JPH0256892A - エレクトロルミネセンスパネル - Google Patents

エレクトロルミネセンスパネル

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JPH0256892A
JPH0256892A JP63207828A JP20782888A JPH0256892A JP H0256892 A JPH0256892 A JP H0256892A JP 63207828 A JP63207828 A JP 63207828A JP 20782888 A JP20782888 A JP 20782888A JP H0256892 A JPH0256892 A JP H0256892A
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JP
Japan
Prior art keywords
insulating substrate
film
transparent insulating
layer
optical interference
Prior art date
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Pending
Application number
JP63207828A
Other languages
English (en)
Inventor
Etsuo Ogino
悦男 荻野
Yuichi Aoki
裕一 青木
Koji Nakanishi
功次 中西
Shiro Kobayashi
史朗 小林
Toshitaka Shigeoka
重岡 利孝
Katsuhisa Enjoji
勝久 円城寺
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Sheet Glass Co Ltd
Original Assignee
Nippon Sheet Glass Co Ltd
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Publication date
Application filed by Nippon Sheet Glass Co Ltd filed Critical Nippon Sheet Glass Co Ltd
Priority to JP63207828A priority Critical patent/JPH0256892A/ja
Publication of JPH0256892A publication Critical patent/JPH0256892A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/80Constructional details
    • H10K59/8791Arrangements for improving contrast, e.g. preventing reflection of ambient light

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、エレクトロルミネセンスパネル(以後ELパ
ネルと略称する)に関し、特に表示品質が向上したEL
デイスプレィパネルに関する。
〔従来の技術〕
近年コンピューターの普及に伴い、デイスプレィデバイ
スの需要が高まっており特に現在量も広く使われている
CRTの厚味が大きすぎると云う欠点を改善しようと云
う動きが盛んである。平面デイスプレィ装置として現在
実用化の域に達しているものには、代表的なものを挙げ
るとLCD(液晶デイスプレィ)、PD(プラズマデイ
スプレィ)、ELD(エレクトロルミネセントディスプ
レイ)、螢光表示管の4種類があり、ELDは中でも輝
度の高さ、応答性の良さ、コントラストの良さ及び視野
角の広さに於いて群を抜いている。
このようなELDとして、ガラス基板上に透明電極(例
えばITO)、発光層(例えばZnS : Mn)、電
流制限層(例えばMn0z) 、背面電極(例えばAn
を順次積層した構造(例えば GB2176340A、
 GB2176341A)が知られている。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、上記従来のELデイスプレィパネルにお
いては、EL素子を構成する各層の界面からの反射光量
及びELパネル前面からの反射光量が大きいため、コン
トラストが悪く、又、眼性疲労の原因となっていた。
〔課題を解決するための手段〕
本発明は、上記従来の問題点を解決するためになされた
ものであって、透明絶縁基板上に、透明電極、発光層、
電流制限層および背面電極を設けたエレクトロルミネセ
ンスパネルにおいて、該透明絶縁基板と発光層との間に
、光学干渉によって、透明絶縁基板側から入射した外部
光に対して透明絶縁基板と発光層との間に存在する界面
からの合計の反射光量が減少する様な屈折率および膜厚
を有する少なくともINの光学干渉膜を設けている。
該光学干渉層は、透明絶縁基板と透明導電膜の間、透明
導電膜と発光層の間又はその両方等の位置に設けること
ができる。内でも透明絶縁基板と透明導電膜との間に設
けることが、EL素子駆動の電気的な弊害防止条件がな
く自由にその材料、膜層を選択できるので好ましい。
該光学干渉層は単層であっても複層であってもかまわな
い。しかしながら複層にすると製造コストが増加するこ
とになるので単層とすることが好ましい。
該光学干渉層としては、AlzOl、Ti12.5if
t、MgFz (Pr 6o11 + Ti(h)、Z
r0z等の透明材料が使用される。
基板ガラス面から見た裏面反射率Rrevmは、例えば
、■透明絶縁基板と透明導電膜との間に一層の光学干渉
膜を設ける場合、設ける光学干渉膜の屈折率nおよび厚
さd、透明絶縁基板の屈折率n5Ul+%透明導電膜の
屈折率nl?。、厚さdlTo、および消衰係数RI?
