JPH0244269A - Ｌｓｉの故障解析方式 - Google Patents
Ｌｓｉの故障解析方式Info
- Publication number
- JPH0244269A JPH0244269A JP63195219A JP19521988A JPH0244269A JP H0244269 A JPH0244269 A JP H0244269A JP 63195219 A JP63195219 A JP 63195219A JP 19521988 A JP19521988 A JP 19521988A JP H0244269 A JPH0244269 A JP H0244269A
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- JP
- Japan
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- trouble
- lsi
- failure
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- Pending
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 20
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 21
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000011990 functional testing Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、ＬＳＩの機能テストで故障を検出した場合
、その故障情報を基に故障解析を行い、ＬＳＩ内部の故
障解析を指摘表示するＬＳＩの故障解析方式に関するも
のである− 〔従来の技術〕 ＬＳＩの故障をテストする場合、ＬＳ、Ｉのテストを行
うためのテストパターンを用意し、ＬＳＩにこのテスト
パターンを入力し、ＬＳＩから出力されるパターンを調
べてそのＬＳＩの故障解析を行う。
、その故障情報を基に故障解析を行い、ＬＳＩ内部の故
障解析を指摘表示するＬＳＩの故障解析方式に関するも
のである− 〔従来の技術〕 ＬＳＩの故障をテストする場合、ＬＳ、Ｉのテストを行
うためのテストパターンを用意し、ＬＳＩにこのテスト
パターンを入力し、ＬＳＩから出力されるパターンを調
べてそのＬＳＩの故障解析を行う。
従来、このＬＳＩの故障解析は次のようにして行なって
いる。まずＬＳＩの出力パターンによって故障情報が得
られた場合、故障が検出された時に印加したテストパタ
ーン系列を求める。次いで、印加したテストパターン系
列と論理図面を参照し、人手によって故障解析を行い、
故障箇所の論理位置を求める。次いで、論理位置と物理
位置の対応リストを参照して故障箇所の物理位置を求め
る。
いる。まずＬＳＩの出力パターンによって故障情報が得
られた場合、故障が検出された時に印加したテストパタ
ーン系列を求める。次いで、印加したテストパターン系
列と論理図面を参照し、人手によって故障解析を行い、
故障箇所の論理位置を求める。次いで、論理位置と物理
位置の対応リストを参照して故障箇所の物理位置を求め
る。
以上の動作を人手によって行う。
従来のＬＳＩ機能テストでの故障解析は、以上のように
人手によって行う方式であるため、容易に故障箇所を指
摘することができず、多大な時間。
人手によって行う方式であるため、容易に故障箇所を指
摘することができず、多大な時間。
労力がかかる。また、誤った故障箇所を指摘する等の問
題点があった。
題点があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、Ｌ Ｓ Ｉ ＩＪＭ能テステスト故障解析及
び故障箇所の表示を、自動的にしかも短時間で行うこと
ができる故障解析表示方式を得ることを目的とする。
たもので、Ｌ Ｓ Ｉ ＩＪＭ能テステスト故障解析及
び故障箇所の表示を、自動的にしかも短時間で行うこと
ができる故障解析表示方式を得ることを目的とする。
このためこの発明に係る故障解析方式は、少なくとも中
央処理装置２と、表示装置５と、ＬＳＩの故障解析を行
うのに必要な情報テーブル６１及びこの情報テーブルに
基づいてＬＳＩの故障解析を行い、故障箇所を上記表示
装置５に表示する故障解析プログラム６２を格納する記
憶装置６とを備え、ＬＳＩにテストパターンの情報を入
力し、出力されたＬＳＩの情報から故障が検出された時
上記記憶装置６に格納される情報デープル６１と故障解
析プログラム６２により、上記表示装置５に自動的に故
障箇所を表示することを特徴とするものである。
央処理装置２と、表示装置５と、ＬＳＩの故障解析を行
うのに必要な情報テーブル６１及びこの情報テーブルに
基づいてＬＳＩの故障解析を行い、故障箇所を上記表示
装置５に表示する故障解析プログラム６２を格納する記
憶装置６とを備え、ＬＳＩにテストパターンの情報を入
力し、出力されたＬＳＩの情報から故障が検出された時
