要がある。
このノコギリ波の掃引角度を制御する方法は、例えば、
以下の方法によって行うことが可能である。
第3図はノコギリ波発生回路9に用いられる積分回路の
一例であり、18は演算増幅器、19は入力抵抗、20
は入力信号の積分用のコンデンサ、21はリセットパル
スによって開閉されるスイッチ、22は入力バイアス電
流に起因するオフセット電圧を少なくするための補償抵
抗である。そして、出力電圧Voは入力電圧Vs、抵抗
19の値R8およびコンデンサ20の値cfによって以
下の式%式% 従って、入力端子Vsを変化させることによって出力電
圧Voが上昇する角度、即ち、ノコギリ波の掃引角度を
制御することができる。この人力電圧Vsは掃引角度制
御回路10の出力信号によって制御されるが、この掃引
角度制御回路10には制御信号発生回路11およびF/
VコンバータI2がある。このうち、F/Vコンバータ
12からは軸1の回転数に応じた電圧、即ち、軸!の回
転数が低い場合にノコギリ波の掃引角度を小さくし、軸
lの回転数が高い場合にノコギリ波の掃引角度を大きく
する電圧が発生される。この電圧を用いて電圧Vsを制
御することにより、軸1の回転数の変化による影響を排
除して、適切なノコギリ波を発生させることができ、従
って、正確なトルク信号を検出することができる。
また、負荷側からのパワーバックがあった場合は、軸l
の入力側に対して出力側が上述の場合とは逆の方向にね
じれ、これにより、歯車22が歯車21に対して上述の
場合とは逆の方向にねじれる。従って、第2図(b)の
1点鎖線に示すように、センサ31の出力信号s1の位
相に対してセンサ3、の出力信号S”tの位相が進む。
この信号S”が波形整形回路6.によって、第2図(e
)の1点鎖線に示すように、矩形波に波形整形され、サ
ンプリングパルス生成回路I4によって波形整形回路6
2の出力信号の立ち上がりからサンプリングパルスが生
成される。従って、この場合のサンプリングスイッチ1
5におけるサンプリングポイントsp3は、第2図(f
)に示すように、無負荷時に比べてマイナス側に移動す
る。これにより、負のトルク信号ら検出することができ
る。
「発明の効果」 以上説明したように、この発明によれば、被測定物から
電磁誘導によって、同一周波数であって、位相の異なる
第1および第2の信号を取り出す第1および第2のセン
サと、第1の信号の立ち上がりによってトリガされて逐
次立ち上がり、かつ、第1の信号の立ち下がりによって
リセットされてもとのレベルに戻るノコギリ波を発生す
るノコギリ波発生回路と、ノコギリ波を第2の信号の立
ち上がりによってサンプルホールドするサンプルホール
ド回路と、ノコギリ波の掃引角度を第1の信号の周波数
に応じて制御する掃引角度制御回路とを設けたので、軸
のねじれ角度が小さく、かつ、軸に取り付けられている
歯車の歯数か少なくて軸の1回転当たりに得られる軸の
ねじれ角情報の少ない高速回転するシステムの場合でも
、高い分解能および精度でトルク信号を検出することが
できる効果がある。また、被測定物の回転が変動する場
合でも正確なトルク信号を検出することができる効果も
ある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例によるトルク測定装置の構
成を示すブロック図、第2図は第1図のセンサ3.およ
び3.の出力信号と制御器4内の各部から出力される信
号の波形図、第3図は第1図のノコギリ波発生回路9に
用いられる積分回路の一例を示す回路図、第4図は被測
定物の軸1、歯車2.および2.と従来のトルク測定装
置の構成例を示すブロック図、第5図は第4図の軸l、
歯車2、および2.の左側面図、第6図は第4図のセン
サ31および3.の出力信号と制御器4内の各部から出
力される信号の波形図である。 3132・・・・・・センサ、9・・・・・ノコギリ波
発生回路、10・・・・・掃引角度制御回路、15・・
・・・・サンプリングスイッチ、16・・・・・・保持
コンデンサ。 第4図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 被測定物から電磁誘導によって、同一周波数であって、
    位相の異なる第1および第2の信号を取り出す第1およ
    び第2のセンサと、前記第1の信号の立ち上がりによっ
    てトリガされて逐次立ち上がり、かつ、前記第1の信号
    の立ち下がりによってリセットされてもとのレベルに戻
    るノコギリ波を発生するノコギリ波発生回路と、前記ノ
    コギリ波を前記第2の信号の立ち上がりによってサンプ
    ルホールドするサンプルホールド回路と、前記ノコギリ
    波の掃引角度を前記第1の信号の周波数に応じて制御す
    る掃引角度制御回路とを具備することを特徴とするトル
    ク測定装置。
JP21104288A 1988-08-25 1988-08-25 トルク測定装置 Pending JPH0259632A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6774462B2 (en) 2002-05-29 2004-08-10 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor device comprising dual silicon nitride layers with varying nitrogen ratio
JP2007093407A (ja) * 2005-09-29 2007-04-12 Ntn Corp ドライブシャフトの軸トルク測定方法および測定装置
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JP2013225691A (ja) * 2007-03-23 2013-10-31 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置、及び、半導体装置の作製方法

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