。、発光層の屈折率12N3を用いて、■発光層と透明
導電膜との間、および透明導電膜と透明絶縁基板との間
の両方に各々1石の光学干渉膜を設ける場合、発光層と
透明導電膜との間の光学干渉膜1の屈折率n1および膜
厚d1、および透明導電膜と透明絶縁基板との間の光学
干渉膜2の屈折率n2および膜厚d2および前述の特性
を用いて、 光学干渉膜の屈折率nおよび厚さdは、上記裏面反射率
Rrevmが減少する様に設定される。
透明絶縁基板と透明導電膜との間に光学干渉膜を設ける
場合には、前記、光学干渉層の等価屈折率としては、透
明絶縁性基板の屈折率と透明電極の屈折率との中間の値
である必要がある。仮に、透明電極の屈折率よりも大き
な値の場合は、透明絶縁性基板と光学干渉層との界面か
らの反射光量が透明絶縁性基板と透明電極との界面から
の反射光量よりも大きくなり、本発明の目的に不適な結
果となる。
本発明のEL素子の透明絶縁基板の発光層に対する反対
側表面に通常のレンズに使用される様な反射防止層を設
けることは、本発明の効果と相乗効果によってより良好
な表示品質を実現できるので好ましい。
パネル前面に成膜される反射防止層としては、例えば、
低屈折材料(例えばMgh)1層からなるもの、高屈折
材料/中間屈折材料/低屈折材料(例えばPr60++
 + Ti1t/^12203/ Mgh)  3層か
ら成るもの、高屈折材料/低屈折材料/高屈折材料/低
屈折材料(PrrO+ I”Ti0z/ Mgh/ P
r6[+ t +Ti1t/Mgh) 4層から成るも
の、あるいは5層以上の全て透明誘電体薄膜によって形
成されたものであったり、薄い吸収膜を利用して、透過
率を調整させる機能を、付加した多層反射防止層であっ
ても良い。
〔作用〕
本発明によれば、透明絶縁膜と発光層との間に光学干渉
膜を設けているために、透明絶縁性基板、光学干渉膜、
透明電極、発光層のそれぞれの界面からの外部からの光
の反射光がお互いに光学的に干渉し合い、EL素子の素
子部からの光の反射が低減される。そのためコントラス
トが良くなり、眼性疲労が軽減できる。
〔実施例〕 以下、本発明の実施例について、説明する。
〈実施例1〉 ガラス基板1上に、真空蒸着法により酸化アルミ(A 
1 zoo)を膜厚が83nmとなるように成膜した。
この時のA l tax膜6の屈折率はエリプソメトリ
−法により測定した結果1.67であった。次に、透明
電極2としてインジウム・すず酸化物(ITO)を反応
性スパッタ法を用いて、500nmの厚さに成膜した。
更に、これらのA (l zOユ膜6及びITO膜2が
成膜された面とは反対の面に高屈折材料(PrbO1+
 +Ti0z膜、屈折率ng =2.10)と低屈折材
料(MgFz、屈折率nL=1.38)の交互4N膜か
ら成る反射防止層7を真空蒸着法により成膜した。
続いて、先に成膜されたITO膜2をホトリソグラフィ
ー法により所定の形状にパターニングした後に、発光層
としてMnが0.3重量%ドープされたZnS膜3を約
1μmの厚みに真空蒸着法により成膜した。
次に、Mn0z粉末をバインダー樹脂とシンナーとの混
合液に分散させた塗料を、スプレー法により塗装、乾燥
させ膜厚が15μmの電流制限層4を形成した。
次に、背面電極5として、^2を真空蒸着法で約0.5
μmの厚みに形成した後、ダイヤモンド針ヲ用いて、I
TOのパターンとは垂直にスクライブすることにより所
定の背面電極パターンを形成した。以上の様にして作製
したELデイスプレィパネル(第1図)の表示面側から
分光光度計により反射率を測定した結果、従来のパネル
に比較して大幅に低減することができた。酸化アルミ膜
6および反射防止層7を持たない従来のELパネルの分
光反射率を第3図に、本発明によるELパネルの分光反
射率を第4図に示す。