上記記憶装置６に格納される情報デープル６１と故障解
析プログラム６２により、上記表示装置５に自動的に故
障箇所を表示することを特徴とするものである。
ＬＳＩにテストパターンを入力し、得られたＬＳＩの出
力から故障が検出されると、故障解析プログラム６２は
記憶装置６に格納されている故障解析を行うのに必要な
情報テーブル６１を基にＬＳＩの故障箇所を求め、表示
装置５に表示する。
力から故障が検出されると、故障解析プログラム６２は
記憶装置６に格納されている故障解析を行うのに必要な
情報テーブル６１を基にＬＳＩの故障箇所を求め、表示
装置５に表示する。
以下この発明の一実施例を図について説明する。
第１図において、１はＬＳＩを試験するＬＳＩテスター
２は故障情報から故障位置を求める中央処理装置、３
はＬＳＩテスター１と中央処理装置２を接続するインタ
ーフェース、４は中央処理装置２の動作を制御するコン
ソール、５は故障位置を表示する表示装置、６は故障情
ｆＨから故障位置を求めるために必要な情報テーブル６
１及び故障解析プログラム６２を保持する磁気ディスク
等の記憶装置、７は必要なリストを出力するためのプリ
ンターである。
２は故障情報から故障位置を求める中央処理装置、３
はＬＳＩテスター１と中央処理装置２を接続するインタ
ーフェース、４は中央処理装置２の動作を制御するコン
ソール、５は故障位置を表示する表示装置、６は故障情
ｆＨから故障位置を求めるために必要な情報テーブル６
１及び故障解析プログラム６２を保持する磁気ディスク
等の記憶装置、７は必要なリストを出力するためのプリ
ンターである。
第２図は故障情報から故障位置を求めるために必要な記
憶装置６に保持する故障解析用データのフォーマット図
であり、ＬＳＩ機能テストパターンの生成時に作成する
。８はテストパターン番号とＬＳＩの出力ピンの故障情
報と故障番号の対応情報、９は故障番号と故障箇所の論
理位置との対応情報、ＩＯは故障番号と故障箇所の物理
位置との対応情報である。
憶装置６に保持する故障解析用データのフォーマット図
であり、ＬＳＩ機能テストパターンの生成時に作成する
。８はテストパターン番号とＬＳＩの出力ピンの故障情
報と故障番号の対応情報、９は故障番号と故障箇所の論
理位置との対応情報、ＩＯは故障番号と故障箇所の物理
位置との対応情報である。
次に動作について説明する。ＬＳＩテスター１で機能テ
ストを実施し、フェイルした時の故障情報をインターフ
ェース３を介して中央処理装置２に送る。中央処理装置
２は記憶装置６に記憶された第２図の８．９．１０に示
す故障解析データを基に故障解析プログラム６２を実行
し、ＬＳＩ内部の故障位置を求め、表示装置５に故障箇
所の論理位置と物理位置を自動的に表示する。すなわち
、具体的にはテストを実施した結果として、得られるテ
ストパターンの種類（番号）に応じて故障箇所の論理位
置と物理位置をあらかじめ設定してテーブル化しておき
、このテーブルにもとづいて故障個所を表示する。例え
ば、テストパターン番号１、ＬＳＩの出力ビン番号１０
でフェイルした場合、第２図における故障情Ｉｆｆ ８
と故障番号対応情報から故障番号１と２を得る。次に故
障番号９と故障箇所の論理位置対応情報から故障箇所の
論理位置ＡＯＯＩとＡ００２を得て表示装置５に表示す
る。続いて、故障番号１０と故障箇所の物理位置対応情
報から故障箇所の物理位置０００１と０２０１を得て表
示装置５に表示する。
ストを実施し、フェイルした時の故障情報をインターフ
ェース３を介して中央処理装置２に送る。中央処理装置
２は記憶装置６に記憶された第２図の８．９．１０に示
す故障解析データを基に故障解析プログラム６２を実行
し、ＬＳＩ内部の故障位置を求め、表示装置５に故障箇
所の論理位置と物理位置を自動的に表示する。すなわち
、具体的にはテストを実施した結果として、得られるテ
ストパターンの種類（番号）に応じて故障箇所の論理位
置と物理位置をあらかじめ設定してテーブル化しておき
、このテーブルにもとづいて故障個所を表示する。例え
ば、テストパターン番号１、ＬＳＩの出力ビン番号１０
でフェイルした場合、第２図における故障情Ｉｆｆ ８
と故障番号対応情報から故障番号１と２を得る。次に故
障番号９と故障箇所の論理位置対応情報から故障箇所の
論理位置ＡＯＯＩとＡ００２を得て表示装置５に表示す
る。続いて、故障番号１０と故障箇所の物理位置対応情
報から故障箇所の物理位置０００１と０２０１を得て表
示装置５に表示する。
以上説明したように、この発明によれば、少なくとも中
央処理装置と、表示装置と、ＬＳＩの故障解析を行うの
に必要な情報テーブル及びこの情報テーブルに基づいて
ＬＳＩの故障解析を行い、故障箇所を上記表示装置に表
示する故障解析プログラムを格納する記憶装置とを備え
、ＬＳＩにテストパターンの情報を入力し、出力された
ＬＳ［の情報から故障が検出された時上記記憶装置に格
納される情報テーブルと故障解析プログラムにより、上
記表示装置に自動的に故障箇所を表わすので、ＬＳＩの
故障解析、故障箇所の表示を自動的にしかも短時間に行