〈実施例2〉 ガラス基板上lに真空蒸着法により酸化アルミ(^l 
zo:+)を膜厚が77r+mとなるように成膜した。
この時のへ1203膜6の屈折率はエリプソメトリ−法
により測定した結果1.67であった。次に透明電極2
としてITOを反応性スパッタ法を用いて450nmの
厚さに成膜した。更に、これらのAN、Q、膜6及びI
TO膜2が成膜された面とは反対の面に実施例1で示し
た反射防止N7を真空蒸着法により成膜し、続いて先に
成膜されたITO膜2をホトリソグラフィー法により所
定の形状にパターニングした後、ITO膜2上2上Pr
、0. 、 + Ti1t)膜8を膜厚が39no+と
なるように成膜した。
この時の(PrhO+t +Ti0z)膜の屈折率は2
.12であった。更に発光層としてMnが0.3重量%
ドープされたZnS膜3を約1μmの厚みに真空蒸着法
により成膜した。次にMnO□粉末をバインダー樹脂と
シンナーの混合液に分散させた塗料をスプレー法により
塗装、乾燥させ、膜厚が15μmの電流制限層4を形成
した。次に背面電極5として、Alを真空蒸着法で約0
.5μmの厚味に形成した後、ダイヤモンド針を用いて
ITOのパターンとは垂直にスクライブすることにより
所定の背面電極パターンを形成した。
以上の様にして作製したELデイスプレィパネル(第2
図)の表示面側から分光光度計により反射率を測定した
結果、大幅な反射率の低減を達成することができた。本
実施例のELパネルの分光反射率を第5図に示す。
上記実施例においては、透明電極、発光層、電流制限層
および背面電極からなる基本的な混成型EL素子の構造
を用いているが、本発明は上記実施例に限らず発光層と
電流制限層との間に黒色層を設けた構造(例えばGB2
176341A等)等上記基本構造の変形に対しても実
施でき、同等な効果が得られる。
〔発明の効果〕
本発明によれば、従来のELデイスプレィパネルに比べ
て外部反射光を大幅に削減でき、10001uxの光の
下で、コントラストを従来の30:1から100:1に
向上させることができた。又、光干渉層が、透明絶縁性
基板と透明電極との間又は透明電極と発光層の間に挿入
された構造となっているため、光干渉層が透明基板また
は透明電極から発光層へイオンが拡散するのを防ぐため
、EL素子の寿命の低下、輝度の低下等を防ぐことがで
きる。
この結果、従来よりも高コントラスト、長寿命なELデ
イスプレィパネルを提供することが出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図はそれぞれ実施例1.実施例2で示した
本発明による混成型EL素子の断面図であり、 第3図は、従来の混成型ELデイスプレィパネルの分光
反射特性、 第4図は、実施例1の混成型ELデイスプレィパネルの
分光反射特性、 第5図は、実施例2の混成型ELデイスプレィパネルの
分光反射特性を各々示す図である。 第 図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1) 透明絶縁基板上に、透明電極、発光層、電流制
    限層および背面電極を設けたエレクトロルミネセンスパ
    ネルにおいて、該透明絶縁基板と発光層との間に、光学
    干渉によって、透明絶縁基板側から入射した外部光に対
    して透明絶縁基板と発光層との間に存在する界面からの
    合計の反射光量が減少する様な屈折率および膜厚を有す
    る少なくとも1層の光学干渉膜を設けたことを特徴とす
    るエレクトロルミネセンスパネル。
JP63207828A 1988-08-22 1988-08-22 エレクトロルミネセンスパネル Pending JPH0256892A (ja)

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