うことができる。
央処理装置と、表示装置と、ＬＳＩの故障解析を行うの
に必要な情報テーブル及びこの情報テーブルに基づいて
ＬＳＩの故障解析を行い、故障箇所を上記表示装置に表
示する故障解析プログラムを格納する記憶装置とを備え
、ＬＳＩにテストパターンの情報を入力し、出力された
ＬＳ［の情報から故障が検出された時上記記憶装置に格
納される情報テーブルと故障解析プログラムにより、上
記表示装置に自動的に故障箇所を表わすので、ＬＳＩの
故障解析、故障箇所の表示を自動的にしかも短時間に行
うことができる。
第１図はこの発明の一実施例を示す構成図、第２図は故
障解析用データのフォーマット図である。 １・・・ＬＳＩテスター ２・・・中央処理装置、３・
・・インターフェース、６・・・記憶装置。 代理人 大 岩 増 雄（ばか２名）第２図
障解析用データのフォーマット図である。 １・・・ＬＳＩテスター ２・・・中央処理装置、３・
・・インターフェース、６・・・記憶装置。 代理人 大 岩 増 雄（ばか２名）第２図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 少なくとも中央処理装置と、表示装置と、 ＬＳＩの故障解析を行うのに必要な情報テーブル及びこ
の情報テーブルに基づいてＬＳＩの故障解析を行い、故
障箇所を上記表示装置に表示する故障解析プログラムを
格納する故障装置とを備え、ＬＳＩにテストパターンの
情報を入力し、ＬＳＩから出力されたＬＳＩの出力パタ
ーンから故障が検出された時上記中央処理装置は、上記
記憶装置に格納される情報テーブルと故障解析プログラ
ムとにより、上記表示装置に故障箇所を表示することを
特徴とするＬＳＩの故障解析方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63195219A JPH0244269A (ja) | 1988-08-04 | 1988-08-04 | Ｌｓｉの故障解析方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63195219A JPH0244269A (ja) | 1988-08-04 | 1988-08-04 | Ｌｓｉの故障解析方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0244269A true JPH0244269A (ja) | 1990-02-14 |
Family
ID=16337446
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63195219A Pending JPH0244269A (ja) | 1988-08-04 | 1988-08-04 | Ｌｓｉの故障解析方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0244269A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0559353U (ja) * | 1991-10-17 | 1993-08-06 | 日本電気株式会社 | メモリ搭載パッケージ試験装置 |
| US6126480A (en) * | 1997-07-01 | 2000-10-03 | Sumitomo Wiring Systems, Ltd. | Connector |
| JP2002530659A (ja) * | 1998-11-13 | 2002-09-17 | ナイツ・テクノロジー・インコーポレーテッド | 論理集積回路の論理機能試験データを物理的表現にマッピングするためのｉｃ試験ソフトウェア・システム |
| JP2011086509A (ja) * | 2009-10-15 | 2011-04-28 | Smk Corp | コネクタ |
-
1988
- 1988-08-04 JP JP63195219A patent/JPH0244269A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0559353U (ja) * | 1991-10-17 | 1993-08-06 | 日本電気株式会社 | メモリ搭載パッケージ試験装置 |
| US6126480A (en) * | 1997-07-01 | 2000-10-03 | Sumitomo Wiring Systems, Ltd. | Connector |
| JP2002530659A (ja) * | 1998-11-13 | 2002-09-17 | ナイツ・テクノロジー・インコーポレーテッド | 論理集積回路の論理機能試験データを物理的表現にマッピングするためのｉｃ試験ソフトウェア・システム |
| JP2011086509A (ja) * | 2009-10-15 | 2011-04-28 | Smk Corp | コネクタ |
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